Chambre de diffraction X pour examens en retour et sous incidence variable

(1)

HAL Id: jpa-00234971

https://hal.archives-ouvertes.fr/jpa-00234971

Submitted on 1 Jan 1954

HAL is a multi-disciplinary open access archive for the deposit and dissemination of sci- entific research documents, whether they are pub- lished or not. The documents may come from teaching and research institutions in France or abroad, or from public or private research centers.

L’archive ouverte pluridisciplinaire HAL, est destinée au dépôt et à la diffusion de documents scientifiques de niveau recherche, publiés ou non, émanant des établissements d’enseignement et de recherche français ou étrangers, des laboratoires publics ou privés.

Chambre de diffraction X pour examens en retour et sous incidence variable

René Bernard, Raymond Rivière

To cite this version:

René Bernard, Raymond Rivière. Chambre de diffraction X pour examens en retour et sous incidence

variable. J. Phys. Radium, 1954, 15 (6), pp.495-496. �10.1051/jphysrad:01954001506049501�. �jpa-

00234971�

(2)

495 de Z2, ^la ^somme des nombres de bandes passantes

et de bandes atténuées du filtre sera :

Si pour ûne fréquence autre que zéro ôu l’infini : 10 xi (ou x2) ^{est nul} ên ^même temps que z2, ûn’

zéro de Zl ^coïncide ^avec ^un ^{zéro de} Z2;

20 x est nul alors que z2 ^est infini, ^un ^{zéro de} Zl

coïncide avec un pôle ^de Z2;

3o xi (ou x2) êst înfini ên ^même temps z2, ûn pôle

de Zl ^coïncide ^avec ^un pôle ^de Z2;

40 x êst nul, ôu xi êt X2 ^sont simultanément infinis alors que z2 êst nul, ûn pôle’ ^de Zi ^coïncide âvec ûn

zéro de Z2.

Chaque fois le nombre n, diminue de deux unités.

La figure

²

^donne ^des exemples de réductions.

Elle a été tracée pour le ^cas où Xi ^est ^une inductance,

et Y et X2 des circuits antirésonnants accordés sur

la même fréquence. Ici ai

⁼

4, ⁿ

⁼

^3.

Un treillis où Xi ^diffère ^de X2 ^est ^moins général

que le treillis canonique. ^En particulier, ^comme ^l’a

montré M. Leroy [2], îl ^ne peut ^réaliser ûn déphaseur (en anglais : allpass). ^Par contre, quand îl êst ûtili- sable, îl exige ^souvent ^moins d’éléments que ^le treillis

canonique équivalent. ^Nous ^avons ^donné quelques exemples [3] ^de ^cette possibilité d’économie, qui ^a

été étudiée de façon ^très complète par M. Leroy [2].

Manuscrit reçu le 24 ^février 1954.

[1] ^{COTTE M.}

^-

Demande de brevet français déposée ^le

19 mai 1945,

^sous

^le ^n° provisoire ^498.877.

[2] ^{LEROY R.}

^-

Les cellules symétriques

^en

^treillis

^{non cano-}

niques. Câbles et Transmissions, ^6e année, 1952, ^n° 3,

193-210.

[3] ^{COTTE M.}

²⁰¹⁴

Demande de brevet français déposée ^le

8 mai 1946,

^sous

^le ^n° provisoire ^514.861.

CHAMBRE DE DIFFRACTION X POUR EXAMENS EN RETOUR ET SOUS INCIDENCE VARIABLE Par René BERNARD et Raymond ^RIVIÈRE.

La chambre de Debye-Scherrer classique ^se prête

mal à l’étude d’échantillons massifs non pulvérisés.

En effet, ^cette chambre conçue pour l’examen des

préparations ^en ^forme d’aiguille ^de ^faible diamètre, donne, ^en retour, dès que ^la surface de l’échantillon est appréciable, ^des ^raies floues parce que ^non foca- lisées.

L’angle de diffraction de Bragg 0 ^est donné par

c’est-à-dire que l’erreur od commise ^sur la mesure de la maille cristalline s’exprime par

et que l’erreur relative

est minimum pour les valeurs élevées de ^0. De plus,

la valeur de 0 résulte d’une mesure de position ^effectuée

sur le film et l’erreur 10 qu’elle entraîne est encore

d’autant plus petite que ⁰ ^est plus grand. Deux raisons

Fig.

^i.

qui ^militent ^en faveur de l’utilisation d’angles ^voisins

de 90°, diagrammes ^en ^retour.

Pour travailler sous de tels angles ^avec ^{des échan-} tillons non pulvérisés, ^la méthode Seeman-Bohlin est intéressante car elle permet de focaliser toutes les raies sur le film. Dans cette technique, ^{la fente} ^ou

le foyer ^du monochromateur, l’échantillon et le film sont placés ^sur ^un ^même ^cercle ( fig. I). Cette condition

remplie, ^la surface irradiée de l’échantillon peut ^être augmentée ^sans ^nuire ^à la finesse des raies tout en

permettant ^une réduction du temps de pose.

Une chambre à film plan, ^{facile à} construire, ^sufii-

rait pour réaliser des diagrammes ^en ^retour symé- triques, ^mais ^nous ^voulions ^nous réserver la possi-

bilité de travailler également ^sous ^des ^incidences

Fig. 2.

comprises entre go et 45°. Cette chambre est en effet destinée à l’examen d’alliages très absorbants et pour

lesquels ^une incidence de 45° suffit pour l’étude des couches superficielles ^ou des reliefs laissés en surface par des attaques sélectives. De plus, ^deux équations

Article published online by EDP Sciences and available at http://dx.doi.org/10.1051/jphysrad:01954001506049501

(3)

496 et par suite ^deux angles d’incidence différents sont nécessaires, ^si l’on veut calculer ^les tensions de pre- mière espèce existant dans le volume irradié.

Ces considérations nous ont amenés à réaliser une’

Fig. 3.

chambre de forme cylindrique. ^{Le film} ^est appliqué

sur la surface extérieure d’un cylindre ^{de laiton}

de 57,3 ^mm ^de ^diamètre qui peut tourner autour d’une génératrice verticale 0. (fig. I). ^Le support ^de

la fente d’entrée E (2/Ioe mm) ^est ^mobile ^sur ^un ^dia-

mètre de la plate-forme portant ^la chambre, ^{de telle}

sorte que cette fente reste toujours ^sur ^le cylindre quelle que soit la position ^de ^travail adoptée. ^L’échan-

tillon est fixé dans une petite coupelle mobile dont la

tige cylindrique peut coulisser le long ^de ^{l’axe du} porte-préparation ^tournant (fige 2). ^Ce dispositif permet d’amener facilement la surface plane ^de

l’échantillon en contact avec le plan tangent ^au cylindre. ^La ^{vis V} bloque ^la tige ^{dans la} position

ainsi définie. Le porte-objet ^étant amovible, ^on peut changer facilement l’échantillon au cours d’une pose et superposer ^ainsi plusieurs spectres ^de comparaison.

Des raisons mécaniques ^nous ^ont fait limiter l’inci- dence à 45D si bien que pour ^cette position extrême,

les angles ^de diffraction observables 0 sont compris

entre 90 et 32°. Dans la position ^en ^retour symétrique,

les angles ⁰ observables vont d’un côté de _go à 67°,

de l’autre _{de 90} à 550.

Le cylindre porte-film ^a été taillé dans un bloc de laiton parallélépipédique ^{à base} carrée, largement

évidé pour permettre le passage des rayons, mais dont la rigidité ^est garantie, par deux entretoises A

(fif. 3).

La chambre elle-même est solidaire de la plate-

forme P sur laquelle êlle pivote; êlle reprend âuto- matiquement ^sa place ^{sur un} statif à colonnes grâce

à trois vis-pointeaux réglées ^une ^fois pour ^toutes.

Fig. 4.

Fig. 5.

La rotation de la préparation ^est assurée par ^un micromoteur attaquant directement le porte-échan-

tillon et soutenu par ^un bras orientable B (fig. 3) ^lui permettant d’accompagner la chambre dans tous ses

Chambre de diffraction X pour examens en retour et sous incidence variable

HAL Id: jpa-00234971

https://hal.archives-ouvertes.fr/jpa-00234971

Submitted on 1 Jan 1954

HAL is a multi-disciplinary open access archive for the deposit and dissemination of sci- entific research documents, whether they are pub- lished or not. The documents may come from teaching and research institutions in France or abroad, or from public or private research centers.

L’archive ouverte pluridisciplinaire HAL, est destinée au dépôt et à la diffusion de documents scientifiques de niveau recherche, publiés ou non, émanant des établissements d’enseignement et de recherche français ou étrangers, des laboratoires publics ou privés.

Chambre de diffraction X pour examens en retour et sous incidence variable

René Bernard, Raymond Rivière

To cite this version:

René Bernard, Raymond Rivière. Chambre de diffraction X pour examens en retour et sous incidence

variable. J. Phys. Radium, 1954, 15 (6), pp.495-496. �10.1051/jphysrad:01954001506049501�. �jpa-

00234971�

495 de Z2, la somme des nombres de bandes passantes

et de bandes atténuées du filtre sera :

Si pour une fréquence autre que zéro ou l’infini : 10 xi (ou x2) est nul en même temps que z2, un’

zéro de Zl coïncide avec un zéro de Z2;

20 x est nul alors que z2 est infini, un zéro de Zl

coïncide avec un pôle de Z2;

3o xi (ou x2) est infini en même temps z2, un pôle

de Zl coïncide avec un pôle de Z2;

40 x est nul, ou xi et X2 sont simultanément infinis alors que z2 est nul, un pôle’ de Zi coïncide avec un

zéro de Z2.

Chaque fois le nombre n, diminue de deux unités.

La figure

donne des exemples de réductions.

Elle a été tracée pour le cas où Xi est une inductance,

et Y et X2 des circuits antirésonnants accordés sur

la même fréquence. Ici ai

4, n

3.

Un treillis où Xi diffère de X2 est moins général

que le treillis canonique. En particulier, comme l’a

montré M. Leroy [2], il ne peut réaliser un déphaseur (en anglais : allpass). Par contre, quand il est utili- sable, il exige souvent moins d’éléments que le treillis

canonique équivalent. Nous avons donné quelques exemples [3] de cette possibilité d’économie, qui a

été étudiée de façon très complète par M. Leroy [2].

Manuscrit reçu le 24 février 1954.

[1] COTTE M.

Demande de brevet français déposée le

19 mai 1945,

le n° provisoire 498.877.

[2] LEROY R.

Les cellules symétriques

treillis

niques. Câbles et Transmissions, 6e année, 1952, n° 3,

193-210.

[3] COTTE M.

Demande de brevet français déposée le

8 mai 1946,

le n° provisoire 514.861.

CHAMBRE DE DIFFRACTION X POUR EXAMENS EN RETOUR ET SOUS INCIDENCE VARIABLE Par René BERNARD et Raymond RIVIÈRE.

La chambre de Debye-Scherrer classique se prête

mal à l’étude d’échantillons massifs non pulvérisés.

En effet, cette chambre conçue pour l’examen des

préparations en forme d’aiguille de faible diamètre, donne, en retour, dès que la surface de l’échantillon est appréciable, des raies floues parce que non foca- lisées.

L’angle de diffraction de Bragg 0 est donné par

c’est-à-dire que l’erreur od commise sur la mesure de la maille cristalline s’exprime par

et que l’erreur relative

est minimum pour les valeurs élevées de 0. De plus,

la valeur de 0 résulte d’une mesure de position effectuée

sur le film et l’erreur 10 qu’elle entraîne est encore

d’autant plus petite que 0 est plus grand. Deux raisons

Fig.

qui militent en faveur de l’utilisation d’angles voisins

de 90°, diagrammes en retour.

Pour travailler sous de tels angles avec des échan- tillons non pulvérisés, la méthode Seeman-Bohlin est intéressante car elle permet de focaliser toutes les raies sur le film. Dans cette technique, la fente ou

le foyer du monochromateur, l’échantillon et le film sont placés sur un même cercle ( fig. I). Cette condition

remplie, la surface irradiée de l’échantillon peut être augmentée sans nuire à la finesse des raies tout en

permettant une réduction du temps de pose.

Une chambre à film plan, facile à construire, sufii-

rait pour réaliser des diagrammes en retour symé- triques, mais nous voulions nous réserver la possi-

bilité de travailler également sous des incidences

Fig. 2.

comprises entre go et 45°. Cette chambre est en effet destinée à l’examen d’alliages très absorbants et pour

lesquels une incidence de 45° suffit pour l’étude des couches superficielles ou des reliefs laissés en surface par des attaques sélectives. De plus, deux équations

Article published online by EDP Sciences and available at http://dx.doi.org/10.1051/jphysrad:01954001506049501

496

et par suite deux angles d’incidence différents sont nécessaires, si l’on veut calculer les tensions de pre- mière espèce existant dans le volume irradié.

Ces considérations nous ont amenés à réaliser une’

Fig. 3.

chambre de forme cylindrique. Le film est appliqué

495 de Z2, ^la ^somme des nombres de bandes passantes

Si pour ûne fréquence autre que zéro ôu l’infini : 10 xi (ou x2) ^{est nul} ên ^même temps que z2, ûn’

zéro de Zl ^coïncide ^avec ^un ^{zéro de} Z2;

20 x est nul alors que z2 ^est infini, ^un ^{zéro de} Zl

coïncide avec un pôle ^de Z2;

3o xi (ou x2) êst înfini ên ^même temps z2, ûn pôle

de Zl ^coïncide ^avec ^un pôle ^de Z2;

40 x êst nul, ôu xi êt X2 ^sont simultanément infinis alors que z2 êst nul, ûn pôle’ ^de Zi ^coïncide âvec ûn

^donne ^des exemples de réductions.

Elle a été tracée pour le ^cas où Xi ^est ^une inductance,

4, ⁿ

^3.

Un treillis où Xi ^diffère ^de X2 ^est ^moins général

que le treillis canonique. ^En particulier, ^comme ^l’a

montré M. Leroy [2], îl ^ne peut ^réaliser ûn déphaseur (en anglais : allpass). ^Par contre, quand îl êst ûtili- sable, îl exige ^souvent ^moins d’éléments que ^le treillis

canonique équivalent. ^Nous ^avons ^donné quelques exemples [3] ^de ^cette possibilité d’économie, qui ^a

été étudiée de façon ^très complète par M. Leroy [2].

Manuscrit reçu le 24 ^février 1954.

[1] ^{COTTE M.}

Demande de brevet français déposée ^le

^le ^n° provisoire ^498.877.

[2] ^{LEROY R.}

^treillis

niques. Câbles et Transmissions, ^6e année, 1952, ^n° 3,

[3] ^{COTTE M.}

Demande de brevet français déposée ^le

^le ^n° provisoire ^514.861.

CHAMBRE DE DIFFRACTION X POUR EXAMENS EN RETOUR ET SOUS INCIDENCE VARIABLE Par René BERNARD et Raymond ^RIVIÈRE.

La chambre de Debye-Scherrer classique ^se prête

En effet, ^cette chambre conçue pour l’examen des

préparations ^en ^forme d’aiguille ^de ^faible diamètre, donne, ^en retour, dès que ^la surface de l’échantillon est appréciable, ^des ^raies floues parce que ^non foca- lisées.

L’angle de diffraction de Bragg 0 ^est donné par

c’est-à-dire que l’erreur od commise ^sur la mesure de la maille cristalline s’exprime par

est minimum pour les valeurs élevées de ^0. De plus,

la valeur de 0 résulte d’une mesure de position ^effectuée

d’autant plus petite que ⁰ ^est plus grand. Deux raisons

qui ^militent ^en faveur de l’utilisation d’angles ^voisins

de 90°, diagrammes ^en ^retour.

Pour travailler sous de tels angles ^avec ^{des échan-} tillons non pulvérisés, ^la méthode Seeman-Bohlin est intéressante car elle permet de focaliser toutes les raies sur le film. Dans cette technique, ^{la fente} ^ou

le foyer ^du monochromateur, l’échantillon et le film sont placés ^sur ^un ^même ^cercle ( fig. I). Cette condition

remplie, ^la surface irradiée de l’échantillon peut ^être augmentée ^sans ^nuire ^à la finesse des raies tout en

permettant ^une réduction du temps de pose.

Une chambre à film plan, ^{facile à} construire, ^sufii-

rait pour réaliser des diagrammes ^en ^retour symé- triques, ^mais ^nous ^voulions ^nous réserver la possi-

bilité de travailler également ^sous ^des ^incidences

lesquels ^une incidence de 45° suffit pour l’étude des couches superficielles ^ou des reliefs laissés en surface par des attaques sélectives. De plus, ^deux équations

et par suite ^deux angles d’incidence différents sont nécessaires, ^si l’on veut calculer ^les tensions de pre- mière espèce existant dans le volume irradié.

chambre de forme cylindrique. ^{Le film} ^est appliqué

sur la surface extérieure d’un cylindre ^{de laiton}

de 57,3 ^mm ^de ^diamètre qui peut tourner autour d’une génératrice verticale 0. (fig. I). ^Le support ^de

la fente d’entrée E (2/Ioe mm) ^est ^mobile ^sur ^un ^dia-

mètre de la plate-forme portant ^la chambre, ^{de telle}

sorte que cette fente reste toujours ^sur ^le cylindre quelle que soit la position ^de ^travail adoptée. ^L’échan-

tige cylindrique peut coulisser le long ^de ^{l’axe du} porte-préparation ^tournant (fige 2). ^Ce dispositif permet d’amener facilement la surface plane ^de

l’échantillon en contact avec le plan tangent ^au cylindre. ^La ^{vis V} bloque ^la tige ^{dans la} position

ainsi définie. Le porte-objet ^étant amovible, ^on peut changer facilement l’échantillon au cours d’une pose et superposer ^ainsi plusieurs spectres ^de comparaison.

Des raisons mécaniques ^nous ^ont fait limiter l’inci- dence à 45D si bien que pour ^cette position extrême,

les angles ^de diffraction observables 0 sont compris

entre 90 et 32°. Dans la position ^en ^retour symétrique,

les angles ⁰ observables vont d’un côté de _go à 67°,

de l’autre _{de 90} à 550.

Le cylindre porte-film ^a été taillé dans un bloc de laiton parallélépipédique ^{à base} carrée, largement

évidé pour permettre le passage des rayons, mais dont la rigidité ^est garantie, par deux entretoises A

forme P sur laquelle êlle pivote; êlle reprend âuto- matiquement ^sa place ^{sur un} statif à colonnes grâce

à trois vis-pointeaux réglées ^une ^fois pour ^toutes.

La rotation de la préparation ^est assurée par ^un micromoteur attaquant directement le porte-échan-

tillon et soutenu par ^un bras orientable B (fig. 3) ^lui permettant d’accompagner la chambre dans tous ses

La figure ³ ^donne ^une idée de la réalisation méca-

bonne _qualité ^des diagrammes ^obtenus ^sous ^inci-

dence normale ( fig. 4), ^ou ^sous ^45° (fig. 5).

Manuscrit reçu le 7 ^avril 1954.