LesnouveauxproédésalternésdéveloppésinitialementparT.Tilloherfontionnent à
tem-pérature ryogénique (autour de
−
100 °C), néessitant lerefroidissement du porte-substrat par irulation d'azote liquide. Cette ontrainte matérielle peut être un inonvénient pour lesutili-sateurs de mahines de gravure, notamment pare qu'elle représente un oût en onsommable
important et desdiultéstehniquessupplémentaire s.
CettethèseenollaborationaveAlatelMiroMahiningSystemsapourobjetifsde
déve-lopper unproédédegravureprofondedusiliiumfontionnant àplushautetempérature quele
proédé ryogénique et qui présente une meilleure stabilité en température et en onentration
degazpassivant(s).Pour atteindreesobjetifs,l'idéeestd'explorerdenouvellesvoiesde
passi-vation, nonpolymérisante (an delimiter lesrésidussurles ansdesmotifsgravéset ledépt
sur les parois du réateur), en omplément ou en remplaement de l'oxygène. L'hexauorure
de soufre omme gaz de gravure est onservé ar il permet d'obtenir les meilleures vitesses de
gravure.
La première partie de e travail de thèse a onsisté en l'évaluation du dioxyde de soufre
omme agent oxydant en remplaement du dioxygène; le hapitre 4 présente une étude de la
gravureprofondedusiliium,àtempérature desubstratryogénique,par plasmaSF
6
/SO2
om-parativement à lahimie plasmaSF
6
/O2
.Les reherhes menées préédemment au laboratoire GREMI ont montré que les produits
de gravure SiF
4
partiipent à la formation de la ouhe de passivation et que des plasmas SiF4
/O2
permettent de réer une ouhe ayant des propriétés similaires. De manière parallèle, nousaimerionssavoirs'ilestpossibled'utiliserletétrahlorure desiliiumomme préurseurdepassivation. LesmoléulesSiCl
4
onstituent eneet leproduitdegravure majoritaire lors dela gravuredusiliiumparplasmahloré,et leurdissoiationdansleplasmaonduitàdesradiauxSiCl
x
quipeuventpartiiperàlaformationd'uneouhedepassivationdetypeSiOx
Cly
lorsquedel'oxygèneestinjetéavelehlore.Deplus,leseuildevaporisationdesespèesSiCl
4
étantbienplushautqueeluideSiF
4
,nousespéronspouvoirformer,enhimieplasmaSF6
/O2
/SiCl4
, uneouhe de passivationrésistante à température desubstrat plusélevée que parplasma SF
6
/O2
.Dispositifs expérimentaux
Sommaire
3.1 Le réateurde gravure ICP Alatel 601E . . . 40
3.1.1 Lasoure . . . 40
3.1.2 Lahambredediusion . . . 40
3.1.3 Lesystèmedepompage . . . 40
3.1.4 Leporte-substratryogénique. . . 42
3.1.5 Utilisationdelamahine . . . 42
3.2 Lessubstrats . . . 43
3.3 Diagnostisplasma . . . 46
3.3.1 Spetrométriedemasse . . . 46
3.3.2 Spetrosopied'émissionoptique . . . 53
3.4 Tehniques de ara térisationex situ . . . 59
3.4.1 MirosopieEletroniqueàBalayage(MEB) . . . 59
3.4.2 SpetrosopieInfrarougeàTransforméedeFourier(FTIR) . . . 60
3.4.3 Ellipsométriespetrosopique . . . 62
3.4.4 SpetrosopiedePhotoéletronsX . . . 66
Ce hapitre dérit les dispositifs expérimentaux utilisés au oursde ette thèse. L'ensemble
des gravures sur substrat de siliium ont été réalisées dans un réateur industriel à ouplage
indutif,l'Alatel601E.Après unebrève revuedesaratéristiquesde eréateurplasma,nous
nousintéresseronsauxsubstrats employéspour les gravureset laaratérisationduplasma. La
suiteduhapitre seraonsaréeauxdiagnostisplasmamis enoeuvre pour analyser lesneutres
duplasma, à savoir laspetrométrie de masseet laspetrosopie d'émission optique. Une
der-nièrepartiedétailleralestehniquesdearatérisationquiont étéutiliséesexsitu pouranalyser
les strutures gravées dansle siliium et les dépts de ouhes mines : la mirosopie
életro-nique à balayage, la spetrosopie infrarouge à transformée de Fourier (FTIR), l'ellipsométrie
spetrosopique et laspetrosopie dephotoéletrons X (XPS).
3.1 Le réateur de gravure ICP Alatel 601 E
La mahineAlatel 601 E (f.gure 3.1) a étédéveloppée pour desappliations de gravure
profonde du siliium. Ce réateur entièrement automatisé peut en eet s'adapter aussi bien
pour des proédés de type Bosh que ryogéniques. Au laboratoire GREMI, les études ont été
onsarées essentiellement au proédé ryogénique, si bien que le porte-substrat et le mode de
régulation thermiqueont étéoptimisésà etusage.
3.1.1 La soure
Le plasma estgénéré dansun tube en alumine dediamètre 180 mm et de hauteur250 mm.
Une antenneen uivremonospireentouree tube etestonnetée àun générateurdefréquene
13,56 MHz pouvant délivrer jusqu'à 3000 W de puissane. Une boîte d'aord automatique
permet d'assurer l'adaptation d'impédane et don de limiter la puissane rééhie. D'autre
part,leplasmaestonnéparunhampmagnétiquerééparunebobineoaxiale.Enonditions
standard,unetensionde12Vestappliquéeàlabobineet leourantlaparourant estde 0,8A,
permettant d'induire unhamp magnétique statiquede 16,4 Gauss au entredu tube. Lesgaz
utiliséspour lagravure sont injetéspar lehaut de lasoure.
3.1.2 La hambre de diusion
Lahambredediusionapourrledepermettrel'homogénéisationduplasmasurl'ensemble
de la surfae du substrat. Il s'agit d'un ylindre d'aluminium anodisé (d'épaisseur 5 mm) de
diamètre 394mm etde hauteur270 mm. Desaimantspermanents sontpositionnéstoutautour
de la hambre selon une polarisation alternée, le but de ette age multipolaire externe étant
de limiter, tout omme la bobine dans la soure, les pertes d'életrons aux parois. Une jauge
Baratron est onnetée à la hambre à travers un aès DN16 pour eetuer la mesure de
pression.TroisautresoriesDN25sontdisponiblespourl'installation dediagnostistels quela
spetrométriedemasseetlaspetrosopied'émissionoptique.Enbasdelahambre,lesubstrat
estpositionnésurunporte-substratryogéniqueéletrostatique(ESC).Lepompagedel'eneinte
s'eetue autour de l'ESC à travers une grille anti-plasma, positionnée à hauteur du substrat
pour arrêter ladiusion duplasmaen dessousde l'ESC.
3.1.3 Le système de pompage
Le pompage de l'eneinte s'eetue à l'aide d'une pompe turbomoléulaire (Alatel ATH
1300M : 1250 L/s) assitée d'unepompeprimaire sèhe (Alatel ADP81 : 25 m
3
/h).La pompe
seondaire est thermalisée à 65 °C pour éviter toute ondensation de SiCl
4
ou formation dedéptssursesparois.LapressionestmesuréepourlevideprimaireparunejaugePirani etpour
le vide seondaire par une jauge à ionisation de type Bayard-Alpert. Le vide résiduel atteint
Chambre de
Fig.3.1 Réateur de gravureAlatel 601 E.
par legroupe depompageest de2.10
− 7
mbar.La pressionde travailest mesuréepar unejauge
Baratron qui peut fontionner dans la gamme 0,1100 Pa. Généralement omprise entre 1 et
12 Pa, elle est ontrlée à l'aide d'une vanne de laminage motorisée qui peut fontionner en
mode de régulationde pression ouen position xée.
3.1.4 Le porte-substrat ryogénique
Le porte-substrat utilisé depuis2004 au laboratoirepeut supporterdes plaquesde diamètre
6" (150 mm) et utilise un système de lampage életrostatique (ESC) de type quadripolaire. Il
a été mis au point par Alatel pour répondre aux problèmes d'inhomogénéités en température
et de déformationde lagaine életrostatique observésave l'aniensystèmede lampage
méa-nique.L'ESComporte,au dessusd'un orpsenuivre, unsupporten aluminedanslequelsont
noyéesquatreéletrodesde géométrieomplexe (systèmed'anneauxpériphériqueset depeignes
entraux). Une fortetensionontinue (environ1700 V)dontlapolarisationpeut êtrevariée est
appliquée à eséletrodes, omme le montrele shéma de lagure3.2. Cette tensiongénère la
séparationdehargeséletriquesàlafoisensurfaedel'alumineet danslesubstratdesiliium,
réant ainsiune foreéletrostatique entrel'ESC etlesubstrat quiplaque e derniersurl'ESC.
Lerefroidissementestobtenuparlairulationd'azoteliquideàl'intérieurduporte-substrat.
Unélémenthauantpermetlarégulationdelatempératureentre
−
140°Cet+30°C.Leontatthermiqueentre l'ESCet lesubstrat estassurépar un mine lmd'hélium injeté en deuxux
distints (un orie au entre et un système omportant huit ories périphériques) dont les
pressions sont ontrollables (entre 0 et 20 mbar) et dont la irulation est optimisée par la
texture delasurfae de l'alumine.
Leporte-substratestennreliéàungénérateurRFà13,56MHzàtraversuneboîted'aord
automatique. Il peut délivrer une puissane maximale de 500 W et permet d'autopolar i ser le
substrat de siliium à une tension négative. L'asservissement possible en tension estutile pour
ontrler l'énergie des ions bombardant le substrat. Pour un proédé ryogénique standard, la
tensiond'autopolarisation esten général xéeentre
−
30 et−
50 V.3.1.5 Utilisation de la mahine
La gestion des proédés de gravure plasma est entièrement automatisée, et l'interfae ave
l'utilisateur est assurée grâe à un ordinateur de ontrle. L'utilisateur dénit les diérentes
étapesduproédé(thermalisationdusubstrat, temporisation,gravure)et leursparamètres
(dé-bitsdegaz,pression,puissanesoure,tensiond'autopolarisation,durée...)danslelogiielprévu
à et eet. Il peut laner l'exéution de son proédé après avoir plaé le substrat dans le sas
de hargement. Cetype deonguratio n équipe aujourd'hui lamajorité desréteursindustriels
ar elle permet un gainde produtivité en évitant laremontée à pression atmosphérique de la
hambre de proédé. Le sas est rapidement pompé (environ 25 s) à une pression inférieure à
Fig. 3.2Porte-substrat ryogénique.
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