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Submitted on 1 Jan 1977
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Dispositif de mesure de la polarisation des diélectriques
à pertes
J.-M. Palau, L. Lassabatère
To cite this version:
DISPOSITIF
DE
MESURE
DE
LA
POLARISATION
DES
DIÉLECTRIQUES
A
PERTES
J. M. PALAU et L. LASSABATERE
Centre d’Etudes
d’Electronique
des Solides(*)
Université des Sciences etTechniques
duLanguedoc,
PlaceEugène-Bataillon,
34060Montpellier
Cedex,
France(Reçu
le 29juin 1976,
révisé le 25janvier
1977accepté
le 3février 1977)
Résumé. 2014 Nous décrivons un
intégrateur performant capable de fournir la primitive de courants
périodiques basse fréquence, de valeur moyenne non nulle. Cet appareil,
qui
a été construit pourétudier les cycles de polarisation d’un composé nouveau, le fluorobéryllate de lithium hydrazinium
LiN2H5BeF4, diélectrique non linéaire présentant des pertes importantes, peut être utilisé dans d’autres applications, par exemple pour tracer les cycles d’hystérésis de
ferroélectriques.
Abstract. 2014 We describe an
integrator for low-frequency periodic currents whose average value
is non-zero. This apparatus, which was built to study polarisation cycles in a new compound,
lithium hydrazinium fluoroberyllate LiN2H5BeF4, a non-linear dielectric with important losses,
can be used for other applications, for example to record ferroelectric hysteresis loops. Classification
Physics Abstracts 8.710
1. Introduction. - Nous décrivons dans cet article
un
intégrateur performant
que nous avons construit pour l’étude d’undiélectrique
non linéaire à pertes, lefluorobéryllate
de lithiumhydrazinium LiN,H,,BeF4.
Il réalisel’intégration
d’un courantpériodique
mêmelorsque
sa valeur moyenne est différente de zéro. Ilpermet dans les conditions que nous allons
préciser
d’obtenir la
polarisation diélectrique
d’unmatériau,
mais peut avoir d’autresapplications.
2.
Principe
et limites de la méthode de mesure de lapolarisation diélectrique.
- L’observationexpéri-mentale directe de la
polarisation
P n’estpratiquement
jamais possible.
On déduit P du courant issu d’un condensateur de mesure,généralement plan,
dont lediélectrique
est le matériauétudié,
soumis à une diffé-rence depotentiel V
variable que nous supposeronspériodique.
La densité de courant dans le matériauest, de
façon
trèsgénérale,
la somme d’un terme de conduction et d’un terme dedéplacement :
où yo est la conductivité du
matériau,
80 la constantediélectrique
du vide et E lechamp
électrique.
Nous supposonsque E
et P ne sont fonctions que du temps.Le courant total mesuré est :
(*) Laboratoire associé au C. N. R. S., LA n° 21.
où S est la surface du condensateur
plan
de mesure etCp
lacapacité parasite,
enparallèle
surl’échantillon,
des câbles de connexion.
Si l’on suppose que le
champ
électrique
est uniforme dans toutel’épaisseur e
del’échantillon,
l’équation (2)
peut s’écrire :
soit encore
Le schéma
équivalent
à l’échantillon est alors celui de lafigure
1 où3
FIG. 1. - Schéma
équivalent de l’échantillon.
[Equivalent circuit of sample.]
908
Pour obtenir P il suffit donc
d’intégrer
lecourant it
et de compenser les
courants if
etio
+ip.
C’est ainsique de nombreux
expérimentateurs
étudient les variations de P en fonction duchamp
électrique
appliqué
[1, 2,
3,4, 5]...
Parce que l’information recueil-lie est la fonctionP(t),
lescycles P(E)
obtenusdépen-dent,
dans le cas leplus général,
de lafréquence
duchamp,
des mécanismes depolarisation
et des tempsde relaxation ou de basculement
qui
les caractérisent.Cependant,
si lafréquence
duchamp électrique
estassez basse par rapport à ces temps de relaxation ou de
basculement,
les courbes obtenues sont desreprésen-tations suffisamment fidèles de la fonction
P(E).
C’est ainsi que lescycles
d’hystérésis
desferroélec-triques
sont presquetoujours
tracés à 50 ou 60 Hz.L’intégration
ducourant it
estréalisée,
dans lesmontages décrits par les
expérimentateurs,
par uncondensateur de
capacité
C trèssupérieure
à celle de l’échantillon[1,
2, 3, 4,
5]...
Cette méthode ne pose pas de
problème
lorsque
laconductance de fuite
Gf
est très faible etlorsque
l’impédance
de lacapacité
C est faible devantl’impé-dance d’entrée du voltmètre de mesure branché à ses
bornes.
Si la conductivité yo du matériau n’est pas
négli-geable,
on doitdistinguer
deux cas suivant les valeursrelatives de la résistance
intrinsèque
de l’échantillonet de la résistance
équivalente
au contact matériau électrode. Si cette dernière est très inférieure à celle del’échantillon,
le montageprécédent
est utilisable. Par contre, s’il n’en est pasainsi,
éventualité d’autantplus probable
que yo estgrande,
il faudra tenir compted’une conductance apparente
globale
Gqui
dépend
de la nature des contacts et peutéventuellement,
suivant les mécanismesd’injection
mis enjeu
àl’interface,
dépendre également
de la tensionappliquée.
L’hypo-thèse d’un
champ
électrique
uniforme peut ne pas être réalisée etle
courant dedéplacement
mesuré vautoù a et
P.
sontrespectivement
la densité decharges
depolarisation
et lapolarisation
aux électrodes.Si les deux contacts entre les armatures et le
diélec-trique
ne sont pas absolumentidentiques,
cequi
expérimentalement
estgénéralement
le cas, la valeur moyennede it
n’estplus rigoureusement
nulle. La valeur moyenne de la tension aux bornes ducondensa-teur
d’intégration
C est différente de zéro et dérive au cours du temps. La tension aux bornes del’échan-tillon n’est
plus
correctement définie.Le condensateur C doit donc être
remplacé
par unintégrateur
compensantautomatiquement
la valeur moyennede it
et donc sadérive,
etprésentant
uneimpédance
d’entrée nulle même pour la valeur moyenne deit.
C’est pourrépondre
à cesimpératifs
que nous avons construit le traceur de
cycles
que nousdécrivons.
3.
Description
du traceur decycles.
- Le schémasynoptique
du traceur decycle
est donnéfigure
2.L’appareil
se compose :- d’un
intégrateur
sommateur recevant le courantit
issu del’échantillon,
un courantproportionnel
à- V et
un courant i’ de
compensation
de la valeur moyennede it ;
- d’un échantillonneur
bloqueur
dont laprise
d’échantillon est
synchronisée
sur lafréquence
de latension
V ;
- d’unsommateur recevant la tension de sortie de
l’intégrateur
et une tensionproportionnelle
à V.FIG. 2. - Schéma de principe du traceur de cycle. [Block diagram of the circuit for observing loops.]
L’échantillonneur
bloqueur
reçoit
dudispositif
desynchronisation
uneimpulsion d’échantillonnage
parpériode.
La durée de cetteimpulsion
est très inférieure à lapériode
de la tension alternative Vappliquée
aucondensateur de mesure. L’échantillonneur
bloqueur
délivre donc une tensionV’,
constantependant
unepériode, égale
à la valeurVie
de la tensionVi présente
à la sortie del’intégrateur
au moment de l’échantillon-nage. Il fournit donc un courant i’ =Vie/R’
àl’inté-grateur. Celui-ci dérive entre deux
périodes
d’unequantité proportionnelle
à la valeur moyenne de lasomme des trois courants
qu’il
reçoit.
Le sens de i’est tel
qu’il
s’oppose
à cette dérivequi
s’annuleralorsque i’
seraégal
etopposé
à la valeur moyenne deit.
Si le
gain
deboucle,
défini parexemple
parR’,
n’est pas choisi tropgrand,
le saut de V’ entre deux échan-tillons est faible et l’asservissement peut être assimilé àun asservissement du
premier
ordre et est donc stable. Considérons maintenant les composantesalternati-ves des tensions et des courants. En
adoptant
lesnota-tions de la
figure
2 on obtient sans difficulté lesFIG. 3. - Schéma
électrique du traceur de cycle. [Effective circuit for observing loops.]
En
remplaçant it
par sonexpression (3)
et donc ensupposant le
champ électrique
uniforme,
on obtient :En
ajustant
les valeurs de ce etde fi
on peut annulerles deuxièmes et troisièmes termes de cette
équation,
c’est-à-dire réaliser la
compensation
de la conductance de fuite et descapacités parasites
etgéométriques.
Lespotentiomètres
a etfl
peuvent êtregradués
defaçon
linéaire en conductance etcapacité.
Le schéma
complet
du traceur decycle
est donnéfigure
3. Avec les valeurs des composantsindiquées
ses
caractéristiques
sont les suivantes :- capacité
d’intégration
1 nF à 103BCF
-
compensation
de lacapacité
parasite
de 0 à 10pF
-
compensation
de la conductance de fuite enquatre
gammes : 0 à10-9, 10-8,
10-’,
10-6 n-1
--
impédance
d’entréequasi
nulle-
fréquence
d’utilisation : 1 Hz à 10 kHz - duréed’échantillonnage :
30 gs, 300 03BCs, 3 ms et 30 ms - la910
FIG. 4. -
Cycles du fluorobéryllate double de lithium et
d’hydra-zinium LiN2H5BeF4 : effet de la compensation de « conductance
de fuite. »
[Lithium
hydrazinium fluoroberyllate (LiB2HsNeF 4) loops :conductive compensation
effects
4.
Exemple
de relevés. - Lafigure
4 montre à titred’exemple
lescycles d’hystérésis
dufluorobéryl-late de lithium
hydrazinium LiN2H5BeF4
relevés à différentesfréquences.
Ces courbes sont obtenues directement sur table traçante paradjonction
autra-ceur de
cycle
d’unstroboscope électronique
que nous avons réalisé. Lescycles compensés
donnés à titre d’illustration du fonctionnement del’appareil
concer-nent
LiN2H5BeF4,
matériauqui
a uncomportement
tout à fait semblable à son
isotype
LiN2H5SO4
etqui,
d’abord considéré comme un
ferroélectrique
[6],
apparaît
aujourd’hui
devoir sespropriétés
à unméca-nisme de conduction
protonique, partiellement bloqué
et
quasi
unidimensionnel[7, 8].
5. Conclusion. - Ledispositif
de mesure de lapolarisation
desdiélectriques
que nous avons réalisépeut être utilisé pour des échantillons dont la
capacité
est
comprise
entrequelques
pico
farads etquelques
nano farads et la conductance
comprise
entre 0 et10-6 03A9-1
(ces
valeurs n’étant pas strictementlimi-tatives).
Il peut
cependant
être utilisé dans d’autres types demesures où on désire obtenir la
primitive
de courantsfaibles
périodiques
de bassefréquence.
Son
originalité
est due à salarge plage
d’utilisation enfréquence
et en formed’onde,
au faitqu’il
réalise,
sans altération de la mesure, la
compensation
automa-tique
du courant de fuite moyenqui
traverse l’échan-tillon. Saréalisation,
qui
utilise des composants courants, estéconomique
et à laportée
de nombreux laboratoires.Bibliographie
[1] SAWYER, C. F. et TOWER, C. H., Phys. Rev. 35 (1930) 269.
[2] YANTA, I., MASTNER, I., MALEK, Z., SHTRAIBLOBA, Ya. et
VELVARSKI, Yo., Bull. Acad. Sci. USSR, Phys. Ser.
33 p. 297.
[3] C. S. F., MARCHE DGRST, n° 67 01 079, rapport final.
[4] DIAMANT, H., DRENCK, K. et PEPINSKY, R., Rev. Sci. Instrum. 28 (1957) 30.
[5] SCHMIDT, V. H., Am. J. Phys. 37 (1969) 351.
[6] PEPINSKY, R., VEDAM, K., OKAYA, Y. et HOSHINO, S., Phys. Rev. 111 (1968) 1467.
[7] SCHMIDT, V. H. et PARKER, R. S., J. Physique Colloque 33
(1972) C 2-109.
[8] SCHMIDT, V. H., DRUMMELLER, J. E., HOWELL, F. L., Phys.