HAL Id: jpa-00234634
https://hal.archives-ouvertes.fr/jpa-00234634
Submitted on 1 Jan 1952
HAL is a multi-disciplinary open access
archive for the deposit and dissemination of
sci-entific research documents, whether they are
pub-lished or not. The documents may come from
teaching and research institutions in France or
abroad, or from public or private research centers.
L’archive ouverte pluridisciplinaire HAL, est
destinée au dépôt et à la diffusion de documents
scientifiques de niveau recherche, publiés ou non,
émanant des établissements d’enseignement et de
recherche français ou étrangers, des laboratoires
publics ou privés.
Mesure photométrique des constantes optiques des
solides dans l’ultrayiolet de Schumann
Simone Robin
To cite this version:
493 MESURE
PHOTOMÉTRIQUE
DES CONSTANTESOPTIQUES
DES SOLIDES DANS L’ULTRAYIOLET DE SCHUMANN Par Mme Simone ROBIN.
Laboratoire de
Physique
Enseignement de la Sorbonne, Il estprobable
que la théorieélectromagnétique
classique
de ladispersion
seheurte,
dans l’ultra-violetlointain,
à des difficultésanalogues
à celles rencontrées dans le domaine des rayons X[1].
Cepen-dant,
en cequi
concerne les facteurs deréflexion,
étant donné la rareté des données dans l’ultraviolet
lointain,
il estplus
utile de commencer par yappli-quer la théorie
électromagnétique classique
afin de reconnaître ses insuffisancespossibles.
On sait quecette théorie
permet
la détermination desconstantes
optiques
àpartir
de la mesure de facteurs deréflexion
pourplusieurs
angles
d’incidence. C’est une méthodeapplicable
à l’ultraviolet lointain(1); cependant,
elleexige
des
calculsgraphiques
assezlongs.
La méthodeproposée
par Abelès[2] qui
conduit à des formulesexplicites
estplus rapide,
mais nécessite la connais-sance des facteurs de réflexionRp
etRS
pour des vibrationsrespectivement parallèle
etperpendiculaire
au
plan d’incidence;
or, la lumière totalementpola-risée est difficile à
produire
dans l’ultraviolet loin-tain(2).
La
présente
note montre ’comment onpeut
pro-céder en utilisant seulement trois mesures de
facteurs
de réflexion : une pour un
angle
d’incidence ~
= 0et deux pour un
angle
d’incidence y
=450.
La mesure des facteurs de réflexion Rs etRp
neprésente
aucune difficulté en incidence normale(y
=o)
pour
laquelle
R°
=R;,
= R,,.Pour ?
=450,
onpeut
utiliser de la lumière naturelle réfléchie à450
par un miroirfixe
Ml,
puis
encore à450
par un miroirM2
mobile autour de l’axe du faisceau lumineux. Il est ainsi- possible
de faire tourner de 90° leplan
d’incidence surM2 qui peut
être d’abord confondu avec leplan
d’incidence surMi,
puis
perpendiculaire
à celui-ci.De la mesure des deux
rapports
d’intensité a et b de la lumière réfléchie parM2
dans ses deuxpositions
à la lumière réfléchie parMi,
onpeut
déduireRJ
etRp
par deuxéquations
de la formeLa
comparaison
de Rs etRp
pour 9 =45°
permet
de vérifier
simplement
la validité de la théorie dont découle la relationR2s
=R,,
[4].
D’autrepart,
connais-santnumériquement
Rn(pour y
=o)
et Rspour o =
45),
onpeut
en déduire les constantesoptiques
par des formules relativementsimples
comme le montre le calcul suivant.D’après
lesexpressions
connues deR,
etRp
enfonction de p
et q
définis par(n -
ik = indice de réfractioncomplexe
et n o = idans le
vide),
on trouve :I O Pour l’incidence normale
( ~ = 0),
d’où
avec
En
posant
et en éliminant p etq
entre les relations
(1), (2)
et(4),
on obtientd’où,
enportant (3)
dans(5),
(comme
À E i et B> I, cetteéquation
a desracines ;
il fautcependant n
> o et k2 > o pourqu’elles
conviennent).
Les
équations (5)
et(3)
fournissent directement les valeurs de n et k àpartir
des mesures deRs45
5 etRn.
La
présente
méthode de mesure des constantesoptiques
a étésuggérée
par ladisposition
dumono-chromateur existant avec
lequel
nousprojetions
[5]
de faire les mesures et
qui comporte précisément
unmiroir à
450
entre la source et le réseau(3).
Natu-rellement,
tout cequi précède peut
êtreappliqué
àn’importe
quel
domainespectral,
enparticulier
chaque
fois que laproduction
de lumière totalementpolarisée
estdifhcile,
mais on aura de meilleurs résultats dans lesrégions
de fortspouvoirs
réflec-teurs.Il n’est pas
impossible d’envisager
une méthodeanalogue
par rotation du 2e miroir autour du faisceaulumineux,
mais utilisant deux réflexions successives pour déterminer R.s etRp
dans le cas d’une inci-dence rasante pourlaquelle
lepouvoir
réflecteur estmeilleur;
n et k en seraient alors déduits par lesfor-mules d’Abelès
[2].
[1] COMPTON A. G. et ALLISON S. K. 2014 X rays in theory and
experiment,
New-York, I947, chap. IV.[2] ABELÈS F. - Rev.
Optique, I952, 31, I27.
[3] TOUSEY R. -
Phys. Rev., I936, 50, I057. [4] ABELÈS F. - C. R. Acad.
Sc., I950, 230, I942.
[5] ROBIN Mme S. et VODAR B. 2014 J. Physique Rad.,
I95I,
12, 634.
Manuscrit reçu le 23 août 1952.
(1)
Tousey [3] a déduit graphiquement de ses mesures sousquatre angles d’incidence les constantes optiques de la fluorine entre goo et 600 À.
(2)
On peut polariser la lumière par réflexion sous incidencebrewstérienne, par exemple sur une lame de silice (R. SERVANT,
Ann. Phys., 1939, 12, 4ô4), mais l’incidence à utiliser varie
avec la
longueur
d’onde.(3) D’après
Tousey [3],
l’influence du réseau sur lapola-risation de la lumière serait faible. ’
![[PDF] Formation pour débutant dans le logiciel The gimp | Formation informatique](data:image/gif;base64,R0lGODlhAQABAIAAAP///wAAACH5BAEAAAAALAAAAAABAAEAAAICRAEAOw==)