Influence des variations de structure sur certaines propriétés électriques et optiques des lames minces étudiées sous vide

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Submitted on 1 Jan 1956

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Influence des variations de structure sur certaines propriétés électriques et optiques des lames minces

étudiées sous vide

M. Perrot, J.P. David

To cite this version:

M. Perrot, J.P. David. Influence des variations de structure sur certaines propriétés électriques et op-

tiques des lames minces étudiées sous vide. J. Phys. Radium, 1956, 17 (3), pp.194-200. �10.1051/jphys-

rad:01956001703019400�. �jpa-00235341�

INFLUENCE DES VARIATIONS DE STRUCTURE SUR CERTAINES PROPRIÉTÉS ÉLECTRIQUES ^ET OPTIQUES

DES LAMES MINCES ÉTUDIÉES SOUS VIDE Par M. PERROT et J. P. DAVID,

Laboratoire de Physique, Faculté des Sciences, Alger.

Summary. - ^The objet of this work is

experimental study ^of

optical and ^electrical properties ^{of thin} layers ^with granular ^structure

functions of their thickness, ^all measurements being ^carried simultanously ⁱⁿ

Authors have tried to connect the variations of these properties ^to the variations of structure of theses layers by aging

by ^{action of} the electrical field applied.

An interpretation ^is given ^to explain ^the important variation of the optical constants in regard

of the value for bulk metal.

PHYSIQUE 17, 1956,

1. Généralités.

Les propriétés électriques ^et optiques des lames métalliques ^{minces ne} dépendent pas uniquement ^{de la masse m de métal} déposée ^{par cm2 du support mais encore de la} façon ^{dont cette masse est} répartie ^{sur le} support,

ce qui caractérise d’une certaine manière la struc- ture de la lame.

Parmi les structures possibles, ^on peut ^{avoir :}

-

soit un tapis monocristallin ou amorphe ; ^soit

des cristaux espacés ^dont les dimensions latérales sont du même ordre de grandeur que leur hauteur ;

.

soit des édifices cristallins, ^{ou îlots} indépendants,

dont les dimensions latérales sont plus grandes que leur hauteur ; ^ces îlots étant d’autant plus rap-

prochés que 1’« épaisseur équivalente

^{de la lame}

est plus grande.

Toutes ces structures caractérisent ce que l’on

désigne ^{sous le nom de « lames} granulaires

(lames G).

Lorsque ^{ces édifices ne sont} plus indépendants

mais ne couvrent pas ^toute la surface, ^{on est alors}

dans le domaine des

lames poreuses

(lames P).

Les lames P et les lames G sont souvent dési-

gnées ^{sous le nom de}

lames lacunaires

Pour des épaisseurs plus fortes, ^on atteint le domaine des lames dites

continues

qui ^{en réalité}

sont inhomcgènes ^{et formées de} microcristaux d’autant plus rapprochés que l’épaisseur ^{de la lame}

est grande.

Pour une même valeur de _m, c’est-à-dire de l’« épaisseur équivalente ^{», la} répartition ^structu-

rale varie avec un certain nombre de facteurs dont l’influence sur les propriétés ^{étudiées est} plus ^ou

moins importante.

Parmi ces facteurs, ^on peut ^{énumérer :} a) ^la température ;

b) ^{la nature et la} pression des gaz résiduels ; c) ^{la nature du} support ;

d) ^le temps ^de vaporisation ; e) ^le temps d’évolution de la lame ;

f ) ^le champ électrique appliqué ^{dans les mesures}

de conductibilité ou éventuellement le champ magnétique, ^{la haute} fréquence..., ^etc.

Dès sa formation, ^une lame mince subit une

modification plus ^ou moins lente de structure au cours du temps, ^{tous les autres} paramètres ^étant

constants. La vitesse de cette modification dépend

évidemment du temps employé pour la projection.

Pour des temps ^de projection ^courts (quelques secondes), ^la cristallisation qui s’opère après ^la projection, ^{détermine une} première ^évolution rapide qui ^{est suivie d’une} phase plus ^{lente de} réarrangement des cristaux sur le support. Ce pro-

cessus de migration cristalline est probablement

fortement influencé au cours du temps par

l’adsorption ^{ou l’action} chimique ^{des atomes étran-}

gers ^au métal (gaz extérieurs, impuretés ^{ou gaz}

occlus dans le support, etc...). ^Cette

^évolution spontanée » ^entraîne des variations dans les pro-

priétés optiques ^et électriques ^{en fonction du} temps [1]. ^{Il est} important, pour des conditions

expérimentales déterminées, ^{de mesurer simulta-}

nément ces variations sous le vide [2].

Lorsque ^ces propriétés ^{ne varient} plus ^{que très} lentement, ^on admet que la lame ^est stabilisée. Si,

dans ce cas, ^on fait varier, ^{dans un} domaine pas

trop étendu, ^des paramètres tels que la tempéra- ture, ^la pression, etc..., ^{on obtient en} général ^des

modifications réversibles des propriétés ^{de la lame.}

Des variations trop importantes ^{de ces} para- mètres peuvent donner lieu à des hystérésis ^{ou à}

des modifications de structure qui correspondent ^à

une nouvelle évolution spontanée conduisant à un

état asymptotique différent de celui dont on est

parti ^et qui entraînent des variations simultanées des propriétés électriques ^et optiques.

Ces variations peuvent ^être définies par celles des deux paramètres ^{suivants :}

a) la résistance superficielle ^{de la} lame ; b) l’amplitude ^{de l’onde} réfléchie par la lame

’ lorsque ^celle-ci reçoit ^sous l’incidence normale un un faisceau monochromatique de rayons parallèles.

Article published online by EDP Sciences and available at http://dx.doi.org/10.1051/jphysrad:01956001703019400

195 La connaissance de ces deux paramètres peut

permettre de déterminer dans le cas des lames

«

continues » la variation de la conductibilité et des constantes optiques ^{x et v de la lame. On} sait,

en effet, que lorsque l’épaisseur décroît, ^{le libre}

parcours moyen des électrons diminue par diffusion de ces électrons sur les frontières de la lame, ^ce qui ^{entraîne une} diminution de la conductibilité

et une variation des constantes optiques.

Dans le cas des lames lacunaires, ^le problème qui

se pose ^est plus compliqué. ^{Les électrons}

^enca- gés

^{dans les îlots} possèdent, ^{de ce} fait, ^{un libre}

parcours moyen ^encore plus réduit que pour les lames précédentes ; ^{ceci contribue très} proba-

blement à une diminution de la conductibilité

«

intrinsèque

^{des îlots et à une variation des}

constantes optiques ^{du métal en} couche mince par

rapport ^à celles du métal massif.

.

Mais, ^ce que l’on ^mesure expérimentalement, ^ce

sont les propriétés électriques ^et optiques ^de

l’ensemble de cette population ^d’îlots métalliques.

La conductibilité doit en particulier ^tenir compte du _passage possible ^du courant entre les parties métalliques ^soit directement dans le vide (par

effet tunel ou par effet thermoélectronique) ^{soit en} empruntant ^un passage plus ^{ou moins conducteur}

à la surface du support (tapis).

Dans l’onde globalement réfléchie par la surface,

on doit distinguer ^ce qui ^est réfléchi par les parti-

cules métalliques ^{de ce} qui ^{est réfléchi} par ^le support.

Si CR est le facteur de réflexion de cette surface

(côté support) ^{et si} q’

^est la variation de phase quand ^on passe de la réflexion vitreuse ^à la réfle- xion métallique, l’amplitude ^{CÏ/ de} l’onde réfléchie est complexe ^{et de la forme :}

Si à partir ^de 0B.’ et de y’on ^{cherche à déterminer} les constantes optiques v et x de la lame, ^{on obtient}

des coefficients

fictifs » puisque pour obtenir ^ces coefficients on suppose la ^lame continue et d’épais-

seur égale ^{à l’«} épaisseur équivalente

Les lames plus épaisses ^dites

continues » (à ^dis-

tribution volumique), ^sont inhomogènes. ^Malé [3]

.

a montré, ^{dans ce} cas, ^en tenant compte ^des champs électriques d’interaction qui peuvent ^{exister entre}

les microcristallites polarisés par l’onde incidente,

que l’on peut ^{obtenir à la fois les constantes} optiques ^{de la lame et sa} vraie densité. Selon cet

auteur, ^la différence entre les constantes optiques

ainsi calculées ^et celle du métal à l’état compact provient ^{de ce} que la lame ^est constituée de micro- cristallites séparés ayant chacun les constantes

optiques du métal massif. Par ailleurs, la connais-

sance de la densité réelle ^et de celle du métal

compact ^lui permet ^de caractériser, ^{d’une certaine} façon, ^{la structure} de la lame par ^un paramètre,

appelé facteur ^de remplissage. ^C’est ainsi que des lames d’argent ^de 85 mp, d’« épaisseur équivalente »

ne seraient pas ^encore compactes.

Dans le cas des lames lacunaires (à distribution

superficielle), la méthode précédente ^{est en défaut.}

On peut cependant ^{dans ce} cas, extrapoler

cette notion de facteur de remplissage ^{en lui don-}

nant la signification ^{suivante :}

Soit

la surface effectivement occupée ^{par le}

métal sur une surface de 1 cm2 du support ^trans- parent.

^{sera un taux de} remplissage ^{de ce} sup-

port par le métal. Si ^{on ne} considère pas les lames à population ^d’îlots métalliques ^très clairsemés et si on néglige ^tout effet de diffusion latérale, ^on peut supposer qu’en ^un point ^à l’infini, l’amplitude complexe ^{ét’ de l’onde réfléchie résulte de la} compo- sition de l’amplitude (réelle) Ao ^{de l’onde réfléchie}

sur le support (Ao

V (Ro’ (R.o

facteur de réflexion du support) ^{et de} l’amplitude complexe, AeiI>

de l’onde réfléchie (côté support) par l’ensemble des îlots métalliques. ^On peut ^{écrire en} première approximation ^{la relation :}

soit

FIG. 1. - e’t/

A’ eicp’ = «Ae"4’

Ao) ⁺ Ao.

L’origine ^est désignée par la lettre 0.

Sur la figure ^de principe (1) est tracée la courbe

CI représentant ^{dans le} plan complexe, l’amplitude

A eiD -supposée ^{connue en fonction de} l’épaisseur

moyenne des îlots.

La relation ci-dessus montre que pour ^un point particulier ^{de cette courbe e} (affixe N, épaisseur e)

on obtient l’amplitude ^{Z’ ==} V/ix7-’ (affixe N’) ^en portant ^à partir ^d’un point ^{M de Ox (OM}

Ao)

MN’

sur la droite MN,

^un point ^{p N’ tel que q} MN - ^MN

Le lieu des points ^{N’ est la courbe} expérimentale C,. ^De plus ^le point ^N’

^{est relatif à} l’épaisseur ^e’

.telle qu’on l’a déterminée _par pesée ^{et l’on doit}

avoir

B c, /

Ce raisonnement suppose que l’amplitude ^A eiI>

ne dépend ^{pas de la} géométrie ^des grains ^{et n’est}

probablement ^{valable que} lorsque ^{la hauteur du} grain ^est petite ^{vis-à-vis des autres} dimensions.

Cela suppose aussi que par ^cm2 l’on peut ^assi- miler, ^du point ^{de vue} optique, l’ensemble des îlots métalliques d’épaisseur ^moyenne e, à ^une lame continue de surface

et de même épaisseur.

S’il est possible ^{d’évaluer par} microscopie ^élec- tronique, ^{le taux de} remplissage d’une lame lacu-

naire, ^on peut ^alors déterminer les constantes

optiques ^et l’épaisseur ^{des îlots} métalliques ^tout

au moins dans le domaine de validité de la relation ci-dessus.

II.

Résultats expérimentaux.

^{Les mesures} entreprises ^{dans nos} laboratoires ont été faites en

fixant un certain nombre de facteurs ci-dessus

signalés. ^C’est ainsi que ^{nous avons} toujours opéré

à la température ^{ordinaire et sous une} pression

10-5 > P > 10-6 mm Hg. ^{Dans la} plupart ^des expériences ^{faites, les temps de} vaporisation

étaient faibles (quelques ^{secondes à} quelques

dizaines de secondes). ^Des expériences ^{ont, au} contraire, ^été conduites, à dessein, ^{avec des} temps

de vaporisation beaucoup plus grands (quelques heures). ^Les supports ^{choisis ont} été soit le verre

soit le quartz ^très convenablement nettoyés.

Dans ces conditions, nous avons étudié au cours

du temps ^certaines propriétés optiques ^et électriques

des lames minces lacunaires, ^en fonction ^{de leur} épaisseur, ^{toutes les mesures étant} effectuées ^sous

vide.

Par ailleurs, ^{il semble} utile, ^sinon indispensable

si on veut établir un lien entre les propriétés optiques ^{et les} propriétés électriques ^{des lames} métalliques minces, ^{de mesurer toutes ces} pro-

priétés simultanément. Nous avons donc réalisé des montages permettant ^{de mesurer} simultanément

sous le vide les paramètres électriques ^et optiques

et leur évolution en fonction du temps.

Dans une première ^{série de mesures} [4], [5] ^nous

avons entrepris ^l’étude systématique de la conduc- tibilité des lames minces lacunaires d’argent, ^d’alu-

minium et de silicium au cours du temps ^{et étudié}

l’influence possible ^des variations de champ ^élec- trique ^{sur la structure d’une lame} métallique.

Pour des lames stabilisées, ^{on a en outre constaté}

que la résistance _moyenne peut varier considéra- blement lorsque ^le champ électrique passe de

quelques V /cm ^à plusieurs ^{milliers de} V jcm. ^Ces

variations ^sont d’ailleurs réversibles. On a défini et mesuré ^un coefficient _y

(1 /Rs). (Rs /AE) pou- vant caractériser ^{en un} certain sens les écarts à la loi d’Ohm.

Rx ^étant la résistance d’une couche métallique

de dimensions superficielles ^L

^l

^{1 cm.}

.E

v ^{étant le champ appliqué.}

V étant la tension ^aux bornes de la lame.

Dans le cas des lames en évolution, ^{nous avons}

également ^montré que le champ électrique peut fortement ir fluer sur l’évolution de la conducti- bilité d’une lame mince métallique. ^{La courbe}

d’évolution R(t) ^{sous le} champ ^le plus ^fort .E1 ^est toujours ^{au-dessus de celle} correspondant ^au champ ^le plus ^faible E2 [5].

Pour des lames dont l’évolution spontanée ^est avancée, ^le coefficient _{y est} 0 et on peut repré-

senter les variations étudiées par la courbe

FIG. 2.

Nous avons tracé ces caractéristiques ^{dans le}

cas de lames d’argent, d’aluminium et de silicium

préparées ^{sous une} pression ^{de 10-6 mm} Hg ( fig. 2).

En partant de considérations sur l’effet tunnel et sur l’effet thermoélectronique, N. Nifontoff a

tracé les courbes Log ^Ra

f (Log Is) ^{dans le cas}

d’un contact imparfait ^entre deux surfaces métal-

liques, identiques, planes, parallèles ^et indéfinies et pour différentes valeurs de l’intervalle entre les électrodes et du travail d’extraction. La forme de

ces courbes rappelle fortement celle _que nous avons

tracée dans le cas des lames métalliques ^minces (fin. 2) ^{et il a été montré} [6] qu’en associant d’une certaine façon les résistances

intergrain

^d’une

lame métallique ^on peut ^ainsi justifier par la théorie la forme des courbes expérimentales.

De l’étude expérimentale il résulte _que les écarts à la loi d’Ohm à la température ^{ordinaire sont}

d’autant plus marqués que l’épaisseur de la couche est plus faible, c’est-à-dire _que la structure est plus granulaire. Ces résultats montrent, ^en outre, que le

champ électrique appliqué ^{a une} influence consi- dérable sur l’évolution de la résistivité des lames

en fonction du temps, ^surtout lorsque ^le champ électrique ^est appliqué depuis ^{le début de la} préparation ^[5].

On peut donc penser que pendant ^cette période

de la formation les variations du champ électrique pourraient entraîner aussi des variations dans les

propriétés optiques.

Dans une deuxième série d’expériences, ^nous

197

avons d’abord étudié sous vide les variations simultanées des paramètres optiques ^et électriques

de lames d’argent d’épaisseurs différentes (le temps de vaporisation ^étant de l’ordre de quelques secondes). ^Par ailleurs, nous avons suivi en fonc- tion du temps ^de projection, c’est-à-dire en fonc- tion de l’épaisseur, les variations simultanées de

ces mêmes paramètres (pour ^une variation linéaire

d’épaisseur ^{de l’ordre} 2.10-3 mp. par seconde).

F’IG. 3.

La figure ³ schématise le montage utilisé dans ces mesures. La couche mince d’argent ^était déposée

sur une lame de quartz ^taillée perpendiculairement

à l’axe et à faces optiquement planes ^et parallèles

sur laquelle ^deux électrodes d’argent ^massif

avaient été préparées ^au préalable par évaporation thermique. Le faisceau lumineux issu d’une lampe

,

à vapeur de ^mercure passe ^{à travers un} diaphragme

dont on forme une très petite image ^{dans le sillon} séparant les électrodes (dimensions ^du sillon,

20 X 3,5 mm). ^{La lame à faces} parallèles ^{donne un} système ^{d’anneaux à} l’infini que l’on projette ^sui-

vant un diamètre sur la fente d’un spectrographe.

Quand ^on passe de la réflexion dans le support transparent ^{sur l’air} (temps 0) ^à la réflexion dans le support transparent ^{sur le} métal, ^{il se} produit

un changement ^de phase cp’ que l’on détermine, ^à partir ^du diamètre des _anneaux, en utilisant une

méthode classique [7].

D’autre’ part, ^un faisceau de lumière complexe

sur le trajet duquel ^on interpose des filtres vient

se réfléchir, ^{sous incidence} quasi normale, ^{sur la}

lame métallique ^mince déposée ^{dans le sillon ; on} reçoit ^{ce faisceau sur une cellule} photoélectrique,

ce qui permet ^de déterminer le facteur de réflexion de la couche mince.

Le contrôle de la conductibilité électrique ^était

assuré par ^un montage analogue ^{à celui} déjà

décrit [4] ^et qui permet d’appliquer ^des champs ^élec- triques ^variables.

La figure ⁴ correspond ^aux variations simul-

tanées des changements ^de phase z

⁵ 461,A) ^et

de la résistance électrique ^en fonction du temps

d’évolution pour des lames de différentes épais-

FIG. 4b.

seurs, le temps ^de projection ^{étant de} quelques

secon des.

’

FIG. 5.

°

Taux de projection :

1 : 2.10-3 m(L /sec.

2 : 4.10-3 my /sec.

3 : 2,6.10y3 m(L ¡sec.

4 : 2,7.10-3 m(L /sec.

5 : 8,3.10-3 mti /sec.

La figure ⁵ donne, ^en fonction du temps ^de pro-

jection, ^les variations du changement ^de phase

pour la longueur ^{d’onde À}

^{5 461 lu.} Bien que la

nacelle de projection ^{soit à 25 cm de la lame de}

quartz, ^{on est} obligé ^{de tenir} compte ^{de la varia-}

tion de phase Ap’ provenant ^{de la très faible dila-}

tation de cette lame ^sous l’effet d’une variation de

température.

(Il ^{suffit de 10 C} pour avoir Ao’

0, ¹²⁰ À)

FIG. 6.

La courbe (a) ^en pointillés ^{de la} figure ^{6 corres-} pond (dans les mêmes conditions de chauffage que

précédemment mais pour un creuset vide) ^aux changements ^de phase par dilatation du support.

On constate que la courbe (b) ^se termine par ^une

partie rectiligne parallèle ^{à la} précédente ^et qui

traduit uniquement l’effet de dilatation du support.

La courbe (c) correspond ^{à la variation de} phase corrigée ^{de cet effet de} température.

.

FIG. 7.

A partir ^{de ces} courbes, ^{on a tracé les} change-

ments de phases ^en fonction ^de l’épaisseur pour diffé- rentes vitesses de projection ( fig. 7).

Pour ces mêmes lames, ^{on a tracé sur la} figure ⁸

les courbes donnant Log ^{R en} fonction de l’épais-

seur.

Nous avons aussi tracé, ^{sur les} figures ^{9 et} 10,

les courbes donnant les facteurs de réflexion et les variations de phase ^en fonction de l’épaisseur. ^Ces

courbes ont été obtenues _pour l’argent ^et pour X

5 461 A par différents expérimentateurs ^(les

unes se rapportent ^{à de} l’argent

thermique ^{», les}

autres à de l’argent

cathodique »).

Sur ces mêmes graphiques, ^{ont été} figurées ^les

courbes expérimentales que ^{nous avons} obtenues pour de l’argent thermique, ^les paramètres optiques

FIG. 8.

FIG. 9.

1.

Théorique. ^4.

^Rouard.

2.

Perrot. 5.

Faust.

3.

PERROT-DAVID. 6.

KRAUTKRAMER.

et électriques ayant été mesurés simultanément

sous vide.

A partir ^des courbes des deux figures ^ci-dessus,

nous avons tracé (fig. 11) ^celles qui ^donnent l’ampli-

tude de l’onde réfléchie du côté du support, ^ainsi

que la courbe théorique ^{déduite des constantes}

optiques ^du métal massif dans le cas du verre et

dans le cas du quartz.

199 Ces courbes sont tracées dans le plan complexe

en prenant pour module la racine ^carrée du facteur de réflexion GL’ (côté support) ^et pour argument ^la

variation p’ ^de phase lorsque l’on passe de la réflexion métallique ^à la réflexion vitreuse.

,

FIG. 10. - X

5 461 A.

2. PERROT-DAVID (Ag thermique, mesures sous vide).

3. ROUARD (Ag cathodique

^dans l’air).

4. FAUST (Ag thermique

^dans l’air).

(Les ^{courbes 3 et} 4 ont été tracées par continuité dans le

sens des retards sans tenir compte ^{d’un saut de} phasee.) Elles montrent nettement que dans le domaine où la lame est granulaire, ^les constantes optiques

«

apparentes » ainsi que les constantes optiques

«

intrinsèques » de l’ensemble des particules ^métal- liques sont très différentes de celles du métal pris

àl’état massif (v

0,18, X

3,67).

FIG. 11.

Valeurs : 1. Théoriques. 2. Perrot-David.

3. Rouard

4. Faust - - -

La figure ^{12 se rapporte à des courbes} théoriques

relatives à des amplitudes ^{tracées dans le} plan complexe pour ^une même valeur de x ^{et des valeurs}

croissantes de v, ^à partir ^des courbes donnant les facteurs de réflexion ^et les variations de phase ^en

fonction de l’épaisseur déterminée par méthode

graphique (8). ^En rapprochant ^ces différents _sys-

tèmes de courbes, ^on peut ^déduire que l’indice de réfraction du métal augmente ^fortement lorsque l’épaisseur

équivalente » ^de la lame diminue. Il

semble, ^en outre, qu’à partir d’une certaine épais-

seur, l’argent cathodique ^{a des} constantes optiques plus rapprochées ^{de celles du métal} massif que

celles ^de l’argent thermique.

FIG. 12.

Notons, enfin, que pour la longueur ^d’onde

À = 5 461 A, nous avons toujours observé des retards régulièrement croissants avec l’épaisseur.

Par contre, ^{certaines courbes tracées avec des lon-}

gueurs plus ^faibles indiquent des variations de

phase qui sont d’abord des retards et qui pour les

plus ^fortes épaisseurs ^{terminent par des avances.}

De toutes façons, ^les paramètres optiques ^ci-

dessus étudiés sont bien définis par l’amplitude Jàl ’ ^et toute saute de phase ^{de 2n ne modifie}

en rien la forme de la courbe.

Signalons ^enfin qu’en faisant varier le champ électrique appliqué nous avons constaté les écarts habituels _par rapport ^{à la loi d’Ohm pour les}

lames stabilisées. Nous n’avons observé, ^{dans ce}

cas, que des variations négligeables ^{dans les} para- mètres optiques. ^{Dans le cas des lames en évolu-}

tion les variations du champ électrique ^semblent

influer sur les changements ^de phase ^de façon ^bien

moins importante que ^sur la résistance de la lame [5].

DISCUSSION

M. Borel.

N’avez-vous _pas observé l’effet d’un facteur tel _que le champ électrique appliqué pen- dant l’évolution spontanée, ^la température du sup-

port ^ou la vitesse de formation des lames sur

les écarts à la loi d’Ohm ? J’ai constaté, par

exemple que deux lames de même résistivité super-

ficielle avaient, pour ^une même valeur du champ

électrique, ^{des écarts à la} loi d’Ohm différents. La

lame formée le plus rapidement ayant ^{un écart} plus ^faible.

M. Perrot.

Nous avons justement parlé ^de

l’action du champ électrique ^sur l’évolution. ^En

ce qui ^concerne l’étude de l’influence de la vitesse de préparation ^{des lames sur} les écarts à la loi

d’Ohm, ^cela n’a pas ^encore été fait.

M. Borel.

Avez-vous fait des ^mesures pour des champs croissants ou décroissants ?

M. David.

Oui, pour les deux ^sens de varia- tion du champ.

M. Borel.

En éliminant alors la première montée, ^{car il} y ^{a une} certaine hystérésis ?

M. David.

Oui.

M. Ronchi.

Je désire savoir si, ^{dans les}

mesures du facteur de réflexion, ^{on a} essayé ^de

tenir compte ^{aussi de la} diffusion, puisque ^la

réflexion se faisait sur des surfaces aussi irrégu-

lières du point ^{de vue} géométrique. Je crois que de là on pourrait ^{tirer des} renseignements ^{utiles au} sujet ^{de la structure} des lames minces.

M. Perrot.

C’est en effet une question ^très importante, ^les particules ^{des lames} granulaires

sont très petites ^{devant la} longueur d’onde uti- lisée. Il y ^a là un calcul à faire. Cependant, ^en

lumière normale, je n’ai pas constaté de diffusion latérale jusqu’à ^des épaisseurs ^{assez faibles} (4 ^ou

5 m{1.) des lames. Il semble _que l’ensemble des

grains provoque un effet global, ^{dont la résultante}

est telle que, ^au fond, ^{tout va se} centrer autour de la réflexion normale. Je ne pense pas que cela constitue exactement une réponse ^{à votre} question,

mais je ^crois qu’il ^{est très} important de poser ^ce

problème.

M. Rouard.

La diffusion est difficile à mettre

en évidence en incidence normale. Déjà ^{de Gram-} mont, ^en 1931, l’avait étudiée en incidence voisine de l’incidence limite. A cette époque, ^la précision

des mesures était insuffisante (1 % environ). ^L’uti-

lisation des multiplicateurs d’électrons a fait faire de grands progrès ^{dans ce domaine et à l’heure}

actuelle il ne paraît plus possible ^de négliger ^{la dif-} fusion, ^{même en incidence normale.}

M. Cotton.

Les résultats de calcul conduit _par

un procédé analogue ^{à celui de M. Perrot coïn-}

cident assez exactement avec les résultats expéri-

mentaux pour les facteurs de réflexion côté air et

côté support. ^Mais pour les variations de phase ^ces

calculs ne sont pas ^en accord avec l’expérience. ^De plus, je signale que la diffusion de la lumière _par des dépôts ^minces d’argent cathodique ^{avait été} étudiée, il y ^{a une} vingtaine d’années, par le duc de Grammont. Il déposait l’argent ^sur la surface hypo-

ténuse d’un prisme ^{à réflexion totale et observait}

la lumière diffusée par ^ce film, frappépar ^la

lumière venant dans le verre sous une incidence très voisine de l’incidence limite.

.

M. Van Itterbeek.

Quelle ^{est la} reproducti-

bilité pour les différents temps ^de projection ?

M. Perrot.

Lorsque ^les temps ^{sont assez} longs,

les résultats sont très reproductibles. ^{Pour les} temps ^de projection ^très faibles, ^et lorsqu’il s’agit

de lames très résistantes (granulaires) ^{il est extrê-}

mement difficile de reproduire exactement un

temps ^de projection ^déterminé et, là, ^{les résultats}

sont un peu moins reproductibles.

M. Néel.

Avez-vous fait des expériences ^en

faisant varier les degrés ^{de vide ?}

M. Perrot.

Je l’ai fait il _y a longtemps, ^les

résistances en particulier ^{sont assez} différentes.

M. Vodar.

Je voudrais simplement signaler qu’on ^{arrive à} des résultats reproductibles (à ^{20 ou}

30 % près) lorsqu’on opère ^{sous un très bon vide.}

M. Perrot.

Je suis de votre avis.

M. Van Itterbeek.

La température ^{du sup-} port ^{a aussi une} influence très grande ^{sur les résul-}

tats des mesures. Nous avons fait quelques expé-

riences à ce sujet.

M. Perrot.

Nous l’avons aussi observé mais

non systématiquement ^mesuré.

M. Van Itterbeek.

Nous avons en effet monté

un appareillage qui permet ^de noter cette tempé-

rature à 50 près ^aux environs de la température

de He liquide.

M. Ribaud. - Les différents auteurs attribuent les mots minces ou épais ^à des lames dont les domaines d’épaisseurs ^sont différents d’un ^auteur à l’autre. Pour éviter de telles confusions entre lames

épaisses ^»,

^{minces » et}

très minces _», il serait utile de préciser ^une terminologie.

M. Perrot.

Oui.

Je précise, ^{comme nous}

l’avons dit, que dans notre texte il s’agit ^{de lames}

«

granulaires ^».

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