R EVUE DE STATISTIQUE APPLIQUÉE
A LFRED L IEBERMAN
Plans progressifs pour la durée de vie des matériels dont la distribution est exponentielle
Revue de statistique appliquée, tome 9, n
o4 (1961), p. 85-95
<
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85
PLANS PROGRESSIFS POUR LA DURÉE DE VIE DES MATÉRIELS
DONT LA DISTRIBUTION EST EXPONENTIELLE
Alfred LIEBERMAN
Institute
for Défense Analyses, Washington,
D. C.INTRODUCTION.
Les
plans progressifs
donnés dans cet article sont telsqu’un équipement
dont la durée de vie est
supérieure
ouégale
à t estaccepté
avec une pro- babilité au moinségale
à 1 - a, alorsqu’un équipement
dont la durée de vie est inférieure ouégale
à t estrejeté
avec laprobabilité
auplus égale
à
1 - p.
Les
plans progressifs
ont pour base le travail de Wald[1]
sur l’ana-lyse progressive
et l’étudepostérieure
des testsprogressifs
deEpstein
etSobel
[21 qui envisagent
le cas de la distributionexponentielle.
Les
plans progressifs présentent l’avantage d’exiger,
en moyenne, moins d’essais que les autresplans.
Ceci estparticulièrement
vérifié pour le très mauvaise ou la très bonnequalité.
Leprincipal
caractère des tests pro-gressifs
réside dans le fait que le nombre d’unitésinspectées
n’est pas fixé àl’avance.
Onpeut cependant
estimer la valeur moyenne de ce nombre. Engénéral
les bons lots ou les mauvais lots sontacceptés
ourejetés rapidement
alors que les lots de
qualité
moyenne demandent uneinspection plus poussée .
DOMAINED’APPLICATION.
Les
plans indiqués
sontapplicables
pour les tests de durée de vie deséquipements
dont la distribution de durée de vie est décrite par la loi expo- nentielle.La vérification de
l’hypothèse
de distributionexponentielle
étant trèsonéreuse,
elle est souvent admise pour des raisonsthéoriques
oud’après l’analyse
des résultats antérieurs.Bien
qu’il
failletoujours
se montrerattentif,
dans l’utilisation desplans décrits,
il y a lieu de remarquer que des écarts peuimportants
parrapport
à la distributionexponentielle
sontacceptables
pour laplupart
desbesoins pratiques
del’industrie.
Un autre
aspect important
de cesplans
est lapossibilité
de leuremploi
soit pour tester une unité à la
fois,
soit pour tester ungrand
nombre d’uni-(1)
IndustrialQuality
Control - VolXVI,
n" 2 -August,
1959.Revue de Statistique Appliquée. 1961 - Vol. IX - N’ 4
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tés en même
temps.
Le choix entre ces deux méthodesdépend
du coût des essais(par
unité ou sur un ensembled’unités)
et des limitationsphysiques.
NOTATIONS.
to =
durée de vieacceptable t 1 =
durée de vieinacceptable
a =
risque
maximum derejeter
unéquipement
dont la durée de vie estsupérieure
ouégale
àta.
P
=risque
maximumd’accepter
unéquipement
dont la durée de vie est inférieure ouégale
àtl.
r = nombre d’unités soumises à l’essai de durée
jusqu’au
moment oùelles sont en panne
(nombre
depannes).
PLANS.
Tous les
plans
sont établis sur la baseto =
1. Parconséquent,
ilspeuvent
êtreemployés
pour une valeurquelconque
deto
enmultipliant
lesfacteurs
k,
donnés dans lestables,
par la valeur deto adoptée.
Le tableau I donne la classification desplans.
Tableau I Classification des Plans
Les
plans
sont calculés pour les trois valeurs durapport tolt1
donnéesci-dessus :
Plan 1
to 1, 5 (voir
tableII)
Plan
2 :t0 t1 = 2 (voir
tableIII)
Plan
3 :t0 t1 = 3 (voir
tableIV)
A
chaque
valeur de cesrapports correspondent
les 9 combinaisons sui- vantes de aet (3
:Revue de Statistique Appliquée. 1961 - Vol. IX - N’ 4
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Chaque plan peut
donc être identifié par un chiffre et unelettre,
parexemple,
Plan 2Asignifie
que lerapport t0/t1 = 2,
a =0, 01 et P = 0, 01 .
D’autre
part,
on doitindiquer
la valeur deto
outl
etspécifier
leplan
sousla forme : Plan 2A
(to =
1000heures)
dont lasignification
estévidente.
On
indique
au bas des colonnes des tablesII,
III et IV les relationsqui permettent
de calculer k pour des valeurs de r non données dans lestables.
Les effectifs moyens des échantillons sont calculés pour 5 valeurs de
t(t = 0, tl,
s,to, ~)
et sontconsignées
dans la table V. Enplus,
unabrégé
de la table V est donné dans la table VI. Les valeurs fournies par les tables V et VI sont des moyennes autour
desquelles
la taille des échantil- lonspeut
fluctuerplus
ou moinslargement.
Les courbes d’efficacité donnent la
probabilité d’accepter
leséquipe-
ments soumis au test. Cette
probabilité dépend
de la moyenne réelle de durée de vie des matériels examinés. La table VII fournit 5points
de lacourbe d’efficacité pour tous les
plans.
CHOIX D’UN
PLAN.
Un
ingénieur
désireux de choisir unplan doit,
enpremier lieu,
décider les valeursto, tl,
aet P qu’il
désire utiliser. Ce choix bien que pas entiè- rementlibre, puisqu’il
est limité aux valeurstabulées,
est assezlarge
pour couvrir les besoins courants. Ces
paramètres
étant fixés onpeut
sereporter
aux tables VI et VII pour déterminerrespectivement
la taille moyenne des échantillons et la courbe d’efficacité.Un
plan ayant
étéadopté,
les valeurs de k des tablesII,
III ouIV,
doivent être
multipliées
parto
pour déterminer les limitesd’acceptation
etde refus pour la durée totale des unités
essayées (durée
totale = durée du 1eréquipement
+ durée du 2eéquipement
+ ... + durée du rèmeéquipe- ment, lorsqu’on
a observé rpannes).
Ces valeurspeuvent
être résumées dans un tableau comme on le verra dansl’exemple
ci-dessous.La durée de vie de
chaque unité,
et les durées de vie cumulées sont notées à mesure que le test sedéveloppe,
cette dernièrequantité
est com-parée
aux limitesd’acceptation
et derefus. Quel
que soit le nombre de pannes(égal
au nombre d’unités soumises àl’essai)
onaccepte
dès que la durée de vie cumulée estsupérieure
à la limited’acceptation,
on refuse dès que la durée de vie cumulée est inférieure à la limite de refus et l’on pour- suit le test si elle a une valeurcomprise
entre ces deux limites.CONSTRUCTION DES
PLANS.
Les
paramètres
desplans
sont les suivants :1) ho
: l’ordonnée àl’origine
de la droited’acceptation 2) hl
: l’ordonnée àl’origine
de la droite de refus3)
s : lapente
des deux droites ci-dessus4) L (t) :
laprobabilité d’acceptation 5) Et(r):
l’effectif moyen del’échantillon.
Ces
paramètres
sont calculésd’après
les formules établies parEpstein
et
Sobel, l’équation
de la droited’acceptation
estho
+ sr, celle de la droite de refus -hl + sr.
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91
TABLE VEffectif moyen de l’échantillon
TABLE VI
Effectif moyen de
l’échantillon(1)
(1)
On doit remarquerqu’on indique
des valeurs moyennes, les tests nécessi- terontplus
ou moinsd’unités.
Le nombre d’essais maximumpeut
atteindre2 à 3 fois les valeurs données dans la
table.
Revue de Statistique Appliquée. 1961 - Vol. IX - N’ 4
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TABLE VII Courbes d’efficacité
L(t)
est déterminé en attribuant à h des valeurs arbitraires et en tirant des relations tpuis L(t).
Exemple -
Dans le test de durée d’unelampe
depuissance,
il a été admisque la durée
acceptable
est 1000 heures et la duréeinacceptable
500 heures . oOn décide d’admetrre les
risques
a =0, 05 et P = 0,
10.D’après
letableau I on doit
appliquer
leplan 2F(to = 1000),
de la table III pour leplan
2F on tire les limites
d’acceptation
et de refus résumées ci-dessous :Revue de Statistique Appliquée. 1961 - Vol. IX - N’ 4
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On peut résumer les résultats des essais
progressifs
sous la formedu tableau VIII ou du
graphique
de lafigure
1.TABLE VIII
Exemple :
Plan 2F(to
1000heures)
(1)
Le test est arrêté et les tubes sontacceptés.
La décision
d’accepter
intervient entre la 10e et la lle panne. Remar- quons que la table III ne donne pas les valeurs dekA
et dekR pour
r =11 ,
elles doivent être calculées
d’après
les relations écrites dans la table III au bas de la colonneF,
pour r =11,
il vient :Revue de Statistique Appliquée. 1961 - Vol. IX - N. 4
94
Figure
1 - Présentationgraphique
du Plan 2F(to
1000h).
Les limites
d’acceptation
et de refus pour r = 11 sont doncrespecti-
vement 9870 heures et 4730 heures.
L’effectif moyen de l’échantillon pour le
plan 2F(tQ =
1000heures) d’après
la table VI est 12. La courbequi
traduit la variation de l’effectif moyenéchantillonné, représentée
dans lafigure 2,
est déterminé par les 5points
donnés dans la table V pour leplan
2F. On obtient :Durée moyenne de Effectif moyen de la
population
l’échantillon(to
1000heures)
0 0 heure
5, 0
0, 500 to
500 heures12,3
0, 693 t0
693 heures13,6
to
1000 heures6, 5
00 Co 0
Figure
2 - Effectif moyen de l’échantillon pour leplan
2F(t =
1000h).
oRevue de Statistique Appliquée. 1961 - Vol. IX - N* 4
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La courbe d’efficacité du
plan 2F(t0 =
1000heures)
est donnée dans lafigure 3.
Cette courbe est connue par les 5points
donnés dans la table VII pour leplan
2F. On a :Durée moyenne de Probabilité la
population d’acceptation
(t 0
= 1000heures)
dacceptation
0 0 heure 0
0, 500 t o
500 heures0,10 0, 693 t o
693 heures0, 56 2
t o
1000 heures0,95
ao 00
1, 0 0
Figure
3 - Courbe d’efficacité duplan
2F(to =
1000h).
REMERCIEMENTS.
L’auteur
exprime
ses remerciements à MmeMary
R. Kulin pour son aide dans lapréparation
des tables et desgraphiques.
REFERENCES
[1] -
WALDA. - Sequential Analysis,
JOHN WILEY andSONS, Inc,
New-York 1957.
[2] - EPSTEIN
B. and SOBEL M. -"Sequential
Life Tests in theExponential
Case",
Annals of MathematicalStatistics,
Vol. 26(1955),
p. 82-93.[3] - DAVIS
D. J. -"An Analysis
of Some FailureData",
Journal of the American StatisticalAssociation,
47(1952),
p. 113-150.Revue de Statistique Appliquée. 1961 - Vol. IX - N’ 4