S ECTION 5

E

XIGENCE DE FONDS PROPRES POUR RISQUE DE DÉFAUT Article 325 quatervicies

Définitions et dispositions générales

1. Les exigences de fonds propres pour risque de défaut s'appliquent aux instruments de créance et de fonds propres, aux instruments dérivés qui ont ces derniers comme sous-jacents et aux dérivés dont les rémunérations ou la juste valeur subissent des incidences en cas de défaut d'un débiteur autre que la contrepartie à l’instrument dérivé elle-même. Les établissements calculent les exigences pour risque de défaut séparément pour chacun des types d'instruments suivants: expositions hors titrisation, expositions qui n’appartiennent pas au portefeuille de négociation en corrélation et expositions de titrisation du portefeuille de négociation en corrélation. Les exigences de fonds propres pour risque de défaut finales d'un établissement sont la somme de ces trois composantes.

2. Aux fins de la présente section, on entend par:

(a) “exposition courte”, la situation où le défaut d'un émetteur ou d'un groupe d'émetteurs entraîne un bénéfice pour l'établissement, indépendamment du type d'instrument ou d’opération qui crée l’exposition;

(b) “exposition longue”, la situation où le défaut d'un émetteur ou d'un groupe d'émetteurs entraîne une perte pour l'établissement, indépendamment du type

171

d'instrument ou d’opération qui crée l’exposition;

(c) “montant brut pour défaillance soudaine”, la taille estimée de la perte ou du bénéfice que le défaut du débiteur produirait sur une exposition donnée;

(d) “montant net pour défaillance soudaine”, la taille estimée de la perte ou du bénéfice que le défaut du débiteur produirait sur un établissement donné, après compensation entre les montants bruts pour défaillance soudaine;

(e) “LGD”, la perte en cas de défaut du débiteur sur un instrument émis par ce dernier, exprimée en part du montant notionnel de l’instrument;

(f) “pondérations pour risque de défaut”, le pourcentage qui représente les probabilités estimées de défaut de chaque débiteur, en fonction de la qualité de crédit de ce dernier.

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OUS

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SECTION

1

E

XIGENCES DE FONDS PROPRES POUR RISQUE DE DÉFAUT SUR EXPOSITIONS HORS TITRISATION

Article 325 quinvicies

Montants bruts pour défaillance soudaine

1. Les établissements calculent les montants bruts pour défaillance soudaine pour chaque exposition longue à un instrument de créance (JTD_longue) comme suit:

où:

Vnotionnelle = la valeur notionnelle de l’instrument;

P&L_longue = un terme qui permet de tenir compte des bénéfices ou pertes déjà pris en compte par l’établissement en raison de changements de la juste valeur de l’instrument qui crée l’exposition longue. Les bénéfices sont inscrits dans la formule avec un signe positif, les pertes, avec un signe négatif.

Ajustementlongue = le montant duquel, en raison de la structure de l’instrument dérivé, la perte en cas de défaut de l’établissement serait accrue ou diminuée par rapport à la perte totale sur l’instrument sous-jacent. Les augmentations sont inscrites dans le terme Ajustementlongue avec un signe positif, les diminutions, avec un signe négatif.

2. Les établissements calculent les montants bruts pour défaillance soudaine pour chaque exposition courte à des instruments de créance (JTDcourte) selon la formule suivante:

²tb_{(;3k '.} = ³´ b . 3;) ;33.( (.+ %&´_{(;3k '.} + ^'6). .3)_{(;3k '.}¶

²tb4;' ). = {´ b . 3;) ;33.( (.+ %&´4;' ). + ^'6). .3)4;' ).}

172 où:

Vnotionnelle = la valeur notionnelle de l'instrument qui est inscrite dans la formule avec un signe négatif;

P&L_courte = un terme qui permet de tenir compte des bénéfices ou pertes déjà pris en compte par l’établissement en raison de changements de la juste valeur de l’instrument qui crée l’exposition courte. Les bénéfices sont inscrits dans la formule avec un signe positif, les pertes, avec un signe négatif.

Ajustementcourte= le montant duquel, en raison de la structure de l’instrument dérivé, le bénéfice en cas de défaut de l’établissement serait accru ou diminué par rapport à la perte totale sur l’instrument sous-jacent. Les diminutions sont inscrites dans le terme Adjustment_courte avec un signe positif, les diminutions, avec un signe négatif.

3. Aux fins des calculs prévus aux paragraphes 1 et 2, les établissements appliquent une LGD pour les instruments de créance comme suit:

(a) les expositions sur des instruments de créance non senior se voient attribuer une LGD de 100 %;

(b) les expositions sur des instruments de créance senior se voient attribuer une LGD de 75 %;

(c) les expositions à des obligations garanties, comme visées à l’article 129, se voient attribuer une LGD de 25 %.

4. Aux fins des calculs prévus aux paragraphes 1 et 2, la valeur notionnelle d’un instrument de créance est sa valeur nominale. Aux fins des calculs prévus aux paragraphes 1 et 2, la valeur notionnelle d’un instrument dérivé sur un titre de créance sous-jacent est la valeur nominale de l’instrument de créance sous-jacent.

5. Pour les expositions sur des instruments de fonds propres, les établissements calculent les montants bruts pour défaillance soudaine comme suit, et non comme prévu aux paragraphes 1 et 2:

où:

V = la juste valeur des fonds propres ou, dans le cas d’instruments dérivés sur fonds propres, la juste valeur des fonds propres sous-jacents de l’instrument dérivé.

6. Les établissements attribuent une perte en cas de défaut de 100 % aux instruments de fonds propres aux fins du calcul prévu au paragraphe 6.

7. Dans le cas d’expositions au risque de défaut qui proviennent d'instruments dérivés

²tb_{(;3k '.} = ³´ b . + %&´_{(;3k '.} + ^'6). .3)_{(;3k '.}¶

²tb4;' ). = {´ b . + %&´_{4;' ).} + ^'6). .3)4;' ).}

173

dont les rémunérations en cas de défaut du débiteur ne sont pas liées à la valeur notionnelle d'un instrument précis émis par ledit débiteur ni à la LGD du débiteur ou d'un instrument émis par celui-ci, les établissements utilisent, pour estimer les montants bruts pour défaillance soudaine, des méthodes de remplacement qui respectent la définition des montants bruts pour défaillance soudaine de l’article 325 unvicies, paragraphe 3.

8. L’ABE élabore des projets de normes techniques de réglementation précisant comment les établissements doivent calculer les montants pour défaillance soudaine pour les différents types d'instruments en vertu du présent article, et quelles méthodes de remplacement les établissements doivent utiliser aux fins de l’estimation des montants bruts pour défaillance soudaine visés au paragraphe 7.

L’ABE soumet ces projets de normes techniques de réglementation à la Commission au plus tard le [quinze mois après l’entrée en vigueur du présent règlement].

La Commission est habilitée à adopter les normes techniques de réglementation visées au premier alinéa en conformité avec les articles 10 à 14 du règlement (UE) nº 1093/2010.

Article 325 sexvicies

Montants nets pour défaillance soudaine

1. Les établissements calculent les montants nets pour défaillance soudaine en compensant les montants bruts pour défaillance soudaine des expositions courtes et des expositions longues. La compensation n’est possible entre expositions au même débiteur que lorsque les expositions courtes sont d'un rang inférieur ou égal aux expositions longues.

2. La compensation est totale ou partielle en fonction des échéances des expositions compensables:

(a) la compensation est totale lorsque l’ensemble des expositions compensables ont des échéances d'un an ou plus;

(b) la compensation est partielle lorsqu'au moins une des expositions compensables a une échéance inférieure à un an, auquel cas le montant pour défaillance soudaine de chaque exposition ayant une échéance inférieure à un an est diminué dans un rapport égal à celui entre l’échéance de l’exposition et un an.

3. Lorsqu'aucune compensation n’est possible, les montants bruts pour défaillance soudaine sont égaux aux montants nets pour défaillance soudaine dans le cas d’expositions ayant des échéances d'un an ou plus. Les montants bruts pour défaillance soudaine ayant des échéances inférieures à un an sont réduits pour

174

calculer les montants nets pour défaillance soudaine.

Le coefficient de réduction pour ces expositions est le ratio entre l’échéance de l’exposition et un an, avec un plancher de trois mois.

4. Aux fins des paragraphes 2 et 3, ce sont les échéances des contrats dérivés, et non celles des sous-jacents, qui sont prises en considération. Les expositions sur des actions au comptant se voient attribuer une échéance d’un an ou de trois mois, au choix de l’établissement.

Article 325 septvicies

Calcul des exigences de fonds propres pour risque de défaut

1. Les montants nets pour défaillance soudaine, indépendamment du type de contrepartie, sont multipliés par les pondérations pour risque de défaut correspondant à leur qualité de crédit en vertu du tableau 2:

Tableau 2

Catégorie de qualité de crédit Pondération pour risque de défaut Échelon de qualité de crédit 1 0,5 %

Échelon de qualité de crédit 2 3 % Échelon de qualité de crédit 3 6 % Échelon de qualité de crédit 4 15 % Échelon de qualité de crédit 5 30 % Échelon de qualité de crédit 6 50 %

Non notée 15 %

En défaut 100 %

2. Les expositions qui recevraient une pondération de risque de 0 % aux fins de l’approche standard du risque de crédit conformément à la troisième partie, titre II, chapitre 2, reçoivent une pondération pour risque de défaut de 0 % aux fins des exigences de fonds propres pour risque de défaut.

3. Le montant net pour défaillance soudaine pondéré est affecté aux tranches suivantes:

entreprises, émetteurs souverains, administrations locales/municipalités.

4. Les montants nets pour défaillance soudaine pondérés sont agrégés au sein de chaque tranche selon la formule suivante:

max·¸1 ^RWi⋅^{net JTDi}

i ∈ ^Long ¹^-WtS⋅ <1 ^RWi⋅^{|net JTD}i|

i ∈ ^Court >^{; 0}º

175 où:

i = l’indice correspondant à un instrument appartenant à la tranche b;

DRC_b = l’exigence de fonds propres pour risque de défaut pour la tranche b;

WtS = un ratio reflétant un avantage pour les relations de couverture au sein d’une tranche, qui est calculé comme suit:

La somme des positions longues et courtes aux fins de la DRC_b et du WtS est effectuée pour toutes les positions au sein d'une tranche, indépendamment de l'échelon de qualité de crédit à laquelle ces positions sont affectées; le résultat de ce calcul est l’exigence de fonds propres pour risque de défaut par tranche.

5. L’exigence finale de fonds propres pour risque de défaut sur expositions hors titrisation est calculée comme étant la somme simple des exigences de fonds propres par tranche.

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OUS

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SECTION

2

E

XIGENCES DE FONDS PROPRES POUR RISQUE DE DÉFAUT SUR TITRISATIONS

(

HORS PORTEFEUILLE DE NÉGOCIATION EN CORRÉLATION

)

Article 325 octovicies

Montants pour défaillance soudaine

1. Les montants bruts pour défaillance soudaine pour les expositions de titrisation sont les justes valeurs des expositions de titrisation.

2. Les montants nets pour défaillance soudaine sont déterminés en compensant les montants bruts pour défaillance soudaine sur expositions longues et les montants bruts pour défaillance soudaine sur expositions courtes. La compensation n’est possible qu’entre expositions de titrisation ayant le même panier d'actifs sous-jacent et appartenant à la même tranche. Aucune compensation n’est permise entre expositions de titrisation ayant des paniers d'actifs sous-jacents différents, même lorsque les points d'attachement et de détachement sont les mêmes.

3. Lorsque, par décomposition ou combinaison d’expositions existantes, d'autres expositions de titrisation existantes peuvent être parfaitement répliquées, sauf en ce qui concerne l'échéance, les expositions qui résultent de la décomposition ou de la combinaison peuvent être utilisées au lieu des expositions originales aux fins de la compensation.

4. Lorsqu'il est possible, par décomposition ou combinaison d’expositions existantes à

‘)\ = ∑net JTD_long

∑net JTDlong+ ∑|net JTDcourt|

176

des signatures sous-jacentes, de répliquer parfaitement l’intégralité de la structure de tranche d’une exposition de titrisation existante, les expositions qui résultent de la décomposition ou de la combinaison peuvent être utilisées aux fins de la compensation. Lorsque des signatures sous-jacentes sont utilisées de cette manière, elles sont exclues du traitement du risque de défaut pour expositions hors titrisation.

5. L'article 325 sexvicies s'applique aux expositions de titrisation tant originales que répliquées. Les échéances pertinentes sont celles des tranches de titrisation.

Article 325 novovicies

Calcul des exigences de fonds propres pour risque de défaut sur titrisations

1. Les montants nets pour défaillance soudaine des expositions de titrisation sont multipliés par 8 % de la pondération de risque qui s'applique à l’exposition de titrisation pertinente hors portefeuille de négociation, y compris pour les titrisations STS, conformément à la hiérarchie des méthodes exposée au titre II, chapitre 5, section 3, et indépendamment du type de contrepartie.

2. Une échéance d'un an est appliquée à toutes les tranches pour lesquelles les pondérations de risque sont calculées conformément aux approches SEC-IRBA et SEC-ERBA.

3. Les montants pour défaillance soudaine pondérés pour les différentes expositions de titrisation au comptant sont plafonnés à la juste valeur de la position.

4. Les montants nets pour défaillance soudaine pondérés sont attribués aux tranches suivantes:

(a) une tranche commune pour toutes les entreprises, quelle que soit la région;

(b) 44 tranches différentes correspondant à une tranche par région pour chacune des onze catégories d'actifs définies. Les onze catégories d'actifs sont les ABCP, les prêts et crédits-bails sur véhicules automobiles, les RMBS, les cartes de crédit, les CMBS, les obligations adossées à des prêts (collateralised loan obligations ou CLO), les CDO au carré, les prêts aux petites et moyennes entreprises, les prêts étudiants, les autres expositions sur la clientèle de détail, et les autres expositions sur la clientèle de gros. Les 4 régions sont l’Asie, l’Europe, l’Amérique du Nord et le reste du monde.

5. Pour attribuer une exposition de titrisation à une tranche, les établissements s’appuient sur une classification communément utilisée sur le marché. Les établissements attribuent chaque exposition de titrisation à une seule des tranches ci-dessus. Toute exposition de titrisation qu’un établissement ne parvient pas à attribuer à un type ou à une région de sous-jacent est attribuée respectivement aux catégories

“autres expositions sur la clientèle de détail”, “autres expositions sur la clientèle de gros” ou “reste du monde”.

177

6. Les montants nets pour défaillance soudaine pondérés sont agrégés au sein de chaque tranche de la même manière que pour le risque de défaut sur expositions hors titrisation, à l’aide de la formule prévue à l’article 325 septvicies, paragraphe 4, ce qui donne l’exigence de fonds propres pour risque de défaut pour chaque tranche.

7. L’exigence finale de fonds propres pour risque de défaut sur expositions hors titrisations est calculée comme étant la somme simple des exigences de fonds propres par tranche.

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SECTION

3

E

XIGENCES DE FONDS PROPRES POUR RISQUE DE DÉFAUT SUR TITRISATIONS

(

PORTEFEUILLE DE NÉGOCIATION EN CORRÉLATION

)

Article 325 tricies Champ d'application

1. En ce qui concerne le portefeuille de négociation en corrélation, les exigences de fonds propres incluent le risque de défaut pour les expositions de titrisation et celui qui se rapporte aux couvertures d’expositions hors titrisation. Ces couvertures sont exclues des calculs relatifs au risque de défaut sur expositions hors titrisation. Il n’y a pas d'avantage découlant de la diversification entre les exigences de fonds propres pour risque de défaut sur expositions hors titrisation, sur titrisations hors portefeuille de négociation en corrélation et sur titrisations du portefeuille de négociation en corrélation.

2. Pour les dérivés de crédit et les dérivés sur actions négociés autres que des titrisations, les montants pour défaillance soudaine par entité juridique émettrice constituante sont déterminés à l'aide d’une approche par transparence.

Article 325 untricies

Montants pour défaillance soudaine pour le portefeuille de négociation en corrélation 1. Les montants bruts pour défaillance soudaine pour les expositions de titrisation et les

expositions hors titrisation du portefeuille de négociation en corrélation sont les justes valeurs de ces expositions.

2. Les produits au énième défaut sont traités comme des produits subdivisés en tranches, avec des points d’attachement et de détachement définis comme suit:

(a) point d’attachement = (N – 1) / Nombre total de signatures (b) point de détachement = N / Nombre total de signatures

où “Nombre total de signatures” est le nombre total de signatures dans le panier ou le lot d'actifs sous-jacent.

3. Les montants nets pour défaillance soudaine sont déterminés en compensant les

178

montants bruts pour défaillance soudaine pour les expositions longues et pour les expositions courtes. La compensation n’est possible qu’entre expositions qui sont par ailleurs identiques sauf en ce qui concerne l’échéance. La compensation n’est possible que dans les cas suivants:

(a) pour les produits indiciels, la compensation est possible entre échéances pour les produits appartenant à la même famille indicielle, à la même série et à la même tranche, sous réserve des dispositions de l’article 325 sexvicies concernant les expositions à moins d'un an. Les montants bruts pour défaillance soudaine pour les expositions longues et les expositions courtes qui constituent des répliques parfaites peuvent être compensés par décomposition en expositions équivalentes à des signatures uniques à l’aide d’un modèle d'évaluation. Aux fins du présent article, la décomposition à l’aide d'un modèle d'évaluation signifie qu’une composante à signature unique d'une titrisation est évaluée comme étant la différence entre la valeur non conditionnelle et la valeur conditionnelle de la titrisation dans l’hypothèse d'une défaillance de la signature unique avec une perte en cas de défaut de 100 %. Dans de tels cas, la somme des montants bruts pour défaillance soudaine des expositions équivalent-signature unique obtenues par décomposition est égale au montant brut pour défaillance soudaine de l’exposition non décomposée.

(b) La compensation par décomposition prévue au point a) n’est pas autorisée pour les retitrisations.

(c) Pour les indices et les tranches indicielles, la compensation est possible entre échéances pour les produits appartenant à la même famille indicielle, à la même série et à la même tranche, par réplication et décomposition. Aux fins du présent article, on entend par:

(i) “réplication”, le fait de combiner des tranches indicielles de titrisation pour reproduire une autre tranche de la même série indicielle, ou pour reproduire une position non subdivisée en tranches de la série indicielle;

(ii) “décomposition”, le fait de reproduire un indice par une titrisation dont les expositions sous-jacentes du panier d'actifs sont identiques aux expositions à signature unique qui composent l'indice.

Lorsque les expositions longues et courtes sont par ailleurs équivalentes à l’exception d’une composante résiduelle, la compensation est autorisée et le montant net pour défaillance soudaine traduit l’exposition résiduelle.

(d) Des tranches différentes d’une même série indicielle, des séries différentes d’un même indice et des familles d’indices différentes ne peuvent pas être compensées.

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Article 325 duotricies

Calcul des exigences de fonds propres pour risque de défaut sur le portefeuille de négociation en corrélation

1. Les montants nets pour défaillance soudaine sont multipliés:

(a) pour les produits subdivisés en tranches, par les pondérations pour risque de défaut correspondant à leur qualité de crédit comme prévu à l’article 348, paragraphe 1 et 2;

(b) pour les produits non subdivisés en tranches, par les pondérations pour risque de défaut visées à l’article 325 sexvicies, paragraphe 1.

2. Les montants nets pour défaillance soudaine pondérés sont attribués à des tranches qui correspondent à un indice.

3. Les montants nets pour défaillance soudaine pondérés sont agrégés au sein de chaque tranche selon la formule suivante:

où:

i = un instrument appartenant à la tranche b;

DRC_b = l’exigence de fonds propres pour risque de défaut pour la tranche b;

WtSctp = le ratio qui reflète un avantage pour les relations de couverture au sein d’une tranche, et qui est calculé conformément à la formule WtS prévue à l’article 325 septvicies, paragraphe 4, mais à l'aide des positions longues et courtes de l’ensemble du portefeuille de négociation en corrélation, et pas seulement des positions de la tranche en question.

4. Les établissements calculent les exigences de fonds propres pour risque de défaut du portefeuille de négociation en corrélation (DRC_CTP) en utilisant la formule suivante:

DRC_b=max·¸1 RW_i⋅^{net JTD}i

i ∈ ^Long ¹-WtS_ctp⋅<1 RW_i⋅^{|net JTD}_i^|

i ∈ ^Court > ;0 º

b t% = 51 {b •, 0} + 0.5 ∙ 3{b •, 0} , 0

•

¼

180

Dans le document COM (2016) 850 final (Page 173-183)