HAL Id: jpa-00208304
https://hal.archives-ouvertes.fr/jpa-00208304
Submitted on 1 Jan 1975
HAL is a multi-disciplinary open access archive for the deposit and dissemination of sci- entific research documents, whether they are pub- lished or not. The documents may come from teaching and research institutions in France or abroad, or from public or private research centers.
L’archive ouverte pluridisciplinaire HAL, est destinée au dépôt et à la diffusion de documents scientifiques de niveau recherche, publiés ou non, émanant des établissements d’enseignement et de recherche français ou étrangers, des laboratoires publics ou privés.
Étude par diffraction des rayons X aux petits angles du polymorphisme smectique du di-(p,
n-octadécyloxybenzylidèneamino)-4,4’-diphényle
D. Guillon, A. Mathis, A. Skoulios
To cite this version:
D. Guillon, A. Mathis, A. Skoulios. Étude par diffraction des rayons X aux petits angles du polymor-
phisme smectique du di-(p, n-octadécyloxybenzylidèneamino)-4,4’-diphényle. Journal de Physique,
1975, 36 (7-8), pp.695-700. �10.1051/jphys:01975003607-8069500�. �jpa-00208304�
ÉTUDE PAR DIFFRACTION DES RAYONS X AUX PETITS ANGLES
DU POLYMORPHISME SMECTIQUE
DU DI-(p, n-OCTADÉCYLOXYBENZYLIDÈNEAMINO)-4,4’-DIPHÉNYLE
D. GUILLON, A. MATHIS et A. SKOULIOS
C.N.R.S., Centre de Recherches sur les Macromolécules, 6, rue Boussingault, 67083 Strasbourg-Cedex, France
(Reçu le Il février 1975, accepté le 6 mars 1975)
Résumé.
2014Au moyen de la diffraction des rayons X aux petits angles, on a étudié le polymorphisme smectique du di-(p, n-octadécyloxybenzylidèneamino)-4,4’-diphényle. On a déterminé les tempéra-
tures de transition et mesuré la variation de l’épaisseur des couches smectiques en fonction de la
température. En combinant ces résultats avec ceux précédemment acquis par dilatométrie, on a
calculé de façon directe la surface des molécules dans le plan des lamelles.
On a suggéré, premièrement, que lors de l’apparition des phases smectiques à partir de l’état cristallin, les chaînes aliphatiques fondent seules, les tronçons aromatiques ne fondant à leur tour que lors de l’apparition de la dernière phase smectique ; deuxièmement, que les tronçons aromatiques
s’inclinent brusquement sur le plan des lamelles dès l’apparition des phases smectiques, leur incli- naison ne variant guère par la suite ; et troisièmement, que le polymorphisme smectique n’est dû qu’au changement d’organisation des molécules à l’intérieur des couches aromatiques.
Abstract.
2014The smectic polymorphism of di-(p, n-octadecyloxybenzylideneamino)-4,4’-diphenyl
has been studied by small angle X-ray diffraction. The transition temperatures have been determined and the variation in thickness of the smectic layers has been measured as a function of temperature.
By combining these results with those previously obtained by dilatometry, the surface occupied by
one molecule in the plane of the layers has been directly calculated.
First, it has been suggested that, at the formation of the mesophases from the crystal, only the aliphatic chains melt. While the aromatic parts melt in turn at the last smectic-smectic transition.
Second, that the aromatic parts suddenly tilt as soon as the first transition occurs. With the tilt angle remaining constant thereafter. Third, that the smectic polymorphism is only due to the change of
molecular organization within the aromatic layers.
Classification
Physics Abstracts
7.130
1. Introduction.
-Dans une note récente [1], nous
avons décrit les résultats obtenus dans une étude
dilatométrique d’un smectogène comportant de lon- gues chaînes aliphatiques, à savoir le di-(p, n-octa- décyloxybenzylidèneamino)-4,4’-diphényle :
Cette étude nous a permis, non seulement de
mettre en évidence les transitions polymorphiques
que subit ce corps, tant par élévation de température
que par refroidissement, mais aussi de déterminer
avec une bonne précision l’évolution de son volume
spécifique en fonction de la température. L’analyse
de nos observations nous a amenés à faire deux
constatations. D’une part, la variation de volume
spécifique associée à chaque transition entre phases smectiques n’est pas discontinue comme pour une transition de première espèce, mais sigmoïdale et
réversible. D’autre part, la première transition, celle qui correspond au passage de la phase cristalline à la
première phase smectique, présente une forte hysté-
résis. Nous avons suggéré que ce phénomène est lié
à la fusion des chaînes aliphatiques seules, les tron-
çons aromatiques, eux, restant à l’état cristallin ou
du moins, dans un état fortement organisé, jusqu’à
une température beaucoup plus élevée.
Dans le présent article, nous décrirons les résultats
que nous venons d’obtenir dans l’étude de ce même
smectogène au moyen de la diffraction des rayons X
aux petits angles de Bragg. Dans ce travail, notre
but est, non pas de résoudre complètement la structure
cristalline des phases mésomorphes rencontrées, mais de déterminer simplement certaines modifications
,d’ordre structural qui accompagnent les transitions,
Article published online by EDP Sciences and available at http://dx.doi.org/10.1051/jphys:01975003607-8069500
696
comme la modification de l’épaisseur des couches smectiques ou de l’aire moléculaire dans le plan des lamelles, dont la connaissance est de nature à faci- liter la compréhension du polymorphisme smectique.
2. Technique expérimentale.
-Pour les expériences
de diffraction, nous nous sommes servis d’une chambre
à focalisation de type Guinier, dotée d’un monochro-
-mateur à lame de quartz courbée, opérant sous vide
et utilisant le rayonnement Kal du cuivre. Un examen
préliminaire de l’échantillon nous a montré que, lors de certaines transitions, le changement d’épaisseur
des couches smectiques est beaucoup trop faible pour être décelé, et analysé avec profit, de la manière
habituelle, c’est-à-dire au moyen d’une petite série
de diagrammes de diffraction enregistrés à diverses températures régulièrement espacés. Seul un traite-
ment statistique de données très abondantes nous a
semblé devoir apporter les renseignements recher-
chés. C’est la raison pour laquelle, au lieu d’utiliser
l’enregistrement photographique des clichés, qui néces-
site des durées d’exposition très longues (plusieurs heures), nous avons fait appel à une technique d’enre- gistrement, qui venait juste d’être mise au point par Gabriel et Dupont [2], et qui, faisant intervenir un
détecteur proportionnel à localisation linéaire (1), permet, sans diminuer la précision des mesures, de raccourcir les temps de pose dans des proportions
considérables (3 min.).
Sans rentrer dans les détails, rappelons brièvement qu’associé à un analyseur multicanal, ce détecteur permet, non seulement de compter les photons X
diffusés par l’échantillon, mais également de les
localiser le long de son filament, c’est-à-dire dans
l’espace angulaire de Bragg correspondant. Son uti-
lisation nécessite un certain nombre de précautions : antiparasitage, détermination de l’intervalle de réponse
linéaire tant en position angulaire qu’en intensité du rayonnement détecté, élimination des rayons X diffusés par l’air, etc... La figure 1 illustre, à titre indicatif, un cliché de diffraction enregistré à tempé-
rature ordinaire, en 3 min., sur 1024 canaux : les
deux pics qu’il contient, et qui sont placés symétri-
quement autour du faisceau direct (arrêté, ici, par un
puits), correspondent au premier ordre de diffraction d’un édifice lamellaire de 62,5 A d’épaisseur.
La chambre de diffraction que nous avons utilisée est équipée d’un four électrique destiné à porter l’échantillon aux températures désirées. Ce four a
été conçu pour assurer une stabilité de la température
de 0,02 OC. Nous lui avons associé un programmeur permettant d’élever linéairement la température entre
25 et 400 OC. La température est mesurée à l’aide d’un thermocouple placé dans la cellule porte-échan-
(1) L’acquisition de cet appareil, fabriqué par la Compagnie
Générale de Radiologie,
aété possible grâce à l’A.T.P., Matériaux du C.N.R.S.
FIG. 1. - Cliché de diffraction enregistré
en3 min.
sur1024 canaux.
tillon même, avec une précision de quelques centièmes
de degré.
Du point de vue pratique, au lieu de fixer la tempé-
rature de l’échantillon à la valeur désirée et d’enre-
gistrer le cliché correspondant, nous avons préféré opérer de manière dynamique. Nous avons choisi
d’élever la température de manière linéaire, à une vitesse de 3 °C/h, et d’enregistrer les clichés automa-
tiquement, à raison d’un cliché toutes les 200 s (la
durée effective d’exposition étant de 180 s). Durant l’enregistrement d’un cliché, la température ne varie
donc que de 0,15 °C. Nous avons vérifié, par des
cycles de chauffage et de refroidissement, que la vitesse de changement de la température était suffi- samment lente pour que la température lue corres- ponde bien à la température réelle de l’échantillon.
La capacité de mémoire de l’analyseur multicanal
dont nous disposions étant limitée, les données nous ont été simplement fournies sous forme de l’adresse
FIG. 2.
-Evolution
avecla température de l’espacement des pics
de diffraction (données brutes de l’expérience).
et du contenu du canal le plus chargé dans chacun des pics de diffraction. Or, compte tenu du caractère aléatoire du phénomène de comptage, cette adresse
ne correspond pas forcément à l’adresse du sommet réel du pic. Pour cela, nous avons choisi de considérer
comme adresse du sommet du pic, la valeur moyenne calculée sur 5 acquisitions successives. La figure 2 représente l’évolution avec la température de l’espa-
cement réciproque, exprimé en nombre de canaux et
calculé comme étant la différence pour chaque cliché
entre les deux adresses des deux pics de diffraction ;
la figure 3 représente, elle, la même évolution mais définie avec des valeurs moyennes de l’espacement.
FIG. 3.
-Evolution
avecla température de l’espacement des pics
de diffraction (valeurs moyennes). Les flèches indiquent les tempé-
ratures de transition observées par dilatométrie [1].
3. Transitions de phase.
-L’examen de la figure 3
permet de relever 3 transitions dans l’évolution de
l’espacement des raies en fonction de la température.
Ces transitions se manifestent, soit par un changement
discontinu et important de l’espacement (c’est le
cas pour la première transition à 138 OC, correspon- dant au passage de la phase cristalline à la première phase smectique), soit alors par une variation rapide
mais continue de l’espacement dans un intervalle
réduit de température (c’est le cas pour les deux autres transitions à 172 et 205 OC). Nous retrouvons donc par diffraction des rayons X aux petits angles toutes
les transitions observées précédemment par dilato- métrie [1] ; nous retrouvons également des valeurs
identiques pour les températures correspondantes.
En accord avec les observations réalisées par dilatométrie [1], nous avons constaté que la première transition, la plus importante, n’est pas réversible.
Par refroidissement, la diminution brutale de l’épais-
seur des lamelles apparaît à température plus basse.
Rappelons que cette transition correspond à un
processus de fusion-cristallisation des chaînes alipha- tiques ; le retard à la cristallisation révèle simplement
une cinétique de cristallisation lente. Par un examen
visuel du cliché de diffraction considéré dans son
ensemble, nous avons vérifié que, dans l’intervalle de température où s’opère cette cristallisation, il y a coexistence de deux phases, la phase cristalline et la
phase smectique.
Quant aux transitions suivantes, elles sont parfai-
tement réversibles. Par un examen visuel direct des clichés enregistrés au cours des transitions, nous
avons vérifié qu’il n’y a pas ici démixtion comme pour la première transition. L’épaisseur des lamelles varie bien de façon continue et sigmoïdale. Nous rejoignons
donc les conclusions auxquelles nous étions parvenus
précédemment par dilatométrie [Il.- La variation
continue de l’espacement peut signifier, soit que les couches smectiques, toutes identiques entre elles,
ont une épaisseur qui change de façon continue avec
la température, soit alors que l’édifice mésomorphe
résulte de l’empilement de deux types de lamelles à
proportion variable (fluctuation de l’épaisseur). Il est
difficile de faire un choix entre ces deux hypothèses
avec les seuls renseignements expérimentaux dont
nous disposons, d’autant que les variations d’espace-
ment ne sont pas importantes et que nous n’avons pas pu enregistrer les ordres supérieurs de diffraction.
4. Evolution des paramètres structuraux.
-L’éta-
lonnage du diffractomètre permet de déterminer
l’épaisseur d des couches smectiques à partir de l’espacement des pics de diffraction enregistrés. La figure 4 représente l’évolution de cette épaisseur en
fonction de la température. Notons que, dans cette
étude, nous n’avons pas dépassé 245 °C environ, car, au-delà de cette température, les clichés de diffraction
perdent rapidement de leur intensité; la fusion complète de l’échantillon se produisant à température
FIG. 4.
-Evolution
avecla température de l’épaisseur des couches
smectiques. Les flèches indiquent les températures de transition observées par dilatométrie [1].
1