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Les premiers résultats de travaux sur la gravure de siliium à basse température ont été

reportéspar Tahi etal en1988 [Tahi 88℄.Ilsontobservé qu'enrefroidissantleurs substratsde

siliium à température ryogénique, ils pouvaient obtenir des tranhées anisotropes en plasma

de SF

6

pur à la fois dans des réateurs RIE et ECR. Les vitesses de gravure étaient deux

foisplusélevéesavelasoureECR,pouvantatteindre1µ m/min.Lagravurelatéralediminuait

progressivementlorsquelatempératuredesendaitendessousde

70°Cets'annulaità

110°C.

Cephénomèneétaitattribuéàlarédutiondeprobabilitéderéationduuoravelesiliiumsur

lesparois àbassetempérature; lagravurehimiquelatérale pouvaitainsiêtresupprimée tandis

qu'aufonddesmotifsleméanismedegravureassistéeparlesionsprévalait.MullinsetCoburn

ont mis en évidene, en utilisant des faiseaux séparés de radiaux F et d'ions Ar

+

d'énergie

1 keV, une augmentatio n de lavitesse de gravure assistée par les ions et une diminution de la

gravure spontanée par les atomes de uor au fur et à mesure que la température du siliium

diminue [Mullins 94℄. Ces résultats étaient qualitativement en aord ave les observations de

Tahi et al,ependant, en raison de la faible pression, lesvitesses de gravure étaient limitées à

quelquesnm/mindansleurs expérienes.

Il s'est avéré que le seul refroidissement du substrat ne pouvait expliquer l'anisotropie des

prols. Wells et al, par exemple, ont obtenu dans unréateur RIE des prols anisotropes pour

destempératures desubstratinférieuresà

85°C etpourun trèsfaible débitd'hexauorure de soufre(1sm)[Wells 97℄.Enrevanhelorsqueedernierétaitmultipliépar10,lesmotifsétaient

gravésdemanièreisotrope.Barthaetal nesont pasparvenusàreproduirelesrésultatsdeTahi

etal dansdesréateursDECRet héliononstituésd'alumine àlaplaedu quartz[Bartha 95℄.

Ce dernier, ouramment présent dans les réateurs haute densité (notamment dans la soure

ECR utilisée pour l'étude de Tahi et al), est érodé par le plasma SF

6

[Bruno80℄, générant

undébitparasited'oxygènedanslaphasegazeuse[Petri 95℄.L'alumine nereprésentant pasune

sourepossibled'atomesd'oxygène,Barthaetal devaientajouterunfaibledébitd'oxygènepour

passerd'un régimedegravureisotropeàunrégimeanisotrope.Pourexpliquerephénomène,ils

ontavanéqu'uneouhetrèsned'oxydeseformaitsurlesparoisdesmotifsetpouvaitbloquer

l'attaque himique à très basse température. Leur hypothèse était appuyée par des mesures de

spetrométriedemassemontrantlahutedusignalSiF

+

3

,aratéristiquedelavitessedegravure, au delà d'un ertain débit d'oxygène. En ontrlant e débit, la gravure latérale pouvait don

être fortement réduite.

Depuis lors, plusieurs équipes hollandaises se sont intéressées à la gravure ryogénique du

siliiumpar plasmaSF

6

/O

2

. Jansenetal ont proposéune méthode d'optimisationdesproédés de gravure basée sur la reherhe de onditions d'apparition de mirostruture s olonnaires

(MSC) oublaksilion,qu'ilsont appelée blaksilion method [Jansen 01℄.En eet,lesMSC

apparaissent seulement lorsque le prol est presquevertial, ave un underut très faible. Leur

étudeparamétrique apermisnotamment de mettreen évideneune zone deformation deMSC

en fontion de la température du substrat et du pourentage d'oxygène (voir gure 2.7). On

remarque que pour un pourentage d'oxygène xe, les MSCn'apparaissent quepour une plage

de température préise.

Fig.2.7Zonede formationdeMSC/blaksilionen fontiondelatempérature dusiliiumet

du pourentage de O

2

(soure: [Jansen 01℄).

L'artile de de Boer et al donne desindiations pour obtenir des prols anisotropes autour

dela zone de blaksilion et pour optimiserla pente destranhéestout en limitant lesdéfauts

de gravure [de Boer 02℄. Ils ont montré en partiulier que ledébit d'oxygèneet latempérature

jouaient sur la pente des parois : les augmenter induit des pentes qui sereferment, 'est-à-dire

positives, et lesdiminuer produit l'eet inverse,despentes quis'éartent (négatives).

Blauwet al ont étudié d'autresaspets de laryogravure.Ilsont onstatédeseets

ristal-lographiques en ryogravure [Blauw00, Blauw04℄, ave l'apparition de plans orientés selon les

diretions<111> enfond demotif.Ce phénomènea étémis enévidene parlaomparaison de

prolsgravésselonlemêmeproédéplasma,surdessubstratsdesiliium(100)et(111).Comme

le montre la gure 2.8, des faettes sont visibles pour le siliium (100) tandis que le fond des

tranhées est parfaitement plat pour le siliium (111). D'autre part, la vitesse de gravure est

inférieurepour lesubstrat (111). Cephénomène de gravure ristallographi que seradisutéplus

endétails danslehapitre 4.

Fig. 2.8Eet ristallographi que enryogravure (soure: [Blauw04℄).

Au laboratoire GREMI, les ativités de reherhe sur la gravure profonde par le proédé

ryogéniqueontommenéen 1997avelathèsedeS. Aahboun[Aahboun 00℄suite àl'intérêt

manifesté par STMiroeletronis sur e sujet. L'objetif onsistait à démontrer la faisabilité

de tranhées de 100 µ m de profondeur pour une largeur de 2 µ m. Les premiers essais sur un

réateur expérimental ont permis de graver des tranhées de 4 µ m de largeur et de 50 µ m de

profondeur et ont mené à la réalisation d'un démonstrateur : des aissons d'isolation pour la

miroéletr onique ave unetenue en tensionde 200 V.Ce travail afait l'objetd'une

ollabora-tion ave Alatel, qui avait alors onçu une nouvelle mahine dédiée à la gravure profonde, la

601 E. Une onvention de reherhe a étéétablie entre leGREMI et es deux entreprisespour

optimiserles proédés de gravure danseréateur et permettre un transferttehnologique vers

STMiroeltronis en vue d'une industrialisation. L'étude paramétrique de S. Aahboun a mis

en évidene laforte dépendane desprols et de lavitesse de gravure au débit d'oxygène, à la

pressionet àlatempérature dusubstrat :toutreposesurl'eaité delapassivationàbloquer

lagravurelatérale. Cetteétudea nalement permis d'atteindre lesobjetifsindustriels énonés

au début de la thèse, et a soulevé deux diultés: laformation du bowing,enore inexpliqué,

et lemanque d'uniformitéen température duporte-substrat alors méanique.

La thèse de M. Boufnihel [Boufnihel02℄ faisait suite aux travaux de S. Aahboun.

L'ob-jetif nalétait ettefois degraverrapidement destranhées surdessubstrats SOI(SilionOn

Insulator).Desexpérienesparamétriquesontétémenéespour déterminerl'inuene dehaque

paramètre sur lavitesse de gravure,la formedes prols et les défauts, en partiulier lebowing

et l'underut. Il a ainsiété mis en évidene une relation entre la vitesse de gravure latérale et

la vitessede gravure vertiale : lorsque l'une est diminuée, l'autre est favorisée. L'optimum est

obtenu à l'équilibre entre gravure et passivation, et est prinipalement ontrlé par le rapport

desdébits O

2

/SF

6

à une température donnée.

Une partie importante des travauxa onerné l'étude de l'apparition de défauts de gravure

ainsique les voies possibles pour les éliminer. L'underut apparaît dèsl'allumage du plasmaet

seraitdûàlagravurehimiqueparlesradiauxdeuor.UnesolutionproposéeparM.Boufnihel

onsiste àajouter unerampede débitde SF

6

endébut de proédépourpasserprogressivement d'un régimede surpassivation,où lavitessedegravure estlimitéeet l'underutinexistant, àun

régime de gravure ave une passivation enore susante [Boufnihel 05℄. Le bowing n'apparaît

pasau toutdébut du proédé, maisà partir d'uneertaine profondeur,pour s'aroître ensuite

aveletemps.Saformationdépenddelarésistanedelaouhedepassivationaubombardement

desionsatteignant les parois.Deuxhypothèsesontétéretenuespour expliquersonapparition:

lesionspeuventêtredéviéssurlesansdumasquequandeux-iontunepenteinférieureà75°.

Pourdesanglessupérieurs,lebowingrésultepluttdemultiplesréexionsdesionssurlesparois,

eux-i ayant une distribution angulaire à l'entrée de la tranhée [Boufnihel 03℄. La tehnique

présentéepréédemmentpours'aranhirdel'underutestaussivalablepourannulerlebowing.

Ces études ont permis d'améliorer le proédémis aupoint lors de la thèse de S. Aahboun. La

prinipalediéreneaveleproédéoriginelestlaprésened'unerampededébitd'oxygènepour

onserverunepassivationeaeaufuretàmesurequelasurfaedesparoislatéralesaugmente.

Ilorelamêmevitessedegravuremaisavetroisfoismoinsd'underutetdebowing(.f.gure

2.9).Finalement,les opérations deremplissage desmotifsdonnent demeilleurs résultatsarles

zones devide, duesaubowing, sont largement diminuées.

Le proédé optimisé a ensuite été transposé à des plaques SOI, dont l'oxyde (épaisseur

2 µ m)est enterré sousune ouhe de siliium deprès de 60µ m d'épaisseur. Lesirrégularités del'épaisseur dusiliiumonduisaient àunedispersiontemporelledudébouhage surlaouhe

d'arrêt pour l'ensemble du substrat. Une étape de surgravure était néessairepour pallier à e

manque d'uniformité, onduisant pour les tranhées ayant débouhé àl'apparition denothing.

Plusieurs solutions ont été envisagées pour éliminer e défaut, seule une a pu vraiment être

testée : l'ajout d'une rampe d'oxygène juste avant ledébouhage surl'oxyde a ainsipermis de

mieux protéger les parois des tranhées et de réduire le nothing sansaeter les performanes

globales duproédé.

(a) (b)

(a) (b)

Fig. 2.9 Performanes obtenues pour destranhées d'ouverture 2 µ m et d'ouverture 100 µ m

ave ( a) le proédé mis au point lors de la thèse de S. Aahboun et ( b) le nouveau proédé

(soure: [Boufnihel02℄).

Parallèlement à la thèse de M. Boufnihel et en ollaboration ave l'IMN de Nantes, G.

Maros a développé un logiiel de simulation Monte Carlo de la gravure profonde du siliium

parleproédéryogénique[Maros 02℄.Cetteapproheonsisteàsuivredemanièreindividuelle

lesneutresetionsduplasma,ainsiquelesatomesdusustratdesiliium.Lesdiérentsproessus

sont introduits demanière probabiliste, haque ationd'une espèeétant onsidérée omme un

événement dont laréalisation dépendd'un tirage denombres aléatoires.

Dans le shéma réationnel, seuls les radiaux F et O ont été onsidérés. La probabilité

d'adsorption duuor sur lesiliium aétéxée à 0,1et ellede l'oxygèneà 0,9.Les ionsjouant

unrle essentiel dansladestrution dela ouhe depassivation, leurs fontionsde distribution

angulaireeténergétiqueontétédéterminéesparunmodèledetransportdesespèesdanslagaine

reposantaussisuruneapproheMonteCarlo.Unméanismedepulvérisationpréférentielleaété

intégréau modèle pour tenir ompte dela naturedu site desiliium impaté, uoréou oxydé.

Leprogramme développé aétévalidé pardesrésultatsde gravureprovenantpourlaplupart

desexpérienesdeM. Boufnihel.Enautorisantlamodulation devariablestellesquel'angledu

masque,ilapermisdemettreenévideneundesméanismesdeformationdubowing.Celui-ise

développerait sousl'ation ombinée desneutreset desions: lebombardementionique fragilise

loalement laouhe de passivation, induisant alors une gravure latérale.Cet eet estd'autant

plusimportantque l'énergie desions estgrandeet queles ansdumasquesont inlinés.

L'ap-parition de l'underut a également été étudiée. Son évolution est liée à la densité de ux de

radiauxFinidentsdansleszonessituées souslemasque.Lesneutres ne peuvent lesatteindre

queparréexionssurlesparois,equiestenvisageableaveuneprobabilitéd'adsorptionde0,1.

C'estlavaleurdeetteprobabilité quiontrlel'amplitudedel'underut. Lelogiielélaborépar

G. Maros adon permis d'identier plus lairement le rle desparamètres expérimentaux sur

lesprols de gravure.

Les reherhes sur le proédé ryogénique se sont limitées jusqu'en 2002 à des appliations

tehnologiques et au développement d'un logiiel de simulation. Des expérienes de

aratéri-sation de la ouhe de passivation, supposée à l'époque de type SiO

x

F

y

S

z

, avaient été initiées

au ours de la thèse de M. Boufnihel. Des éhantillons omprenant des tranhées avaient été

transférés sous atmosphère d'azote dansunbâti XPS (X-rayPhotoele t ron Spetrosopy). Des

traes de uor avaient été détetées mais l'analyse ne montrait auune oxydation des parois

latérales destranhées. Il en avait été déduit que laouhe de passivation disparaissait lors de

laremontéeà température ambiante [Dussart 04℄.

L'étude de la ouhe de passivation a été poursuivie lors de la thèse de X. Mellhaoui

[Mellhaoui06℄.L'objetifétait deomprendreles méanismesmisen jeulorsde saformationet

d'analyserpar ellipsométriespetrosopique insitu sainétiquederoissaneetde destrution.

Une première étudea onsistéà faire roîtreun lmsurun substratde siliium massif,refroidi

à température ryogénique, par plasmaSF

6

/O

2

enonditions de surpassivation('est-à-dire un pourentaged'oxygèneélevé).Lorsdelaremontéeentempératuredusubstrat,lesespèes

désor-bées ont étédétetéespar spetrométrie demasse. L'ionprinipalem ent détetéétait SiF

+ 3

, issu

delamoléuleSiF

4

,quidésorbeentre

70°Cet

50°C.Cetteobservationaonduità

s'interro-gersurlerledeettemoléule,normalementproduitdegravure,danslaformationdelaouhe

de passivation. Une série d'expérienes a alors étéréalisée dansle but de déterminer les

méa-nismes de roissane de ette ouhe. Des essais de reonstrution de la ouhe de passivation

aprèssadestrution parremontéeàtempérature ambiante ont étéeetuésparplasmaSiF

4

/O

2

et SO

2

/O

2

. Seullepremier mélangeadonnéunrésultat onluant, montrant quelesoufren'est

pas un élément néessaire à la formation d'une ouhe de passivation [Dussart04℄. Celle-i est

don de laformeSiO

x

F

y

(etnon SiO

x

F

y

S

z

) maissast÷hiométrie reste indéterminé e.

Les expérienes de onstrution de ouhe de passivation ont été poursuivies en séparant

l'ation des moléules SiF

4

et O

2

pour mieux omprendre le rle de haune. En testant les

eets de la physisorption de SiF

4

ou O

2

, auune ouhe de passivation n'a pu être réée. En revanhe,desalternanesrépétéesdeplasmaSiF

4

etdeplasmaO

2

permettentlaformationd'un

lmSiO

x

F

y

résistant.Unlmsimilairemaisplusn peut également êtreformé paralternanes

d'étapesde plasmaSF

6

et O

2

; lesespèesSiF

x

néessaires àlaonsitutionde laouhe SiO

x

F

y

proviennent alors de ladiusiondu uor danslesiliium surquelquesmonoouhe s.

Deux méanismes possibles ont pu êtreproposés pour expliqerlaformation de laouhe de

passivation lors d'un proédéde gravureryogéniqueen plasmaSF

6

/O

2

(voirgure2.10) :

Les produits de gravure volatils SiF

4

sont dissoiés dansle plasma en espèes SiF

x

et se

redéposent surle siliium refroidi. Les radiaux Oinidents réagissent ave les sites SiF

x

pour former un lm SiO

x

F

y

. Ce méanisme est plus probable dans les motifs de grande

ouverture où letransport desespèes estplusfaile.

LesradiauxFréagissentavelesiliiumsurquelquesmonoouhe s,formantdessitesSiF

x

avelesquelslesradiauxOinidentspeuventréagir.Ceméanismeestplusprobabledans

leas demotifs isoléset/ou defaible dimension (rapport d'aspet élevé).

Silicium refroidi

Motif de grande ouverture Motif de faible ouverture

Motif de grande ouverture Motif de faible ouverture

Fig. 2.10 Méanismes de formation de la ouhe de passivation en ryogravure (soure :

[Mellhaoui 06℄).

Uneséried'expérienesaétémenéepoursuivreparellipsométrieinsitulainétiquede

rois-saneet dedestrutiondelms SiO

x

F

y

.Ceux-iontétéforméssurlasurfaeplanedesubstrats

de siliium massif pour failiter l'analyse ellipsométrique. Pour des plasmas SF

6

/O

2

, SiF

4

/O

2

et SF

6

suivis de plasmas O

2

, les essais ont démontré que la diérene de hemin optique3 est

plusélevée àtempérature ryogénique qu'àtempérature ambiante. L'étude aégalement montré

ladiminution de diérene de hemin optique des lms formésà basse température lors du

ré-hauement dusubstrat.CetteperteenépaisseuraétéorréléeàladésorptiondesespèesSiF

4

tellequemesurée parspetrométrie de masse.

La thèse deT. Tilloher, débutéeun an aprèselle deX. Mellhaoui, s'estonstruite autour

d'un projet initié à la n de la thèse de M. Boufnihel : la gravure de trous traversants pour

laréalisationde viasrésistifs.L'appliat ion onsistaità reporter desomposantsintégrés surla

seondefaedusubstrat desiliium,et les viasserviraient à interonneter esdiérentes

fon-tionsentreelles.L'objetif étaitde perer dessubstrats desiliium (100)de400 µ md'épaisseur

en une heure en gravant suessivement les deux faes par leproédé ryogénique, le diamètre

naldestrous nedevant pasexéderundiamètre de 20 µ m[Tilloher 06a℄.

Le ahierdesharges aétérempli, ave lamiseaupointd'un proédépermettant de graver

des trous de diamètre nal environ 20 µ m (à partir d'ouvertures de 14 µ m) et de profondeur

210µ men 30 minutes, soit une vitessede gravure moyenne de 7µ m/min(voirgure 2.11).

3

Cettequantitéaétéintroduitepours'aranhirdeladiultéàdéterminerindépendammentl'épaisseur

d

etlesindiesoptiques(

n

,

k

)dulm.Elleestdénieomme:

dco = d(n − 1)

Face 1

Face 2

Diamètre max. : 20 µm Face 1 :

Profondeur : 202 µm Largeur au fond : 11 µm Face 2 :

Profondeur : 203 µm Largeur au fond : 11 µm Face 1

Face 2

Diamètre max. : 20 µm Face 1 :

Profondeur : 202 µm Largeur au fond : 11 µm Face 2 :

Profondeur : 203 µm Largeur au fond : 11 µm

Fig. 2.11 Gravure de vias traversant (diamètre initial 12 µ m) réalisée ave le proédé mis

au point par T. Tilloher (soure : [Tilloher 06a℄). La qualité de l'image est altérée par les

diultésliées aulivage au milieu detrous et e,sur toutel'épaisseur dusubstrat (400µ m).

LesparamètresontétédénisàpartirdesétudesréaliséessurlahimieduplasmaSF

6

/O

2

et

desoninterationave lasurfaedesiliium.T.Tilloheramontré,par desmesuresde

spetro-métrie demasse, qu'un régimede passivation estatteint au delàd'un débit d'oxygèneseuil. Ce

seuil d'oxydation semanifeste par une hute de la vitessede gravure, visiblesur l'évolution du

signal SiF

+

3

, issu de lafragmentation du produit de gravure majoritaire,SiF

4

. Plusieurs autres

espèes sont sensiblesà e seuil d'oxydation : les signaux F

+

et F

+ 2

augmentent, de même que

les signaux SiF

+

, SiF

+

2

et SiO

+

, es derniers étant supposés provenir de moléules issues de la

désorption de laouhe de passivation. Lesévolutionsrelatives desdensités desespèes SO

x

F

y

ont permis de proposer un shéma réationnel en aord ave es résultats[Tilloher 06b℄. Des

expérienes similaires seront présentées pour l'étude duplasma SF

6

/SO

2

danslehapitre 4. Le

seuild'oxydation dépend delatempérature du substrat,de lapuissane soureet de latension

d'autopolarisation. La puissane soure et la tension d'autopolarisation déterminent la densité

de puissane apportée par les ions à la surfae. Le bombardement ionique est assimilé à un

hauagede lasurfaequi s'opposeà laformation delaouhe depassivation; ette hypothèse

s'aorde ave le fait que la ouhe de passivation désorbe ave la remontée en température

[Dussart04, Mellhaoui 05℄.

Les expérienes de aratérisation du plasma SF

6

/O

2

en interation ave un substrat de

siliium ont été très utiles pour optimiser le proédé de gravure de vias traversants : dans un

telproédé, ledébitd'oxygène estajustéde tellesortequeles surfaeslatéralesdesmotifs, non

(ou très peu) soumises au bombardement ionique, soient en régime de passivation. La tension

d'autopolarisation est alors déterminée pour atteindre un régime de gravure en fond de motif

touten onservant unepassivationeae surles parois.

Le proédéoptimisé reste ependant très sensible aux variations de température, la

dépen-dane de l'eaité de la passivation à e paramètre entraînant une modiation des prols

pour une variation de seulement de 2 °C. Cette sensibilité inhérente au proédé ryogénique

a motivé le développement par Alatel Miro Mahining Systems d'un porte-substrat

a motivé le développement par Alatel Miro Mahining Systems d'un porte-substrat