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Submitted on 1 Jan 1956
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Calcul des courbes de résolution des systèmes de coincidence utilisant des détecteurs à scintillation
L. Dick, R. Foucher, N. Perrin, H. Vartapetian
To cite this version:
L. Dick, R. Foucher, N. Perrin, H. Vartapetian. Calcul des courbes de résolution des systèmes de coincidence utilisant des détecteurs à scintillation. J. Phys. Radium, 1956, 17 (7), pp.583-584.
�10.1051/jphysrad:01956001707058300�. �jpa-00235480�
583.
CALCUL DES COURBES DE RÉSOLUTION DES SYSTÈMES DE COINCIDENCE UTILISANT DES DÉTECTEURS A SCINTILLATION
par MM. L. DICK, R. FOUCHER, N. PERRIN et H. VARTAPETIAN,
Laboratoire Curie, Institut du Radium.
Sommaire. 2014 On calcule, en tenant compte des fluctuations du temps de transit et du temps d’apparition du premier photoélectron dans le photomultiplicateur, les courbes de résolution d’un
système de coïncidence du type lent-rapide. Comparaison avec l’expérience.
Abstract. 2014 Theoritical shapes of resolution curves for slow-fast coincidence circuits are calcu- lated taking into account fluctuations in transit time and delay in the apparition of the first photo-
electron in photomultiplier tube. Comparison with experimental results.
LE JOURNAL DE PHYSIQUE ET LE RADIUM TOME 17, JUILLET 1956,
Nous avons publié [1] les formules qui donnent
la courbe de résolution .P(tn ; At) de deux détec- teurs à scintillation reliés à un circuit de coïnci- dence sans tenir compte des fluctuations du temps
de transit des électrons dans le photomultipli-
cateur et de l’électronique. Ces courbes se dé- composent en plusieurs fonctions exponentielles
et un rectangle ( fig. 1 de I). Lorsqu’on introduit
FIG. 1.
ces fluctuations dans le calcul, on obtient P(4 At,,Atf) et nous avons donné quelques exemples surtla figure 2 de I. Pour obtenir ces courbes, on
peut opérer sur les différentes fonctions qui repré-
sentent (p(tn ; At). Si l’on admet que les fluctua- tions sont représentées sur chaque voie par des rec-
tangles de largeur Atf, la fonction qui représente
les fluctuations sur le circuit de coïncidence sera un triangle T (tn ; Atf) dont la largeur à demi-
hauteur est Atf. Pour calculer P(tn ; At. Asti), on
calcule séparément les produits de composition des
fonctions p(tn r) =
exp (2013-tn)
et du rectangle delargeur 2At de P(tn ;
’e
T(% ; Atf), on
aura :
largeur 2At de P(t4 ; at) avec T(ta ; At f ), on aura :
On obtient (fig. 1)
Pour le produit de composition du rectangle de largeùr 2àt avec 7(tn ; Atf), on considère 2 fonc-
tions + 1 et - 1. On obtient pour chacune d’elles 2 arcs inversés de parabole dont les som-
met sont à ± Atf avec les équations (fig. 1).
Pour obtenir la courbe de résolution P(tn, A ;t Asti), on recompose graphiquement les différentes fonctions avec leurs coefficients pris dans P(tn ; At) figure 1. La courbe 1 de la figure 2 de 1 montre l’importance des fluctuations sur le rendement de coincidence si 1:a « Tb et At 1:b.
Sur la figure 2 on a les points expérimentaux
d’une mesure en coïncidence différée de 2 rayon- nements y de 510 keV et 122 keV, détectés avec
INa et photomultiplicateur EMI 6 262, émis simul- tanément (22Na) et avec une période de
T1/2 = (4 + 0,3) .10-g .sec. (niveau de 122 keV
du 131Cs) [2]. Les courbes ont été calculées avec les
formules précédentes.
On sait que Ta et 1:b dépendent du nombre de photoélectrons k libérés à la photacathode et de la
vie moyenne de la scintillation [3]
Les paramètres k, dt et Atf peuvent être déter-
Article published online by EDP Sciences and available at http://dx.doi.org/10.1051/jphysrad:01956001707058300
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minés sur une courbe de résolution de coïncidencé mesurée dans différentes conditions expérimentales.
Pour k : par la pente d’une des branches de la courbe si
FIG. 2.
Pour At : demi-largeur à demi-hauteur de la courbe si Ta = Ta et
P(t,n ; At, Atf > 0,95 c’est-à-dire At > Atf 3To = 3’t’b At et Pour Atf : a) Mesure de P max. (tn ; At, àtf) en
fonction de At pour
b) Mesure de la forme de la courbe de résolution pour
La fonction rectangulaire qui représente les
fluctuations se justifie en première approximation.
Pour obtenir une représentation très précise des
courbes de résolution, il faudra peut-être choisir
des fonctions mieux adaptées, par exemple, pour
chaque voie, un triangle ou une courbe de Gauss.
On retrouve la relation de Z. Bay [4] pour déter- miner Tx si l’on calcule le moment du premier
ordre de la surface :
Na = nombre total de coïncidences d’où
De ces calculs, on peut déduire les conditions
optimum de fonctionnement d’un système de
coïncidence.
La mesure des périodes courtes des niveaux excités des noyaux n’exige absolument pas que At soit très petit. Le paramètre le plus important est Atf qui conditionne les pentes des 2 branches des courbes et doit être le plus petit possible et ’t’a,
Tb, Tx seront choisis aussi petits que possible sui-
vant les conditions d’expérience.
Pour les compteurs Cerenkov, la courbe de réso-
lution Ta = ’rb = ro = 0 est représentée par la
courbe, figure 2.
La détermination de Ot est importante pour la
mesure des intensités ou des rendements de coïnci- dence puisque la surface de la courbe de résolution est S = 2At.Nc (Na = nombre total de coïnci-
dence).
La méthode d’auto-comparaison des courbes en
faisant tn et - tn proposée par Bell et al. [5]
peut avantageusement être utilisée avec le calcul des courbes. Nous avons utilisé les courbes de résolution calculées pour obtenir les rendements de coïncidence lors de la détermination du coeffi- cient de conversion [6] et dans l’analyse de la
courbe de coïncidence différée oc - y (27 keV) de
231Pa ---> 227Ac .
BIBLIOGRAPHIE [1] DICK (L.), FOUCHER (R.), PERRIN (N.), VARTAPETIAN
(H.), C. R. Acad. Sc., 1956, 242, 1880. Dans la suite du texte, on notera cette référence I.
[2] VARTAPETIAN (H.), DICK (L.), FOUCHER (R.), PERRIN (N.), C. R. Acad. Sc., 1956, 242,103.
[3] POST (R. F.), SCHIFF (L. I.), Phys. Rev., 1950, 80,1113.
[4] BAY (Z.), Phys. Rev., 1950, 77, 419.
[5] BELL (R. E.), GRUHAM (R. L.), PETCH (H. F.), Canad.
J. Physique, 1952, 39. 35.
[6] PERRIN (N.), DICK (L.), FOUCHER (R.), VARTAPETIAN
(H.), J. Physique Rad. (dans ce numéro), p. 539.
[7] FOUCHER (R.), DICK (P.), PERRIN (N.), VARTAPETIAN
(H.), J. Physique Rad. (dans ce numéro), p. 581.