Appareil pour la mesure du pouvoir réflecteur dans l'ultraviolet à vide

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Submitted on 1 Jan 1952

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Appareil pour la mesure du pouvoir réflecteur dans

l’ultraviolet à vide

Simone Robin, Boris Vodar

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492

APPAREIL POUR LA MESURE DU POUVOIR

RÉFLECTEUR

DANS L’ULTRAVIOLET A VIDE

Par Mme Simone ROBIN et M. Boris

VODAR,

Laboratoire de

Physique-Enseignement

de la Sorbonne.

L’appareil

que nous décrirons ici

_permet

d’étudier la transmission et surtout le

_pouvoir

réflecteur de couches minces ou

_{épaisses, métalliques}

ou non dans l’ultraviolet à vide et d’en déduire la connaissance

des constantes

_optiques.

Cet

appareil s’adapte

directement à la fente de sortie d’un monochromateur pour la

région

de

Schu-mann

_déjà

décrit

_[1]

et

_peut

en être isolé par une vanne

servant en même

_temps

_{d’obturateur pour la lumière.}

L’appareil

comprend

essentiellement

_{deux parties :}

10 Une

_partie

fixe où se trouvent les ouvertures

Fig. 1.

1, barre mobile; 2-2’, ouvertures pour

ampoules

d’évaporation; 3, transmission directe; 4, réflexion à 18° (le

multipli-cateur _{n’est pas installé);} 5, demi-miroir; 6,

multipli-cateur d’électrons recevant la lumière réfléchie par le

demi-miroir; 7, repères de hauteur de la barre; 8, disque gradué pour la rotation.

permettant d’adapter

les

_récepteurs

_{photo,électriques}

dans trois

_{positions :}

en transmission

directe,

à 18 et à

450.

Pour différentes

_raisons,

il était nécessaire de contrôler la stabilité du faisceau lumineux aussi

avons-nous

_disposé

un demi-miroir à

450

à l’entrée de

_l’appareil

rendant ainsi

_possible

une méthode

photométrique

de

_0;

mais nous n’avons

utilisé,

jusqu’ici,

que le

repérage

direct du

_faisçeau

de contrôle à l’aide d’un

_{photomultiplicateur}

et d’un

galvanomètre

AOIP. Le I er demi-miroir

_séparait

le faisceau en _{deux par} la

hauteur,

disposition

la

_plus

défavorable

_puisque

la moindre variation en hauteur du

_{spectre augmente}

la lumière sur une moitié et la diminue sur l’autre -moitié.

_Aussi,

nous en avons

maintenant

modifié la forme : c’est un miroir circu-laire avec une ouverture

_{rectangulaire}

en son milieu.

Sa

position

est

_réglable

en hauteur et rotation autour d’un axe vertical. En

outre,

un

_{diaphragme découpe}

une

_portion

bien déterminée du faisceau

_lumineux,

sa section étant inférieure à celle des échantillons à étudier.

Les

_récepteurs

sont des

_{multiplicateurs}

EMI recevant la lumière de fluorescence d’une couche

épaisse

de

_salycilate

de sodium

_[2]

inclinée à

45°

sur

le faisceau incident.

20 Une barre mobile

_pouvant

coulisser et

_tourner,

dont l’étanchéité à

_chaque

extrémité est assurée

simplement

par un

_joint

de caoutchouc serré entre deux

_{pièces métalliques.}

Des traits servent de

_repère

pour les

positions

verticales des différents échantillons et un

_{disque gradué indique l’angle}

_{d’incidence.}

Dans cette barre sont creusés

_{cinq petits logements}

où se

_placent

les échantillons à étudier. Ils consistent soit en échantillons tout

_{préparés’(par exemple}

des films

_{métalliques évaporés préalablement}

sous

_vide),

soit en couches

_évaporées

directement dans

l’appa-reil,

grâce

à un coulissement de la barre vers la

_partie

supérieure qui place

les

_supports

en face

_d’ampoules

d’évaporation.

Aussitôt

_{après l’évaporation,}

on descend la barre et l’on

_peut

faire immédiatement les mesures.

En

effet,

il semble

(voir

Miss

Banning [3])

que les

propriétés

des couches sont très différentes si elles n’ont pas été contaminées par l’air.

Donc,

une étude dans différentes conditions

s’imposait.

Cet

_appareil

est actuellement en état de fonction-nement.

_Jusqu’ici,

nous nous sommes bornés à faire des mesures de

_pouvoir

réflecteur de couches d’Al et d’Au

évaporées (et exposées

à

_l’air)

dans la

_région

de

1450

à 3 ooo A. La

_{reproductibilité}

de nos mesures

est maintenant satisfaisante : en

_effet,

nous avons

trouvé,

pour l’Au pour la même

longueur

d’onde ’ de 1608

_À,

une variation de o,9, pour oo _{pour le}

pouvoir

réflecteur

_{(II, 4}

pour 10o un

_jour

et

II,6

pour 100 le

_lendemain).

Ces résultats sont d’ail-leurs en bon accord avec ceux de Sabine

_[4].

La

prin-cipale

difficulté rencontrée est due à la

_polution

de la fenêtre de la

_lampe

et à l’instabilité de cette der-nière

qui

a pu être éliminée par

l’emploi

du faisceau de contrôle. Par

ailleurs,

il a fallu stabiliser le chariot

porte-réseau

du fait de la sensibilité du

montage

(demi-miroir)

à l’inclinaison du faisceau. La

fatigue

des

_{multiplicateurs}

_{n’a pas été}

_gênante

pour des courants inférieurs à JO-7 A. Pour

l’Al,

nos résultats

se trouvent inférieurs à ceux

_publiés

sans doute à

cause d’une

_évaporation

_trop

_prolongée,

d’une conta-mination par l’air ou de

_phénomènes

_plus

ou moins

complexes [5];

mais ils sont

_toujours

_{reproductibles :}

par

exemple

à 2 260

,!,

ils varient entre 20, 3 et

20, 1 _pou.r 100.

[1] ROBIN S. et VODAR B. 2014 J.

Physique Rad., I95I, 12, 634. [2] ROBIN S. et SCHWETZOFF V. 2014 J.

Physique Rad., I952, 13, 239.

[3] Miss _BANNING, J. _Opt. Soc. Amer., I942, 32, 98. [4] SABINE G. B. 2014 Phys. Rev.,

I939, 55, I064.

[5] CABRERA _N., TERRIEN J. et HAMON J. 2014 C. R. Acad. Sc.,

I947, 224, I558.

Manuscrit reçu lue 93 août _1952.