HAL Id: jpa-00233621
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L’emploi des cristaux imparfaits dans la spectroscopie
des rayons X
J.M. Bačkovský
To cite this version:
L’EMPLOI DES CRISTAUX IMPARFAITS DANS LA SPECTROSCOPIE DES RAYONS X
Par J. M.
BA010CKOVSKÝ.
Prague, Institut
spectroscopique
de l’Université Charles.Sommaire. 2014 On a étudié le pouvoir séparateur des cristaux imparfaits à structure mosaïque, employés
dans un spectrographe à disposition symétrique (la distance fente-cristal est égale à la distance cristal-plaque
photographique). L’élargissement angulaire (en radiants) de la ligne, provoqué par la structure mosaïque des
cristaux, est égal à 03B5 = 2 /039403C3 /2ctg~, pour ce dispositif, et il se manifeste toujours dans le sens des plus petites
longueurs d’onde. Par exemple, pour un cristal comme NaCl et la ligne CuK03B1 où 039403C3 = 120"
et ~ = 15°, l’élargissement de lignes atteint à peu près 2 pour 100 de la largeur propre de la ligne CuK03B11, c’est-à-dire à peu près 0,008 u. X. Cette valeur est beaucoup au-dessous de la limite des erreurs d’observation. Ainsi l’influence de la structure mosaïque dans la disposition symétrique du spectrographe est pratiquement exclue
quand ~ est assez grand. Au contraire, s’il y a une grande différence entre les distances fente-cristal et
cristal-plaque photographique (disposition asymétrique), un élargissement notable des lignes se manifeste, qui permet
d’évaluer l’imperfection mosaïque du cristal. Dans les méthodes asymétriques (spectrographe à tube, méthode de Seemann) pour le spectromètre à cristal double et dans quelques méthodes de focalisation, les deux sortes
d’imperfection se manifestent simultanément dans la largeur des lignes. Aussi pour mesurer les raies il est
in-dispensable d’employer dans ces méthodes des cristaux parfaits.
1. Introduction. - Pour obtenir une
grande
luminosité des
spectrographes
à rayonsX,
onemploie
les méthodes à cristaux courbés. Un autre facteur
important
est la nature ducristal,
qui
doitavoir,
ainsiqu’une dispersion
et unpouvoir
séparateur
suflisant,
ungrand
pouvoir
réflecteur. Comme on lesait,
les cristauximparfaits possèdent
cette dernièrequalité.
J’ai doncemployé
dans la méthode de foca-lisation verticale de Kunzl(1)
un cristal de sel gemme,déformé
plastiquement
suivant une surfacecylin-drique
de révolution. La déformation était faite àhaute
température
d’après
la méthode décrite par l’auteur etNeprasova
(2).
Les cristaux de sel gemmen’étant
pasparfaits, j’ai
étudié avec M. le Professeur V.Dolejsek
(3)
lepouvoir
séparateur
de notredispo-sitif. Nous avons observé que les
grandeurs
obtenuesà l’aide de ce cristal
correspondent
auxgrandeurs
limites obtenues avec des cristaux
parfaits.
Je donnecomme
exemple
unenregistrement
microphotomé-Fig. 1. - Cliché de CuI(
al, a~, cristal de NaCI courbé, 11 fois agrandi.
trique
du cliché deCu K al,
oc,( fig.
1)
obtenu dans cetravail. Pour cette courbe
photométrique
(fig. 2),
lalargeur
de la raieCu K al
mesurée à mi-hauteur du maximum était0,47
u.X,
pourCuK C(2
-0,75
u. X.Si nous comparons ces résultats obtenus sur un
cristal de NaCI
(cristal
imparfait
à structuremo-Fig. 2. - Courbe
photométrique du cliché précédent,.
saïque),
avec les meilleuresgrandeurs
mesurées àl’aide du
spectromètre
à cristaldouble,
nous voyonsque nous avons obtenus pour
CuK a2
unegrandeur
identique
et pourCuKot,
une valeur moindre.Nous
montrerons,
dans cetravail,
pourquoi
il estpossible
d’obtenir unpouvoir séparateur
considé-rable avec des cristauximparfaits.
On
peut
démontrer quel’imperfection
mosaïque
des cristaux ne se manifeste que d’une
façon
négli-geable
si undispositif symétrique
despectrographe
est
employé.
Ces résultatspeuvent
aussis’appliquer
à l’étude de la structure des cristaux.2. Le domaine de réflexion du sel gernme.
-A cause de
l’imperfection
ducristal,
lerayonnement
monochromatique
est réfléchi dans un certaindo-maine
angulaire,
qui
est conventionnellement définicomme la
largeur
Wc de lacourbe,
donnant472
sité du
rayonnement
réfléchi en fonction del’angle
d’inclinaison,
à sa demi-hauteur. PourNaCI,
Bragg-James etBosanquet
(4)
ont trouvé Wc -900" ;
Davis etStempel
(6)
Wc =300" ;
Kirckpatrick
etRoss
(6)
W~ _$7";
Bozorth et Haworth(7)
Wc = 400 ".Ces
grandeurs
mesurées diffèrentbeaucoup
entre elleset
proviennent
vraisemblablement d’unequalité
diffé-rente des cristaux de NaCI. Ewald et
Renninger
(8)
ontprouvé
qu’il
existe dans la « construction » dechaque
cristal desqualités
différentes et ils ontdémontré que des
petites
surfaces de sel gemmeréfléchissent
d’après
la structure idéale.Leurs mesures sur des
petites
zones de la surfacedu cristal de l~aCl à l’aide d’un faisceau très fin ont
montré que le domaine
angulaire
de réflexion deces
petites
surfaces est à peuprès 14,2".
Cette gran-deurs’approche
déjà
beaucoup
de celle de 10"qui
était déduite de la théoriedynamique
d’Ewald. Ce fait estexpliqué
par Ewaldqui
suppose que le cristal de sel gemme a une structuremosaïque,
c’est-à-direqu’il
estcomposé
depetits
cristauxqui
ont leursplans atomiques
inclinés l’un parrapport
à l’autredans un certain domaine
angulaire
et leurs cons-tantes de réseau éventuellement différentes.3.
L’élargissement
de laligne
dans undispo-sitif
symétrique. -
Voyons
maintenant commentla
largeur
dela ligne
estinfluen-cée par las structure
mosaïque.
Supposons
enpremier
lieu queles constantes de réseau des
cris-taux constituants d’un
grand
cristal soientidentiques,
maisque leurs
plans atomiques
soientinclinés l’un par
rapport
àl’au-tre,
de manière que laréparti-tion de
probabilité
des écartsangulaires
suive la courbe deGauss.
Si un
rayonnement
monochro-matique parallèle
se réfléchit sur cecristal,
l’intensité mesurée enrelation avec
l’angle
d’inclinai-son va aussi suivre la courbe de Gauss. La courbe de l’intensité
du
rayonnement
réfléchi nousdonnera la
répartition
des écartsangulaires
desplans atomiques
des cristaux constituants.
Prenons maintenant un second cas où les
plans atomiques
descristaux constituants sont
pa-rallèles,
mais leurs constantesréticulaires différentes.
Suppo-sons que la
répartition
descris-taux suit aussi la courbe de Gauss pour la
grandeur
de leur constante de réseau. Lamodifi-cation de l’intensité du
rayonne-ment réfléchi sur ce cristal va
suivre,
pour unpetit
domaine de différences des constantes
réticulaires,
la courbe de Gauss.Si le cristal
possède
les deux genresd’imperfec-tion,
nous mesurons dans l’intensité durayonnement
réfléchi leur somme
géométrique :
où c~ ~, ~6, vve sont les
largeurs
des courbes deGauss à mi-hauteur. A cela
s’ajoute
encore lalargeur
propre de laraie,
de sorte que nous pouvons écrirepour la courbe mesurée :
Donc,
dans la mesure à l’aide duspectromètre
àcristal
double,
les deux genresd’imperfection
vont semanifester simultanément.
Considérons maintenant le cas du
spectromètre
avec un seul cristalmosaïque, ayant
lepremier
genre
d’imperfection.
Laprobabilité
desangles
desplans
atomiques
des cristaux constituants estsup-posée
répartie
d’après
la courbe de Gauss. Lasur-face II, menée par la direction
qui correspond
aumaximum des
plans
atomiques
des cristauxconsti-tuants,
traverse l’axe duspectrographe (fig.
3).
Prenons maintenant un faisceau
divergent
d’unrayonnement
monochromatique
sortant de la fente.Plaçons
le cristal d’une tellemanière,
qu’un
certainrayon
monochromatique
soit réfléchi dans l’axe duspectrographe
sur la surface l I. Un autre rayonmonochromatique
de mêmelongueur
d’onde seréflé-chira sur un
plan
atomique
incliné parrapport
à lasurface II d’un
angles 6
dans le cas où la distance(mesurée
dans leplan
ducristal)
de ceplan
à l’axedu
spectromètre
est s.(La
profondeur
depénétration
durayonnement
dans le cristal est considérée commenégligeable.)
La réflexion d’un
rayonnement
monochromatique
se
produit
donc sur les cristaux à structuremosaïque
simultanément à différents endroits du cristal dont la distance à l’axe du
spectrographe
est fonction de leurinclinaison
angulaire
sur la surface II.Dans la
figure
3 est tracé le chemin de deux rayons inclinés de Ana parrapport
au rayoncentral,
qui
correspondent
à la réflexion sur des cristauxconsti-tuants
mosaïques
B etC,
inclinés deAcr sur le
plan
II. Il est visible surla
figure
que ces deux rayons,après
réflexion sur les cristaux
mosaïques
B et
C,
sontconvergents.
Doncl’élargissement
durayonnement
réfléchi d’une certaine
longueur
d’onde sur un cristal
imparfait
seradifférent pour des distances
diffé-rentes de la
plaque photographique
au cristal.
Voyons
maintenantquel
élargissement
se manifestequand
la distance de la fente à l’axe du
spectromètre
estégale
à la distancede l’axe à la
plaque photographique.
Nousappellerons symétrique
cettedisposition
duspectrographe.
L’élar-gissement
CIcorrespondant
àl’im-periection Ac,
qui
estproduit
parles cristaux constituants
plus
éloi-gnés
de la fentedu
spectro-graphe,
est donné par la formule :et
l’élargissement
F-2)produit
par les cristauxconsti-tuants situés
plus près
de lafente,
est :8,
et s2
sont donnés en fonction de R par lesfor-mules :
De ces
équations
nous voyons que, pour desangles
d’inclinaison ~
trèspetits
et ~6 relativementgrand,
la réflexionproduite
par lesplans
atomiques
des cristaux constituants situésplus près
de la fente(fig.
3) produit
unélargissement plus
petit
que lesplans
atomiques
plus éloignés.
Pour le domaine des
longueurs
d’ondes moyennes(dont
nous nous sommesservi),
nous pouvons substi-tuer p à la somme(p
-1 A6),
car L1 a estnégligeable
devant p. Donc nous pouvons écrire :
L’élargissement ~
de la raie atoujours
lieu alorspour les
grandeurs positives
etnégatives
de 06 me-surées parrapport
auplan
II dans la direction deslongueurs
d’ondeplus
courtes(comme
il ressortd’ailleurs de la
figure
1).
Si nousexprimons
angu-Fig. 4. -
Dépendance entre l’élargissement de la ligne et l’angle d’inclinaison ~.
lairement en le mesurant à
partir
de la fente et nonà
partir
du centre duspectrographe
(pour
qu’il
corres-ponde
à ladivergence angulaire
propre de laraie),
nous obtenons
(en secondes) :
La relation entre
l’élargissement angulaire
de la raie etl’angle
d’inclinaison ~
du cristal estexprimée
graphiquement
dans lafigure
4 où leparamètre
Ana estégal
à30",
60" et 120 ". Le dessin montre parexemple
que pour le cristal de NaCI où à = 120"et pour la
longueur
d’onde CuKa(p
=16~),
on474
sont données par Allison
(9)] :
0,58
u.X,
cequi
cor-respond
pour le sel gemme à 15 ".Ce
qui
précède
montre donc que l’influence del’imperfection
descristaux,
due à la désorientationdes cristaux
mosaïques,
est au-dessous de la limitedes erreurs d’observation dans les
spectrographes
àdisposition symétrique.
L’imperfection
mosaïque
~6 du cristalpeut
êtrecomplètement
éliminée si un cristal incurvé et tailléest
employé
dans la méthode de Seemann-Bohlinau lieu de la
poudre
cristalline(1°).
Mais il résulte ducalcul
qu’il
estpossible d’employer
dans la méthodesymétrique
des cristauximparfaits, qui
nepeuvent
pas être
incurvés,
éventuellementqu’il
estpossible
d’employer
la focalisation verticale.Avant de donner
l’application
de ce résultat à ladéfinition
quantitative
desimperfections
mosaïques
des cristaux et deslargeurs
propres deslignes,
je
veux
montrer,
sur des résultatsexpérimentaux,
comment la
disposition asymétrique
desspectro-graphes
se manifeste dans le caractère des raies.4. Confirmation
expérimentale. - A)
ÉLIMI-NATION DE L’INFLUENCE DE LA STRUCTURE :MOSAÏQUE DES CRISTAUX. - On
a
employé
un cristal de NaCItrès
imparfait,
déforméplastiquement
et faitquelques
clichés avec lerayonnement
Mo K. Le cristal étaitéloigné
de 60 cm de lafente,
cette distance restantconstante,
tandis que la distance du cristal à laplaque
photographique
étaitchangée graduellement
pour les différents clichés de 60 cm
(disposition
symé-trique)
à40,
20 et 10 cm.Les raies
qui
étaient,
à la distance de 60 cm,assez fines et bien définies
(voir
lafigure
5 a),
deviennent
déjà beaucoup
moins nettes à la distance de 40 cm(fig.
5 b).
Si nous diminuons encore ladistance,
la structureprovenant
des différentsélé-ments du cristal commence à se manifester
(fig.
5c).
Cette structure du cristal se manifeste le
plus
intensé-ment toutprès
de laplaque
photographique
à la distance de 10 cm derrière lecristal,
comme le montrele cliché 5 d. Dans ce cas, non seulement les raies (x
ne sont
plus
séparées,
mais elles se confondent avecles raies ~3.
Donc,
onpeut
dire quel’imperfection
angulaire
de ce cristaldépasse
la distanceangulaire
Fig. 5a. - Le cliché de CuK
«1, «2, GuK ~1’ ~2 avec une disposition
symétrique (60 cm-60 cm).
Fig. 5b. - Les mêmes raies avec une disposition asymétrique
(60 cm-X0 cln), 3 fois agrandies.
Fig. 5c. - Les mêmes raies avec une disposition asymétrique
(60 cm-20 cm), 3 fois agrandies.
Fig. 5d. - Les mêmes raies
avec une disposition asymétrique
(60 cm-10 cm), 3 fois agrandies.
entre les raies ex et p,
qui correspond
à la constante du réseau cristallin du sel gemme.Il est visible
qu’il s’agit
ici del’imperfection
de475
cristaux
mosaïques
constituants et non des défauts de la constante de réseaucristallin,
car ces derniers nepourraient
pas être éliminés par ladisposition
symétrique
duspectrographe.
B)
LA PHOTOGRAPHIE DE LA STRUCTURE DES CRIS-TAUX. - Sinous prenons un cliché tout
près
et der-rière lecristal,
enemployant
unegrande
distancefente-cristal,
nous obtenons une «photographie
o dela structure
mosaïque. Les
clichés(fig.
6, 7, 8)
faitsFit. fi. - La
photographie
de la structure du cristal Na~l, 3 fois’
agrandie.
’
Fig. 7. - La
photographie de la structure du cristal GaS~4,
3 fois agrandie.
Fig. 8. - La
photographie de la structure du cristal ZnS, 3 fois
agrandie.
à 10 cm derrière le cristal nous montrent la struc-ture des cristaux de
IV~aCI, CaSO4
et ZnS dans la lu-mière durayonnement
CUKOE,
la distance fente-cristalétant 3 m. En raison de la
grande
distance du cristalà la
fente,
lesplaces
sombres de ces clichéscorres-pondent
aux éléments réfléchissants du cristal dansle sens vertical et en
grandeur
naturelle. En senshorizontal il est nécessaire de diviser la
largeur
de laplace
sombre sur le cliché parsine
pour obtenirla
largeur
véritable des éléments réfléchissants. Si nous désirons obtenir laphotographie
du cristalen
grandeur
naturelle dans les deux sens, nous devonsplacer
laplaque
photographique parallèlement
à lasurface du cristal.
Les
photographies
des cristaux obtenues de cettemanière à une
grande
distance del’origine
durayon-nement
surpassent
debeaucoup
par leur finesse lesphotographies
préparées
par la méthode deBerg (11),
qui emploie
un faisceauparallèle.
Nous pouvons donc à l’aide de ces
photographies
définir directement les
grandeurs approximatives
des cristauxmosaïques
constituants et leursposi-tions
réciproques
dans la construction des cristaux. Par cette méthode nous pouvons, parexemple,
étudier l’influence de la déformation
plastique
sur lastructure des cristaux.
5. L’étude du mécanisme de la déformation
plastique
de NaCI. - Pendant des déformationsplastiques,
deschangements
c~ans
le matérielcris-tallin
peuvent
avoirlieu,
soit dans l’orientation desplans
atomiques,
soit dans la constante réticulairedes cristaux
mosaïques
constituants. Nous avonsessayé
de suivre ceschangements,
sur un cristal de NaCI déforméplastiquement d’après
une surfacecylindrique
derévolution,
à l’aide de laphotographie
de la structure du cristal. Encomparant
lesphoto-graphies
d’un cristalplan
et d’un autreplastique-ment
déformé,
aucune influence de la déformationsur la structure ne
peut
être découverte. Demême,
476
voyons pas de
changements
dans les constantes réticulaires. Mais de cette manière il n’estpossible
de suivre que la structure de la surface. Lesdéfor-mations à l’intérieur du cristal étaient étudiées à
l’aide des
diagrammes
de Laue(*).
Lafigure
9aprésente
lediagramme
d’un cristalplan
et lafigure
9b celle d’un cristalcourbé,
sur la surface concaveduquel
tombait lerayonnement.
. Fig. 9a. - Le
diagramme de Laue du sel gemme plan. Il résulte de la
comparaison
des deuxdiagrammes
qu’aucun changement
d’intensité ou de netteté n’alieu et
qu’il
est doncpossible
de dire que l’incurva-tion des cristaux n’influence pas essentiellementsur leur structure. Ces résultats semblent confirmer
l’hypothèse
de Cauchois(12)
sur le mécanisme dela déformation des
cristaux,
qui
suppose que,pendant
ladéformation,
les cristaux constituants ne sedé-forment pas, mais
changent
seulement leurorienta-tion de manière que les
angles
entre lesplans
ato-miques
dans les cristaux constituants et unplan,
perpendiculaire
à la surface du cristal et traversantson
centre,
restent sanschangement.
Outrecela,
nos
expériences
montrent une certaineanalogie
entre ?~aCl etquelques
métaux(Al, Zn)
pourlesquels,
pendant
les déformationsplastiques
lesplus grandes,
aucun
changement
du réseau des cristauxmosaïques
n’a été observé
(13).
6. La détermination de
l’imperfection
des cristaux dans ladisposition
asymétrique
du(*) Je remercie sincèrement Mme Kochanovska pour m’avoir aimablement préparé ces diagrammes.
Fig. 9b. - Le
diagramme de Laue du sel gemme plastmentique
déformé.
spectrographe. -
Dans les méthodes où lalimi-tation du faisceau se fait à
proximité
du cristal à une distancequi
estpetite
relativement à la distancedu cristal à la
plaque
photographique,
comme c’estle cas pour le
spectromètre
àtube,
pour la méthodede Seemann et pour le
spectromètre
à cristaldouble,
les deux genres
d’imperfection
se manifestent simulr tanément.Comme il découle de ce
travail,
le chemin desrayons dans ces méthodes est montré par les
figures
10et 11. Dans ces méthodes
(*),
lalargeur
de la raie est soumise aux relationsqui
ont été donnéesprécé-demment.
Pour le
spectromètre
à cristaldouble,
la différenceest causée seulement par le fait que nous mesurons
l’imperfection
d’une surface de cristal relativementgrande,
tandis que dans lespectromètre
à tube ou avec la méthode deSeemann,
unepartie
relativement(*) Si on néglige la correction de la largeur de la fente (ou,
dans la méthode de Seemann, de la profondeur de pénétration
du rayonnement dans le cristal). Cette approximation est
jus-tifiée, d’après Allison, quand la relation
a
4e
est remplie.477
Fig. 10. - Le chemin des
rayons réfléchis sur un cristal
imparfait dans un spectromètre
à tube.
Fig. 11. - Le chemin des
rayons réfléchis sur un cristal
imparfait dans le spectrographe de Seemann.
petite
de la surface du cristal est limitée par la fenteou par le couteau. De cette
manière,
il estpossible
d’éliminer les
grandes imperfections
accidentelles du cristal(déformation mécanique,
etc.).
Commeexemple
de mesure del’imperfection
totale descris-taux par le couteau de
Seemann,
on sereportera
autableau
I,
où sont donnés les résultats des mesures avec les cristaux de gypse, de sel gemme, dequartz
taillé
perpendiculairement à
l’axeélectrique
et decalcite.
TABLEAU 1. - Lél
largeur
propre de la rateétait
prise
égale
à0,.3
u. X.Des mesures de la
largeur
de la raieCu7~ ordonnées
dans la secondecolonne,
on voit que dans les mêmesconditions,
laplus grande
largeur
de raie estob-tenue avec le cristal de sel gemme - 2 u. X. Le cristal de gypse donne
1,6
u. X en second ordre et 1 u. X entroisième ordre. Avec les cristaux de calcite et de
quartz,
qui
serapprochent
par leur structure descristaux
parfaits,
on obtient deslargeurs
beaucoup
plus
petites : 0,8
u. X et0,5
u. X. Ces résultats mon-trentqu’avec
la méthode du couteau de Seemann ilest
impossible
d’obtenir avec des cristauximparfaits
(par
exemple
le sel gemme et legypse)
ungrand
pouvoir
séparateur.
Mais si nous recalculons cesgrandeurs,
soitd’après Hoyt (14),
soitd’après
Gauss,
d’après
larépartition
de l’intensité dans la courbede
noircissement,
il estpossible d’employer
directe-ment la méthode à couteau de Seemann pour mesurer
l’imperfection
totale descristaux,
de même queles autres méthodes à
disposition asymétrique.
Dans la troisième et lacinquième
colonne sont donnéesen unités X les
imperfections
des cristaux calculéesde cette
manière,
dans les colonnes voisines les valeurscorrespondantes
en secondes. Ces données n’étantpas
corrigées,
compte
tenu de lalargeur
de la fenteet de la
profondeur
de lapénétration
durayonne-ment dans le
cristal,
elles sonttrop
hautes pour lescristaux de calcite et de
quartz.
La correction deces influences
peut
être évaluée enphotographiant
la même raie pour des distances
cristal-plaque
dif-férentes. De la différence deslargeurs
des raies ilest
possible
d’évaluer ladivergence
totalecorres-pondant
à la sommegéométrique
de lalargeur
propre de la raie et de
l’imperfection
totale du cristal.De cette manière
Dolejsek
et Klein(16)
ont mesuré lalargeur
de la raieAgK Y.,
sur la calcite avec lamé-thode de Seemann à couteau émoussé. Ils ont dé-terminé la
divergence
du faisceau réfléchi sur lesplans
intérieurs du cristal : W = 11 ".En
soustrayant
de cette valeur lalargeur
propre de la raieAg Ji CXl
(0,28
u. X =9,5")
mesuréepar Allison
(9),
nous obtenonsd’après
la formulede
Hoyt :
Wc =1,5 ",
etd’après
celle de Gauss : -.w, -
5,6 ",
pour le domaine de réflexion du cristal de calcite où la réflexion a lieu au moins1,~.20-2
mm sous lasurface,
commeDolejsek
et Klein l’ont déduit de lalargeur
du couteau et del’angle
d’inclinaison.Cette
grandeur correspond
à celles des cristaux lesplus parfaits.
Ces résultats montrent aussi que les mesures par
la méthode de
Seemann, spécialement
pour le cristalde sel gemme, ne
peuvent
pas donner de résultats dupouvoir
séparateur
identiques
à ceux des autresméthodes,
même pour les mêmeslongueurs
d’ondes. 7. Conclusion. - Dansce
travail,
on a doncmontré
qu’il
estpossible d’employer
les cristauxmosaïques
imparfaits (possédant
ungrand
pouvoir
réflecteur)
dans laspectroscopie
des rayons X. Il est478
donner un
pouvoir
séparateur
identique
aupouvoir
séparateur
des cristauxparfaits.
L’imperfection
des cristaux est de deux genres : Da -provenant
de l’orientation mutuelle différente despetits
cristauxmosaïques,
et ~8 - dontl’origine
est dans les constantes réticulaires différentes de ces
cristaux constituants ou dans des influences
simi-laires. Il est montré
qu’il
estpossible
d’abaisser l’influence de As en utilisant desspectrographes
àdisposition symétrique.
Dans cettedisposition
A8n’est pas
diminué,
mais dans le cas du sel gemmecette
imperfection
est la même que pour les cristauxparfaits.
Si une
disposition asymétrique
estemployée,
de manière que la distancecristal-plaque
photogra-phique
diminueprogressivement
tandis que ladis-tance cristal-fente reste constante et suffisamment
grande, l’imperfection
se
manifeste deplus
enplus,
de telle sorte
qu’immédiatement
derrière le cristalnous obtenons la
photographie
de sa structure.Au
contraire,
dans les méthodes où le faisceau estlimité
près
du cristal et où la distancecristal-plaque
est
grande,
l’imperfectiun
se manifeste considérable-ment dansl’élargissement
de laligne.
Ce faitpeut
être
employé
pour mesurerimperfection
mosaïque
des cristaux.
De ce
qui précède
et de laphotographie
de lastructure du
cristal,
il estpossible
d’étudier lemé-canisme de la déformation
plastique.
Pour NaCI ilest démontré que la déformation
plastique
neproduit
pas de
changements
essentiels dans la structure.Donc,
il estpossible d’employer
un cristalimparfait,
plastiquement
déformé,
dans unedisposition
symé-trique
et onpeut
construire ainsi unspectrographe
à
grande
luminosité doué d’unpouvoir
séparateur
remarquable.
Ce travail a été fait à l’Institut
spectroscopique
de l’Université
Charles,
àPrague.
Je remercie bien vivement Monsieur le Professeur
V.
Dolejsek
pour l’intérêtqu’il
aporté
à mon travailet les facilités
qu’il
a bien voulu m’accorder pour mepermettre
de mener à bien ces recherches.BIBLIOGRAPHIE
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