Posemètre pour microscope électronique

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Posemètre pour microscope électronique

J. Moncassin

To cite this version:

181 A

LETTRES

A

LA

_RÉDACTION

POSEMÈTRE

POUR MICROSCOPE

_{ÉLECTRONIQUE}

Par J.

MONCASSIN,

Laboratoire

_d’Optique

_{Électronique,}

Toulouse.

LE JOURNAL DE PHYSIQUE ET LE RADIUM _{SUPPLÉMENT AU ? 11}

PHYSIQUE APPLIQUÉE -

TOME _17, NOVEMBRE 1956, PAGE 181 A

Le

_temps

_{de pose, pour les}

_{photographies}

tirées

_au

microscope

électronique,

doit être choisi en fonction de l’éclairement

_{électronique.}

de l’émulsion sensible.

D’ordinaire,

cet éclairement est évalué indirectement

d’après

la brillance

de

l’écran fluorescent sur

_lequel

on

forme

_l’image

_pour contrôler la mise au

_point,

la

brillance étant

_{jugée approximativement}

à

_l’oeil,

ou mesurée _par un

_photomètre

_optique.

Cette

méthode

a

l’inconvénient de faire intervenir la sensibilité de l’écran

_qui

est

_susceptible

de varier fortement au cours

du

_temps,

et d’un écran à l’autre. Il est

_plus

rationnel

et

_plus

sûr de mesurer directement la densité du

faisceau

_{électronique,}

ainsi que l’ont

préconisé

certains

auteurs. On

_peut

le faire de

_façon

_simple

en

intro-duisant dans le faisceau une

_{plaquette métallique}

et en mesurant le courant

_qu’elle

_reçoit.

Sur ce

_principe,

nous avons étudié et

_réahsé

comme

_posemètre

un

appareil simple

et commode

_qui

a donné satisfaction

depuis

sa mise en service. Nous pensons que sa

des-cription

sera utile à ceux

_qui

_envisagent

de construire

un

_posemètre.

Plaquette réceptrice.

- C’est _une

plaquette

de laiton de 4 cm2 venant se

_placer,

en

_position

de _mesure, un peu au-dessus de l’écran fluorescent. L’ombre

portée

sur la

_plaque

_{photographique}

est de

_surface

à peu

près

double. Le courant

_qu’elle

_reçoit

est donc

approxima-tivement

égal

à huit fois la densité

_{électronique}

moyenne sur la

_plaque.

On obtient

_ainsi,

_pour

les

éclairements

_{correspondant}

aux _{poses usuelles de}

quelques secondes,

des courants de l’ordre de 10-1°

_ampère.

Amplificateur.

- La mesure de ces

courants est

effectuée à l’aide d’un

_{amplificateur}

à tubes

élec-troniques.

Bien

_qu’il

_s’agisse

de courants très

_faibles,

on

_peut

utiliser des tubes

ordinaires,

qui

ont

_l’avantage

sur les tubes « électromètres » d’être moins coûteux et

d’emploi

moins

_délicat,

mais il est nécessaire de

_placer

le tube d’entrée dans des conditions telles que son

courant de

grille

soit

_négligeable

devant les courants à

amplifier.

Le

_montage

_{(fig. 1)}

est

_symétrique

et à deux

_étages

constitués chacun par une double triode. La réduction

du courant de

_grille

du tube d’entrée a _{été obtenue par}

abaissement

de la tension de

_plaque.

Pour éviter toute

induction dans le circuit de la

grille

d’entrée le

_premier

étage

est chauffé par un courant continu

_(obtenu

par

redressement de la tension alternative de

_12,6

volt

_qui

chauffe le deuxième

_étage).

On

_peut

vérifier sur le

_montage

même _{que la}

_grille

d’’entrée ne

_présente

_{pas :} soit un courant

anor-malement

_élevé,

soit un isolement anormalement

mauvais. Pour

_cela,

on intercale entre b et b’ une

tension que l’on fait varier : à l’intérieur du domaine

de tensions de

_grille

_qui

sera utilisé si on

court-circuite

_R,

cela

ne doit

jamais produire

de variation

sensible de l’indication de M.

FIG. 1. -

Montage,

électrique :

a est relié à la

plaque

réceptrice. R

= 4.109 n, résistance de

charge.

M :

micro-ampèremètre

0-50

_uA,

résistance interne 10 ka. ri

et r2 :

résistances

_ajustées

pour obtenir deux valeurs de la

sensibilité

_(10-1°

et 2.10-10 A pour toute la déviation dans notre

_montage).

Le

_{potentiomètre}

de 100 0 sert au

réglage

du zéro. Il est

_possible

_{d’intercaler,}

éventuel-lement, une tension auxiliaire entre b et b’.

De par sa

_symétrie,

le

_montage

_présente

suffi-samment de stabilité _{pour que} toutes les tensions

d’alimentation

puissent

être dérivées du secteur sans

stabilisation

_(dans

certains cas, elles

pourront

être

prélevées

sur les circuits du

_microscope).

Mise en

_place

sur le

microscope.

-

L’appareil

a été monté en trois

parties :

FIG. 2. - Embase

portant

la

plaque

réceptrice

et le tube d’entrée.

182 A

1. Une

_pièce

_métallique

A

_(avec

à sa base un

_regard

en verre

B)

vient se mettre à la

place

d’une des fenêtres

d’observation du

_microscope,

et

porte :

- la

_plaquette

_réceptrice

P et sa commande

d’esca-motage

C ;

- la résistance de

charge R

et le tube d’entrée

_LI.

R et

_Li

se trouvent sous

_vide,

ce

_qui

assure la

_qualité

des isolements _{pour le} circuit de la

_grille

d’entrée. L’isolement de la

_plaquette

est _{assuré par} une

pièce

de

_plexiglas

D entourée d’un

_blindage.

_Lorsque

la

plaquette

est

_relevée,

en dehors des _mesures, elle vient au contact d’une butée

_qui

la met à la masse.

2. Un

_{petit boîtier,}

à

_portée

de main de

_{l’utilisateur,}

porte le

_{microampèremètre,}

le commutateur de sensi-bilités et le

_{potentiomètre}

de

_réglage

du zéro.

3. Un boîtier

_qui

_peut

être

_placé

en un endroit

quelconque

contient les autres éléments de

l’ampli-ficateur et les circuits d’alimentation.

-Remarques.

- La

jauge

à

_ionisation,

souvent

_placée

près

de la chambre

d’observation,

peut

donner un courant

_parasite

d’ions venant sur la

_{plaquette ;}

pour

le rendre

_négligeable

sans éteindre la

_jauge

il suffit de

placer

devant celle-ci un écran

métallique

en chicane.

- Les

mesures

_peuvent

être

_perturbées

_par les

décharges sporadiques

d’isolants

chargés

par les

élec-trons venant du faisceau ou d’une émission secondaire.

On élimine ces

_{perturbations}

en blindant les isolants en cause.

- Les électrons secondaires venant de l’écran

d’observation sur la

plaquette produisent

un courant

parasite

mais de valeur suffisamment faible pour être

négligée.

- L’émission secondaire de la

plaquette

est une cause

d’erreur,

mais on

_peut

ne _pas en tenir

_compte

si on ne fait que des mesures relatives d’éclairement.

(Nous

avons mesuré le courant obtenu avec un

_cylindre

de

_Faraday

recevant la même section de faisceau que

notre

_{plaquette :}

le

_cylindre;

pour la même tension

accélératrice de 50 kV donnait un courant sensi-blement

_1,6

fois

_{plus fort.)}

Manuscrit reçu le 23 mai 1956.

BIBLIOGRAPHIE

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RAMBERG

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and HILLIER

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CHAUME

_(G.),

GUILLAUME

(J.)

et MATHIEU-SICAUD

_(A.),

Bull. Soc. Franç.

Minéralogie

et

_{Cristallographie,}

avril-juin

1953, p. 193.

POMPES

MOLÉCULAIRES

AUX

TRÈS

BASSES PRESSIONS

GÉNÉRALISATION

AUX GRANDES VITESSES DE ROTATION

_[1]

Par Claude MERCIER et Pierre

_BENOIST,

Commissariat à

_l’Énergie

Atomique,

Centre d’Études Nucléaires de

_Saclay,

Dans un

_précédent

article

[2],

l’un des auteurs a montré

_{qu’à partir d’hypothPses simples}

telles que

l’absence

de chocs entre molécules et la réflexion diffuse sur les

_parois,

on

_peut

obtenir des résultats

concernant _{les pompes} moléculaires en accord avec les

données

_{expérimentales.}

Mais les formules obtenues

alors

_risquent

de ne

plus

être

_justifiées

si la vitesse

périphérique ve

du rotor n’est

_plus

_négligeable

devant la vitesse la

_plus

_probable

_{v o}

=1/03B2 des

_{molécules. Ces}

formules

_reposent

en effet sur un

_{développement}

₍₁₎

en

_5v,,

limité au terme d’ordre

_1,

de la fonction

J(v, 6r,

r.lJr)

exprimant

la loi de choc sur le rotor

_{(voir les}

formules 2 et 2’ de la référence

_[2]).

Pour se libérer de

cette servitude et

_pouvoir

utiliser les résultats de la

théorie dans un domaine de vitesses

_{plus étendu,}

de

nouvelles formules ont été établies en conservant la fonction i sous forme

_entière,

sans modifier les autres

hypothèses

de la théorie.

L’équation

intégrale

à limites infinies

_qui

_régit

la densités de chocs sur le stator en fonction de

_l’angle

a a _{maintenant pour}

_{équation caractéristique :}

Cette

_équation

ne diffère de celle obtenue dans le

premier

calcul

_(voir

la formule

_(8)),

_{que par}

l’expres-sion de

_Y(uo,

_y,

_À)

avec 03BB

= 03B2ve

Les

_expressions

de K et de

_S,

sont

_{inchangées ;}

le

développement

de K en

_puissances

de y est donné dans le

_{premier article ;}

en

pratique Ii

est

_toujours

voisin de 1. On

_peut

_{voir facilement que} le

dévelop-pement

au

_premier

ordre de

_V(uo,

y,

X)

se réduit bien à

l’expression

obtenue dans le

_premier

calcul :

(Les

intégrales

sont

_présentées

ici sous une forme

analytique

différente de celle utilisée dans la

réfé-rence

_[2].)

L’examen des racines _{y de}

_{l’équation caractéristique}

en fonction de À conduit à :

a)

une racine

toujours

nulle

quel

_que

soit 03BB ;

b)

une racine réelle et

positive,

nulle

pour X

=

0,

et croissant

_{avec X ;}

c)

des

_couples

de racines

_{complexes conjuguées}

dépendant

due

ces racines

_peuvent

être

négligées

(voir

le

_rapport

C. E.

A.).

La racine réelle et

_positive

_{peut pour 03BB~}

1

s’exprimer

par le

premier

terme de son

développement

en

_{X ;}

celui-ci a

_déjà

été

_donné,

ainsi que les définitions

de

_7(Ho)

et

_J(uo),

dans le

_précédent

article :

(1)

On a X =

03B2ve

_0,476.10-s

_rw~M,

où r est le