3.2 Comparaison avec d’autres sources de hBN
3.2.1 Propri´et´es Raman
Nous l’avons vu au chapitre pr´ec´edent (cf. 2.2.1), le spectre de diffusion Raman du hBN ne
pr´esente qu’un seul pic sur la gamme 100-3000 cm
−1couramment ´etudi´ee, `a 1366 cm
−1(169
meV) contrairement `a ses homologues 2D comme le graph`ene ou le phosphore noir par exemple.
Les caract´eristiques de ce pic, reli´e au phonon LO(Γ) seul mode actif en Raman, permettent
un rapide contrˆole de la qualit´e de l’´echantillon notamment utilis´e afin d’optimiser les proc´ed´es
de croissance comme la CVD. La largeur `a mi-hauteur de ce pic sert d’indicateur de la qualit´e
cristalline du mat´eriau. La Figure 3.18 pr´esente un histogramme comparant deux s´eries de
va-leurs. D’une part, celles que nous avons mesur´ees, dans les mˆemes conditions, sur quatre cristaux
de sources diff´erentes (NIMS, LMI, Saint-Gobain et HQ graphene) et d’autre part trois valeurs
obtenues sur des films CVD s´electionn´ees dans la litt´erature [69,73,75].
Cette comparaison met tout d’abord en ´evidence l’´ecart des FWHM entre les quatre cristaux
et les sources CVD. Les trois r´ef´erences choisies pour ces derniers se veulent repr´esentatives
de la large gamme de valeurs que l’on peut observer dans la litt´erature actuellement. Situ´ees
g´en´eralement entre 15 et 50 cm
−1, elles sont encore bien en de¸c`a de celles mesur´ees sur les quatre
autres sources que nous avons analys´ees indiquant donc que la qualit´e cristalline des films CVD
est encore inf´erieure et `a optimiser.
En revanche, la comparaison entre les quatre cristaux de hBN est plus difficile `a analyser.
En effet, la source HPHT pr´esente une valeur de 7.3 cm
−1l´eg`erement inf´erieure aux trois autres
situ´ees entre 8.0 et 8.2 cm
−1et apparaˆıt comme celle de meilleure qualit´e, r´esultat plausible.
N´eanmoins il est important de noter que ces quatre valeurs sont tr`es proches et s´epar´ees de moins
de 1 cm
−1. Il est alors difficile d’´etablir plus en d´etail, par ce moyen, lequel de ces ´echantillons
est le mieux cristallis´e.
CHAPITRE 3. PROPRI ´ET ´ES DES CRISTAUX 3D DE hBN
7.3 8.0 8.1 8.2
14.8
24.9
45.5
FWHM (cm-1) of the E2gpeak
50
40
30
20
10
0
Figure3.18 – Histogramme des valeurs de la largeur `a mi-hauteur (FWHM) du pic Raman E
2g(cm
−1)
mesur´ees sur diff´erentes sources de hBN et compar´ees aux valeurs obtenues sur des ´echantillons CVD
extraites de [69,73,75].
3.2.2 Propri´et´es de luminescence
Les exp´eriences de cathodoluminescence ont ´et´e men´ees `a basse temp´erature dans les mˆemes
conditions d’excitation pour chaque ´echantillon. La Figure3.19 confronte pour chaque source le
spectre de luminescence obtenu et le spectre Raman mesur´e dans l’´etude d´ecrite pr´ec´edemment,
suivant une d´emarche comparable `a celle des travaux de Tsuda et al. [173]. Pr´ecisons que dans
chaque cas, le spectre CL est repr´esentatif du signal de l’´echantillon.
Alors que les spectres Raman de chaque source pr´esentent des caract´eristiques quasi-identiques
(Figure3.19a), les spectres de luminescence varient, eux, de mani`ere tr`es significative d’une source
`
a l’autre. Il apparaˆıt clairement que le spectre CL offre de nombreuses informations
suppl´emen-taires sur la nature de l’´echantillon ´etudi´e.
3.2.2.1 D´efauts profonds et centres color´es
La comparaison des spectres de luminescence de la Figure 3.19bmet en avant une diff´erence
´evidente entre la source HPHT et les trois autres cristaux. L’´echantillon du NIMS est le seul
dont le spectre est domin´e par les raies intrins`eques S (5.7-6 eV). L’intensit´e atteint 250×10
3photons/s tandis que les ´emissions reli´ees aux impuret´es dans le gap (<5 eV) sont tr`es faibles.
On distingue `a peine la raie α `a 4.1 eV dont l’intensit´e est environ 30 fois moins intense que la
raie S3 (9×10
3photons/s). Au contraire, dans les trois autres ´echantillons, les d´efauts profonds
dominent le spectre. Ceci indique donc que le taux d’impuret´es chimiques au sein du cristal
HPHT est tr`es faible et bien inf´erieur `a celui des autres sources de hBN.
Le constat est coh´erent avec des analyses SIMS men´ees au GEMaC sur l’´echantillon du
LMI qui indique une teneur en carbone de l’ordre de quelques dixi`emes de pourcents. L’´equipe
du NIMS a ´egalement ´evalu´e par SIMS les concentrations en oxyg`ene et en carbone dans leur
´echantillon. Les concentrations mesur´ees sont de l’ordre 10
17atomes/cm
3pour l’oxyg`ene et de
l’ordre de 10
18atomes/cm
3pour le carbone [57]. Ces concentrations en impuret´e restent tr`es
´elev´ees par rapport aux semi-conducteurs conventionnels (Si < 10
12cm
−3, diamant E6 < 10
14NIMS
LMI
Saint
Saint-Gobain
HQ
1300 1350 1400
7.3 cm
-1(a)
Raman
8.0 cm
-18.1 cm
-1R
am
an i
nt
ens
ity
(
a.
u.
)
8.2 cm
-1Shift (cm
-1)
High frequency
E
2gmode
0 2 5 0 0 2 0 0 0 0 5 03 . 5 4 . 0 4 . 5 5 . 0 5 . 5 6 . 0
0 2T = 1 0 K
C
L
in
te
n
s
ity
(
×
1
0
3p
h
o
to
n
s
.s
-1)
( b )
x 7
x 5 0
C a t h o d o l u m i n e s c e n c e
E n e r g y ( e V )
3 5 0 3 0 0 2 5 0 2 0 0W a v e l e n g t h ( n m )
α
Figure3.19 – Spectres a) Raman et b) CL obtenus sur la source HPHT (rouge), PDCs (bleu), la poudre
Saint-Gobain (vert) et le cristal HQ Graphene (orange). Les spectres CL ont ´et´e mesur´es `a 10K sur la
gamme d’´energie 3.1-6.2 eV (200-400 nm) et sont corrig´es de la r´eponse spectrale du syst`eme de d´etection.
CHAPITRE 3. PROPRI ´ET ´ES DES CRISTAUX 3D DE hBN
Dans la zone de luminescence des d´efauts profonds (λ>250 nm), on peut noter diff´erents types
d’´emission. On retrouve tout d’abord la s´erie de raies α,β etγ tr`es intenses sur le spectre de la
source LMI (I
max=2500×10
3photons/s) et ´egalement d´etect´ees sur la source HQ Graphene. Leurs
positions en ´energie sont identiques `a celles relev´ees sur le monocristal (cf. partie 3.1.2.3). Ces
pics proviennent bien d’un mˆeme et unique centre reli´e `a des atomes de carbone (ou oxyg`ene) en
substitution comme rappel´e pr´ec´edemment. Une autre raie tr`es fine est ´egalement observ´ee sur les
´echantillons Saint-Gobain et HQ Graphene `a 4.55 eV (272.5 nm) avec une largeur de raie de 6 meV
certainement reli´ee `a un autre centre de recombinaison pas encore r´ef´erenc´e dans la litt´erature.
Enfin une bande large centr´ee `a 4.2 eV est aussi observ´ee sur les deux sources commerciales
Saint-Gobain et HQ Graphene. Cette bande large associ´ee `a d’autres types de d´efauts profonds
a ´et´e attribu´ee `a des recombinaisons de paires donneur-accepteur DAP [107,174].
3.2.2.2 Recombinaisons excitoniques intrins`eques
Dans la r´egion des ´emissions de bord de bande (λ<250 nm), le signal des raies D est tr`es
faible voire absent du spectre
1. Seule la s´erie des raies S est d´etect´ee entre 5.7 et 5.9 eV. La
suite de cette ´etude comparative vise `a ´etudier l’impact du proc´ed´e de synth`ese sur les propri´et´es
intrins`eques du mat´eriau hBN.
Spectres CL
La Figure3.20aexpose les spectres CL repr´esentatifs des quatre ´echantillons dans la zone du
bord de bande interdite.
On constate que contrairement aux ´emissions de d´efauts profonds dans le gap, les
caract´eris-tiques de la s´erie S sont quasiment superposables. Les positions en ´energie, les intensit´es relatives,
la forme des raies mais aussi les d´edoublements fins (7-8 meV) des raies S3 et S4 sont reproduits
`
a l’identique du cristal de r´ef´erence pour chacune des trois autres sources. La seule diff´erence
notable est que les pics S3-S3’ et S4-S4’ sont mieux r´esolus sur le cristal HPHT et la source HQ
Graphene. Nous avons attribu´e cet ´elargissement `a un effet de temp´erature (la largeur de raie
y est tr`es sensible, voir paragraphe 3.1.2.1). En effet, les cristaux HPHT et HQ ´etaient mont´es
sur une plaque en cuivre avec une meilleure dissipation thermique que les ´echantillons LMI et
Saint-Gobain analys´es sur un support de SiO
2/Si.
Ces r´esultats montrent ainsi que quelle que soit la voie de synth`ese employ´ee le spectre des
raies S est parfaitement identique (´energies et intensit´es relatives) prouvant que la s´erie des raies
S est une signature intrins`eque du mat´eriau hBN. Ceci avait ´et´e remis en doute par Bourrellieret
al. [141] qui sugg´eraient que l’´energie des pics observ´es en bord de bande (entre 5 et 6 eV) ´etait
une signature des diff´erentes s´equences d’empilement des plans de BN (discut´ees en3.1.1.2).
Efficacit´e radiative
Grˆace `a l’´etude de l’efficacit´e de luminescence du cristal de r´ef´erence, nous avons ´egalement
pu comparer les intensit´es absolues d’´emission de la s´erie S `a partir des spectres de la Figure
3.19b. L’analyse du rendement de luminescence en bord de bande est depuis longtemps utilis´ee,
notamment par photoluminescence (PL), pour ´evaluer la qualit´e des mat´eriaux obtenus apr`es
1. Le spectre d’introduction de la partie3.1.2a ´et´e choisi de mani`ere `a pr´esenter tous les signaux typiques de
hBN dans un seul spectre.
5 . 7 5 . 8 5 . 9
P h o t o n e n e r g y ( e V )
N
o
rm
a
liz
e
d
C
L
i
n
te
n
s
it
y
(
a
.u
.)
S 1 S 2 S 3 S 42 1 6 2 1 4 2 1 2 2 1 0
W a v e l e n g t h ( n m )
(a)
Integrated S intensity
(x10
6photons/s)
4.2
0.96
0.24
0.035
NIMS
LMI
Saint-Gobain
HQ
(b)
Figure 3.20 – a) Spectres CL de la s´erie S enregistr´es sur les quatre sources NIMS (rouge), LMI (bleu),
Saint-Gobain (vert) et HQ Graphene (orange) dans la gamme 5.7-5.95 eV. T=10K. b) Intensit´e int´egr´ee
du signal ´emis sur la gamme 5.71-5.93 eV (209-217 nm) en fonction de la source (×10
6photons/s).
croissance par ´epitaxie par exemple.
Nous avons vu en 3.1.3 que l’efficacit´e de luminescence en r´egime d’excitation continue est
proportionnelle `a Gτ /τ
rad(Eq.3.6). Durant toute l’exp´erience le facteur Gest gard´e constant,
nous avons donc int´egr´e l’aire sous les pics S (dans la gamme 5.71-5.93 eV) et pu estimer
directe-ment le rendedirecte-ment de luminescence de chaque ´echantillon. La Figure3.20bmontre qu’il varie sur
plus de deux ordres de grandeur entre les 4 sources de hBN. Sans surprise, le cristal HPHT est
le plus luminescent avec environ 4.2×10
6photons ´emis par seconde. Il est suivi de l’´echantillon
LMI 4 fois moins efficace et de la poudre Saint-Gobain dont le rendement est environ 17 fois
moins important. Le mat´eriau le moins luminescent de cette ´etude est l’´echantillon commercial
fourni par HQ Graphene avec une intensit´e int´egr´ee de 0.035×10
6photons/s soit deux ordres de
grandeur inf´erieure `a la source du NIMS.
Le taux de g´en´eration G´etant gard´e constant, le rendement de luminescence que nous
me-surons est donc principalement reli´e au temps de vie τ des excitons cr´e´es dans le mat´eriau.
On rappelle que 1/τ = 1/τ
rad+P
(1/τ
i) (Eq. 3.4) avec τ
iles temps caract´eristiques de chaque
processus de recombinaison ”autre” que la recombinaison de l’exciton libre. Sous cet angle, les
diff´erences d’efficacit´e de luminescence observ´ees entre les quatre cristaux refl`etent l’influence
plus ou moins marqu´ee de ces canaux de recombinaison ”autres” en proportions variables d’une
source `a l’autre. Impuret´es et d´efauts structuraux en particulier introduisent autant de canaux
CHAPITRE 3. PROPRI ´ET ´ES DES CRISTAUX 3D DE hBN
de recombinaison radiatifs ou non, qui entrent en comp´etition avec la recombinaison de l’exciton
libre. Le terme τ
ifait r´ef´erence `a un temps de capture des porteurs libres (´electron ou trou) par
un pi`ege ou un centre de recombinaison d´ecrit suivant [170] :
τ
i= 1
N
iσ
iV
th(3.8)
avecN
ila concentration en d´efautsi,σ
ila section efficace de capture des porteurs
1par le d´efaut
i et V
thla vitesse thermique des porteurs. Lorsque τ
iτ
radla probabilit´e de recombinaison
radiative de l’exciton libre diminue. Ainsi dans un cristal id´eal de hBN o`u τ =τ
rad, l’intensit´e
de luminescence des raies S doit en principe conduire `a un rendement quantique de 1 (ou 100%).
Rappelons que des exp´eriences de photoluminescence r´esolue en temps effectu´ees par l’´equipe
du NIMS sur les quatre raies S ont permis de mesurer un temps de vie d’abord de 70 ps [157]
puis de 650 ps quelques ann´ees plus tard [175]. Ceci traduit principalement une diff´erence de
qualit´e entre les deux mat´eriaux analys´es. Ce r´esultat a ensuite ´et´e confirm´e par l’´equipe H. X.
Jiang qui a mesur´e un temps de vie de 750 ps pour la raie S4 sur un de leur cristaux obtenus par
MOCVD [109]. Plus r´ecemment, Cassaboiset al. ont r´ealis´e ces mˆemes exp´eriences sur la source
commerciale HQ graphene [176]. Ils ont mesur´e une valeur de τ entre 100 et 130 ps soit 5 `a 6
fois plus faible que celle mesur´ee sur le cristal HPHT. Ce r´esultat est en bon accord avec l’´ecart
observ´e entre le rendement de luminescence de la source HQ graphene par rapport au cristal de
r´ef´erence (voir Figure3.20b).
En r´esum´e, la comparaison des spectres obtenus sur les quatre sources de hBN illustre bien la
fa¸con dont la teneur en impuret´es/d´efauts peut affecter le rendement de luminescence intrins`eque
du mat´eriau. Pr´ecisons n´eanmoins que l’analyse quantitative de ces signaux n’est pas valable ici `a
cause des nombreux canaux non radiatifs ´egalement impliqu´es dans la diminution du rendement
de luminescence observ´ee en bord de bande.
La confrontation de quatre ´echantillons obtenus par diff´erentes voies de synth`ese nous a
donc permis de montrer que la s´erie des raies S est la signature de processus de recombinaisons
intrins`eques des excitons dans hBN. L’influence de la qualit´e cristalline et chimique du mat´eriau
a pu ˆetre mise en ´evidence en comparant les rendements de luminescence de chacune des quatre
sources ´etudi´ees. Comme attendu, le cristal HPHT r´eput´e le plus pur est apparu ´egalement
comme le plus luminescent.
De fa¸con plus g´en´erale, l’analyse de la luminescence excitonique intrins`eque s’av`ere beaucoup
plus sensible que la spectroscopie Raman classique dans le but de contrˆoler la qualit´e du mat´eriau
hBN. Pendant que la largeur `a mi-hauteur du pic Raman varie de 12% (pr`es de la r´esolution
spectrale), l’intensit´e int´egr´ee de luminescence des pics S varie de 2 ordres de grandeur entre les
quatre sources que nous avons ´etudi´ees dans ce travail. Les spectres de luminescence livrent ainsi
de nombreuses informations pr´ecieuses quant `a la pr´esence d’impuret´es ou de d´efauts structuraux
dans le cristal.
1. Pour un pi`ege de recombinaison, la section efficace de capture d’un trou (resp. d’un ´electron) est n´egligeable
devant celle de l’´electron (resp. du trou). Pour un centre de recombinaison, l’´electron et le trou ont tous deux une
section efficace de capture importante et du mˆeme ordre de grandeur.
Dans ce chapitre, nous avons ´etudi´e les propri´et´es structurales et optiques de cristaux 3D de
hBN. Nous nous sommes concentr´es sur le cristal qui sert aujourd’hui de r´ef´erence, synth´etis´e
au NIMS (Japon). L’analyse d´etaill´ee en microscopie ´electronique a permis d’observer un r´eseau
quasi-parfait en vue plane et d’identifier l’empilement AA’ majoritaire, caract´eristique attendue
de la phase hexagonale. Cependant, l’examen en section transverse a montr´e que le cristal de
r´ef´erence reste d´efectueux et inhomog`ene concernant sa s´equence d’empilement. Plusieurs types
de d´efauts structuraux ont ´et´e identifi´es.
Les propri´et´es de luminescence du cristal de r´ef´erence hBN ont ´et´e analys´ees en distinguant
deux r´egions spectrales : d´efauts profonds et r´egion proche de la bande interdite, dont la s´erie
des raies S est la contribution intrins`eque (recombinaisons excitoniques). L’´etude de l’efficacit´e
de luminescence intrins`eque sur le cristal HPHT a permis de quantifier le rendement quantique
interne de l’ordre de 10%. Ce rendement est tr`es fort pour un semi-conducteur dont la structure
´electronique est de type indirect.
Dans la deuxi`eme partie a ´et´e pr´esent´ee une ´etude comparative men´ee sur quatre sources de
hBN (incluant le cristal HPHT) en spectroscopie Raman et en cathodoluminescence. La
sup´erio-rit´e du cristal du NIMS sur les trois autres sources en terme de qualit´e cristalline et de puret´e
chimique a ´et´e confirm´ee en comparant les rendements de luminescence. La spectroscopie Raman
tr`es utilis´ee `a l’heure actuelle pour ´evaluer les mat´eriaux hBN `a destination de l’´electronique du
graph`ene ne permet pas de distinguer significativement la qualit´e des mat´eriaux.
Ce travail a fait l’objet de deux publications :
L. Schu´e, B. Berini, A. C. Betz, B. Pla¸cais, F. Ducastelle, J. Barjon and A. Loiseau.
Dimensionality effects on the luminescence properties of hBN. Nanoscale 8 (2016) 6986.
L. Schu´e, I. Stenger, F. Fossard, A. Loiseau and J. Barjon.Characterization methods
dedi-cated to nanometer-thick hBN layers. 2D Materials 4 (2017) 015028.
4
Propri´et´es des cristaux 2D de hBN
Ce chapitre pr´esente les r´esultats de l’´etude des propri´et´es de cristaux 2D de hBN d’´epaisseur
allant de quelques dizaines de nanom`etres `a un plan atomique, exfoli´es `a partir de diff´erents
cristaux 3D.
La premi`ere partie est consacr´ee `a l’examen des d´efauts structuraux dans les cristaux 2D de
hBN. Nous exposerons d’abord la proc´edure d´evelopp´ee dans notre groupe pour les rep´erer et les
identifier en CL, qui a finalement permis d’isoler le signal intrins`eque dans les cristaux 2D de
hBN. L’´etude se concentrera ensuite sur un d´efaut couramment introduit lors de l’exfoliation : le
pli. Les propri´et´es de luminescence et la structure de ce d´efaut particulier seront discut´ees.
Dans un deuxi`eme temps, les effets de basse dimensionnalit´e ont ´et´e ´etudi´es en spectroscopie
Raman basse fr´equence (ULF), en spectroscopie de pertes d’´energie (EELS) et en
cathodolumi-nescence (CL). Une attention particuli`ere est port´ee `a l’´evaluation du nombre de feuillets. Ces
trois spectroscopies mettent en ´evidence les propri´et´es vibrationnelles, di´electriques et excitoniques
qui subissent de profondes modifications aux ´epaisseurs atomiques. Le rˆole des interfaces sur les
propri´et´es excitoniques sera enfin discut´e.
Les effets de d´eformation ´elastique sur la luminescence intrins`eque du hBN et les premiers
r´esultats sur des cristaux 2D suspendus dans le vide sont pr´esent´es en derni`ere partie.
Sommaire
4.1 D´efauts dans les cristaux 2D de hBN exfoli´es . . . . 86
4.1.1 L’apport des cartographies spectrales. . . . 86
4.1.2 Une grande vari´et´e de d´efauts. . . . 87
4.1.2.1 R´epartition spatiale . . . . 87
4.1.2.2 Diversit´e des signaux CL . . . . 89
4.1.3 Les plis d’exfoliation . . . . 90
4.1.3.1 Luminescence de bord de bande . . . . 90
4.1.3.2 Observations structurales . . . . 91
4.2 Effets de basse dimensionnalit´e . . . . 94
4.2.1 Diffusion Raman . . . . 94
4.2.1.1 Mode de vibration dans le plan. . . . 95
4.2.1.2 Mode de cisaillement interplan . . . . 96
4.2.2 Spectroscopie de pertes d’´energie (EELS) : une approche des propri´et´es
di´electriques. . . . 99
4.2.3 Luminescence de bord de bande . . . 103
4.2.3.1 Intensit´e de luminescence . . . 103
4.2.3.2 Energies de luminescence´ . . . 106
CHAPITRE 4. PROPRI ´ET ´ES DES CRISTAUX 2D DE hBN
4.2.3.3 Recombinaisons non-radiatives associ´ees aux interfaces . . . . 110
4.3 Vers les feuillets suspendus . . . . 111
4.3.1 Etude de la d´eformation ´elastique du hBN´ . . . 112
4.3.2 Premiers r´esultats sur des feuillets suspendus . . . 115
4.1 D´efauts dans les cristaux 2D de hBN exfoli´es
La plupart des avanc´ees scientifiques dans le domaine des mat´eriaux bidimensionnels
(gra-ph`ene, MoS
2, phosphore noir. . . ) ont ´et´e r´ealis´ees sur des films minces obtenus par clivage
m´eca-nique. Les proc´ed´es d’exfoliation peuvent introduire de nouveaux d´efauts dans le cristal en plus
de ceux d´ej`a pr´esents `a l’origine dans le cristal source (voir Chapitre 3). Les performances des
dispositifs opto-´electroniques con¸cus `a partir de cristaux 2D sont sensibles aux d´efauts
(impu-ret´es, d´efauts structuraux . . . ). Il est alors crucial de savoir les rep´erer et les identifier dans les
cristaux de faible ´epaisseur obtenus par exfoliation afin d’isoler ensuite les propri´et´es intrins`eques
du hBN.
Dans le document
Propriétés optiques et structurales du nitrure de bore en hybridation sp² : des cristaux massifs aux feuillets atomiques
(Page 86-95)