HAL Id: jpa-00207305
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Submitted on 1 Jan 1972
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L’effet de la charge électrique de surface sur le gain de l’amplificateur a onde progressive à l’état solide
J. Thiennot
To cite this version:
J. Thiennot. L’effet de la charge électrique de surface sur le gain de l’amplificateur a onde progressive à l’état solide. Journal de Physique, 1972, 33 (8-9), pp.781-786. �10.1051/jphys:01972003308-9078100�.
�jpa-00207305�
L’EFFET DE LA CHARGE ÉLECTRIQUE DE SURFACE
SUR LE GAIN DE L’AMPLIFICATEUR A ONDE PROGRESSIVE
A L’ÉTAT SOLIDE
J. THIENNOT
Département PMT,
Centre National d’Etudes desTélécommunications,
22-Lannion(Reçu
le 14 mars1972)
Résumé. 2014 On peut construire un amplificateur à onde progressive à l’état solide en appliquant
une ligne à retard électromagnétique contre une lame semiconductrice : il y a amplification quand
les électrons de surface se déplacent à une vitesse supérieure à la vitesse de phase de l’onde. Mais la charge de surface qui se forme par effet capacitif sur la paroi du semiconducteur en regard de la ligne réduira le gain dans des proportions considérables si des précautions très particulières ne sont prises.
Abstract. 2014 It is possible to build a solid-state traveling-wave amplifier by applying a slow-wave
circuit against a semiconducting slab : An amplification results when the drift velocity of electrons is greater than the phase velocity of the wave. But the capacitively induced surface charge which
appears on the semiconductor wall which faces the line will reduce the gain by a considerable amount unless very stringent precautions are taken.
Classification Physics abstracts :
05.10 - 17,28
1. Introduction. - On peut concevoir un
amplifica-
teur à onde
progressive
à l’état solidequi
fonctionneen utilisant le
couplage
d’un courant d’électrons dans un semi-conducteur et d’une onde électro-magnétique
lenteguidée
par une structure conve- nable :lorsque
les électrons sontplus rapides
quel’onde,
celle-ci doit êtreamplifiée
et dans une situa-tion idéale le
gain
peut être très élevé. Sumi[1] ]
aannoncé un
gain
de l’ordre de 200dB/mm.
Malheu-reusement
l’expérience [2]
ne montre rien de tel. Dansun article
précédent [3]
nous avons montré que de nombreuxparamètres
commel’épaisseur
de l’isolantqui sépare
laligne
dusemi-conducteur, l’épaisseur
de
celui-ci,
saconductivité,
et latempérature qui
détermine la diffusion des
électrons,
peuvent avoir une influence néfaste sur legain.
Le fonctionnement dudispositif
est encore altéré par lacharge
de surface continuequi apparaît
par effetcapacitif
sur la facedu semiconducteur en
regard
de laligne,
c’est ce quenous nous proposons d’étudier ici.
Nous
reprendrons
lesystème représenté figure
1où la
ligne
est schématisée par une feuille dont la conductivité est infinie dans une directionqui
faitun
angle 1/1 petit
avec laperpendiculaire
dans sonplan
à la direction de
propagation [1 ], [3].
Poursimplifier
les calculs nous
négligerons
la diffusion et nous sup- poserons que la conductivité du semiconducteur estisotrope
etindépendante
deschamps appliqués (nous
avons étudié dans
[3]
l’effet de la diffusion et celui del’anisotropie
de laconductivité).
Si le ralentissement de la structure est
grand,
onpeut considérer que le
champ
d’une ondequi s’y
propage dérive d’un
potentiel.
Lechamp qui règne
dans le semiconducteur est
analogue
auchamp qui régnerait
dans undiélectrique,
la différence estqu’il apparaît
unecharge
de surfacehyperfréquence
sousl’action des courants
qui
naissent dans le semiconduc- teur et que cettecharge
détermine une discontinuité entre les composantes dudéplacement électrique
dansle semiconducteur et dans les
diélectriques.
En l’absence de
charge
de surface continue cettecharge
se formeuniquement
sous l’effet du couranttransverse dans le
semiconducteur, qui
est propor-tionnel au
champ électrique
transverse. Leschamps
sont donc du même ordre de
grandeur
dans le semi-Article published online by EDP Sciences and available at http://dx.doi.org/10.1051/jphys:01972003308-9078100
782
conducteur et dans l’isolant.
Quand
les électrons de surface sontplus rapides
que l’onde le courant de surface dû audéplacement
de lacharge
de surface est enopposition
dephase
avec lechamp électrique longitudinal
et il y aamplification.
Quand
il existe unecharge
de surfacecontinue,
lacharge
de surfacehyperfréquence
se forme à la foissous l’effet du courant transverse et du mouvement
longitudinal
de lacharge
continue. Le courant trans- verse peut donc être considérablement réduit par rapport au casprécédent
et il en est de même pour lechamp électrique
dans lesemiconducteur,
si bien quel’énergie électromagnétique
se trouve confinée dans l’isolant.Quand
lescharges
de surface sontplus rapides
que l’onde il y a encore
amplification,
mais leproduit
du courant de surface par le
champ longitudinal
peut être fortement réduit et le
gain
considérablement diminué.II.
L’équation
dedispersion.
- Pourpréciser cela,
considérons lapropagation
d’une onde variant enexp j(cvt - yz)
dans lesystème
de lafigure
1. Lechamp
TM de cette onde dans le semiconducteur seréduit en l’absence de diffusion au seul
champ
« deLaplace »
Dans les
diélectriques (1)
et(2)
de part et d’autre du semiconducteur on a de même :L’onde de diffusion
qui
dans[1]
et[3]
se superposeau
champ
« deLaplace »
dans le semiconducteur seréduit à une
charge
de surfacequi apparaît
sur lesdeux
parois
du semiconducteur et que l’on peut écrireLa
charge
continue - nos e sera considérée comme une donnée duproblème indépendante
de z. En réaliténos e varie avec z tout comme le
potentiel le long
dusemiconducteur mais nous pourrons en
général négli-
ger sa variation sur une
longueur
d’onde. Nous consi-dérerons que nos est > 0 c’est-à-dire que la
charge
de surface se forme par accumulation d’électrons : cela
impose
le sens duchamp électrique
continu à lasurface. Si le
champ électrique
était dans l’autre sensles électrons libres
disparaîtraient
sur une certaineprofondeur di’ = 1 nos/no 1
en laissantuniquement
descharges fixes,
cequi
revient à repousser la surface« active » à l’intérieur du semiconducteur et à augmen-
ter d’autant
l’épaisseur di
de l’isolant[4],
et réduit legain
defaçon importante [3].
nos s estproportionnel
à la tension que supporte l’isolant
1, égale
à une cer-taine fraction avo de la tension vo
appliquée
au semi-conducteur sur la
longueur
1. Si la vitesse des élec- trons de surface est donnée par Vos = ftsvoll (,us
étantla mobilité de
surface),
il vient en éliminant von1s et n2S sont liés par
l’équation
de continuité auxcourants et donc aux
champs
dans le semiconduc- teur[4].
On a en x = 0soit
d’où
et de même
(1 = no e,u est la conductivité de volume du semi- conducteur.
(1 = nos efls est la conductivité de surface.
Le
champ électrique longitudinal
est continu surles surfaces x = 0 et x =
ds :
et la
charge
de surface estproportionnelle
à la discon-tinuité de la composante transversale du
déplacement électrique :
En éliminant nis, n2s,
A, B, A2
entre les six der-nières relations on obtient une relation entre
A
1 etB1.
Les conditions aux limites sur laligne
à retardnous en fournissent une autre
[1], [3] et
on peut déduire de ces deux relationsl’équation
dedispersion
du sys- tèmeyo est la constante de
propagation
lelong
de laligne isolée,
dont la vitesse dephase
seradésignée
par vcpo.
K1
=ES/E1
etK2
=ES/E2
sont les rapports de lapermittivité
du semiconducteur à celles des diélec-triques.
Wc =
(1/ es
est lafréquence
de relaxation diélec-trique
du semiconducteur etOutre les
simplifications faites, l’éq. (10)
diffèrede
l’éq. (3.7)
de[3]
pour deux raisons : lacharge
de surface
apparaît
dansyu slu
et c’est la vitesse de surface voqui
intervient et non la vitesse du volume vo(dans [1]
et[3]
vos et vo sont en faitconfondues).
III. Effet de la
charge
de surface sur legain
dudispositif.
- 3.1 SEUIL DE L’AMPLIFICATION. - Le seuil del’amplification,
atteintquand
la vitesse des électrons estégale
à la vitesse dephase
del’onde,
est défini par úJ - yvo.,
= 0,
soitf
= 0.L’équation
de
dispersion (10)
s’écrit alors :On retrouve
simplifiée l’éq. (4.6)
de[3].
Lacharge
de
surface, l’épaisseur
et la conductivité du semicon- ducteur n’ont aucun effet sur le seuilqui
dans notremodèle idéalisé
dépend uniquement
del’épaisseur
del’isolant. Si celle-ci est faible
(si y, di « 1,
cequi
estun peu
plus
sévère que yodi « 1), la
constante depropagation
au seuil est donnée paret la vitesse de surface des électrons au seuil par
3.2 EXPRESSION APPROCHÉE DE LA CONSTANTE DE PROPAGATION. - En
général
Wc > w etalors 1 f 1
1.Si la
charge
de surface est assezimportante
pour que1 yu s/u 1 1 fi, 1 th yds 1, l’équation
dedispersion
s’écrit en
première approximation
Si al >
di
le membre de droite de cetteéquation
est faible devant
y2ô,
si bien que y reste voisin de y squel
que soit VOS. La solution en y se trouve donc auvoisinage
de ys. Si 7sdi; 1 l’équation
dedispersion
se ramène à
On obtient finalement en tenant compte de
(5)
Cette
expression s’applique
d’autant mieux que vos et al sontplus grands.
La vitesse de
phase
estindépendante
de vo, et resteégale
à la vitesse de seuil del’amplification.
Legain
est
indépendant
del’épaisseur
et de la conductivité du semiconducteur ainsi que des constantes diélec-triques
des différentsmilieux,
ildépend uniquement
de
l’épaisseur
dudiélectrique (qui
déterminevOss),
etsurtout du rapport de la tension que supporte l’iso- lant à la tension
appliquée
par unité delongueur
ausemiconducteur. Il est d’autant
plus
faible que ce rapport estplus grand.
Il est à noter que ce rapportdépendant
de z, nous obtenons en fait legain
par unité delongueur
pour une cote zparticulière,
etqu’il
faudra faire une
intégration
selon z pour connaître legain
total del’amplificateur. Quand
vocroît
au-des-sus du seuil le
gain
tendasymptotiquement
vers unmaximum
qui
est encoreindépendant
del’épaisseur
de l’isolant. Il devient donc
toujours supérieur
auxgrandes
vitesses augain
obtenu àcharge
de surfacenulle, qui
tend vers zéroaprès
êtrepassé
par unmaximum ;
mais cela ne sera d’aucune utilité.3.3 COURBES DE DISPERSION. - Ces résultats
apparaissent
nettement sur les courbes que nous avons obtenues en résolvantnumériquement l’équation
dedispersion (10)
pour diverses valeurs duparamètre
A = ayo 1. Nous avons
porté
en fonction devos/vQo
les variations des
parties
réelle etimaginaire yR/Yo
et
y,/yo
de7/10
pour un semiconducteur massif(Fig.
2a et2b),
pour une lame du même matériauavec la même
épaisseur
d’isolant(Fig.
3a et3b)
etpour la même lame semiconductrice avec un isolant
d’épaisseur plus
faible(Fig.
4a et4b).
Quand
A estpetit (A 0,1),
legain
reste pour vos faible voisin de celui que l’on obtient àcharge
de sur-face
nulle, puis
au-delà du maximum s’en écarte pour devenir nettementsupérieur :
legain
croît alorsavec A.
Quand
Agrandit (A
>0,2),
legain
s’écarte dugain
à
charge
nulle dès que vos > 0. La croissance dugain
au
voisinage
de voss est fortementréduite,
d’autantplus
que A estgrand,
et aux vitesses élevées legain
croît
asymptotiquement
vers son maximum commementionné
précédemment.
Dans une réalisation
simpliste
dudispositif
où laligne
estplacée
au milieu d’un barreau semiconduc- teurlong
de 1 cm, on aura A = 75 pour unelongueur
d’onde de 400 p,
correspondant
à une vitesse dephase
v~0 = 4 x
107 cm/s
à 1 GHz : legain
sera donc trèsfaible et il sera
impossible
de compenser les pertes de laligne.
Il sera mêmepréférable
depolariser
différemment le semiconducteur de
façon
àchanger
le sens du
champ électrique
à la surface et à aug- menterl’épaisseur
effective dudiélectrique.
Si l’onutilise une
ligne
àcouplage capacitif
dont lesdoigts
isolés les uns des autres auront une
largeur
de unhuitième de la
longueur
d’ondeguidée,
A varieraau niveau d’un
doigt
entrez/8
et -1t/8 :
cette varia-784
FIG. 2. - Variations de la constante de propagation avec la vitesse des électrons (semiconducteur massif).
2a : Partie réelle 2b : Partie imaginaire
FIG. 3. - Variations de la constante de propagation avec la vitesse des électrons (lame semiconductrice) 3a : Partie réelle 3b : Partie imaginaire
FIG. 4. - Variations de la constante de propagation avec la vitesse des électrons (lame semiconductrice, isolant d’épaisseur réduite).
4a : Partie réelle 4b : Partie imaginaire.
tion est
beaucoup
troprapide
pour que le calculs’applique,
mais l’effet de lacharge
de surface seradéjà
sensible.IV. Conclusion. - La
charge
de surface continuequi apparaît
par effetcapacitif
entre laligne
et lesemiconducteur a donc une influence néfaste sur le fonctionnement de
l’amplificateur. Lorsqu’elle
estimportante,
et ce sera vrai si l’on neprend
pas deprécautions particulières,
legain
est considérablement réduit et devientindépendant
del’épaisseur
de l’iso-lant,
de celle du semiconducteur et de la conductivité de ce dernier.Il est donc inutile de chercher à
optimiser
ces diffé-rents
paramètres
avant d’avoir réalisé uneligne
entout
point
delaquelle
lepotentiel
soitégal
à celui dusemiconducteur au droit de ce
point.
Parexemple
on pourra utiliser une
ligne
en méandre àcouplage capacitif [5]
dont lesdoigts
extrêmes seront encontact avec le semiconducteur
(les
autres étantisolés).
La réalisation
technologique
sera difficile et coûteusecar il faudra superposer un
grand
nombre de couchessuccessives avec une
grande précision.
Et le résultatsera de
plus
incertain car il faudra ralentir l’ondeLE JOURNAL DE PHYSIQUE. - T. 33, N° 8-9, AOUT-SEPTEMBRE 1972
en dessous de la vitesse de surface des
électrons,
que l’on ne connaît pas maisqui
est selon toute vraisem- blanceplus
faible que la vitesse de volumequ’il
estdéjà
difficile d’atteindre. Une autre structurepossible
est la
ligne
enépingle
à cheveux[6], plus
facile à réali-ser mais nettement différente du modèle
théorique
à cause de sa bande passante étroite et de sa vitesse de groupe faible et
négative (ce qui
a pour effetsupplé-
mentaire
d’augmenter
ses pertespropres).
Par contre, il sera
beaucoup plus
facile d’utiliserune
ligne
à retard à ondeacoustique
de surface cons-truite avec un matériau
piézoélectrique [7].
Lechamp
dans le semiconducteur sera le même que dans la
géométrie étudiée,
leprincipe
del’amplification
restele
même,
et les résultats de ce calcul comme ceux du calculprécédent
permettent deprévoir
l’effet sur legain
del’épaisseur
dusemiconducteur,
de celle del’isolant,
de la conductivité dusemiconducteur,
dela diffusion des électrons et de l’existence d’une
charge
de surface
continue ;
on pourra parexemple
utiliserl’effet de celle-ci pour moduler en
amplitude
l’ondeacoustique,
enplaçant l’amplificateur
entre les arma-tures d’un condensateur et en faisant varier la tension
aux bornes de celui-ci.
52
786
Bibliographie [1 ] SUMI (M.), Jap. J. Appl. Phys., 1967, 6, 688.
[2] SUMI (M.) et SUZUKI (T.), Appl. Phys. Lett., 1968, 13,
326.
[3] THIENNOT (J.), J. Physique, 1972, 33, 219.
[4] KINO (G. S.), IEEE Trans. on Electron Devices, 1970,
ED. 17, 178.
[5] NEWHOUSE (V. L.) et FREEMAN (J. C.), IEEE Trans.
on Electron Devices, 1970, ED. 17, 383.
[6] BOLLJAHN (J. T.) et MATTHAEI (G. L.), Proc. IRE, 1962, 299.
[7] WHITE (R. M.), Proc. IEEE, 1970, 58, 1238.