HAL Id: jpa-00245112
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Submitted on 1 Jan 1983
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Calcul de la sensibilité et de la constante de temps d’une thermopile à éléments en couches minces et structure
radiale
A. Septier, C. Machet
To cite this version:
A. Septier, C. Machet. Calcul de la sensibilité et de la constante de temps d’une thermopile à éléments
en couches minces et structure radiale. Revue de Physique Appliquée, Société française de physique
/ EDP, 1983, 18 (8), pp.507-514. �10.1051/rphysap:01983001808050700�. �jpa-00245112�
Calcul de la sensibilité et de la constante de temps d’une thermopile
à éléments
encouches minces et structure radiale
A.
Septier
et C. MachetConservatoire National des Arts et Métiers, ERA 660,
Laboratoire de
Physique
du Vide et desComposants Electroniques,
292, rue Saint-Martin, 75141 Paris Cedex 03, France(Reçu le 9 décembre 1982, révisé le 25 mars 1983, accepté le 12 avril 1983 )
Résumé. 2014 A l’aide d’un modèle
simple,
on calcule de façonapprochée
la sensibilité et la constante de temps dethermopiles
à éléments semiconducteurs en films mincesdéposés
sur un substrat isolant mince, selon unedisposi-
tion radiale. Le
récepteur
est undisque métallique
central, couvert de noir d’or. Le fluxrayonné
estplus important
que le fluxqui
s’écoulepar
conduction. La convection estnégligée,
l’ensemble étant sous vide. Les résultatsdonnés
par le calcul sont en très bon accord avec les résultats
expérimentaux.
On obtient, pour la sensibilité au fluxS03A6
= 68,5 VW-1,
et pour la constante de temps 03C4 = 0,76 s.Abstract. - Using a
simple
model,sensitivity
and time constant of athermopile
made ofsemiconducting
thin ther-moelements with a radial symmetry and
operating
in a vacuum, have been calculated. The radiation flux, collectedby
a metal disc covered with a thicklayer
ofgold
black, flows to the heat reservoir at constant temperatureT0 surrounding
the receiverby
conduction and thermal radiation. A fluxsensitivity S03A6
= 68.5 V W-1 and a timeconstant 03C4 =
0.76 s have been obtained, in good agreement with experiments.
Classifications Physics Abstracts 07.60D - 07.62
1. Introduction.
Un radiomètre à
thermopile
destiné à lamétrologie
de faibles flux lumineux constitue un
générateur
detension. Sa résistance interne
peut
êtreélevée,
contrai-rement au cas des
thermopiles
utilisées engénéra-
teurs de courants. Il est donc
possible
de réaliser les éléments actifs desthermocouples
sous forme defilms
mincesdéposés
sur unsupport approprié,
à lafois isolant
électrique
etthermique.
Cettetechnique
se
prête
bien à la miniaturisation desthèrmocouples.
Les éléments actifs
peuvent
êtremétalliques (Au-Ni [1]
ou Sb-Bi
[2])
ou semiconducteurs n et p[3-5].
Parmi les réalisations récentes de
thermopiles
enfilms
minces,
onpeut distinguer
deuxtypes
de struc-tures : les éléments
actifs, déposés
sous forme derubans,
connectés ensérie, peuvent
êtredisposés
linéairement suivant des
segments parallèles [1, 3],
oubien radialement
[2, 5].
Ce dernierdispositif comporte
un
disque métallique
central recevant le flux à mesurer,isolé
thermiquement
au centre d’un orifice circulairepercé
dans un corps massif àtempérature
constante.Il a
déjà
été étudié dupoint
de vuethéorique,
maisavec des
thermocouples
à fils[6, 7].
Nous avons tenté d’évaluer la sensibilité en
régime
continu et la constante de
temps
d’unethermopile
àéléments radiaux réalisés en films minces semi-
conducteurs,
etcomparé
résultatsthéoriques
et résul-tats
expérimentaux
obtenus sur une structure trèsproche
du modèle utilisé pour les calculs.2. Structure de la
thermopile.
Une membrane mince de
mylar, d’épaisseur 3 Nm,
est tendue sur un orifice circulaire de diamètre
2 r2
= 6 mmpercé
dans un bloc decuivre,
servantde source froide à la
température To.
A l’aide demasques, on
évapore
sur la facesupérieure
du filmde
mylar
45 éléments de semiconducteur n,puis
45 éléments de semiconducteur p formant 45
thermo- couples (Fig. 1 a).
Les soudures chaudes etfroides
sont situées
respectivement
sur des cercles moyens de diamètre4 xnm
et 8 mm. Lalargeur
des barreauxde matériau semiconducteur est de 65 Mm; leur
épaisseur
de0,3
pm. Les souduresfroides
sont iso-lées du
support
de cuivre parl’épaisseur
du filmde mylar (Fig. 1 b).
On considérera que la conductivitéArticle published online by EDP Sciences and available at http://dx.doi.org/10.1051/rphysap:01983001808050700
508
Fig.
1. - Structure de lathermopile.
(a)Disposition
radialedes
thermocouples.
(b)Coupe schématique
de la thermo-pile.
1 : couches d’or; 2 : isolant très mince; 3 : therxnoélé- ments ; 4 : support isolant(mylar) ;
5 : noir d’or ; 6 : support massif cuivre (sourcefroide).
[Structure
of thethermopile.
(a) Plan view of the radialthermocouples. (b)
Schematic cross-section. 1 :gold layers ;
2 : very thin insulator; 3 :
thermoelements;
4 :insulating
film
(mylar);
5 : gold blacklayer;
6 : copper support(heat réservoir).]
transversale
de ce film est suffisante pour quela température
des soudures froides soit constante etégale
àTo.
Un
disque métallique
de diamètre2 r1 = 5
mm,constituant le
récepteur,
estévaporé
sur la faceinférieure du film de
mylar,
afin depermettre
la thermalisation de la zone centrale. Une coucheépaisse
de noird’or
est ensuitedéposée
sur ledisque
central pour absorber le flux lumineux incident Le coefficient
d’absorption
du noir d’or est très voisin de 1 dans le visible et leproche infrarouge.
Pour desraisons technologiques,
il estpratiquement impos-
sible de recouvrir de
façon homogène
ledisque métallique
central de diamètre2 rl.
Le noir d’oroccupe donc la. zone de diamètre
2 r2
et est en contactavec le
support
decuivre,
mais sa conductivité ther-mique est
suffisamment faible[8]
pour ne pas per- turber le fonctionnement de lathermopile.
On
suppose
en outrequ’un
seconddisque
métal-lique parfaitement
réfléchissant de 5 mm de diamètreest
déposé
au-dessus des soudureschaudes, préala-
blement recouvertes d’une très mince couche élec-
triquement
isolante(SiO
parexemple).
Pour
l’analyse
del’écoulement thermique
dans unç tellethermopile,
nousadopterons
un modèlesimplifié
Fig.
2. - Modèlesimplifié
en forme dedisque.
(a)Coupe
de la
thermopile.
R =récepteur
central isotherme à T =To + A7o,
de rayon ri. C = couronne à 3 milieux (1 :thermoéléments, 2 :
mylar, 3 : noir d’or). SF = source froidede rayon
intérieur r2
à T =T o. Oo
= flux incident limité àr ri. (b) Conductances
thermiques. ERR
= rayonnement durécepteur. Ecc
=conduction
dans la couronne.03A3CR =
rayonnement
réparti
entre r 1 et r2. SF = source froide.[Simplified
discshaped
model. (a)Thermopile
cross section.R = central
photon
receiver at T =To
+0394T0,
externalradius r,. C =
layered ring
(1 :thermoelements,
2 :mylar,
3 :
gold black).
SF = heat reservoir at T =To,
internalradius r2.
03A60
= incident radiation flux (0 rrl). (b)
Thermal conductances.
Ln
= receiver thermal radiation.03A3CC
= thermal conduction from receiver to externalbody.
Icp
= thermal radiation from the externalring.
SF =heat reservoir at T =
T0.]
à
symétrie
de révolution autour d’un axe Ozrepré-
senté sur la
figure 2a.
Lerécepteur
de flux constitué par larégion
centrale de 5 mm de diamètre recou-verte, sur une
face,
d’un absorbantparfait
et surfautre face d’un métal d’émissivité
nulle,
est relié ausupport
de cuivre par une conductancethermique
radiale. Si l’on suppose que la conductivité ther-
mique
desdisques métalliques
centraux estinfinie,
latempérature
durécepteur,
soumis au flux incident 0sur toute sa surface
Al
=nrr (avec r1
=2,5 mm)
esthomogène
etégale
à T =To
+lB T 0 (0394T0 To).
Une
partie
du flux estrayonnée
àpartir
durécepteur
vers l’environnement
extérieur, supposé
à latempé-
rature
To.
Le reste s’écoule radialement vers le sup-port
decuivre,
mais avec unrayonnement partiel
vers l’enceinte.
La
thermopile
estsupposée placée
sous vide cequi supprime
les pertesthermiques
par conductionet convection dans le gaz environnant
3. Sensibilité de la
thermopile.
En
désignant
par as le coefficient de Seebeck d’unthermocouple,
N le nombre dethermocouples
connec-tés en
série,
et00
=E0 A1 le
flux incident(Eo
estl’éclairement
supposé homogène),
la sensibilité auflux, exprimée
en V parW,
est donnée parl’expres-
sion :
et la sensibilité à l’éclairement par :
A 1
est l’aire éclairée durécepteur.
Le
récepteur
central étant àtempérature
constanteT =
To
+â T 0 le
fluxthermique s’écoulant
à lapériphérie
en r = r 1 s’écrit :avec
(A
= coefficientd’absorption
de lasurface)
et(us
= constante deStefan égale
à1,80
x10-8 (W m-2 Sr-1 K-4), Blet
B2 = émissivités des deux surfaces durécepteur). Lorsqu’on
mesure des flux03A60 faibles,
inférieursà tPo = 10-3 W
parexemple,
l’élévation de
température 0394T0
nedépasse
pas 1degré.
Parsuite,
onpeut
écrire :Dans notre cas, nous supposerons pour
simplifier
que
pour
le noir d’or à = el =1,
etpour
la surfacemétallisée E2 = 0.
Par suite :
L’écoulement vers la source froide du flux
thermique 4JT
s’effectue d’unepart
à travers la conductancethermique
radiale constituée par la membrane demylar,
les barreaux semiconducteurs et le noird’or,
etd’autre
part
parrayonnement
àpartir
de ces mêmeséléments.
- Pour un élément de surface d’aire A à la
tempé-
rature
To
+AT, la puissance rayonnée
s’écrit :ER représente
la conductancethermique équivalente
au
rayonnement.
PourT o
= 300K,
on a :Cette conductance
thermique
estrépartie
entre r 1 et r2 sur la face couverte de noir d’or(03B51
=1)
et onaboutit alors au schéma de la
figure
2b.- La conductance
thermique
d’une couronne delargeur
dr située à la distance r de l’axe Oz s’écrit :où yi
représente
la conductivitéthermique
de l’undes matériaux du milieu stratifié
composant
la cou-ronne située
entre ri et r2 (éléments actifs, mylar,
noir
d’or) et ei l’épaisseur
de ce matériau. Les barreaux desthermocouples, supposés
delargeur identique 1, peuvent
avoir des conductivités différentes 71 et y2, et desépaisseurs différentes el
et e2. Ils ne recouvrentqu’une partie
de la surface dumylar
et on définira uneconductance moyenne « par carré »
Ytheth
sur lacirconférence moyenne de rayon
(ri
+r2)/2 :
- Dans le cas
simple
où onnéglige
lespertes
deflux
parrayonnement entre rl
et r2, onpeut
calculersimplement
la conductancethermique Icc
de lacouronne, et l’écart de
température 0394T0
et :
soit :
Le flux
thermique
circulant dansEcc
estD’où :
LRR
est la conductance de rayonnement durécepteur
central.
Finalement :
- Si le
rayonnement
àpartir
de la surfacedu récep-
teur est lui-même
négligeable;
on peutsupprimer
le510
terme
KR A 1
au dénominateur. Cela ne serapossible
avec :que pour :
c’est-à-dire des matériaux à très forte conductance
thermique,
oubien r2 ~
rl.Dans ce cas
simple,
larépartition
detempérature T(r)
entre lerécepteur (T
=To
+âT 0
en r =rl;
et la source froide
(T
=To en r
=r2)
est obtenue enrésolvant
l’équation
deLaplace qui,
pour unsystème
à
symétrie
de révolution sans variation suivant l’axeOz,
s’écrit :On obtient
Lorsque (r2 - ri)/ri « 1,
la variation deT(r)
estpratiquement
linéaire(Fig. 3).
Fig.
3. -Répartition
detempérature
entre lerécepteur
et lasource froide
(rl
rr2). 1 :
AvecIca
= 0; 2 :Ecl, *
0.[Temperature
variation between receiver and copper heat reservoir. 1 :ICR
= 0; 2 :lm 0 0.]
- Si l’on s’intéresse maintenant au cas
général,
pour obtenir la
répartition
de latempérature entre r 1
et r2, on doit résoudre une
équation
detype
Pois-son
[4, 6] :
avec :
et :
on a donc :
La solution fait intervenir les fonctions de Bessel modifiées
Io(rIP)
etKo(rIP) :
On a les conditions aux
limites
suivantes :- Flux
thermique
en r = rl.On peut calculer les deux constantes A et
B,
à l’aidede (1) et (2) :
On obtient :
cette fonction est
représentée
sur lafigure
3.En utilisant la relation
(3)
et sachant que :on détermine
L1 T 0
en fonction deEo :
avec :
On en tire : Le dénominateur de
S., qui représente
la conduc-tance
thermique globale
dudispositif,
est la somme dedeux termes : la conductance de
rayonnement
dudisque
central03A3RR = nrî KR
et la conductanceglo-
bale de la couronne
Ecr
= 2nri KR E y; e;
xLe calcul numérique
peut
être ellectué, a l’aide desvaleurs des différents
paramètres donnés
dans letableau
I,
tirées de[1]
Tableau I.
Pour rl
=2,5
x10-3
m et r2 = 3 x10-3
m,et un
coefficient fi égal
dans notre casà fi
=3,62
x10-’
m =0,362
mm, on obtient les conductancesthermiques globales
suivantes :soit,
au total :La conductance
globale
de la couronne03A3CT
est elle-même la somme de deux termes., : une
composante 03A3CR
due aurayonnement
et un termeEcc
dû à laconduction :
03A3CT
=03A3CR
+Ecc
avec(voir plus haut) :
On voit donc que, pour des
éléments
actifs semi-conducteurs,
de faible conductivitéthermique,
laconductance associée au
rayonnement
est trèssupé-
rieure à la conductance
thermique de
la couronne.Enl prenant
pour les éléments semiconducteursen
tellurure de bismuth une valeur effectivement mesurée[4] : 03B1S = 2,5 10 - 4 V K -1 ont
obtient finalement :et :
La valeur de
SE
obtenue avec cettethermopile
est trèssupérieure
à celle desthermopiles
étalonutilisées
communément en
métrologie [9] : 1,26 V VV-1 cm2 :
- de la
thermopile
Sb-Bi à structure radiale[2] : 3,09 V W -1 cm2,
- des
thermopiles
RTCcommercialisées,
à filmsminces de
Te2Bi., disposés
ensegments parallèles [4] : 0,37 V W-1 cm2.
4. Constante de
temps.
Lorsqu’on interrompt
brutalement le fluxincident,
latension aux
bornes
de lathermopile
tend verszéro,
mais le refroidissement n’est pas instantané. La connaissance de l’évolution
temporelle
deAT(t)
à la coupure, ou à l’installation du flux
incident
conditionne lefonctionnement
éventuel de la thermo-pile
avec un flux incident modulé ensignaux
rectan-gulaires.
La constante de
temps r
de lathermopile peut être
calculée defaçon approchée
en utilisantl’analogie électrique
avec un circuit RC. Endésignant
parCT
la
capacité thermique
de la zone centrale recevant leflux lumineux
et 03A3T
la conductancethermique
totalevue
plus haut,
on a :avec :
CT
=03C0r2103A3eimiCi (mi :
massespécifique, Ci :
chaleurmassique).
Dans le modèle
utilisé,
la zone centrale estcomposée
d’une
superposition
de 5 milieux : le noird’or,
2 couchesd’or,
lemylar
et les éléments actifs.Le calcul
numérique
utilisant les valeurs du tableau 1512
donne,
pourla thermopile
munie de 2 couches d’or de0,2
03BCmd’épaisseur :
En
enlevant
l’une des couches d’or :on aurait : 1: leale =
0,76
s.La contribution
du noir d’or dansCT
estnégligeable
et celle du
semiconducteur
trèsfaible.
Par contre, lemylar
intervient pourplus
de 80%,
et l’or(2 couches) pour 15,5 %.
5.
Comparaisons
avecl’expérience.
Plusieurs
thermopiles
ont été réalisées sur le modèle décritplus
haut(mais
avec une seule couched’or),
avecdes éléments en tellurure de bismuth n et p
[5].
La sensibilité et la constante de
temps
ont été mesurées à l’Institut National deMétrologie
duCNAM.
La valeur mésurée du coefficient Seebeck pour unthermocouple était
(Xs =2,5
x10-4
VK -1,
et les
thermopiles
étaient formées de N = 45 thermo-couples
connectés ensérie.
Les mesures ont donné la valeur moyenne suivante pour
SE,
avec unedispersion
de ± 7% :
c’est-à-dire une valeur très
proche
de la valeur calculée à l’aide de notre modèlesimplifié - SEcalc.
La constante de
temps
mesurée est en moyenne de :Le
calcul,
avec une seule couched’or,
donne 03C4calc =0,76
s, mais il n’a pas été tenucompte
de lacapacité thermique C,
de lacouronne rl
r r2,portée
àune
température
variant deTo
+0394T(0)
àTo.
A
partir
de la courbe0394T(r)
obtenu enrégime continu,
onpeut
calculer cettecapacité thermique
additionnelle de la
couronne, composée
demylar,
matériau SC et noir
d’or
=Cc ~ 0,17
x10-4 J K-1.
On obtient
alors,
avec une seulecouche d’or,
uneconstante de
temps théorique
deLes deux
valeurs
ainsicalculées
encadrent la valeurmoyenne
mesuréeT..,, à
± 6% près.
6.
Caractéristiques comparées
desthecmopiles
à élé-ments
semiconducteurs,
et à élémentsmétalliques.
Si l’on
remplaçait
les éléments semiconducteurs par desthermocouples métalliques,
la sensibilité dimi- nueraitfortement,
pour deux raisons :- Le
pouvoir thermoélectrique
as est nettementplus
faible.- La conductivité
thermique yi
estbeaucoup plus
forte : il seracependant possible
de réduire la conductance en utilisant desépaisseurs ei plus
faibles.Nous avons calculé avec
le
modèleprécédent,
lasensibilité d’une
thermopile à thermocouples
Au-Nidéposés
sur le mêmesupport
isolant demylar,
ayant les mêmes valeursde ri
et r2, ledisque
central et lemême nombre N de
thermocouples.
Contrairementau
cas précédent (barreaux semiconducteurs 1
les deuxéléments ont des conductivités
thermiques
très diffé-rentes. On peut rendre
égales
les conductances ther-miques respectives
desbarreaux
d’Au et de Ni en choi-sissant des
épaisseurs
différentes eAu =eNi(Yi Ni/03B3Au).
On
prendra
parexemple
comme dans[1]
= eAu =4 x10-8
m et eN; = 12 x10-8
m. Onobtient 03A3
Yi ei =46 x
10-’ W m-l K-1 (au
lieu de 8 x10-’
dansl’exemple précédent). D’où fi
=0,866
mm. La conduc-tance
thermique
de la couronneIrr
= 2 03C0r1 x(KR03A303B3iei) F(ri, r2) est égale
à 03A3CT
= 1,64
x
1 -’ W K-1
valeursupérieure
à la conductance derayonnement
durécepteur
central03A3RR = 03C0r21 KR
=1,11
X10-4W K-1. (Avec
les barreaux semiconduc- teurs, on avaitIcr
=0,41
x10-4
WK-1,
soit4 fois
moins.)
La conductance totaleET
=03A3RR
+,EcT passerait
de1,52
x10-4 WK-1
à2,75.x 10-4 W K-1
si onremplaçait
les matériaux semi-conducteurs par des barreaux d’Au et Ni
d’épaisseur nettement plus
faible.Le coefficient de Seebeck d’un
couple
Au-Ni est dePar
suite,
unethermopile identique
à laprécédente,
mais réalisée avec des
couples
Au-Niconduirait
à :Soit :
La constante de temps serait elle aussi réduite :
soit
L’emploi
decouples métalliques
estplus
favorableà une utilisation en flux
modulé.
7. Amélioration
possible
descaractéristiques d’une thermopile
à éléments semiconducteurs.Pour améliorer la
sensibilité,
onpeut
accroître asqui, dans
nosexpériences
n’a pu êtreporté
à sa valeurmaximum :
(as ci
4 x10-4
VK -1
pour des maté- riauxmassifs)
par suite del’obligation
de recuire lesfilms à une
température
maximum de150 OC,
pour éviter ladestruction
dumylar :
cet isolantorganique pourrait
êtreremplacé
par un film mince supportant destempératures
de recuitplus
élevées.On
pourrait également
accroître le nombre N desthermocouples.
Mais on est limité dans cette voie parl’apparition
d’un bruit de fondimportant.
Dansnos
thermopiles [5]
le bruit mesuré(B ~
66 x10-9
VHz-1/2, correspondant
à unepuissance équi-
valente de bruit NEP = 11 x
10-10 W Hz-1/2)
estdû essentiellement à la très forte résistance des ther-
mocouples (Ri ~
200k03A9).
A titre decomparaison,
nous avons mesuré
[4]
le bruit d’unethermopile
commerciale RTC à éléments semi-conducteurs en
Te2Bi3 disposés
enrangées parallèles,
de résistance interneRi L--
20k03A9,
et avons obtenu NEP ~2,6
x10-10
WHz-1/2.
Pour lesthermopiles à
semiconduc- teurs massifs décrites dans[9], où Ri ~
200Q,
onaurait : NEP ~
10-’o
WHZ-1/2.
Aucune valeur n’a étépubliée
pour lesthermopiles
à films mincesmétalliques [1, 2],
mais le bruit ne doit pas y êtrebeaucoup plus
faible que dans nosthermopiles,
par suite des résistances internes élevées :respectivement Ri ~
10 kQ en[1] et
57 kSi en[2].
Pour réduire le
bruit,
il faut donc diminuer la résis- tanceinterne,
en accroissantl’épaisseur
des rubans semiconducteurs.L’augmentation correspondante
dela conductance
thermique
n’auraitqu’une
faibleinfluence sur la
sensibilité, puisque
lacomposante essentielle
de cette conductanceIRR
est due au rayon- nement.L’importance
du terme’RR
a uneconséquence technologique
intéressante : on pourra accroîtrel’épaisseur
de l’isolant(et
donc sa conductanceICC)
sans diminuer la sensibilité de
façon significative.
La variation de
KR
et deERR
avecT0
selon une loien
TÕ permet d’envisager
une améliorationimpor-
tante de la sensibilité par refroidissement - mais
au détriment d’un accroissement de la constante de temps et d’une
complication
dufonctionnement, puisque
tout l’environnement immédiat doit êtreporté
àT °.
Une étudeapprofondie
estnécessaire,
pour
chaque dispositif
utilisé. En effet :- le refroidissement accroît la conductivité ther-
mique
des matériaux constituant la couronne. Ils’agit
toutefois d’une variation lente avecTo, et la
conductance radiale
globale :
03A3CT = (KR 03A3
yiei)1/2
devrait diminuer avecTo ,
- le coefficient Seebeck as décroît avec
To
d’unfacteur 2 à 4 entre 300 et
100 K,
pour les matériaux utilisés en thermoélectricité[10],
- la résistance
électrique
interneRi,
pour cesmatériaux,
décroît très vite avecTo, jusque
versT0 ~
50K,
cequi
est favorable pour la réduction du bruitUn accroissement de
sensibilité, accompagné
d’unediminution du facteur de bruit B
permettrait
de réduirela
puissance équivalente
de bruitpuisque :
(et
donc la limite inférieure du flux détectableWm;n )
et d’accroître la détectivité :
(A 1
est l’aire dudétecteur).
Pour
les. thermopiles
à structuresradiales, objet
de cetravail,
avecA 1 = 0,2 cm’,
nousavons obtenu :
So
= 65 VW-1,
r =0,8
s, NEP ~1,1
x10-9 W Hz-1/2 et D = 4 x 108 W-1 cm Hz1/2.
Il est donc
possible, grâce
à unsystème électronique
à bande passante
étroite,
de détecter des flux de l’ordre deWmin = 10 9 W,
et donc d’effectuer avec une bonneprécision
des mesures de fluxrayonné jusqu’à W ~ 10-’
W.Ces
thermopiles
ont(sans
les améliorations pos- siblessignalées plus haut)
desperformances
compa-rables à
celles
des détecteurspyroélectriques
et desrécepteurs bolométriques.
Les détecteurs
pyroélectriques,
associés à des résis- tances decharge
de109
à1012 03A9,
ont des sensibilitésS~
trèssupérieures
àcelles
desthermopiles (103
à5 x
103
VW-1, d’après [11]
et[12]),
mais le bruit y est trèsimportant
et finalement lapuissance équiva-
lente de
bruit
et la détectivité ne sont pas meilleures que celles desthermopiles :
(NEP
= 2 x10-7 W Hz-1/2 en [12] et 0,6 à
2 x
10-8 W Hz- 1/2 en [11]).
Les
récepteurs bolométriques
ont desperformances
inférieures à celles des
thermopiles.
Parexemple,
un très bon
récepteur
à film mince d’or étudié par unlaboratoire de
Métrologie [13],
d’aire utile 1cm’,
permet de détecter à la limite un flux
Wmin ~
30 x10-9
W.Bibliographie [1] BESSONNEAU, C., LEBRUN, J., Onde Electr. 53 (1973) 145.
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Report
331 (Natio-nal Physical Research