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Influence des défauts de forme d'une électrode simple en optique électronique

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Influence des défauts de forme d’une électrode simple en

optique électronique

François Bertein

To cite this version:

(2)

Graphique II. - Benzène.

La chaleur spécifique du benzène solide en fonction de la température absolue.

expérimentale

de la chaleur

spécifique [8] (voir

graphique

II).

Cette conclusion vaut encore si l’on admet que la

fréquence

35 cm-1 est due à une

oscillation de « translation >}.

L’hypothèse

d’une rotation libre des molé-cules de benzène conduit à

remplacer

la fonc-tion d’Einstein

correspondant

à u = 35 cm

(ou

à 0 = par la valeur

constante ~ :

il faut

simplement ajouter

une calorie aux deux fonctions d’Einstein

correspondant

à ’) ==

63,5

cm-1 et ., = 105 cm-1. Le calcul ne vaut certainement

pas aux trés basses

températures,

la rotation

dispa-raissant au-dessous de la

température

de rotation

(ici

o,20 K pour un moment d’inertie de

210 g x cm2).

Il conduit à la valeur

expérimentale

vers 20~ K et donne ensuite dans l’intervalle 2o-5oO K des valeurs nettement inférieures aux chaleurs

mesurées,

mais on

peut

évidemment

expliquer

la différence par la contribution des branches

acoustiques

des mouvements des centres de

gravité

sous forme de trois fonctions de

Debye.

BIBLIOGRAPHIE. [1] E. GROSS et M. VUKS, J. de Physique, 1935, 6, p. 457

et 1936, 7, p. 113. - M.

VUKS, Acta physico-chimica U. R. S. S., 1937, 6, p. 11. - E. GROSS et A. V.

KOR-SHUNOW, C. R. Acad. Sc. U. R. S. S., 1939, 24, p. 328.

[2] A. KASTLER et A. ROUSSET, C. R. Acad. Sc., 1941, 212,

p. 645; J. de Physique, 1941, 2, p. 49.

[3] T. M. K. NEDUNGADI, Proc. Ind. Acad. Sc., 1941, 13,

p. 161; 1942, 15, p. 376.

[4] A. BOUSSET et R. LOCHET, J. de Physique, 1942, 3, p. 146.

[5] S. B. HENDRICKS, L. R. MAXWELL, V. L. MOSLEY et

M. E. JEFFERSON, Journal of Chemical Physics, 1933, 1, p. 549.

[6] A. KASTLER et A. FRHÜLING, C. R. Acad. Sc., 1944, 218,

P. 998.

[7] J. C. SOUTHARD et F. G. BRICKWEDDE, J. Am. Chem. Soc..

1933, 55, p. 4378. Tables annuelles de constantes et

données numériques, fasc. 4, Hermann, Paris, 1935.

[8] Voir R. C. LORD Jr, J. F. AHLBERG et P. H. ANDREWS Journal of Chemical Physics, 1937, 1, p. 649.

INFLUENCE DES

DÉFAUTS

DE FORME D’UNE

ÉLECTRODE

SIMPLE EN

OPTIQUE

ÉLECTRONIQUE

Par

FRANÇOIS

BERTEIN. Compagnie générale de Télégraphie sans fil.

Sommaire. - Les

imperfections de construction des instruments électroniques centrés sont à l’origine

d’aberrations optiques souvent notables; on présente dans cet article une méthode générale de calcul

applicable à une électrode simple; cette méthode permettra de préciser les performances mécaniques

à réaliser au cours de la construction des lentilles.

LE JOURNAL DE PHYSIQUE ET LE RADIUM. SÉRIE VIII, TOME IX, MARS d948.

1. -

PROPRIÉTÉS

GÉNÉRALES

DU POTENTIEL CORRECTIF

CRÉÉ

PAR LES

DÉFAUTS

DES LENTILLES. ABERRATIONS

RÉSULTANTES.

Étant

donné un

système

centré

d’optique

électro-nique

(exemple :

microscope),

l’rnstrument

e f f

ecti-rlemenf réalisé

présente

divers écarts vis-à-vis de l’ instrumenf idéal

!,envisagé.

Ces écarts créent des 1 ei-iiies correctifs dans

l’expression

du

champ

défi-nissant les

trajectoires

électroniques

du

système;

ils en modifient

par

suite

l’optique,

principalement

par des aberrations

supplémentaires.

Nous donnerons

ici les traits essentiels de cette

correspondance

[1]

dans le cas des instruments

purement

électrostatiques

(3)

et en ne considérant que leurs

défauts géométriques :

imperfections

de forme,

décentrages

occasionnés

par un

montage

insuffisamment

précis

des

diffé-rentes

pièces.

1

Détermination du

potentiel

correctif créé par un écart

géométrique. -

L’instrument sera

rapporté

à un

système

de coordonnées

cylin-driques

autour de l’axe de l’écart

peut

être

défini

par la distance à

(z,

0)

séparant

les

surfaces

S des électrodes réelles de celles

So

des électrodes idéales en tout

point

(z,

0)

de ces dernières. On

posera, d’autre

part

E

(z)

le

champ électrique

Je

long

de

So

dans l’instrument

l:o; à

et E seront

comptés

algébriquement

à

partir

de

So

(fig.

i).

Fige.

On montre que le

potentiel

correctif dû à l’écart

géométrique

à

(z

0)

est déterminé par la condition aux limites

moyennant

l’hypothèse

suivante que nous suppo-serons satisfaite : a

petit vis-à-vis des

distances à

l’axe Oz et des rayons de courbure des deux

sur-faces

So,

S dans la

région envisagée.

Faisons intervenir les

développements

de Fourier

de 0 et Cf en 0

4’

Les

expressions

seront dits écarts

composants

d’ordre m,

potenftels composants

d’ordre m

(ils

vérifient

séparé-ment

l’équation

de

Laplace).

On observe que les termes de

chaque

rang se

comportent

de

façon

autonome; autrement dit il suffit de considérer

chaque

terme de à

séparément:

soit

.

il crée la

composante

de même structure en 0

suivant la relation

(1-1).

Seules les toutes

premières

valeurs de m ~ i sont à

envisager :

d’une

part,

la valeur m = o est à laisser de côté car il

s’agit

d’un terme de révolution que l’on

peut

incorporer

à la structure même de

io;

d’autre

part,

l’effet

optique

des

potentiels

d’ordre ln décroît

rapidement

quand

on

prend

des valeurs croissantes de m, car

ils sont infiniment

petits

de

degré

m en r, au voisi-nage de l’axe

Oz,

zone

optique

du

système.

On

peut

poser

ce

qui

définit pour

chaque

valeur de m ~ i, une

fonction complexe ~"L (z)

_ ~"t

conjugué)

dont le rôle est essentiel.

En ce

qui

concerne le

comportement

au loin des

potentiels

d’ordre in, on montre que ?,,, et

9m’

sont infiniment

petits

ou d’ordre

supérieur

(p,

distance à

l’électrode).

-Propriétés

optiques

associées. Elles se

déterminent à l’aide des lois de

l’optique

électro-nique

appliquées

au terme y; on posera :

x,

angle

d’ouverture des

faisceaux;

.

a,

a’,

abscisses

respectives

de

l’objet

et de

l’image

(compteur

sur

Oz) ;

Po

(z), potentiel

sur l’axe Oz dans l’instrument

~o;

T

(z), trajectoire

issue du

point objet

sur

l’axe,

calculée dans

l’approximation

de

Gauss,

dans

~o

et pour une inclinaison

initiale 71

I).

On observe la

superposition

d’actions

caracté-ristiques

de

chaque

ordre m. -

-Les écarts d’ordre m == i traduisent les défauts

de

mise

en

place (décentrages...)

des

électrodes;

le

potentiel

associé ne crée pas d’aberrations sensibles :

il occasionne seulement un

déplacement

transversal

des

points

cardinaux du

système,

c’est-à-dire de

l’image finale;

reporté

dans le milieu

objet

ce

dépla-cement a

l’expression

.

(4)

les électrodes

présentant

ces écarts

supposés

seuls

ne

possèdent plus

la

symétrie

de révolution; leurs ouvertures et

plus généralement

leurs sections normales sont

elliptiques.

Les termes de

potentiel

associés se manifestent

uniquement

par une

aberra-tion,

plus

précisément

un

astigmatisme

affectant les faisceaux et détruisant les

propriétés

de focali-sation de l’instrument. Ce défaut

impose

la limite suivante au

pouvoir

séparateur

Les écarts d’ordre m = 3 se traduisent

par une

aberration

imposant

la limite de résolution

Toutes choses

égales

d’ailleurs,

l’on a

ZU3 -

et les écarts d’ordre

m ~ 4

n’ont pas d’action

décelable,

ce

qui

montre bien la décroissance des actions

optiques

en fonction de m; en

définitive,

c’est

l’elIiptic,ité

des

électrodes,

c’est-à-dire l’ordre m ==2

qui

crée l’aberration la

plues

*

importante, laquelle

a

priori

masque toutes les autres.

Cette influence de

l’ellipticité

a été observée

expérimentalement

en

Amérique

par Hillier sur le

microscope magnétique [3].

Elle a été

également

reconnue

[2]

sur

l’appareil

électrostatique

de la

Compagnie

de

Télégraphie

sans fil construit par

MM. Grivet et Bruck. On trouvera d’autre

part,

l’étude

théorique

de ce

type d’astigmatisme

en

fonction de la

répartition

de

potentiel

(mais

non

des défauts des

électrodes) :

M.

Cotte,

[4],

étudie très

généralement

le cas d’un

potentiel

à

plan

de

symétrie;

W. Glaser

[5]

envisage

le cas actuel mais en admettant encore l’existence d’un tel

plan.

Nous ne supposons pas ici que les axes des sections

elliptiques

aient la même direction.

Il est clair que dans la

pratique

seuls

importent

les ordres de

grandeur

et non les valeurs exactes des limites ~3

imposées

par les aberrations.

La zone d’action des

(z)

étant en

général

res-treinte,

on pourra souvent

remplacer

dans les expres-sions

précédentes

les

fonctions 4),(z)

et

T(z)

par des

valeurs moyennes. Cette

approximation

est d’autant

plus

légitime

que la lentille considérée est

plus

«faible». Les

champs

correctifs,

d’autre

part,

ne s’étendent pas

jusqu’à

a et a‘, de sorte que l’on

peut

écrire en

définitive

on posera

le

signe -

indique

la

proportionnalité.

Nous sommes ainsi conduits à dire de

façon

générale

que l’action

optique

d’un

dé f aut

d’ordre mi i

est « nlesurée » par

l’intégrale

A titre

d’exemple simple

nous donnerons celui

d’une électrode « bosselée o. Prenons une lentille idéale admettant comme

plan de

symétrie

géomé-trique

et

électrique,

le

plan

moyen P de l’électrode

envisagée. Supposons

l’écart entre S et

So tel

qu’en

deux

points symétriques

quelconques

M, N,

de

So

la fonction prenne des valeurs

opposées

(fin.

2);

ig...

il en est

ainsi

par

exemple

si S se déduit de

So

à l’aide d’une rotation conservant son centre

0,

ou

si cette électrode a été « bosselée ».

Le

potentiel

correctif 9

associé est dans ces condi-tions défini par une relation sur

So

(1-1)

lui

assignant

des valeurs

opposées

en tout

couple

de

points

correspondants; 9

et l’ensemble des ~", ne

peuvent

être que fonctions

impaires

en z. Il résulte des formules

précédentes

que le défaut

envisagé

ne

(5)

II. -

QUELQUES

PROPRIÉTÉS

ESSENTIELLES DE

L ÉQUATION

ET DES FONCTIONS DE LEGENDRE.

L’étude actuelle fera

appel

à

quelques

résultats

mathématiques

que nous mentionnons brièvement

[6].

Équation

L

(n,

m,

x)

y=o. -

L’équation

différen-tielle de

Legendre

est la suivante :

Nous l’écrirons en

abrégé

L

(n,

m,

x) y

= o. On en

définit deux

intégrales

linéairement

indépendantes

notées

dont les

points

singuliers

dans le

plan

de la variable

complexe x

sont au

plus x

= ± z,

oo . Il

s’agira

donc en

général

de fonctions multiformes autour de ces

points;

nous prenons pour chacune une seule

détermination obtenue à l’aide d’une coupure

pratiquée

le

long

de l’axe réel sauf dans l’intervalle

(2013i + 1).

Les valeurs sur cette coupure ne sont par

suite pas définies mais nous n’aurons pas à les considérer. Nous supposerons essentiellement n et

m ‘_~ o

(1)

et entiers.

1.

P,~~(x) (fonctions

de

première espèce).

- Elles

sont obtenues à

partir

des

polynomes

de

Legendre

à l’aide des relations

(Cette

dernière

expression

est notée

P-1"

(x)

dans la référence

[6].)

On

prendra

la détermination du radical

positive

pour x réel.

2.

(fonctions

de deuxième

espèce).

-- On

pose d’abord

Conformément

à notre

convention,

les

intégrales

dans

(11-3)

doivent être

prises

le

long

d’une

ligne

(1) Il est clair d’ailleurs que les valeurs de m et n .entières o ne fournissent pas d’autres fonctions.

ne traversant pas la coupure. On définit alors .

quel

que soit m.

reste

fini,

est infini pour x ==~: 1.

Équation

L

(r~,

m,

ix)

y = o. -

Remplaçons x

par ix

dans

l’équation (II-1);

elle s’écrit alors

ou en

abrégé

Les

intégrales

de cette nouvelle

équation

sont :

.

Nous aurons besoin d’en connaître l’allure pour les valeurs réelles de la variable x; ce sont alors des

f onctions régulières

puisque

les seuls

points singuliers

possibles

sont x

= ~- i,

’l0.

Lorsque

x devient très

grand

en valeur absolue

est

également

infiniment grand,

de

degré

n en x;

quant

à

QI, (ix)

nous

distinguerons

deux éventualités :

1. Si 1 l’on a

simplement

en vertu de

(1-3)

et

(1-4)

quand

x ~ ± x,

Q::l (ix)

est infiniment

petit

en x-(n+1).

2. Si n > m - I on

peut

voir que est

encore infiniment

petit

(en

~°-~~~-~-~ )

pour x ~ -~- oo,

mais non

plus

quand

x -~- y .

(6)

III. - LES POTENTIELS CORRECTIFS EN

COORDONNÉES

ELLIPTIQUES.

APPLICATION A LA

DÉTERMINATION

DE J

DANS UN CAS PARTICULIER. Revenons aux

potentiels correctifs

d’ordre m

que nous allons étudier en les

rapportant

à un

système

de coordonnées

elliptiques

uv 0 défini à

partir

de coordonnées

cylindriques

rz O par les relations

Les surfaces u = const.

représentent

des

ellipsoïdes .

aplatis

et v = const. des

hyperboloïdes

de révo-lution autour de Oz

(fig.

3).

L’expression

dans ce

Fig. 3.

système

de

l’équation

de

Laplace

relative au

potentiel 9

fournit

1’équation

suivante

régissant

les

fonctions

(et c?;,t

que nous supposons traitées de

façon

parallèle)

c’est-à-dire suivant la notation condensée

(II)

(en

écrivant maintenant les

symboles -

au lieu

de d.

Les variables u et v se

séparent

et l’on vérifie

d

immédiatement l’existence de tout un ensemble de solutions de la forme

l’indice n

pourrait

prendre

ici toute valeur réelle

ou

complexe

mais nous n’en retiendrons que les valeurs entières

positives,

de manière à ne faire

intervenir que les fonctions les

plues

maniables,

définies au

paragraphe

II.

Du fait que nous

envisageons

seulement les fonc-tions

régulières

sur l’axe

~z,

c’est-à-dire pour v =

i,

celles en

sont

à éliminer et l’on a seulement

Exemple

de y associé à un défaut

particulier.

-

Imaginons

une électrode idéale dont la

surface

S,

est

lhhyperboloïde v

==

Po

(fig. 4

a).

On

désignera

par R le rayon de son cercle de gorge, R’ le rayon de courbure de la méridienne au

point z

= o et l’on Les

paramètres

c,

(7)

Cette surface

So

nous fournira

pratiquement

le ca~

plus

usuel d’un

disque

plat

5~J

présentant

une

ouver-ture circulaire en forme de demi-tore

correspondant

aux mêmes valeurs de R et ï,

(fig. 4

b).

L’approxi-mation est d’autant meilleure que est

plus

faible;

elle est

déjà justifiée

pour

ainsi

que le montrera la

comparaison

de certains résultats obtenus ici

pour

So

avec ceux établis par une tout autre méthode

[I]

pour un

S~ particulier

( 1,

=

f )

([7]

pièce

centrale de la lentille

VIII).

D’après (111-4)

l’hyper-boloïde

So

ï,

~ 7 )

est défini par les

paramètres

(coeiucienL angulaire

de la direction

asympto-tique --

=

2).

Vk

Chaque

=

cos rn 0

peut

être considéré

comme étant créé

par le

= sur

So

déterminé en vertu de

(I-1)

par

le

long

de

So,

c’est-à-dire pour La quan-tiié

E6,,,

apparaît

par la suite comme

formant

un

tout

qu’il

n’y a

pas lieu de

scinder;

le

champ

E varie

a

priori

le

long

de l’électrode au même titre

que à,,,

mais on

pourrait

souvent le considérer comme

constant

(ci.

[7])

le

long

d’un écart limité. Sa déter-mination n’a pas à être

envisagée

ici.

Prenons la fonction ym

suivante,

parmi

celles

possibles

(111-3)

Pemplaçant

par son

expression (I I-7),

m

=

(j

+

u2)

2,

l’écart

générateur

varie le

long

de

SQ

suivant la loi

ce que l’on

peut

écrire en faisant

intervenir

sa

valeur dans le

plan z

= o

La fonction

4),,, (z)

associée s’obtient d’autre

part

[(1-3)

où 4J,,>

=W,,,]

en évaluant

(111-6)

au

voisinage

de

ON,

ce

qui

fait intervenir

P;;i_,

(,.)

pour 1

(II-7);

k

s’exprime

en fonction de

Telle est la loi sur l’axe créée par un écart

d’ordre m, Eô variant en

_1_.

Les formules

(111-4)

rm.

permettent

de passer des

paramètres

c, vo à ceux

géométriques

R,

~..

Considérons le cus

particulier

ni == 2

si par

exemple ¡,

== y

( fig. ~ a)

L’étude

[il pour Ie disque

5’0

correspondant

(~,

4

donne pour un écart localisé dans l’ouverture

(fig.

4

b)

La différence entre les résultats

(III.-10)

et

(III-11)

. se

justifie

du fait que dans Je

premier

cas l’écart

est en

~3

c’est-à-dire non strictement localisé : la

figure

4

permet

d’effectuer la

comparaison;

on

conçoit

bien que le

~2

associé soit

plus

grand

et en

particulier

décroisse moins

rapidement

à l’infini que dans le deuxième cas.

L’évaluation des

intégrales f 4),

dz fournit

respec-tivement les valeurs

l’aber-R R

ration

optique

résultante est

approximativement

deux fois

plus

faible dans le deuxième cas.

t

IV. - CAS DE

DÉFAUTS

QUELCONQUES

SUR

L’ÉLECTRODE HYPERBOLIQUE.

Nous avons obtenu en

(111-8)

la fonction corrective associée à l’écart

particulier (111-7).

Plus

géné-ralement on

peut

chercher à

représenter

par une

série de solutions

particulières (III.3),

le

potentiel

créé par un écart

quelconque

sur

So.

Cela est

impos-sible du moins si l’on se borne aux fonctions d’indice n

entier ~ o; pour écrire le

potentiel

créé par un a

localisé il est en

effet,

nécessaire de faire

appel

à des fonctions « de base» s’annulant pour u =-~--x,

c’est-à-dire aux seules fonctions

qui

sont en nombre fini m

(§ II)

alors

qu’une

infinité serait nécessaire.

.

En abordant le

problème

différemment on va

montrer

qu’il

est

possible

d’évaluer très

généralement

(8)

intégrales

portant

sur ~",

(~),

en

premier

lieu d~,

expression

dont nous avons v u l’intérêt au

para-graphe

II.

En raison du caractère

physique

du

problème,

nous

n’envisagerons

en

principe

que les écarts

limités,

c’est-à-dire ne s’étendant pas

l’infini.

Reprenons l’équation

(111-2)

déterminant ~~", et

cherchons en

premier

lieu à obtenir certaines fonc-tions auxiliaires de u :

g,,, (u),

h,,, (u)

telles que

l’on ait l’identité

L’identification des deux membres montre sans

peine

que le

problème

est

possibles;

il suffit de choisir trois fonctions

lm,

gm, h,,, satisfaisant à

Nous nous bornerons à

envisager

ici encore des valeurs de n

entières

~ o;

P;;z(iu),

(~’;t

étant fonctions

régulières

de la variable réelle u, il en est

de même ,

L’équation générale (111.2)

multipliée

par

fm

peut

alors s ’ écrire

Nous allons

l’intégrer

par

rapport

à u, en maintenant fixe la variable v et choisissant les fonctions auxi-liaires de telle sorte

que le premier

terme donne une

_

contribufion nulle.

"

Il suffît

(condition

d’ailleurs non

nécessaire)

que

la fonction

g"L

ou

- o pour u ~ °° J

rappelons

que 9m varie au loin comme ou

est d’ordre

supérieur;

d’après (IV. 2)

les compor-tements de

et

découlant d’autre

part

de ceux

de

(9~ (tu),

l’on voit sans difflculté

qu’il

suffit

d’envisager

toutes les fonctions

lm,

gm, h", pour n m.

Dans ces

conditions,

l’équation (IV. 3)

intégrée

se réduit à

équation

de

Legendre

par

rapport

aux fonctions

de c~ ,

Ces dernières étant

régulières

au

voisinage

de Oz

(v

=

I);

seule la solution de

(IV.

4)

est

à retenir, autrement dit

Le facteur K

dépend

bien entendu de l’indice n

et de la fonction Ym

envisagés.

Cette

équation

est valable

quel

que soit le 9m correctif d’un écart ne

s’étendant pas

jusqu’à

l’infini. Nous allons

l’exprimer

pour les valeurs de v suivantes : 1. ç, = -

(Surface

So

de l’électrode

idéale);

(IV. 5)

s’écrit en vertu de

(I.1}

2. r == i - E. -

(Voisinage

de

Oz);

en

rempla-çant

91n et

Pjt

(v)

par les

premiers

termes de leurs

développements

(I.3)

et

(II.7),

il vient

L’élimination de K entre les deux formules donne alors

Nous obtenons ainsi pour l’électrode

hyperbolique

So

les valeurs d’un certain nombre

d’intégrales

concer-nant le

potentiel

correctif associé à l’écart cos

On verrait facilement que

(IV. 8)

s’applique

à un

écart d’ordre m

global,

c’est-à-dire

d’expression

cos + sin

il suffit alors de

remplacer

dans le deuxième

membre,

àm

par Nous nous bornerons dans les

applications

qui

suivent,

aux écarts

dm cos m0

pour éviter cette

complication

d’écriture.

Calcul

de f (1", dz.

- Cette

intégrale

est fournie par

(IV.

8)

si l’on fait intervenir n ---. m --

I, et la fonction n

(9)

Ce résultat est vérifiable immédiatement dans le cas

particulier

étudié

plus

haut

(III. 7), (III. 8);

obser-vons toutefois que ce dernier était relatif à un écart s’étendant à

l’infini;

on verrait

qu’il

satisfait cepen-dant aux conditions

d’application

de la théorie

précédente..

L’examen de l’élément différentiel

figurant

au

deuxième membre montre que la contribution

optique

d’un écart localisé en u = uo

(r

=

ro)

sur

l’inter-vatle àu est

E à,,,(I + U")

àu,

c’est-à-dire

propor-tionnelle à

représentant

l’aire

de sa section méridienne

(zone

hachurée sur les

figures), y

la

pente

de

So

au

voisinage.

Ce résultat

met en évidence le rôle des

paramètres

effectifs

définissant l’écart

(champ

au

voisinage, grandeur,

position);

en

particulier

l’e f f et optique

décroît en

f onction

de la distance

ro de

l’écart à l’axe d’autant

plus

vite que m est

plus grand.

L’on a en

particulier

pour m = 2, 3

Application

aux limites de résolution OJ2

et ~3. -- Calculons à

partir

des

expressions

précé-dentes les limites de résolution UJ2 et UJ3

(g II)

provenant

des

dissymétries

de l’électrode centrale

S,

(),

=

~)

objecti f

de

microscope

électronique :

cette électrode

constitue,

en ce

qui

concerne l’étude

actuelle,

la

~one la

plus

sensible de l’ instrument

[ 1 ].

Prenons d’abord le deuxième ordre; nous assimi-lerons

S"

à

l’hyperboloïde

So

(~~7)

présentant

l’écart d

== ô2

cos 20 de

profil

défini par

On

peut

voir que ce défaut est limité aux

abscisses z -

__ ,

l

.

c .

Nous trouvons ~en

=a t

portant

sa valeur dans

{IV

10)

valeur voisine de celle 2

1?

obtenue I

La limite UJ2 est donnée par la relation

(1.4)

dans

laquelle

nous pourrons faire

apparaître

l’inté-grale précédente

en

remplaçant

les autres fonctions (~) Cette formule a été indiquée dans une Note aux C, R.

..1cad. Sc., février ig-~17, mais avec une justification erronée. 1

par des valeurs « moyennes »

.

, ,.

La

quantité

sans

dimensions 1

d0 (a) d0 (O) R

4>0 (a .2013 est fournie par les évaluations de H. Bruck

([71,

lentille

VIII),

Tableau

1,

3) :

-.

d’ oû

et par mètre

c’est la valeur même obtenue pour

510

[1]4

l’assimi-lation

l’hyperboloïde, So

se trouve

justifiée.

Rappelons

les

conséquences

tirées de la formule

précédente :

soit a

= 2,~ . I o B,

ordre de

grandeur

usuel; si

l’on veut que l’aberration

d’eliipticité

ne

réduise

pas le

pouvoir

séparateur

du

microscope,

la limite tU2 doit être inférieure aux autres limites de résolution irréductibles

(sphéricité,

diffraction),

soit

approximativement

v à I

Il en résulte

d’après

(IV.

12)

ô"n" ~ o,1 ~c : la symétrie

axiale

exigée

est donc

difficilement

accessible.

Noues calculons de

façon analogue

la limite tU3 créée par un écart ô =

°3

cos 3 0

supposé

de même

profil

que le

précédent [c f . (IV. 11)];

on a

d’où suivant

(t. 5)

On vérifie en

rapprochant

cette valeur de celle de úY2

(IV.12)

que l’aberration d’ordre 3 sera

foujours

masquée

à

priori

par celle d’ordre 2.

Avec ce =

2,5.10-3,

l’écart

composant

d’ordre 3

doit être environ 80 fois

supérieur

à celui d’ordre 2

pour

présenter

une

importance

optique

du même

ordre =

tV2’

Calcul de

(p2

dz dz. -

Écrivons

(IV. 8)

pour m = 2, n = o. et en faisant intervenir

P"°-

(iu)

(10)

les

parties

complexes

de I’autre et en tenant

compte

de

(Il. 10)

ces formules vont nous

préciser

l’allure de la courbe de variation de

~2 (z).

Nous raisonnerons sur un

défauts

localisé en Uo

(abscisse

zo)

dans l’intervalle i1u.

z

-n2

dz

renseigne

sur la

positions

moyenne de la courbe le

long

de l’abscisse du centre de

gravité

de l’aire

qu’elle

limite au-dessus de 0~ a la valeur

Comparons-la

à celle zo de I’écart

générateur

Calculons d’autre

part-,

dz;

cette

expression

se ramène à des

intégrales

déjà

évaluées

(IV.

10),

(IV

14)

Cette

quantité renseigne

sur l’étalement de la

courbe

(z)..

,

Supposons

en effet

qu"on

puisse

considérer cette dernière comme à peu

près

symétrique,

il en est ainsi tout au moins

quand

le défaut est voisin du

plan

de

symétrie (uo

faible);

admettons par

analogie

aveelles

formules

(III.10), (III.11)

relatives à un

écart

symétrique

que la variation soit de la forme

La

grandeur

1 caractérise l’étalement de la courbe. Nous allons la déterminer à l’aide du

rapport

il suffit

d’égaler

ces

valeurs,

déduites de

(IV. 10),

(IV. 16)

d’une

part,

de

(IV.17)

de

l’autre;

il

vient,

teus calculs faits

Il est naturel de

prendre

p

7

comme dans

l’exemple

(III.11)

dans

lequel

l’écart est

localisé;

l’on obtient alors

avec >.

= (> i =

0,95 R

pour un

4

écart

symétrique (uo = o),

valeur voisine de

,

celle

t = 0,84 R

obtenue en

(III.11)

pour

S’o.

On

voit ainsi comment la connaissance des

inté-grales (IV. 14)

fournit sur la variation de

(D2

(z)

des indications la

précisant

notablement

(ci.

étude d’une courbe de

répartition

statistique).

Nous n’avons

envisagé

de

près

en raison de son

importance

que le cas m = 2, mais les relations

(IV. 8)

fourniraient la même

possibilité

pour m

quelconque.

On détermine aisément les

premières

intégrales

du

type f zl,

4J,,1 dz.

Cette méthode

générale

d’étude de

l’influence

des défauts

géométriques

s’applique

pratiquement

à l’électrode

classique

S’o

(disque

perforé);

elle offre

la

possibilité

de

prévoir

l’influence des divers para-mètres et de choisir des

caractéristiques

de lentilles

qui,

du

point

de vue des aberrations actuellement

envisagées

soient

avantageuses.

Manuscrit reçu le 25 novembre

BIBLIOGRAPHIE.

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[2] F. BERTEIN et E. REGENSTREIF, C. R. Acad. Sc., Paris, 1947, 224, p. 737-739.

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