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1 AVR.2001
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15 Micheillnstruments' L~ .
à lamesured'oxygène
Sélection "produits"
5 Lelaserscannetout type de matériau 6 Aucun gaz n'échappe à l'analyseur Raman 8 L'automateet l'IHM partagent le même outil 8 Deuxmodules s'associentpour un traitement trèspersonnalisé
10 Laréalité virtuelle semet au service de laformation des opérateurs
Entreprises
11 DassaultSystèmesinvestit dans Intercim LLC 12 MD1Vision cède seslogiciels de mesure à Metrologie Group
13 Actemium octroie un régime spécial à l'analyse industrielle
14 Lesjeunes automaticiens dans les starting-blocks
Systèmessur cartes: les architectures commutées deviennent une réalité
t Lesformats VMEet CompactPCI peuvent parfois faire figure d'anciennes technologies. Maisces systèmes sur cartes à base de bus parallèle ont su s'adapter au fildes ans. Les architectures commutées autorisent des communications à haut débit et une utilisation simultanée du réseau par plusieurs cartes. page 22
IO-Linkest désormais prêt à exploiter l'intelligence des capteurs
tlO-Link est la seule interface standard à fournir aux capteurs et actionneurs la capacité de dialoguer avec les systèmes de commandes. Définie en 2006 par plusieurs fabricants européens, l'interface IO-Linkcommence à faire parler d'elle. page 28
Deux méthodes pour localiser les sources de bruit
t Sil'on veut concevoir un produit plus silencieux, réduire les nuisances sonores, ou tester l'efficacité de protections phoniques, on utilise des méthodes d'imagerie acoustique.
Laformation de voies et l'holographie acoustique sont lesplus courantes. page 33
L'étalonnage in situ contribue à l'efficacité énergétique des fours
. Chez le producteur d'acier électrique ThyssenKrupp Electrical Steel, l'atelier de recuit vase clos a été équipé de cannes pyrométriques avec étalonnage in situ.
La mise en œuvre de cette technologie brevetée procure des avantages. page 37
Désinfection d'eau: un seul PC embarqué pour le contrôle de la machine
t Apsytec propose une machine de désinfection des eaux de refroidissement industrielles. Siemens ne s'est pas contenté de fournir les composants d'automatismes. page 40
Contrôle à l'émission: le SIAAPopte pour une prestation globale
t Al'usinedu
SIAAPSeineCentre à Colombes,pour le contrôle
à l'émission en sortie des quatre fours d'incinération, Sick Maihak a fourni une prestation répondant à l'ensemble du projet.Tout cela dans le cadre strict des normes en vigueur. page 44
Ce numéro comporte un encart abonnement Mesures broché de 4 pages entre les pages 18-1get 50-51, ainsi qu'un encartjetéde2 pages Fluke.
.
Calendrier
4Expositions et colloques
Index
66 Coordonnées des sociétés citées
Francis Cottet, directeur de l'Ensma
« LabView et Matlab sont devenus la règle à calculs sophistiquée de l'époque actuelle»
. Après une longue carrière d'enseignant-chercheur, Francis Cottet a occupé le poste de délégué régional à la recherche et à la technologie du Poitou-Charentes pendant trois ans. En octobre dernier, ila pris la direction de l'Ecole nationale supérieure de mécanique et d'aérotechnique de Poitiers- Futuroscope. Dans cet entretien, il nous livre son expérience sur LabView. Ilen a fait, très tôt, un outil pédagogique et a étudié les capacités temps réel
de ce logiciel de program-
mation graphique.
Ilévoque
également l'évolution des capteurs et la façon dont ils sont appréhendés dans le cadre de l'enseignement et de la recherche au sein de l'Ensma et des labora-toires. page 16
Les modules USB pour la mesure
. Les modules instruments USBgagnent l'industrie. Peu chers, compacts et simples d'utilisation, ils constituent une solution pratique pour les applications de test et mesure. Mais leurs performances demeurent limitées par le débit du bus. Une
contrainte secondaire pour les modules d'acquisition de données et les multi- mètres mais les choses se corsent lorsque l'on parle des oscilloscopes dont les fréquences restent basses comparées à celles des
instruments fixes.page
48Mesureet test électroniques p. 56 Mesure mécanique, vision et CNDp. 57 Mesure physique, analyse chimique p. 58
Régulation et automatismes p. 59
Capteurs et transmetteurs p. 61 Acquisitions de données p. 62.
Informatique et OEMp. 63 Composants, constituants p. 65
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