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Spectrographie des rayons X par transmission d’un
faisceau non canalisé à travers un cristal courbé - I.
Y. Cauchois
To cite this version:
SPECTROGRAPHIE DES RAYONS X
PAR TRANSMISSION D’UN FAISCEAU NON
CANALISÉ
A TRAVERS UN CRISTAL
COURBÉ (I)
Par Y. CAUCHOIS.
Laboratoire de Chimie
physique
de Paris.Sommaire. 2014 Exposé d’une méthode, déjà sommairement décrite (13), pour obtenir des spectres de rayons X intenses et fins à l’aide d’un cristal courbé et sans canaliseur. Un large faisceau de rayons X tombe sur la face convexe d’une lame cristalline incurvée suivant une portion de cylindre circulaire; les réflexions sélectives ont lieu sur
des plans réticulaires plus ou moins inclinés sur les faces de la lame ; pour une orienta-tion de la lame telle que ces plans soient parallèles à l’axe du cylindre suivant lequel on l’incurve, on obtient, du côté concave, des spectres qui se dessinent avec la plus grande
finesse sur un cylindre tangent intérieurement à la lame courbée et dont le rayon est deux
fois plus petit, par suite d’une focalisation du faisceau de rayons réfléchis pour chaque angle de Bragg en un point de cette surface. La largeur d’une raie spectrale dépend de l’ouverture angulaire utile et de l’épaisseur du cristal; son expression est établie en fonc-tion de ces données. L’influence d’un défaut de réglage est discutée; il est toujours possible en pratique de réaliser les différents réglages par construction, sans préjudice
pour la finesse des spectres.
La largeur totale utile du cristal détermine la luminosité du montage, pour une source donnée; une comparaison approchée de la luminosité d’un spectrographe utilisant
un cristal courbé à celle d’un spectrographe basé sur la méthode de Bragg, de même rayon, et qui donnerait la même largeur de raie pour un même angle de Bragg, montre,
pour un cas pratique particulier, que l’on doit pouvoir réduire des temps de pose de l’ordre de l’heure à l’ordre d’une minute.
La méthode décrite permet, avec une technique très simple, d’obtenir des spectres
intenses, avec un pouvoir séparateur élevé, pour des rayonnements X durs (de longueurs
d’onde inférieures à 1,5 Å environ); elle peut être appliquée à la réalisation de spectro-graphes utilisant soit la méthode photographique, soit la méthode ionométrique ; elle conduit aisément à l’obtention de faisceaux X intenses étroitement monochromatiques. Elle est particulièrement favorable à l’étude du rayonnement de sources larges à faible éclat (rayonnements secondaires de diffusion ou de fluorescence). Elle convient très bien à l’analyse chimique par spectres X d’émission ou d’absorption.
Les
progrès
de latechnique
ont mis à ladisposition
desspécialistes
desspectrographes
à rayons Xgrâce
auxquels
il estpossible
de déterminer avec une trèsgrande précision
leslongueurs
d’ondecaractéristiques.
Les mesures faites
systématiquement
dansquelques
laboratoires conduisent àl’évalua-tion du millième d’unité
X,
soit 10-6Â (1).
En dehors de cesappareils
de hauteprécision
et àpouvoir
séparateur élevé,
il est de touteimportance
pour ungrand
nombre de recherches dedisposer d’appareils
très lumineux dont laqualité
desimages
restecependant
bonne.Tout
spectrographe
à rayons X utilisant la réflexion cristallinecomportait jusqu’ici,
quel
que soit sonprincipe,
au moins une fente étroite(ou
un couteau accolé au cristal(~))
etun
cristal;
la fente délimite lalargeur
desimages
et conditionne la luminositéqui
nepeut
qu’être
encore affaiblie parl’emploi
deplusieurs
canaliseurs ensérie;
pouraugmenter
la luminosité on doitagrandir
lafente,
ce que l’on nepeut
faire au-delà d’une certaine limitesans altérer fâcheusement la lisibilité des
spectres.
Dans le cas desspectrographes
à deux (*) «Schneidenspektrograph »
de Seeman.cristaux
(1)
la réflexion additionnelle sur le deuxième cristal serait la cause d’un nouvelaffaiblissement du faisceau si elle ne
permettait
l’emploi
d’une fente d’entrée assezlarge
sans
préjudice
pour lepouvoir
derésolution ;
ceciexplique
que cesappareils
soient relati-vement lumineux.On
dispose
actuellement d’un trèspetit
nombre despectrographes
dont leprincipe
tende à l’obtention d’unegrande
IUJ/zinosité. Citons àpart
lemontage
dû àSoller (2)
où le rayonne-ment est canalisé entre ungrand
nombre delongues
fentes bienparallèles
pouraugmenter
la surface utile ducristal;
un deuxième canaliseur constitué de même recueille lerayonne-ment réfléchi et
précède
la chambred’ionisation, qui
seulepeut
servir pour les mesures, laplaque photographique
étant ici exclue par suite de lagrande largeur
du faisceauréfléchi ?
lemontage
constitueplutôt
un monochromateur.Le
spectrographe
réalisé parKirkpatrick
et du Mond(3)
consiste en ungrand
nombre despectrographes
élémentaires(cinquante)
à réflexion sur cristal despath
et couteau contrechaque
cristal(type
« Seeman») :
lesmultiples
faisceaux réfléchiscorrespondant
à unangle
de
Bragg
déterminé sont amenés à converger tous vers unerégion
communeétroite,
pourcontribuer à l’obtention d’une raie
spectrale
unique;
pour cela ondispose régulièrement
les différents cristaux sur un arc de
cercle,
cequi
focalise tous les rayons réfléchis vers unpoint
de ce même cercle. Leréglage
d’un telappareil
est évidemment 0153uvre depatience;
les auteurs eux-mêmes s’étonnent d’avoir pu l’effectuer en deux mois(*).
Des tentatives ont été faites d’autre
part
pour obtenir desspectres
X à l’aide de lames cristallines courbes et sans canaliseur.L’ernploi
des cristaux courbés remonte auxpremières
années de laspectroscopie
X. Il futpréconisé
pour éviter l’oscillation du cristal. L’idée émane de M. 111. deBroglie
et fut utilisée dans différentsmontages
(~),
(1), (1), (8), (9).
Un faisceau Xdivergent après
passage à tral’ers unefente,
tombe à peuprès tangentiellement
sur laface
d’une lame de mica incurvée suivant uneportion
decylindre
circulaire degénératrices parallèles
à lafente ;
les rayons dont l’incidence sur les
plans
declivage
ordinaires,
devenus maintenant des por-tions decylindre,
satisfont à la condition deBragg
pour une deslongueurs
d’ondeprésentes
dans lefaisceau,
sontréfléchis ;
en fait cette condition n’estremplie
que pour une zoneétroite le
long
d’unegénératrice
déterminée,
et l’on obtient unspectre
de raiesparallèles
à lafente,
dont lalargeur dépend
de celle de cette dernière et de la distance de laplaque
aucristal. En
outre,
R. Darbord(1°)
fit une tentative intéressante pour formerl’image
d’une fente parréflexion
d’un faisceaudivergent
sur le côté concave d’un mica circulaireépais.
Ces réalisations ne mettent pas à
profit
l’intérêt essentiel del’emploi
des lames cris-tallinescourbées,
à savoir lapossibilité
de foceliser sur une surface déterminée les divers faisceaux réfléchiscorrespondant
aux différentsangles
deBragg
et ce sans délimitationétroite du faisceau incident.
Quelques
considérationsthéoriques
et certains essais furent faitsdans ce sens
(11).
Johann(’2)
sut concevoir et réaliser unspectrographe
où laréflexion
surla
face
concave d’unmica,
incurvé suivant uneportion
decylindre
circulaire,
entraîne pourchaque angle
deBragg
une focalisationapprochée
sur uncylindre
tangent
intérieurement à celui-ci et dont le rayon est deux foisplus petit.
Nulle délimitation du faisceau incident par fente fine n’estplus
nécessaire pour la formation desspectres.
Toutes choseségales
d’ailleurs,
les raiesspectrales
sont d’autantplus
fines que lerayonnement
estplus
mou(grands angles
de
Bragg),
et que laportion
utile du cristal est moins étendue. Il resteimpossible d’employer
lespectrographe
pour les courteslongueurs
d’onde par suite del’élargissement
des raies et del’impossibilité
pratique
d’atteindre les trèspetits angles
deBragg;
ces difficultés sontd’ailleurs
exagérées
par le fait que les constantes réticulaires des micas relatives auxplans
de
clivage
ordinairesqui
entrent ici enjeu
sont élevées(environ
101)
et conduisent à de trèspetits angles
deBragg;
en outre ceci entraîne unedispersion
faible.Pour travailler dans le domaine des
rayonnements
durs(par
exemple depuis
i,5Â
etdéjà exposé
sommairement(13);
il utilise la transmission d’"un faisceau X non canalisé à trave.rs un cristal courbé suivant uneportion
decylindre
cireulaire;
le tombe.sur la
face
du cristal et les seforrn1Jut
du côté concave, lesréflexions
sélec-tives
ayant
lieu sur lesplans
réticulaires internesobliques
parrapport
à la surface ducylindre.
Je vais donner ci-dessous une étudeplus
détaillée de la méthode.Principe
dela
méthode. - Considérons une lame cristallineplane
parallèle
limitéeFig. L
par
exemple
par deuxplans
declivage
principaux,
et supposons que l’onpuisse
l’amener àprendre
la courbure d’uneportion
decylindre
circulaire. Si l’on nedépasse
pas les limitésd’élasticité du cristal on
peut
admettre quechaque
petite
cellule cristalline élémentaire-réticulaires limités à cette
petite
cellule avec leplan
normal aux faces de la lamepassant
parle centre de la cellule ne sont pas modifiés. Si en
particulier
la courbures est faite de telle manière que les intersections des fures de la lame avec unsystème
deplans
réticulairesplus
ou moins
obliques
sur ces faces soientparallèles
à l’axe ducylindre
suivantlequel
on incurve lalame, après
courbure la normale à l’un de cesplans
en unpoint
donné sera située dansle
plan
correspondant
de section droite ducylindre.
Admettons
qu’il
en soit ainsi et supposonsqu’un large
faisceau derayons X
tombe surla face convexe du
cristal;
eonsidérons cequi
se passe dans unplan
normal à l’axe ducylindre,
en admettant pour commencer quel’épaisseur
du cristal restenégligeable
vis-à-vis du rayon de courbure.Reportons-nous
à lafigure
i : le cercle Creprésente
la section droite ducylindre
surlequel
estappliqué
lecristal,
dont laportion
utile est l’axe IM. Enun
point
d’incidencequelconque,
M parexemple,
seul seraréfléchi,
pour une directionglo-bale convenable du
faisceau,
le rayon incidentqui
fait avec la normale auplan
réflecteuren M
(située
parhypothèse
dans leplan
defigure)
unangle égal
à 90° - ~ ; le rayon réfléchicorrespondant
MD faitégalement un angle égal à
90° - q avec cettenormale,
soit unangle y
avec la trace du
plan
réflecteurpassant
parM;
donc unangle égal
à y
-~ a
ou y - a, suivantles cas de
figure,
avec le rayon si «représente l’angle
desplans
réticulaires considérésavec les
plans
normaux aux faces de la lame. On voit que tous les rayons réfléchispossibles
ponr un
angle
deBragg déterminé
iorm-ent avec les normales au cercle C unangle
constant u ±«/
quelles
que soient les directions d’incidenceprésentes
dans le faisceauprimaire.
Les valeursde ?
sont données par la relation deBragg
nû l’on a soin d’insérer la valeur de la constante réticulaire relative aux
plans
réticulairesintéressés;
l’angle
oc se déduit de la structure cristalline.Nous allons montrer que tous les rayons réfléchis
correspondant
à unangle 9
donné concourent à la formation d’uneligne spectrale
fine et que toutes leslignes correspondant
aux différents
angles p
ont pour lieugéométrique
uncylindre
tangent
aucylindre
cristallin et dont le diamètre estégal
au rayon de ce dernier.Soit u
l’angle
d’un rayon réfléchi D avec le rayoncorrespondant
du cercleC,
inclinéde 8 sur l’axe Cx
(fig.
1);
l’équation
de la droite Dqui
passe par unpoint
du cercle C(de
rayonRJ
de coordonnéeset
qui
fait avec Cx unangle égal
à u+
0 estPour trouver
l’enveloppe
de la droite Dquand
6varie,
c’est-à-dire pour despoints
d’incidence
qui
sedéplacent
sur le cercleC,
ou en d’autres termes pour trouver lacaustique
des rayonsréfléchis,
associons àl’équation
(1)
l’équation
dérivée parrapport
à 0~t résolvons le
système
(1) (2)
parrapport
à x et y.On tire :
C’est la
représentation paramétrique
d’un cercle de centre C et de rayon R sin u~*).
(’) Enparticulier
on en déduit que les traces des plans réticulaires enveloppent un cercle de centre C et de rayon R sin u. L"enveloppe des rayons incidents inclinés d’un angle constante r (Si u::=: B ’f ::.t:: :x 1
,En
pratique,
laportion
utile du cristal se réduit à un arc peu ouvert dont le milieu est parexemple
lepoint
t T surCy pour
lequel
0 =90J,
et les droites Dcorrespondant
à unangle
u donné viennent toutes passer auvoisinage
immédiat dupoint
de coordonnéesQuand it varie,
le lieugéométrique
de cepoint
est un cercled’équation
c1e centre 0 cle coordonnées
donc situé au milieu de
CT,
et de rayonR,
donctangent
au cercle G en T. Il y a « focalisa-2tion » des
spectres
sur ce cercle que nousdésignerons
désormais parl’expression :
« cercle de focalisation ».Dans les
figures
2,3, 4
et5,
on trouverareprésentés
à l’aide d’une constructiongéomé-trique
simple
les différents casqui peuvent
seproduire
par suite des conditionsd’inci-dence et des valeurs relatives de a et y. Dans ces
figures,
ons’aide,
pour la constructionFig3. e
d’intersection de CI avec le cercle
0 ;
ainsi les droitesISi
(rayon
directementtransmis),
IP,(trace
duplan réflecteur),
IR,
(rayon réfléchi),
s’obtiennent en menant de 1 lesparallèles
aux droites
IoSo, IoPo, IoRo, si TSo, TIo, TR,,,
représentent respectivement
les directions du rayon transmis sansdéviation,
de la trace duplan
réflecteur et du rayon réfléchi relatifsau
point
detangence
T.’
Fig. 5.
De même un
point
d’incidence M donne naissance à un rayon réfléchiMQI
parallèle
à1B’10 R o.
Tous les rayons réfléchis pour un
angle cp
donnéconvergent
lelong
de l’arcR, Ri Q,
dont la
largeur
n’est déterminée àpremière
vue que par l’ouverture utile du cristal ICM-2w.Si 11 =
0,
c’est-à-dire: pour y = a dans le cas où u =(9
-x),
il y a unfoyer ponctuel
en C.Ces considérations ont servi de base à la réalisation de
spectrographes
où le cristal est courbé suivant uneportion
decylindre
telle queCIM,
et un filmphotographique
enroulé le
long
du «cylindre
de focalisation ».Latitude de mise au
point. -
Quoiqu’une
mise enplace
exacte du film sur le«
cylindre
de focalisation >3 favorisebeaucoup
la finesse desspectres,
nous avons pupratiquement
obtenir desspectres
très nets de raies fines même avec une mise aupoint
approximative.
Il faut en chercherl’explication
dans le fait que la concentration durayon-nement se manifeste le
long
de tout l’arc AA’(figure 1j ;
toute surface sensibleplacée
de manière à couper cet arcprésentera après développement
un noircissement étroit avec unAvec les notations
précédentes,
les coordonnées de A sont :et de A’ sont :
et la hauteur le
long
delaquelle
onpeut
déplacer
parexemple
uneplaque
photographique
parallèle
à Cx estégale
àDispersion
sur le cercle de focalisation. - Dans tous les cas defigure,
lesbords nets
(Ro)
respectifs
de deux raiesspectrales correspondant
auxangles
deBragg
~1 et92 sont vues de T sous un
angle égal
à 92
-CP1, de 0 sous un
angle 2
(CP2
- et leurséparation
linéaire estégale
à
--Or ou
Pour deux raies voisines de
longueur
d’ondeÀ2
et}1
correspondant
auxangles
92 et yidans un même
ordre,
onpeut
écrireCette formule
permet
de calculer laséparation
linéaire de deuxlongueurs
d’onde diffé-rant parexemple
d’l U. X. auvoisinage
de !, U.X., ou
inversement ladispersion
comptée
en unités X par millimètre au
voisinage
deÀ, d’après :
Largeur
d’une
raiespectrale
sur lecylindre
de focalisation. - Cas d’un cristal infiniment mince. -Nous
nous entiendrons
à uncalcul
approché
conduit surles
figures
~, 3, 4
ou5,
mais le calculanalytique complet
neprésente
aucunediffi-culté.
Soit ta la demi-ouverture
angulaire
utile ducristal ICT
=nc 1
= w; si nousdésignons
par à
lalongueur
despetits segments Il,
etMMû,
on calcule aisément queL’étalement maximum d-une raie à
partir
de la crèteRo
provient
selon les cas du rayonet reste inférieur à
Si to est très
petit,
onpeut
s’en tenir àl’expression
Si l’on
désigne
par o l’ouerture linéaire totale utile du cristalon
peut
écrireou même
Une raie est donc d’autant
plus
fine que le cristal est moins ouvert etqu’elle
se formeplus près
du centreC ;
nous remarquel’ons que le cas zc = 9+ ’l.
estdésavantageux
etqu’il
est bon de l’écarter dans lapratique.
Influence de
l’épaisseur
du cristal(fig.
6).
- L’existence d’uneépaisseur
cristalline e vers l’extérieur du cercle C’ entraîne unélargissement
unilatéral de la raiespectrale
d’un côté ou de l’autre deRo,
dîi auxpoints
d’incidence situés sur les rayons extrêmes CI ou CMégal
àL’existence d’une
épaisseur e’
vers l’intérieur du cercle C entraîne unélargissement
d’un côté ou de l’autre de la crête
Ro
(qui
se trouve alorsnoyée
dans lalargeur
totale de laraie)
de valeurcorrespondant
auxpoints
d’incidence situés sur CT.L’influence de
l’épaisseur
totale e+
e’ = E du cristal(figure
6, 1)
est unléger
élar-gissement
d’un côté deRo
égal
à e’tg
u,plus
un autreélargissement
du côté de L’étalemente initial
égal a
201320132013201320132013-.
initial
egal
à cos
(w+
M)
La
largeur
totale d’une raie est doncégale
àou, si (i) est assez
petit
ou en bubsdtuant o== 2 R
w ’
l’épaisseur .E
et non du rayon decourbure,
tandis que lalargeur
due à l’ouverture du cristal infiniment mince estproportionnelle
à R ;
suivant les cas, l’un ou l’autre terme pourra êtreprépondérant,
nous en verrons desexemples.
Il est assezavantageux
de donner sipossible
le même ordre degrandeur
à ces deux termes. Pour une raie auvoisi-sinage
du centreC,
l’influence del’épaisseur
estnégligeable.
Fig. 6.
Influence d’un défaut de mise au
point. -
Les calculs faits dans leparagraphe
précédent
peuvent
servir à déterminer l’influence d’un défaut de mise aupoint,
c’est-à-dire d’undécentrage
ducylindre
parralJport
aucylindre
clefocalisation.
L’influence de
l’épaisseur
du film à double émulsion intervient dans le même sens.Dans le résumé
suivant,
nous avonsrapporté
ledéplacement
relatif au cristal.1°
Déplacement parallèle
ode la face interne c~u cristal vers l’extérieur du cercle C.Figure
6,
,~. -Ro
sedéplace
de0 tgu.
Lalargeur
totale d’une raie est2°
Déplacement parallèle
~’ de la face interne du cristal vers l’intérieur du cercle C. -Ro
sedéplace
toujours
de 8’tgu.
a) Figure
6, 1 :
e et e’ depar[
et d’autre de T.~o
estnoyé
dans lalargeur
totale de la raie. Lalargeur
totale d’une raie est tb)
Figure
6, 3 : 0’
- ~ > A.~o
estnoyé
dans lalargeur
totale de la raie. Lalargeur
totale d’une raie estc) Figure
6, 4 : ~
-..E à.
La raiespectrale
conserve un bord netRo
vers C. Lalargeur
totale d’une raie estOn remarquera que si a et 1’ restent faibles et pour les valeurs de u
généralement
utilisées,
ces causessupplémentaires
d’élargissement
restent très faibles vis-à-vis de lalargeur
due àl’épaisseur
E et à l’ouverture ducristal;
il s’ensoitqu’il
estpossible
depar construction le
centrage
duInfluence d’un défaut de construction. - Dans un
spectrographe
basé sur ceprincipe
les courburesrespectives
du filmphotographique
et du cristal sont réalisées parconstruction.
Supposons qu’il
existe une différence e entre le rayon R du cristal et lediamètre 2~ du
film,
etreportons-nous
à lafigure
7. &a) e
--=-- R --2?. R >
~r, Le film étantappliqué
sur le cercle 0’ il en résulte pourchaque
raie
spectrale
unélargissement
depart
et d’autre dupoint
R’o
d’intersection deCRO
avecle cercle 0’. Si l’on considère seulement des
régions
du film pastrop
éloignées
de C’ onpeut
admettre quel’élargissement
estégal
à lalongueur
de l’arc rq; enremarquant
que
IOROT
~TROMO =x w
et par assimilation de l’arc à latangente
on trouveOr
L’élargissement
est environ deIl est maximum pour u . = 0 c’est-à-dire pour une raie
qui
se focalise enC;
il est alorssymétrique
autour de C’ et a pour valeur totaleou, si w reste
petit
5) e
== 2r - RR
2r. - Le film s’enroule sur le cercle 0".L’élargissement
pourune raie focalisée en C est maximum et la limite
supérieure
del’élargissement
estCes
élargissements
restentégalement
faibles;
en effetpratiquement
nous avons souventpris
R = 200 mm o ._-_ 20 mm. Or onpeut
sans difficultésmécaniques
obtenir unepréci-sion de l’ordre du centième de millimètre pour
l’égalité
de R à 2r. Si e ~0,05
mm,l’élar-gissement correspondant
est d’environ0,005
mm donc tout à faitnégligeable
vis-à-vis deFig. ’7.
Luminosité
del’appareil.
-- Dans unplan
de section droite ducylindre
defocalisa-tion,
le noircissement d’une couche sensible lelong
d’une raiespectrale dépend
del’énergie
qui
tombe
auvoisinage
deRo,
donc del’énergie
du faisceau de rayons incidentsqui
conver-gent
versSo ;
celle-cidépend
de l’éclat de la source,et,
pour un mêmeéclat,
de lalargeur
utile de cette source; si l’on suppose que la source couvre toute l’ouverture de
l’angle
ISoM
à une distance D du
cristal,
l’énergie
qui
tombe enRo
seraproportionnelle
à l’ouverture linéaire totale o du cristal et inversementproportionnelle
à la distance de la source à la surface sensible D+
R cosu;si
l’on suppose le cristal infiniment mince lalargeur
de laraie formée en
Ro
est alorsPour un
spectrographe
deBragg
n derayon R
dont la fente serait en T et dont le cristal
9-oscillerait autour de l’axe
0,
pour obtenir une raie de mêmelargeur
1 pour le mêmeangle
CD, la ’
largeur
n efficace du cristal devrait êtreégale
à20132013,
, si l’onnéglige
lapénétration
dusis 11
rayonnement
dans lecristal;
l’énergie
qui
contribuerait à la formation dt cette raie seraitproportionnelle
à 1
et inversementproportionnelle
à DR;
si l’onnéglige
les diffé.p P
renoms de
pouvoir
réflecteur des deuxcristaux,
et si l’on remarque que les distances de lasource à la couche sensible sont du même ordre de
grandeur,
onpeut
dire que lerapport
,des
énergies
respectives
qui
entraînent la formation des raies dans les deuxappareils,
estpour un même
temps
de pose. En substituant pour 1 la valeur.on trouve pour p
Un
ternps
de de l’ordre de theurp avec la méthode deBragg
tomberait ici à moinsminute.
Ces considérations ont été faites en
supposant
implicitement
que les distances réticu-lairesen jeu
dans les deuxappareils
sontégales,
et lespouvoirs
réflecteurscomparables.
Applications pratiques.
-L’application pratique
de ceprincipe impose
le choix d’un cristal facile à courber. La lame cristalline est alors courbée à l’intérieur d’une sorte de châssiscylinclrocirculaire ;
le film estemprisonné
de même dans un châssiscylindrique ;
on
peut
dans bien des casremplacer
le film par uneplaque
tangente
aucylindre
de focali-sation auvoisinage
de larégion
à étudier.L’égalité
R = 2 1 est obtenue par construction.Il faut alors effectuer les
réglages
suivants :1. Mise en
place
du cristal dans sonchâssis,
de telle sorte que lesplans
réticulaires internes surlesquels
se feront les réflexions soientparallèles
auxgénératrices
ducylindre.
2. Mise enplace
du film sur lecylindre
de focalisation. Ceréglage
peut
être réalisé par construction.3. Mise en
place
de l’ensemblerigide
du cristal et du film et desprotections
deplomb
nécessaires,
parrapport
à la source derayonnement
dont ondispose.
Ce genre demontage
favorise l’utilisation des sources
larges ;
mais on doit naturellement faireprécéder
le cristal de deux ou troisdiaphragmes larges
convenablementdisposés,
etplacer
la source de tellesorte que le faisceau incident comprenne le maximum de rayons dont l’incidence convienne
pour les angles
deBragg qui
entrenten jeu,
sans que lapartie
transmise sans déviation viennevoiler la
région
du film où se dessinent lesspectres
à étudier. Il est facile de déterminer laposition
laplus
favorable de la source et des écrans à l’aide de considérationsgéométriques
simples
danslesquelles
nous n’entrerons pas ici.Emploi
du mica. - Les micas nous ont donné de très bons résultats. La mailleélémentaire est un
prisme clinorhombique;
dans lesplans
declivage
ordinaires,
la maille. k
,-est un
losange
de côté a,diagonales cc
et b = av 3,
d’angles
aux sommets 60° et120°;
lepassage d’un feuillet au suivant se fait par une translation c inclinée d’environ 100° sur a, normale à b
(~).
Les valeurs des constantes varient d’un échantillon àl’autre ;
les valeurs de a oscillent autour de5,2 Ã,
celles de b autour de9 Â ;
tandis que les distances réticulaires relatives auxplans
declivage
ordinaires(correspondant
àc)
sont d’environ9,9 À.
Dans notremontage
interviennent les distances réticulairescorrespondant
à a, donc de l’ordre de5Â,
d’où ungrand
avantage
parrapport
auxmontages
qui
utilisent les réflexions sur lesL’épaisseur
des lamesemployées
a varié de0,1
à0,3 mm ;
elles doivent être bienplanes
avant courbure. Pour orienter une lame dans sonsupport,
onpeut
serepérer
parrapport
aux axesoptiques préalablement
déterminés.Applications numériques. - Rappelons
les formules trouvéesplus
haut Latitude de mise aupoint :
Dispersion
auvoisinage
d’unelongueur
d’onde XLargeur
d’une raie pour un cristald’épaisseur
E :Rappelons
queLes formules II" et IV’
permettent
de calculer l’une des deuxgrandeurs
o ou E si l’onse donne l’une d’entre elles ainsi
que ffl
et 1 pour desangles ~
et u connus.Si l’on veut é0 =10
U.X/mm -
et 1 =0,05
mm auvoisinage
de ~,
= 8°(par
exemple
environ pourMo K
dans le 2e ordre du mica-)
?, = 700 U.X.(IF)
donneSi l’on fait
(IV’)
donneInversement, l’application
de ces formules aux cas où les conditions étaient lessuivantes :
et
a conduit aux valeurs
numériques groupées
dans le tableausuivant,
pour y - en mmpar U.X et
l,
pour desrégions
spectrales
voisines desrayonnements
K ducuivre,
dubrôme,
dumolybdène
et dutungstène,
dans le 2e ordre(particulièrement intense).
Nous avonspris
02 Pour déterminer 1 avec o = 2 cm R = 20 cm le terme
02
n’estpas
négligeable ;
au 8Rcontraire,
l’épaisseur E compte
seule pour R = 100 cm et la mêmes ouverture linéaire.TABLEAU.
Emploi
d’autres cristaux. - Les lames de mica se sont montrées faciles àemployer
et nous ont donné de très bons résultats. Ilpeut
cependant
deveniravantageux
dans certains cas
d’employer
d’autres cristaux afin dedisposer
d’autres constantesréticu-laires
(2 d
eta).
Le nombre de cristauxsusceptibles
desupporter
des courbures pastrop
fortes,
de l’ordre de un mètre de rayon parexemple,
est moins restreintqu’on
ne lepour-rait croire.
Le gypse
peut
êtreemployé
avec succès sous ces courbures sous desépaisseurs
allantjusqu’à
1 mm environ. La structure en a été étudiée aux rayons X parplusieurs
auteurs
(15) ;
pour l’orienter dans sonsupport
il suffit de serepérer
parrapport
auxdirec-tions declivage
secondaires faciles à reconnaître sur les brisures.Remarquons
quel’e mploi
du gypse seraitparticulièrement
avantageux
dans la méthode deJohann,
c’est-à-dire si l’on utilisait la réflexion sur lesplans
declivage principaux
pourlesquels
d ~
7,OSA,
doncplus
petite
que celles des micas(environ 101),
spécialement
pour lesrayonnements
moyennement
durs.Description
des clichés. - Nous avonsreproduit
planche
1 diversspectres
obtenus par la méthodedécrite,
à 1"aide demontages
sommairesoù,
enpartiulier,
luiposition
deTous les
spectres
ont étéphotographiés
surplaques
LumièreOpta,
sans aucun écranrenforçateur.
Etant donnée la luminosité du
montage
lesréglages
enrayonnement
direct ont été faitsà l’aide d’un écran fluorescent sur
lequel
lesspectres
se dessinent fortement même pour desdébits faibles.
Tous les clichés ont été
surexposés
pour lareproduction;
enrayonnement
direct lesspectres
se forment avec la netteté et la finesse désirables pour des mesures aucompara-teur avec des
énergies
de l’ordre de 5 m A. sec.1. Deux ordres du
spectre
K du rhodium excité sous 40KV,,
5 m A.,
obtenus à l’aide, d’une feuille de mica de0,2
mm.d’épaisseur
et 20 cm de rayon de courbure.Temps
depose : 2
minutes.2. Deux ordres du
spectre
K dumolybdène
dans les mêmes conditionsexpérimentales.
3.Spectre
de fluorescence L duplatine
excité par lerayonnement
d’une anticathode demolybdène
excité sous 40KV.,
10 mA.;
la distance de l’anticathode au radiateur étaitd’environ 25 cm; la distance du radiateur à la
plaque photographique
environ 35 cm. Dans ces conditions toutes les raiesprincipales paraissent après
une pose de 2 heures(à
l’aide du même
cristal
quepour 1
et2) ;
on remarquera la faible intensité relative desraies a par
rapport
aux raies8,
due enparticulier
àl’absorption
de cesgrandes longueurs
d’onde dansl’épaisseur
du cristal.4 a Deux ordres du
spectre
K dumolybdène
obtenus avec un cristal de gypsed’épaisseur
0,5
mm. courbé suivant un rayon de 1 mètre.Temps
depose : 4
min.5 a et 5 6. Deux ordres du
spectre
K dumolybdène
obtenus avec un cristal de mica de1 mètre de rayon de courbure. Dans l’ordre
supérieur
laséparation ~1 ~3
est nettementvisible à l’oeil nu.
(On
sait que leslongueurs
d’onde de ces raies sontrespectivement :
rr-
630,978
etÀ~2
= 631,5&3
U.X.)
Ladispersion
dans cet ordre est environ2,4
U.
X./mm.
6. Le cliché 5 a a été
agrandi 4
fois. 7. Le cliché 5 b a étéagrandi 4
fois.Conclusion. - Nous avons
exposé
leprincipe
d’une méthodesimple
permettant
d’obtenir desspectres
X fins et unpouvoir séparateur qui peut
devenir très élevé sanspré-judice
pour la luminosité. Cette méthodepeut
êtreappliquée
à la construction despectro-graphes
à films ouplaques
photographiques ;
lemontage
d’une chambre d’ionisation ou d’uncompteur
deGeiger
dont la fentepourrait
sedéplacer
sur le «cyiindre
de focalisation » per-mettrait sans difficultés des mesuresionométriques ;
dans les deux cas, la méthodepermet
l’obtention d’une
grande
luminosité et facilitespécialement
l’étude desrayonnements
X pro-venant de sources étendues mais de faibleéclat,
donc enparticulier
desrayonnements
secon-daires
(diffusion
etfluorescence) ;
l’étude desspectres
d’absorption peut
être faitephotogra-phiquement
avec destemps
de pose trèscourts,
les structures secondaires se montrantpar-faitement nettes et mesurables. Tout
appareil
construit sur ceprincipe
conviendrait très bienà
l’analyse
chimique
par rayons X(émission
etabsorption).
Enfin il est évident quel’emploi
d’une fente fine convenablement
placée
sur lecylindre
de focalisation transformeraitl’appareil
en un monochromateurpuissant.
Ce travail a été
poursuivi
au Laboratoire de Chimiephysique depuis
décembre i93i. Je ne saurais manquerd’exprimer
à M. JeanPerrin,
directeur dulaboratoire,
et à M. FrancisPerrin,
assistant,
toute ma reconnaissance pour l’actif intérêtqu’ils
n’ont cesséde manifester envers ces recherches. Je dois en outre à M. Horia
Hulubei,
chef de travaux à l’Université deJassy,
de nombreusessuggestions théoriques
et une étroite etprécieuse
collaboration dans le domaine
expérimental
pourlesquelles
il voudra bien trouver ici mes chaleureux remerciements.BIBLIOGRAPHIE
(1) Nous renvoyons le lecteur aux ouvrages suivants. 2014 A. LINDH, «
Röntgenspektroskopie
» Hdb, d.Exp. Phys., 24.2 (1930); M. SIEGBAHN «
Spektroskopie
derRöntgenstrahlen
» 2teAuflage
Julius Springer, 1931.(2) W. SOLLER, Phys. Rev., 24 (1924), p. 158.
(3) J. Du MOND et H. KIRKPATRICK, Rev. of Scient. Instr. (N. S.), 1 (1930), p. 88. (4) J. Du MOND et H. KIRKPATRICK, Phys. Rev., 37 (1931), p. 136.
(5) DE BROGLIE et LINDEMANN, C. R., 158 (1914), p. 944.
(6) ROHMANN, Phys. Zeits., 15 (1914), p. 510.
(7) GORTON, Phys. Rev., 7 (1916), p. 334.
(8) SIEGBAHN, Phys. Rev., 8 (1916), p. 320.
(9) P. CERMAK, Phys. Zeits., 17 (1916), pp. 405 et 556.
(10) R. DARBORD, J phys. et Rad., 3 (1922), p. 218.
(11) Voir à ce sujet. 2014 GOUY, Ann. de Phys. (9), 5 (1916),
p. 241; E. DERSHEM, C. T.
DOZIER, Phys.
Rev., 17(1921), p. 519 ; et l’article de W.LINNIK, W. LASHKAREW, Ukrain. Phys. Abh. 1 (1926), p. 5, qu’il ne m’a pas été
possible de compulser.
(12) H.-H. JOHANN, Z. f. Phys., 69 (193 ), pp. 185-206.
(13) Y. CAUCHOIS, C. R , t. 194 (1932), p. 362; t. 194 (1932), p. 1479.
(14) Ch. MAUGUIN, C. R , 185 (1927), p. 288;
186 (1928),
pp. 879 et 1131.(15) P.-P. EWALD, C. HERMANN, Strukturbericht
(Akad-Verlagsges-Leipzig,
1931), p. 388.Erratum du
numéro 6
(juin).
’"
- Dans ma note intitulée :
systénle
d’unités en
électromagnétisn1e
(ce Journal...) j’ai
ditqu’on
n’avaitjamais
considéré lesystème
d’unitésqu’on
obtiendrait enposant
Il = 1et y,
= 1 dans levide,
sanségaler
à 1 le coefficient de Biot-Savart. Je tiens à reconnaître que cette affirmation est inexacte. Eneffet,
M. Th. DEDONDER,
dans sa Théoriemathématique
de l’électricité(ire partie :
Introduc-tion auxéquations
de3Iaxivell ; Gauthier-Villars,
1925) envisage
à la page ~86 lapossibilité
dedéveloppement
d’unpareil système,
qu’il
appelle
système
deGauss;
les dimensions des diversesgrandeurs
électromagnétiques
dans cesystème
se déduisent du tableau I(p.
18~).
J’aiappris,
d’ailleurs,
que cesystème
s’introduit actuellement dansl’enseignement
électro-technique
en Hollande.J’ajouterai
encore que dans ma notej’ai
traité l(et t
comme des constantes(indépen-dantes de la
température,
de lafréquence,
de ladirection,
etc.),
cequi
suffisait à établir leurs dimensions et celles d’autresgrandeurs
dans lesystème
quej’ai exposé.
J.-E. VERSCHAFFELT.
Erratum du
numéro 4(avril).
- Leslégendes
desfigures
sont inexactes. Enlégende,
au lieu defig. 1,
lirefig.
2.-
fig.
2,
lirefig.
3.-