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Mesure des constantes élastiques du quartz par diffusion Brillouin

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(1)

HAL Id: jpa-00206932

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Submitted on 1 Jan 1970

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Mesure des constantes élastiques du quartz par diffusion Brillouin

L. Cecchi, R. Vacher, L. Danyach

To cite this version:

L. Cecchi, R. Vacher, L. Danyach. Mesure des constantes élastiques du quartz par diffusion Bril-

louin. Journal de Physique, 1970, 31 (5-6), pp.501-506. �10.1051/jphys:01970003105-6050100�. �jpa-

00206932�

(2)

MESURE DES CONSTANTES ÉLASTIQUES DU QUARTZ

PAR DIFFUSION BRILLOUIN

par L.

CECCHI,

R.

VACHER,

L. DANYACH

Laboratoire de

Physique

de l’Etat

Cristallin,

Faculté des Sciences de

Montpellier (Reçu

le 22

septembre 1969,

révisé le Il

février 1970)

Résumé. 2014 Après avoir rappelé le

principe

de la méthode de mesure des constantes

élastiques

par diffusion

Brillouin,

les auteurs décrivent son

application

au cas du quartz et donnent les valeurs

numériques

de ces constantes à la température ordinaire. Une étude des différentes causes d’in- certitude permet d’évaluer la signification des résultats obtenus.

Abstract. 2014 After an outline on the

principle

of Brillouin scattering measurement of elastic constants, its application to quartz

crystal

is described. The numerical values of elastic constants at room temperature are

given.

The significance of the said results can be determined according

to the various causes of

uncertainly

herein studied.

1. Introduction. - Une étude

bibliographique

des

nombreux

procédés expérimentaux

de détermination des constantes

élastiques [1] a permis

de

dégager

cer-

tains

avantages

de la méthode de mesure par diffusion

Brillouin,

dont le

principe

est connu

depuis plusieurs

années

[2].

Son

application

nécessite la mise en évi- dence des trois

composantes

et la mesure

précise

de

leur écart en

fréquence.

Les

perfectionnements

techni-

ques nécessaires ont été décrits dans un article

précé-

dent

[3] ;

ils ont été

complétés

par un

dispositif

d’éta-

lonnage

interférentiel des

enregistrements permettant

la mesure des écarts en

fréquence

avec une incertitude inférieure à 3

0/00.

2.

Principe

de la méthode. - 2.1 RAPPELS D’ÉLAS- TICITÉ

(CRISTAL PIÉZOÉLECTRIQUE).

- Les relations

entre

tensions, déformations, champ

et induction

électriques peuvent

s’écrire :

avec : T tenseur des

tensions, S

tenseur des déforma-

tions,

E et D

champ

et induction

électriques, CE

tenseur

des constantes

élastiques

à

champ électrique

constant,

e tenseur de

piézoélectricité

à déformation constante,

e tenseur de

permittivité.

Les transformations liées à la

propagation

des

ondes

élastiques

de haute

fréquence

étant

adiabatiques,

toutes les relations sont écrites à

entropie

constante

et l’indice S est sous-entendu

(on

note par

exemple :

E

E,S

,,kl

pour

Cijkl .

En prenant comme variables

indépendantes

la

déformation et l’induction

électrique,

on peut

rempla-

cer les

équations (1)

et

(2)

par :

cD

tenseur des constantes

élastiques

à induction élec-

trique

constante, h tenseur de

piézoélectricité

à défor-

mation

constante, P

tenseur

imperméabilité diélectrique.

La relation entre les

composantes

de

c’

et

CD

s’écrit :

Pour une onde

élastique

se

propageant

dans le milieu de masse

volumique

p,

supposé continu,

les compo- santes du

déplacement

U d’un élément de volume

vérifient le

système d’équations

différentielles :

Le Corre

[4]

a montré que les solutions en ondes

planes

sont données par :

où l’on pose : p distance du

plan

d’onde à

l’origine, Qj composantes

du vecteur unitaire

Q

de la normale à l’onde

Pour les mouvements

périodiques

en p et t,

l’expres-

sion

(7)

devient :

avec

où V est la vitesse de l’onde.

A une direction de

propagation

donnée sont donc

associées trois directions de

vibration,

vecteurs propres

Article published online by EDP Sciences and available at http://dx.doi.org/10.1051/jphys:01970003105-6050100

(3)

502

de la matrice

n~,

normales entre elles

d’après

les pro-

priétés

de

symétrie

de

n * ;

elles ne sont en

général

ni purement

longitudinales,

ni

purement

transversales.

Les trois valeurs

propres y’ associées,

réelles et

posi- tives,

s’obtiennent par la résolution de :

Les caractères de

symétrie

de la

propagation

des ondes

sont discutés dans

l’appendice.

2.2 DIFFUSION BRILLOUIN. - De

façon

schéma-

tique,

le

phénomène

se

comprend

comme une « réfle-

xion sélective » de la lumière incidente sur ceux des

plans

de densité maximale créés par

l’agitation

ther-

mique qui

vérifient les conditions de

Bragg.

A la

différence de la diffusion des rayons

X,

les

plans

sont

en mouvement ; il en résulte un

changement

de fré-

quence par effet

Dôppler.

Une des

approches théoriques possibles interprète

la

diffusion comme le rayonnement de la densité de

pola-

risation créée par le

champ électromagnétique

inci-

dent

[5], [6], [7].

Seules interviennent dans la diffusion les ondes

élastiques

très voisines d’une onde « active » orientée sensiblement suivant le

plan

bissecteur de

(q, q’),

avec q et

q’

vecteurs unitaires des normales

aux ondes lumineuses incidente et diffusée.

Soient :

~1 et N la

longueur

d’onde et la

fréquence

de l’onde

élastique « active » ;

~, et v la

longueur

d’onde dans le vide et la

fréquence

de la lumière

incidente ;

Ci et e2,

Ci

et

e’

les vecteurs unitaires des deux vibrations

qui

se

propagent

sans déformation

respecti-

vement suivant q et

q’ (les

cas étudiés seront suffisam-

ment

simples

pour que e2 et

e~

soient dans le

plan

de

diffusion et donc el et

e~ perpendiculaires

à ce

plan) ;

n~ et

n~-

les indices de réfraction du milieu pour la lumière

polarisée respectivement

suivant

(e

et

e~,) ;

8 =

(q, q’) l’angle

de diffusion.

Pour des faisceaux incident et diffusé

polarisés

sui-

vant e~ et

e§,,

l’onde « active » est définie par :

Pour chacun des vecteurs d’onde définis par

(13)

et

(14),

il existe trois directions de vibration et trois vitesses de

propagation (11)

et

(12).

Les

changements

de

fréquence

sont alors donnés par :

Si les faisceaux incident et diffusé ne sont pas

polarisés,

chacune des six raies de diffusion est

formée,

par suite de la

biréfringence,

de quatre composantes distantes d’un

petit nombre

de mk

(1

mk =

[8].

Le

pouvoir

de résolution de notre

spectromètre

est insuf -

fisant pour les mettre en évidence mais

l’emploi

de

polarisations

convenables permet d’éviter leur

appari-

tion simultanée.

2.3 DÉTERMINATION DES CONSTANTES

ÉLASTIQUES.

-

Nous

emploierons

la notation

simplifiée

usuelle : les

tenseurs tij

et ekl ne

possèdent

chacun que six compo-

santes

indépendantes [9] ;

il est commode de les

représenter

par des vecteurs d’un espace à six dimen- sions. Le tenseur devient une matrice

symétrique

Cap avec la

correspondance :

1

Les constantes

élastiques

non nulles dans le

quartz

sont :

La détermination des constantes

élastiques

à

champ électrique

constant à

partir

des mesures de la vitesse des ultrasons dans le quartz a été étudiée par

plusieurs

auteurs

[10

par

exemple].

Mc Skimin donne un tableau

d’équations

pour

plusieurs

directions de vibration per- mettant de donner la valeur de toutes les constantes

élastiques.

Ces résultats peuvent être utilisés pour la méthode de mesure par diffusion Brillouin en tenant

compte

d’une condition

supplémentaire :

l’intensité de la raie de diffusion créée par un mode de vibration n’est pas

toujours

suffisante pour

permettre

la mesure de la vitesse de

propagation correspondante.

Les

équations

de

propagation

dans les directions de

propagation

et pour les modes de vibration utilisés

sont rassemblées dans le tableau I.

Il n’est pas utile de fixer une orientation de

Q

pour la mesure de c12 car cette constante se calcule

d’après :

On

peut

ainsi obtenir la valeur de toutes les constantes à

champ électrique

constant et de

quelques

constantes

à induction

électrique

constante.

3.

Dispositif expérimental.

- 3.1 MONTAGE. -

Le montage de diffusion utilisé est désormais classi- que

[11 ].

La source est un laser à argon ionisé LGA 1098 CSF

(~,

= 4 880

À),

l’élément résolvant un

interféromètre de

Fabry-Pérot plan

à couches multi-

diélectriques

et le

récepteur

un

photomultiplicateur

EMI 9502 SA.

L’exploration

du

système

d’anneaux se fait par variation linéaire de la

pression

dans l’enceinte conte- nant l’étalon.

Néanmoins,

pour éliminer les erreurs

dues à un éventuel défaut de linéarité du

dispositif,

les

enregistrements

sont étalonnés en

fréquence

par un réfractomètre du type « Gacon »

[12].

Cet

appareil

est un interféromètre de Michelson à

prisme

de Koster

(4)

TABLEAU 1

réglé

au

voisinage

du contact

optique,

et dont l’un

des bras est maintenu à

pression

constante, tandis que l’autre est mis en communication avec l’enceinte. La variation de

pression

nécessaire à

l’exploration

d’un

ordre du F. P. résolvant

correspond

au

déplacement

de 150 maximums

équidistants

pour le Michelson de contrôle. L’incertitude sur l’écart en

fréquence

due aux

erreurs de

pointé

et aux défauts de linéarité n’excède pas 5 x

10-¢

en valeur relative.

3.2 CHOIX DES ÉCHANTILLONS. - Nous avons fait tailler et orienter aux rayons X trois échantillons cubi- ques

permettant

la mesure des vitesses

élastiques

dans

les directions

indiquées

au

paragraphe

2.3. Les cris-

taux sont

repérés

par rapport aux axes

OX,

0 Y et OZ usuels : OZ suivant l’axe ternaire

A3,

de sens

positif

choisi

arbitrairement ;

OY est la

projection

sur le

plan

XO Y de l’une des trois arêtes b du rhomboèdre

primitif

issues de l’extrémité

positive

de

A3 ;

l’axe OX

(binaire)

est tel que le trièdre XYZ soit direct.

- Echantillon 1 : XYZ. Les normales aux faces sont

parallèles

aux axes

OX,

0 Y et OZ.

- Echantillon 2 : MNZ. Les normales aux faces sont

parallèles

à

OM,

ON et OZ avec OM et ON

respectivement

bissectrices intérieure et extérieure de

(OX, 0 Y).

- Echantillon 3 : IJX. Les normales aux faces sont

parallèles

à

01, OJ,

OX avec OI et OJ

respective-

ment bissectrices intérieure et extérieure de

(0 Y, OZ).

4. Résultats pour le

quartz.

- 4.1 RÉSULTATS. - Les mesures ont été faites dans toutes les orientations

indiquées

dans le tableau I.

L’angle

de diffusion est de 900 dans tous les cas. Suivant le nombre de raies mesurables fournies par un

enregistrement

avec une

précision suffisant,

on peut déterminer pour

chaque position,

une, deux ou trois constantes

élastiques d’après :

- -

Le tableau II résume les résultats obtenus

(en

1010 Newtons.m)

à la

température

de 25 °C

(moyennes

de 15 mesures au

moins)

avec

Constantes à

champ électrique

constant

-

Constantes à induction

électrique

constante

, -

(5)

504

TABLEAU III

Constantes

élastiques CE

du quartz

(en 1010 N/m2)

4.2 DISCUSSION. - Nous avons étudié l’action des diverses causes d’incertitude en nous attachant à véri- fier leur influence par des

expériences

de diffusion

chaque

fois que cela était

possible.

a)

Précision

et fidélité

du

dispositif.

-- L’écart entre

les trois valeurs de

b6B

mesurées sur un même

enregis-

trement est inférieur à 3 x

10-3

en valeur relative : il

représente

l’incertitude due aux défauts de

linéarité,

de stabilité

mécanique

et

thermique,

et aux erreurs de lecture.

b) Réglage.

- Les erreurs

peuvent provenir

d’une

détermination

imprécise

de

l’angle

de diffusion ou

d’un mauvais

réglage

des faces de l’échantillon par rapport aux faisceaux. Nous avons fait

plusieurs

séries

d’enregistrements,

d’une

part

en

réglant chaque

fois

l’angle

de

diffusion,

d’autre

part

en

reprenant

le

réglage

de la

perpendicularité

de l’échantillon aux faisceaux incident et diffusé avant

chaque expérience.

Les résul-

tats obtenus ne font

apparaître

aucun écart mesurable.

c) Influence

de la

température.

- La

température

du

laboratoire,

mesurée

pendant

les

expériences,

est

égale

à 25° ± 1 °C. Un calcul à

partir

des coefficients de

température

donnés dans

[14], [15], [16],

montre que cette variation n’entraîne aucune erreur notable sur la valeur des constantes

élastiques.

d)

Orientation des axes. - La

position

des axes

cristallographiques

par

rapport

aux arêtes des cristaux est définie à 1 °

près

par le fournisseur. L’incertitude relative est de l’ordre de 2 x

10-4

pour C11, c33, c44 et C14, et de 2 x

10-2

pour C66, c12 et c13.

Des

expériences

de diffusion permettent de vérifier la

précision

de la taille :

- si l’orientation est

convenable,

les échantillons XYZ et IJX ont chacun deux faces

perpendiculaires

à

l’axe binaire X. Une rotation de 180° autour de la normale à ces faces ne doit pas

changer

l’écart en

fréquence ;

- d’autre part, la diffusion par des ondes de nor-

male

élastique Q

=

(0, 1, 0) peut

être obtenue à

partir

des échantillons IJX et MNZ. Les mesures faites mon-

trent que l’incertitude sur l’orientation des cristaux est certainement inférieure à 1 °.

L’ensemble des résultats ci-dessus

permet

d’affirmer

que la valeur des écarts en

fréquence

est connue à

mieux que 3 et de calculer l’incertitude sur les constantes

élastiques (tableau II).

4.3 COMPARAISON DES RÉSULTATS OBTENUS AUX VALEURS MESURÉES PAR LES MÉTHODES CLASSIQUES. - Nous avons réuni dans le tableau III les résultats obte-

nus par

plusieurs

auteurs utilisant les méthodes de résonance ou les méthodes

« pulse

echo ».

L’incertitude

expérimentale figure

dans le tableau

lorsqu’elle

est donnée par l’auteur.

Les résultats obtenus par diffusion Brillouin concor-

dent aux incertitudes

expérimentales près

avec les

résultats obtenus par les autres méthodes.

5. Conclusion. - La méthode décrite

présente l’avantage

de ne pas

imposer

de

perturbations

notables

au

milieu ; l’agitation thermique

fournit les ondes

planes

de faible

amplitude

nécessaires et le cristal est étudié au

voisinage

de

l’équilibre mécanique ;

de

plus,

les mesures ne sont pas influencées par les conditions aux

limites,

c’est-à-dire par la forme de

l’échantillon,

du moins pour les dimensions usuelles.

Techniquement,

le

procédé

est limité par la nécessité d’utiliser un matériau

transparent

de bonne

qualité optique.

D’autre part, du

point

de vue

théorique,

la

méthode

dynamique

ne saurait fournir toutes les cons- tantes

élastiques

avec la même

précision.

cll et C33

correspondent

à des modes

longitudinaux

purs, c44 et C66 à des modes transversaux purs : on peut trouver des directions de vibration

qui

mettent en

jeu

une seule

de ces constantes. Par contre, C12 et c13 décrivent la contraction d’un élément de volume dans des direc- tions

perpendiculaires

à la tension et c14 un cisaille- ment provenant de

l’anisotropie

du milieu. Il nous

paraît impossible

de trouver des modes de vibration

qui

mettent en

jeu

ces constantes de

façon prépondé-

rante ; dans toutes les

équations

que nous avons déve-

(6)

loppées,

elles

apparaissent

en combinaison et corres-

pondent

à des effets très faibles.

Plusieurs améliorations

techniques

sont

envisagées

pour ces mesures : immersion de

l’échantillon, emploi

d’un interféromètre de

Fabry-Pérot sphérique

et d’un

banc de comptage de

photons,

utilisation d’un

dispo-

sitif éliminant la diffusion sans

changement

de lon-

gueur d’onde mis au

point

au Laboratoire

[17].

Sur le

plan théorique,

nous

espérons qu’une analyse complète

de l’action de

chaque

constante

élastique

dans la

propagation

des ondes nous permettra d’ac- croître encore la

précision

des mesures.

Appendice.

- EFFETS DE LA SYMÉTRIE CRISTALLINE SUR LA PROPAGATION DES ONDES

ÉLASTIQUES.

- Si deux ondes

élastiques

se propagent

respectivement

dans des directions

Q

et

Q’ qui

se déduisent l’une de l’autre par une

opération

de

symétrie

S de la

classe,

il

est évident que les vitesses de

propagation

doivent être

les mêmes dans les deux cas et les directions de vibra- tion

symétriques

dans

l’opération

S.

Néanmoins,

ce

résultat

n’apparaît

pas par

simple

considération de n

ou de n* dont les termes

dépendent

de la direction de

propagation Q.

D’autre

part,

les

simplifications imposées

au tenseur c

par la

symétrie

du milieu ne

s’appliquent plus

au

tenseur

c*, qui possède

en

général

21

composantes indépendantes :

on sait que ce

résultat,

constaté

expé-

rimentalement par Atanasoff et

Hart,

les avait amenés à attribuer au

quartz

la

symétrie monoclinique.

Nous nous proposons de vérifier que les

symétries

de la classe cristalline sont conservées pour les vitesses de

propagation

et les directions de

vibration,

en

pré-

sence ou non de

piézoélectricité.

a)

Milieu non

piézoélectrique.

- Il faut prouver que les matrices

n(Q)

définie par

et

n(Q’)

définie par :

ont mêmes valeurs propres si

Q’

=

SQ

S est la

matrice d’une

opération

de

symétrie

de la classe.

Pour

cela,

considérons le nouveau

système

d’axes

obtenu en

appliquant l’opération

de

symétrie

aux

vecteurs de base du

système

initial. Soient les composantes du tenseur c

rapporté

aux nouveaux axes.

Puisque S

est une

opération

de

symétrie

de la

classe,

les composantes du tenseur

rapporté

aux nou-

veaux axes sont

égales

terme à terme à celles du tenseur

rapporté

aux anciens axes :

Les composantes du tenseur

n(Q), rapportées

aux

nouveaux axes, s’écrivent :

Les

6j

sont les composantes du vecteur

Q rapporté

aux nouveaux axes. Le choix du

changement

d’axes

entraîne :

D’après (19)

et

(21),

La matrice

n(Q’)

est donc

égale

terme à terme à la

matrice

nr(Q)

transformée

canonique

de

n(Q)

dans

l’opération

et les deux matrices ont même

équation caractéristique

et mêmes valeurs propres comme il est connu.

D’autre part, les

composantes

des vecteurs propres de

n(Q’)

sont

égales

terme à terme aux composantes des vecteurs propres de

nr(Q) rapportés

aux nouveaux

axes : les vecteurs propres de

n(Q’)

sont donc les

transformés de ceux de

n(Q)

dans

l’opération

de

symé-

trie S.

b)

Milieu

piézoélectrique.

- La matrice

n*(Q)

s’écrit :

cE

tenseur des constantes

diélectriques

à

champ

élec-

trique

constant

Nous avons vu comment se transforme le

premier

terme du membre de droite de

(23).

Les deux facteurs et

Qj Qk du

second terme

(que

nous noterons

dépendent

de

Q.

Pour une onde

élastique

se

propageant

suivant

Q’ :

Par raison de

symétrie,

on

peut

écrire :

les définitions étant les mêmes que dans le para-

graphe

a

(ces expressions

sont

analogues

à

l’expres-

sion

(19)

pour les En tenant compte de

=

Q~,,

il vient :

le dénominateur est un

scalaire,

d’où

Il vient donc :

(7)

506

si i =

i’, j = j’, k

=

k’,

1 = l’ et les composantes de

N(Q’),

données par :

sont

égales

à celles de

Nr(Q)

données par :

Ce

qui

achève la démonstration.

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Références

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