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MOSFET canal N.

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Academic year: 2021

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Texte intégral

(1)

Electronique intégrée Transistor MOS

www.emse.fr/~dutertre/enseignement.html - 2009 1

MOSFET canal N.

G

D

S

i

D

v

DS

v

GS

(a) NMOS (vSB=0)

G

D

S B

(b) NMOS

G

D

S B

(c) NMOS Symboles du MOSFET canal N (NMOS) – D : drain, G : grille, S : source, B : substrat (body)

(a) symbole simplifié lorsque la source est directement connectée au substrat (vSB=0) (b) symbole usuel complet (pour vSB≠0)

(c) symbole normalisé

Transistor bloqué

vGS ≤ 0 ⇒ iD = 0

Inversion faible

VOV≤ 0 ( vGS≤ Vtn ) ⇒ iD≈0 Inversion forte, régime triode

VOV ≥ 0 ( vGS ≥ Vtn ) et vDS ≤ VOV ⇒ iD = k'n.(W/L).[( vGS - Vtn ).vDS – vDS2

/ 2 )]

Inversion forte, régime saturé

VOV ≥ 0 et vDS ≥ VOV ⇒ iD = 1/2.k'n.(W/L).( vGS - Vtn )2.( 1 + λ.vDS ) Avec :

Vtn tension de seuil du NMOS [V]

VOV = vGS -Vtn tension d’overdrive [V]

k'n = µn.Cox facteur de gain du NMOS [A/V2]

µn mobilité des électrons [cm2/Vs]

Cox capacité surfacique de grille [F/m2]

W largeur de grille du transistor [µm]

L longueur de grille du transistor [µm]

λ = 1/VA modulation de la longueur du canal [V-1]

VA tension d’Early 1 [V]

1 Attention, il s’agit là d’un abus de langage, le phénomène physique de modulation de la longueur du canal est différent de l’effet Aerly mis en évidence par J.M. Early dans les transistors bipolaires.

on a toujours :

i

G

= 0

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Electronique intégrée Transistor MOS

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Modélisation petits signaux (régime saturé, vgs<<2.VOV, basse fréquence) :

G

vgs

D

S

gm.vgs r0 id G

vgs

D

S

gm.vgs id

ig= 0 ig= 0

gm.vgs

G ig= 0

D

1 / gm

S vgs

gm.vgs

G ig= 0

D

1 / gm

S vgs

r0

( a ) ( b )( b )

( c ) ( d )

(a) modèle p.s. NMOS, (b) incluant la résistance de sortie, (c) (d) modèle en T

gm = ( ∂iD/∂vGS )vDS=cte transconductance du transistor [A/V]

gm = k'n.(W/L).( VGS – Vtn ) gm = 2ID / (VGS – Vtn )

(avec VGS la tension grille-source de polarisation et ID le courant de polarisation)

r0 = ( ∂vDS/∂iD )vGS=cte résistance de sortie [Ω]

r0 = 1 / (λ.ID ) = VA / ID Effet de substrat (body effect) :

G vgs

D

S

gm.vgs r0

id ig= 0

gmb.vbs

B vbs

Prise en compte du body effect dans le modèle p.s.

gmb = χ. gm [A/V]

χ de l'ordre de 0,1 à 0,3

Tension de seuil :

(

f SB f

)

t

t V V

V = 02φ + − 2φ

les paramètres du modèle p.s. dépendent du point de polarisation

B : "2ème grille"

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Electronique intégrée Transistor MOS

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Divers :

Cox = εox/tox tox épaisseur de l’oxyde de grille

ε0 = 8,854.10-12 [F/m] εox = 3,9. ε0 εSi = 11,7. ε0 q = 1,60.10-19 [C]

Géométrie NMOS :

substrat p n+

n+

zone du canal W

L

S G

D

substrat p n+

n+

zone du canal W

L L

S G

D

substrat de type p ( body / bulk )

n+ n+

p+

Metal ( Poly Si ) Oxyde ( SiO2) Semiconductor Source ( S ) Grille ( G ) Drain ( D )

Body ( B )

Métal

"canal"

L

MOSFET canal P

G

S

D iD

vSD vSG

G

D S

B

Symboles usuel et complet du PMOS.

Equations : remplacer vDS par vSD, vGS par vSG, Vtn par -Vtp (pour les PMOS Vtp < 0) et k'n par k'p. On remarquera que le courant iD est pris entrant par le drain D pour le NMOS et sortant par le drain pour le PMOS.

Précision des équations :

Les équations données dans cette fiche de rappel sont une modélisation au 1er ordre du comportement des MOS, c'est-à-dire qu’elles sont relativement inexactes. Leur rôle est de permettre un calcul manuel approché, le recours à un logiciel de simulation (type Spice) permet d’obtenir des résultats plus exacts.

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