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L'emploi des cristaux imparfaits dans la spectroscopie des rayons X

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(1)

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L’emploi des cristaux imparfaits dans la spectroscopie

des rayons X

J.M. Bačkovský

To cite this version:

(2)

L’EMPLOI DES CRISTAUX IMPARFAITS DANS LA SPECTROSCOPIE DES RAYONS X

Par J. M.

BA010CKOVSKÝ.

Prague, Institut

spectroscopique

de l’Université Charles.

Sommaire. 2014 On a étudié le pouvoir séparateur des cristaux imparfaits à structure mosaïque, employés

dans un spectrographe à disposition symétrique (la distance fente-cristal est égale à la distance cristal-plaque

photographique). L’élargissement angulaire (en radiants) de la ligne, provoqué par la structure mosaïque des

cristaux, est égal à 03B5 = 2 /039403C3 /2ctg~, pour ce dispositif, et il se manifeste toujours dans le sens des plus petites

longueurs d’onde. Par exemple, pour un cristal comme NaCl et la ligne CuK03B1 où 039403C3 = 120"

et ~ = 15°, l’élargissement de lignes atteint à peu près 2 pour 100 de la largeur propre de la ligne CuK03B11, c’est-à-dire à peu près 0,008 u. X. Cette valeur est beaucoup au-dessous de la limite des erreurs d’observation. Ainsi l’influence de la structure mosaïque dans la disposition symétrique du spectrographe est pratiquement exclue

quand ~ est assez grand. Au contraire, s’il y a une grande différence entre les distances fente-cristal et

cristal-plaque photographique (disposition asymétrique), un élargissement notable des lignes se manifeste, qui permet

d’évaluer l’imperfection mosaïque du cristal. Dans les méthodes asymétriques (spectrographe à tube, méthode de Seemann) pour le spectromètre à cristal double et dans quelques méthodes de focalisation, les deux sortes

d’imperfection se manifestent simultanément dans la largeur des lignes. Aussi pour mesurer les raies il est

in-dispensable d’employer dans ces méthodes des cristaux parfaits.

1. Introduction. - Pour obtenir une

grande

luminosité des

spectrographes

à rayons

X,

on

emploie

les méthodes à cristaux courbés. Un autre facteur

important

est la nature du

cristal,

qui

doit

avoir,

ainsi

qu’une dispersion

et un

pouvoir

séparateur

suflisant,

un

grand

pouvoir

réflecteur. Comme on le

sait,

les cristaux

imparfaits possèdent

cette dernière

qualité.

J’ai donc

employé

dans la méthode de foca-lisation verticale de Kunzl

(1)

un cristal de sel gemme,

déformé

plastiquement

suivant une surface

cylin-drique

de révolution. La déformation était faite à

haute

température

d’après

la méthode décrite par l’auteur et

Neprasova

(2).

Les cristaux de sel gemme

n’étant

pas

parfaits, j’ai

étudié avec M. le Professeur V.

Dolejsek

(3)

le

pouvoir

séparateur

de notre

dispo-sitif. Nous avons observé que les

grandeurs

obtenues

à l’aide de ce cristal

correspondent

aux

grandeurs

limites obtenues avec des cristaux

parfaits.

Je donne

comme

exemple

un

enregistrement

microphotomé-Fig. 1. - Cliché de CuI(

al, a~, cristal de NaCI courbé, 11 fois agrandi.

trique

du cliché de

Cu K al,

oc,

( fig.

1)

obtenu dans ce

travail. Pour cette courbe

photométrique

(fig. 2),

la

largeur

de la raie

Cu K al

mesurée à mi-hauteur du maximum était

0,47

u.

X,

pour

CuK C(2

-

0,75

u. X.

Si nous comparons ces résultats obtenus sur un

cristal de NaCI

(cristal

imparfait

à structure

mo-Fig. 2. - Courbe

photométrique du cliché précédent,.

saïque),

avec les meilleures

grandeurs

mesurées à

l’aide du

spectromètre

à cristal

double,

nous voyons

que nous avons obtenus pour

CuK a2

une

grandeur

identique

et pour

CuKot,

une valeur moindre.

Nous

montrerons,

dans ce

travail,

pourquoi

il est

possible

d’obtenir un

pouvoir séparateur

considé-rable avec des cristaux

imparfaits.

On

peut

démontrer que

l’imperfection

mosaïque

des cristaux ne se manifeste que d’une

façon

négli-geable

si un

dispositif symétrique

de

spectrographe

est

employé.

Ces résultats

peuvent

aussi

s’appliquer

à l’étude de la structure des cristaux.

2. Le domaine de réflexion du sel gernme.

-A cause de

l’imperfection

du

cristal,

le

rayonnement

monochromatique

est réfléchi dans un certain

do-maine

angulaire,

qui

est conventionnellement défini

comme la

largeur

Wc de la

courbe,

donnant

(3)

472

sité du

rayonnement

réfléchi en fonction de

l’angle

d’inclinaison,

à sa demi-hauteur. Pour

NaCI,

Bragg-James et

Bosanquet

(4)

ont trouvé Wc -

900" ;

Davis et

Stempel

(6)

Wc =

300" ;

Kirckpatrick

et

Ross

(6)

W~ _

$7";

Bozorth et Haworth

(7)

Wc = 400 ".

Ces

grandeurs

mesurées diffèrent

beaucoup

entre elles

et

proviennent

vraisemblablement d’une

qualité

diffé-rente des cristaux de NaCI. Ewald et

Renninger

(8)

ont

prouvé

qu’il

existe dans la « construction » de

chaque

cristal des

qualités

différentes et ils ont

démontré que des

petites

surfaces de sel gemme

réfléchissent

d’après

la structure idéale.

Leurs mesures sur des

petites

zones de la surface

du cristal de l~aCl à l’aide d’un faisceau très fin ont

montré que le domaine

angulaire

de réflexion de

ces

petites

surfaces est à peu

près 14,2".

Cette gran-deur

s’approche

déjà

beaucoup

de celle de 10"

qui

était déduite de la théorie

dynamique

d’Ewald. Ce fait est

expliqué

par Ewald

qui

suppose que le cristal de sel gemme a une structure

mosaïque,

c’est-à-dire

qu’il

est

composé

de

petits

cristaux

qui

ont leurs

plans atomiques

inclinés l’un par

rapport

à l’autre

dans un certain domaine

angulaire

et leurs cons-tantes de réseau éventuellement différentes.

3.

L’élargissement

de la

ligne

dans un

dispo-sitif

symétrique. -

Voyons

maintenant comment

la

largeur

de

la ligne

est

influen-cée par las structure

mosaïque.

Supposons

en

premier

lieu que

les constantes de réseau des

cris-taux constituants d’un

grand

cristal soient

identiques,

mais

que leurs

plans atomiques

soient

inclinés l’un par

rapport

à

l’au-tre,

de manière que la

réparti-tion de

probabilité

des écarts

angulaires

suive la courbe de

Gauss.

Si un

rayonnement

monochro-matique parallèle

se réfléchit sur ce

cristal,

l’intensité mesurée en

relation avec

l’angle

d’inclinai-son va aussi suivre la courbe de Gauss. La courbe de l’intensité

du

rayonnement

réfléchi nous

donnera la

répartition

des écarts

angulaires

des

plans atomiques

des cristaux constituants.

Prenons maintenant un second cas où les

plans atomiques

des

cristaux constituants sont

pa-rallèles,

mais leurs constantes

réticulaires différentes.

Suppo-sons que la

répartition

des

cris-taux suit aussi la courbe de Gauss pour la

grandeur

de leur constante de réseau. La

modifi-cation de l’intensité du

rayonne-ment réfléchi sur ce cristal va

suivre,

pour un

petit

domaine de différences des constantes

réticulaires,

la courbe de Gauss.

Si le cristal

possède

les deux genres

d’imperfec-tion,

nous mesurons dans l’intensité du

rayonnement

réfléchi leur somme

géométrique :

où c~ ~, ~6, vve sont les

largeurs

des courbes de

Gauss à mi-hauteur. A cela

s’ajoute

encore la

largeur

propre de la

raie,

de sorte que nous pouvons écrire

pour la courbe mesurée :

Donc,

dans la mesure à l’aide du

spectromètre

à

cristal

double,

les deux genres

d’imperfection

vont se

manifester simultanément.

Considérons maintenant le cas du

spectromètre

avec un seul cristal

mosaïque, ayant

le

premier

genre

d’imperfection.

La

probabilité

des

angles

des

plans

atomiques

des cristaux constituants est

sup-posée

répartie

d’après

la courbe de Gauss. La

sur-face II, menée par la direction

qui correspond

au

maximum des

plans

atomiques

des cristaux

consti-tuants,

traverse l’axe du

spectrographe (fig.

3).

(4)

Prenons maintenant un faisceau

divergent

d’un

rayonnement

monochromatique

sortant de la fente.

Plaçons

le cristal d’une telle

manière,

qu’un

certain

rayon

monochromatique

soit réfléchi dans l’axe du

spectrographe

sur la surface l I. Un autre rayon

monochromatique

de même

longueur

d’onde se

réflé-chira sur un

plan

atomique

incliné par

rapport

à la

surface II d’un

angles 6

dans le cas où la distance

(mesurée

dans le

plan

du

cristal)

de ce

plan

à l’axe

du

spectromètre

est s.

(La

profondeur

de

pénétration

du

rayonnement

dans le cristal est considérée comme

négligeable.)

La réflexion d’un

rayonnement

monochromatique

se

produit

donc sur les cristaux à structure

mosaïque

simultanément à différents endroits du cristal dont la distance à l’axe du

spectrographe

est fonction de leur

inclinaison

angulaire

sur la surface II.

Dans la

figure

3 est tracé le chemin de deux rayons inclinés de Ana par

rapport

au rayon

central,

qui

correspondent

à la réflexion sur des cristaux

consti-tuants

mosaïques

B et

C,

inclinés de

Acr sur le

plan

II. Il est visible sur

la

figure

que ces deux rayons,

après

réflexion sur les cristaux

mosaïques

B et

C,

sont

convergents.

Donc

l’élargissement

du

rayonnement

réfléchi d’une certaine

longueur

d’onde sur un cristal

imparfait

sera

différent pour des distances

diffé-rentes de la

plaque photographique

au cristal.

Voyons

maintenant

quel

élargissement

se manifeste

quand

la distance de la fente à l’axe du

spectromètre

est

égale

à la distance

de l’axe à la

plaque photographique.

Nous

appellerons symétrique

cette

disposition

du

spectrographe.

L’élar-gissement

CI

correspondant

à

l’im-periection Ac,

qui

est

produit

par

les cristaux constituants

plus

éloi-gnés

de la fente

du

spectro-graphe,

est donné par la formule :

et

l’élargissement

F-2)

produit

par les cristaux

consti-tuants situés

plus près

de la

fente,

est :

8,

et s2

sont donnés en fonction de R par les

for-mules :

De ces

équations

nous voyons que, pour des

angles

d’inclinaison ~

très

petits

et ~6 relativement

grand,

la réflexion

produite

par les

plans

atomiques

des cristaux constituants situés

plus près

de la fente

(fig.

3) produit

un

élargissement plus

petit

que les

plans

atomiques

plus éloignés.

Pour le domaine des

longueurs

d’ondes moyennes

(dont

nous nous sommes

servi),

nous pouvons substi-tuer p à la somme

(p

-1 A

6),

car L1 a est

négligeable

devant p. Donc nous pouvons écrire :

L’élargissement ~

de la raie a

toujours

lieu alors

pour les

grandeurs positives

et

négatives

de 06 me-surées par

rapport

au

plan

II dans la direction des

longueurs

d’onde

plus

courtes

(comme

il ressort

d’ailleurs de la

figure

1).

Si nous

exprimons

angu-Fig. 4. -

Dépendance entre l’élargissement de la ligne et l’angle d’inclinaison ~.

lairement en le mesurant à

partir

de la fente et non

à

partir

du centre du

spectrographe

(pour

qu’il

corres-ponde

à la

divergence angulaire

propre de la

raie),

nous obtenons

(en secondes) :

La relation entre

l’élargissement angulaire

de la raie et

l’angle

d’inclinaison ~

du cristal est

exprimée

graphiquement

dans la

figure

4 où le

paramètre

Ana est

égal

à

30",

60" et 120 ". Le dessin montre par

exemple

que pour le cristal de NaCI où à = 120"

et pour la

longueur

d’onde CuKa

(p

=

16~),

on

(5)

474

sont données par Allison

(9)] :

0,58

u.

X,

ce

qui

cor-respond

pour le sel gemme à 15 ".

Ce

qui

précède

montre donc que l’influence de

l’imperfection

des

cristaux,

due à la désorientation

des cristaux

mosaïques,

est au-dessous de la limite

des erreurs d’observation dans les

spectrographes

à

disposition symétrique.

L’imperfection

mosaïque

~6 du cristal

peut

être

complètement

éliminée si un cristal incurvé et taillé

est

employé

dans la méthode de Seemann-Bohlin

au lieu de la

poudre

cristalline

(1°).

Mais il résulte du

calcul

qu’il

est

possible d’employer

dans la méthode

symétrique

des cristaux

imparfaits, qui

ne

peuvent

pas être

incurvés,

éventuellement

qu’il

est

possible

d’employer

la focalisation verticale.

Avant de donner

l’application

de ce résultat à la

définition

quantitative

des

imperfections

mosaïques

des cristaux et des

largeurs

propres des

lignes,

je

veux

montrer,

sur des résultats

expérimentaux,

comment la

disposition asymétrique

des

spectro-graphes

se manifeste dans le caractère des raies.

4. Confirmation

expérimentale. - A)

ÉLIMI-NATION DE L’INFLUENCE DE LA STRUCTURE :MOSAÏQUE DES CRISTAUX. - On

a

employé

un cristal de NaCI

très

imparfait,

déformé

plastiquement

et fait

quelques

clichés avec le

rayonnement

Mo K. Le cristal était

éloigné

de 60 cm de la

fente,

cette distance restant

constante,

tandis que la distance du cristal à la

plaque

photographique

était

changée graduellement

pour les différents clichés de 60 cm

(disposition

symé-trique)

à

40,

20 et 10 cm.

Les raies

qui

étaient,

à la distance de 60 cm,

assez fines et bien définies

(voir

la

figure

5 a),

deviennent

déjà beaucoup

moins nettes à la distance de 40 cm

(fig.

5 b).

Si nous diminuons encore la

distance,

la structure

provenant

des différents

élé-ments du cristal commence à se manifester

(fig.

5c).

Cette structure du cristal se manifeste le

plus

intensé-ment tout

près

de la

plaque

photographique

à la distance de 10 cm derrière le

cristal,

comme le montre

le cliché 5 d. Dans ce cas, non seulement les raies (x

ne sont

plus

séparées,

mais elles se confondent avec

les raies ~3.

Donc,

on

peut

dire que

l’imperfection

angulaire

de ce cristal

dépasse

la distance

angulaire

Fig. 5a. - Le cliché de CuK

«1, «2, GuK ~1’ ~2 avec une disposition

symétrique (60 cm-60 cm).

Fig. 5b. - Les mêmes raies avec une disposition asymétrique

(60 cm-X0 cln), 3 fois agrandies.

Fig. 5c. - Les mêmes raies avec une disposition asymétrique

(60 cm-20 cm), 3 fois agrandies.

Fig. 5d. - Les mêmes raies

avec une disposition asymétrique

(60 cm-10 cm), 3 fois agrandies.

entre les raies ex et p,

qui correspond

à la constante du réseau cristallin du sel gemme.

Il est visible

qu’il s’agit

ici de

l’imperfection

de

(6)

475

cristaux

mosaïques

constituants et non des défauts de la constante de réseau

cristallin,

car ces derniers ne

pourraient

pas être éliminés par la

disposition

symétrique

du

spectrographe.

B)

LA PHOTOGRAPHIE DE LA STRUCTURE DES CRIS-TAUX. - Si

nous prenons un cliché tout

près

et der-rière le

cristal,

en

employant

une

grande

distance

fente-cristal,

nous obtenons une «

photographie

o de

la structure

mosaïque. Les

clichés

(fig.

6, 7, 8)

faits

Fit. fi. - La

photographie

de la structure du cristal Na~l, 3 fois

agrandie.

Fig. 7. - La

photographie de la structure du cristal GaS~4,

3 fois agrandie.

Fig. 8. - La

photographie de la structure du cristal ZnS, 3 fois

agrandie.

à 10 cm derrière le cristal nous montrent la struc-ture des cristaux de

IV~aCI, CaSO4

et ZnS dans la lu-mière du

rayonnement

CUKOE,

la distance fente-cristal

étant 3 m. En raison de la

grande

distance du cristal

à la

fente,

les

places

sombres de ces clichés

corres-pondent

aux éléments réfléchissants du cristal dans

le sens vertical et en

grandeur

naturelle. En sens

horizontal il est nécessaire de diviser la

largeur

de la

place

sombre sur le cliché par

sine

pour obtenir

la

largeur

véritable des éléments réfléchissants. Si nous désirons obtenir la

photographie

du cristal

en

grandeur

naturelle dans les deux sens, nous devons

placer

la

plaque

photographique parallèlement

à la

surface du cristal.

Les

photographies

des cristaux obtenues de cette

manière à une

grande

distance de

l’origine

du

rayon-nement

surpassent

de

beaucoup

par leur finesse les

photographies

préparées

par la méthode de

Berg (11),

qui emploie

un faisceau

parallèle.

Nous pouvons donc à l’aide de ces

photographies

définir directement les

grandeurs approximatives

des cristaux

mosaïques

constituants et leurs

posi-tions

réciproques

dans la construction des cristaux. Par cette méthode nous pouvons, par

exemple,

étudier l’influence de la déformation

plastique

sur la

structure des cristaux.

5. L’étude du mécanisme de la déformation

plastique

de NaCI. - Pendant des déformations

plastiques,

des

changements

c~ans

le matériel

cris-tallin

peuvent

avoir

lieu,

soit dans l’orientation des

plans

atomiques,

soit dans la constante réticulaire

des cristaux

mosaïques

constituants. Nous avons

essayé

de suivre ces

changements,

sur un cristal de NaCI déformé

plastiquement d’après

une surface

cylindrique

de

révolution,

à l’aide de la

photographie

de la structure du cristal. En

comparant

les

photo-graphies

d’un cristal

plan

et d’un autre

plastique-ment

déformé,

aucune influence de la déformation

sur la structure ne

peut

être découverte. De

même,

(7)

476

voyons pas de

changements

dans les constantes réticulaires. Mais de cette manière il n’est

possible

de suivre que la structure de la surface. Les

défor-mations à l’intérieur du cristal étaient étudiées à

l’aide des

diagrammes

de Laue

(*).

La

figure

9a

présente

le

diagramme

d’un cristal

plan

et la

figure

9b celle d’un cristal

courbé,

sur la surface concave

duquel

tombait le

rayonnement.

. Fig. 9a. - Le

diagramme de Laue du sel gemme plan. Il résulte de la

comparaison

des deux

diagrammes

qu’aucun changement

d’intensité ou de netteté n’a

lieu et

qu’il

est donc

possible

de dire que l’incurva-tion des cristaux n’influence pas essentiellement

sur leur structure. Ces résultats semblent confirmer

l’hypothèse

de Cauchois

(12)

sur le mécanisme de

la déformation des

cristaux,

qui

suppose que,

pendant

la

déformation,

les cristaux constituants ne se

dé-forment pas, mais

changent

seulement leur

orienta-tion de manière que les

angles

entre les

plans

ato-miques

dans les cristaux constituants et un

plan,

perpendiculaire

à la surface du cristal et traversant

son

centre,

restent sans

changement.

Outre

cela,

nos

expériences

montrent une certaine

analogie

entre ?~aCl et

quelques

métaux

(Al, Zn)

pour

lesquels,

pendant

les déformations

plastiques

les

plus grandes,

aucun

changement

du réseau des cristaux

mosaïques

n’a été observé

(13).

6. La détermination de

l’imperfection

des cristaux dans la

disposition

asymétrique

du

(*) Je remercie sincèrement Mme Kochanovska pour m’avoir aimablement préparé ces diagrammes.

Fig. 9b. - Le

diagramme de Laue du sel gemme plastmentique

déformé.

spectrographe. -

Dans les méthodes où la

limi-tation du faisceau se fait à

proximité

du cristal à une distance

qui

est

petite

relativement à la distance

du cristal à la

plaque

photographique,

comme c’est

le cas pour le

spectromètre

à

tube,

pour la méthode

de Seemann et pour le

spectromètre

à cristal

double,

les deux genres

d’imperfection

se manifestent simulr tanément.

Comme il découle de ce

travail,

le chemin des

rayons dans ces méthodes est montré par les

figures

10

et 11. Dans ces méthodes

(*),

la

largeur

de la raie est soumise aux relations

qui

ont été données

précé-demment.

Pour le

spectromètre

à cristal

double,

la différence

est causée seulement par le fait que nous mesurons

l’imperfection

d’une surface de cristal relativement

grande,

tandis que dans le

spectromètre

à tube ou avec la méthode de

Seemann,

une

partie

relativement

(*) Si on néglige la correction de la largeur de la fente (ou,

dans la méthode de Seemann, de la profondeur de pénétration

du rayonnement dans le cristal). Cette approximation est

jus-tifiée, d’après Allison, quand la relation

a

4e

est remplie.

(8)

477

Fig. 10. - Le chemin des

rayons réfléchis sur un cristal

imparfait dans un spectromètre

à tube.

Fig. 11. - Le chemin des

rayons réfléchis sur un cristal

imparfait dans le spectrographe de Seemann.

petite

de la surface du cristal est limitée par la fente

ou par le couteau. De cette

manière,

il est

possible

d’éliminer les

grandes imperfections

accidentelles du cristal

(déformation mécanique,

etc.).

Comme

exemple

de mesure de

l’imperfection

totale des

cris-taux par le couteau de

Seemann,

on se

reportera

au

tableau

I,

où sont donnés les résultats des mesures avec les cristaux de gypse, de sel gemme, de

quartz

taillé

perpendiculairement à

l’axe

électrique

et de

calcite.

TABLEAU 1. - Lél

largeur

propre de la rate

était

prise

égale

à

0,.3

u. X.

Des mesures de la

largeur

de la raie

Cu7~ ordonnées

dans la seconde

colonne,

on voit que dans les mêmes

conditions,

la

plus grande

largeur

de raie est

ob-tenue avec le cristal de sel gemme - 2 u. X. Le cristal de gypse donne

1,6

u. X en second ordre et 1 u. X en

troisième ordre. Avec les cristaux de calcite et de

quartz,

qui

se

rapprochent

par leur structure des

cristaux

parfaits,

on obtient des

largeurs

beaucoup

plus

petites : 0,8

u. X et

0,5

u. X. Ces résultats mon-trent

qu’avec

la méthode du couteau de Seemann il

est

impossible

d’obtenir avec des cristaux

imparfaits

(par

exemple

le sel gemme et le

gypse)

un

grand

pouvoir

séparateur.

Mais si nous recalculons ces

grandeurs,

soit

d’après Hoyt (14),

soit

d’après

Gauss,

d’après

la

répartition

de l’intensité dans la courbe

de

noircissement,

il est

possible d’employer

directe-ment la méthode à couteau de Seemann pour mesurer

l’imperfection

totale des

cristaux,

de même que

les autres méthodes à

disposition asymétrique.

Dans la troisième et la

cinquième

colonne sont données

en unités X les

imperfections

des cristaux calculées

de cette

manière,

dans les colonnes voisines les valeurs

correspondantes

en secondes. Ces données n’étant

pas

corrigées,

compte

tenu de la

largeur

de la fente

et de la

profondeur

de la

pénétration

du

rayonne-ment dans le

cristal,

elles sont

trop

hautes pour les

cristaux de calcite et de

quartz.

La correction de

ces influences

peut

être évaluée en

photographiant

la même raie pour des distances

cristal-plaque

dif-férentes. De la différence des

largeurs

des raies il

est

possible

d’évaluer la

divergence

totale

corres-pondant

à la somme

géométrique

de la

largeur

propre de la raie et de

l’imperfection

totale du cristal.

De cette manière

Dolejsek

et Klein

(16)

ont mesuré la

largeur

de la raie

AgK Y.,

sur la calcite avec la

mé-thode de Seemann à couteau émoussé. Ils ont dé-terminé la

divergence

du faisceau réfléchi sur les

plans

intérieurs du cristal : W = 11 ".

En

soustrayant

de cette valeur la

largeur

propre de la raie

Ag Ji CXl

(0,28

u. X =

9,5")

mesurée

par Allison

(9),

nous obtenons

d’après

la formule

de

Hoyt :

Wc =

1,5 ",

et

d’après

celle de Gauss : -.

w, -

5,6 ",

pour le domaine de réflexion du cristal de calcite où la réflexion a lieu au moins

1,~.20-2

mm sous la

surface,

comme

Dolejsek

et Klein l’ont déduit de la

largeur

du couteau et de

l’angle

d’inclinaison.

Cette

grandeur correspond

à celles des cristaux les

plus parfaits.

Ces résultats montrent aussi que les mesures par

la méthode de

Seemann, spécialement

pour le cristal

de sel gemme, ne

peuvent

pas donner de résultats du

pouvoir

séparateur

identiques

à ceux des autres

méthodes,

même pour les mêmes

longueurs

d’ondes. 7. Conclusion. - Dans

ce

travail,

on a donc

montré

qu’il

est

possible d’employer

les cristaux

mosaïques

imparfaits (possédant

un

grand

pouvoir

réflecteur)

dans la

spectroscopie

des rayons X. Il est

(9)

478

donner un

pouvoir

séparateur

identique

au

pouvoir

séparateur

des cristaux

parfaits.

L’imperfection

des cristaux est de deux genres : Da -

provenant

de l’orientation mutuelle différente des

petits

cristaux

mosaïques,

et ~8 - dont

l’origine

est dans les constantes réticulaires différentes de ces

cristaux constituants ou dans des influences

simi-laires. Il est montré

qu’il

est

possible

d’abaisser l’influence de As en utilisant des

spectrographes

à

disposition symétrique.

Dans cette

disposition

A8

n’est pas

diminué,

mais dans le cas du sel gemme

cette

imperfection

est la même que pour les cristaux

parfaits.

Si une

disposition asymétrique

est

employée,

de manière que la distance

cristal-plaque

photogra-phique

diminue

progressivement

tandis que la

dis-tance cristal-fente reste constante et suffisamment

grande, l’imperfection

se

manifeste de

plus

en

plus,

de telle sorte

qu’immédiatement

derrière le cristal

nous obtenons la

photographie

de sa structure.

Au

contraire,

dans les méthodes où le faisceau est

limité

près

du cristal et où la distance

cristal-plaque

est

grande,

l’imperfectiun

se manifeste considérable-ment dans

l’élargissement

de la

ligne.

Ce fait

peut

être

employé

pour mesurer

imperfection

mosaïque

des cristaux.

De ce

qui précède

et de la

photographie

de la

structure du

cristal,

il est

possible

d’étudier le

mé-canisme de la déformation

plastique.

Pour NaCI il

est démontré que la déformation

plastique

ne

produit

pas de

changements

essentiels dans la structure.

Donc,

il est

possible d’employer

un cristal

imparfait,

plastiquement

déformé,

dans une

disposition

symé-trique

et on

peut

construire ainsi un

spectrographe

à

grande

luminosité doué d’un

pouvoir

séparateur

remarquable.

Ce travail a été fait à l’Institut

spectroscopique

de l’Université

Charles,

à

Prague.

Je remercie bien vivement Monsieur le Professeur

V.

Dolejsek

pour l’intérêt

qu’il

a

porté

à mon travail

et les facilités

qu’il

a bien voulu m’accorder pour me

permettre

de mener à bien ces recherches.

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