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Sur les propriétés optiques et photoélectriques des couches minces et des monocristaux de cadmium

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Sur les propriétés optiques et photoélectriques des couches minces et des monocristaux de cadmium

Sonja Robin-Kandare, Jean Robin, Sacha Kandare

To cite this version:

Sonja Robin-Kandare, Jean Robin, Sacha Kandare. Sur les propriétés optiques et photoélectriques des couches minces et des monocristaux de cadmium. Journal de Physique, 1964, 25 (1-2), pp.218-222.

�10.1051/jphys:01964002501-2021800�. �jpa-00205741�

(2)

SUR LES PROPRIÉTÉS OPTIQUES ET PHOTOÉLECTRIQUES

DES COUCHES MINCES ET DES MONOCRISTAUX DE CADMIUM Par Mme SONJA ROBIN-KANDARE, JEAN ROBIN et SACHA KANDARE,

Laboratoire de Physique, Faculté des Sciences, Dakar, République du Sénégal.

Résumé. - On étudie l’absorption de couches minces de cadmium non exposées à l’air ainsi que le pouvoir réflecteur et l’émission photoélectrique de monocristaux et de couches minces de cadmium. On interprète la courbe d’absorption, délimite le domaine des transitions optiques et

attribue le bord d’absorption, situé à 10,4 eV, à la transition interne N4,5.

Abstract.

-

The absorption of thin films of cadmium, unexposed to air, is studied, as well as

reflecting power and photoelectric emission of single cristals and thin films of cadmium. An

interpretation is given of the absorption curve and a limit for optical transition region ; the absorption edge, near 10.4 eV, is related to the N4,5 internal transition.

PHYSIQUE 25, 1964,

Introduction.

-

Peu de travaux ont 6t6 eff ec- tu6s sur les propri6t6s optiques du cadmium.

En absorption, il existe d’une part les travaux de

Walker et coll. [1], effectu6s a temperature ordi-

naire sur des couches expos6es a l’air et r6v6lant

une transmission tres faible dans l’ultraviolet a vide et d’autre part les donn’ees de Fukuroi [2] et

Bueche [3] se rapportant a des couches pr6par6es à

la température de 1’air liquide. Fukuroi, a cette temperature, a mesure directement la transmission dans le domaine visible. Bueche a mesure la cons-

tante di6lectrique et la conductivite et obtenu par le calcul les constantes optiques pour le visible et

l’infrarouge ; il signale un maximum d’absorption

vers 8 200 Å.

En ce qui concerne le pouvoir r6flecteur,

Sabine [4] a mesure celui de couches minces, expo- sees a 1’air, entre 2,5 et 9,5 eV, et Walker et

coll. [1] celui de couches minces, non expos6es à 1’air, entre 8 et 22 eV, les deux 6tudes ayant 6t6

faites a temperature ordinaire.

Sur 1’6mission photoélectrique, une 6tude a 6t6

faite par Walker et coll. [1], entre 8 et 27 e V.avec

des couches minces expos6es a 1’air, ainsi que par Baker [5] a des energies plus faibles.

En dehors de l’int6r6t que pr6sente la connais-

sance des propri6t6s optiques du cadmium, l’étude

de la transmission de ce corps devrait permettre

aussi de r6soudre la question suivante : les pertes caractéristiques des electrons dans le cadmium ont ete 6tudi6es par plusieurs auteurs (les deux plus

r6cents travaux sont celui de Powell [6] et celui

de Pradal et Gout [7]), mais il n’est pas possible,

sans la connaissance de la courbe d’absorption, de

savoir si l’on doit attribuer ces pertes aux transi-

tions individuelles ou aux oscillations collectives des electrons dans le metal.

Nous avons alors entrepris une 6tude de 1’absorp- tion, du pouvoir r6flecteur et de la photoemission

du cadmium, dans le domaine spectral s’étendant

du visible a l’ultraviolet lointain, sur des couches minces 6vapor6es et sur des monocristaux.

Préparation des eouches.

-

La preparation de

couches minces de cadmium, par simple 6vapo-

ration thermique, pr6sente des difficultés car la condensation sur le support ne se produit que

lorsque la densite de vapeur d6passe une certaine valeur, elle-m8me fonction de la temperature du support [8 a 16]. A temperature ordinaire, les

couches sont alors form6es de monocristaux hexa- gonaux, relativement importants, qui donnent a la

surface un aspect diff usant. Ce genre de couches est peu utilisable pour des mesures optiques [17 a 19].

Les couches pr6par6es de la meme fagon sur des supports refroidis sont mal cristallisées, ce qui a 6t6

revele par leur grande resistance 6lectrique [20] et

1’6tude directe de leur structure par diffraction

6lectronique [17, 18, 19 et 21].

Zehender [17] signale que les couches 6vapor6es

sur des supports pr6alablement sensibilis6s sont cristallisées et brillantes en r6flexion. Nous avons

donc étudié la preparation de couches de cadmium

avec sensibilisation des supports. Cette sensibi-

lisation consiste a 6vaporer sur des supports soi- gneusement nettoy6s une couche extr6mement mince d’un metal étranger ; le recouvrement de la surface est de l’ordre de 0,1, les atomes du metal

sensibilisateur servant de centres de condensation pour le cadmium. La sensibilisation doit 8tre faite imm6diatement avant 1’evaporation du cadmium

et sans exposition a I’air. Nous avons étudié la sensibilisation avec I’argent, le cuivre, le nickel, le

chrome et le platine et avons constate que la sensi- bilisation n’est pas un phénomène spécifique du

metal.

Pour les travaux exposes ci-dessous, nous avons toujours utilise 1’argent comme metal sensibili-

sateur. Avec un recouvrement de 0,1, les atomes d’argent sont trop peu nombreux pour modifier

Article published online by EDP Sciences and available at http://dx.doi.org/10.1051/jphys:01964002501-2021800

(3)

219

l’absorption du cadmium. Toutes les evaporations

ont ete eff ectuees dans sun vide meilleur que 10-5 mm Hg, g6n6ralement voisin de 2 X 10-6

mm Hg. La vitesse de formation des couches etait de l’ordre de 200 a 300 Å/mn ; de plus grandes

vitesses de depot diminueraient l’oeclusion de gaz mais nous avons du limiter cette vitesse pour mieux controler 1’evaporation et obtenir des couches d’6paisseur d6termin6e. L’6vaporation du cadmium, spectroscopiquement pur, 6tait faite a

partir d’un tube en verre pyrex chauff6 6lectri-

quement. La source d’argent 6tait partiellement prot6g6e du cadmium par un écran et nettoy6e

avant chaque sensibilisation par un chauffage de plusieurs minutes. Comme supports, nous avons utilise, suivant le domaine spectral étudié, des plaquettes en fluorure de calcium, en quartz ou en

verre pyrex, sauf pour les mesure de transmission

en dessous de 1300 A, pour lesquelles nous avons

utilise des films de collodion, deposes sur des grilles

en cuivre. Nos mesures de resistivite montrant que celle-ci 6volue encore pendant 10 a 20 minutes

apr6s Evaporation, nous avons laisse les couches

se stabiliser pendant une demi-heure sous vide

avant d’effectuer les mesures optiques. L’epaisseur

des couches 6tait mesuree a + 15 a 30 A pr6s

selon les cas, a I’aide d’un microscope interférentiel.

Une partie des mesures en transmission a ete eff ec- tu6e a 1’aide d’un spectrographe a vide ; 1’autre partie des mesures en transmission ainsi que les

mesures de pouvoir r6flecteur et de photoemission

ont ete effectuees a 1’aide d’un monochromateur a vide a r6seau.

Absorption.

-

La premiere s6rie de mesures a

ete effectuee sur des couches expos6es a 1’air entre

le moment de la preparation et celui des mesures optiques [22] ; la variation du coefficient d’absorp-

tion k, en fonction de 1’energie, dans le domaine

spectral compris’ entre 2,5 et 8 eV, est representee (fig. 1), courbe A.

De telles couches 6tant probablement alt6r6es

FIG. 1.

-

Coefficient d’absorption de couches minces de Cd : A) Couches expos6es a 1’air ; B) couches non expos6es

a 1’air ; C) courbe B corrig6e des pertes par r6flexion.

par oxydation et adsorption de gaz, nous avons construit un dispositif d’evaporation permettant

de pr6parer les couches directement dans l’appareil

servant aux mesures optiques, sans exposition à

1’air. Mis a part la courbe A ( fig. 1), tous les r6sul-

tats présentés dans cette note et relatifs a des couches minces, se rapportent a des couches non

exposées a I’air. Le coefficient d’absorption k de

ces couches a ete mesure de 2,5 a 13 eV (5 000 a

950 A). La courbe B (fig. 1), correspond a des

couches d’une epaisseur voisine de 300 A. En, par-

tant des faibles energies, k diminue rapidement jusqu’à environ 4 eV, pr6sente alors entre 4 et

5 eV un large 6paulement dont 1’existence 6tait

deja perceptible sur la courbe A, puis la d6crois-

sance est assez r6guli6re, jusque vers 10,1 eV ou k

passe par un minimum tres prononce ; k croit

ensuite rapidement, surtout vers 10,4 eV, puis plus lentement au delh de 10,5 eV.

La mesure simultan6e de la transmission et du

pouvoir r6flecteur R des couches minces nous a

permis de tenir compte, dans le calcul de k, de la

difference entre les pertes par reflexion sur la couche et sur son support, dans le domaine spectral compris entre 4 et 10 eV ; la courbe C de la figure 1 repr6sente k, compte-tenu de cette correction, toujours pour des couches d’environ 300 A d’épais-

seur. Pour des energies sup6rieures h 10 eV, cette

correction n’a pas ete faite car il est difficile de

mesurer le pouvoir réflecteur R des couches 6vapo-

r6es sur collodion ; la surface de ce dernier n’ étant pas parfaitement plane, il est possible qu’une partie

de la lumiere r6fl6chie ne soit pas reçue par le

photomultiplicateur. 11 s’av6re cependant que cette

correction devient n6gligeable au-dessus de 10,4 eV

car R devient alors inférieur a 1 %.

La figure 2 repr6seiite la variation de k en

fonction de 1’epaisseur des couches, compte tenu

de la correction provenant des pertes par réflexion.

La courbe A est relative a des couches dont 1’6pais-

seur e est inf6rieure a 200 A ; la courbe B repre-

sente k pour des couches dont 1’epaisseur e est comprise entre 250 et 300 Å ; enfin la courbe C se

rapporte 6 des couches dont e est voisine de 400 Å

FIG. 2.

-

Variation avec 1’epaisseur du coefficient d’absorp-

tion k de couches minces de Cd non expos6es 4 1’air ;

A) 200 A ; B) 250 à 300 A ; C) environ 400 A.

(4)

On peut constater que k croit avec e mais qu’en

meme temps la forme de la courbe se modifie vers

les faibles energies. Pour les couches tres minces, l’épaulement vers 5 eV n’existe pas. Pour les couches dont e est superieure a 200 Å, 1’epaule-

ment devient un palier, puis pour des couche

encore plus 6paisses, un maximum remplace ce palier et est d’autant plus prononc6 que la couche est plus 6paisse. En meme temps le maximum est

16g6rement deplace vers les grandes energies.

Pouvoir réflecteur.

-

Le pouvoir r6flecteur R de couches minces de cadmium a ete mesure entre 4 et 13 eV, sous une incidence de 6°30’, a partir de

couches 6vapor6es sur des plaquettes en fluorure de calcium et en verre pyrex ; les r6sultats exp6ri-

mentaux en sont repr6sent6s (fig. 3) : les courbes

en trait plein se rapportent a des couches 6vapor6es

sur CaF2 et celles en pointille a des couches 6vapo-

r6es sur verre. La courbe A est relative a des couches dont e est de 1’ordre de 160 A ; les courbesB donnent 1’allure des courbes obtenues avec des couches dont e est comprise entre 200 et 300 A ;

les courbes C donnent 1’allure des courbes obtenues

avec des couches dont e est environ 300 a 400 A

et enfin les courbes D representent R de couches dont e est superieure a 600 A. Toutes ces courbes présentent un palier entre 7,5 et 8 eV, puis une

baisse rapide vers les grandes energies. Au delh

de 10,5 eV, R est toujours inf6rieur a 1 %. En

dessous de 7,5 eV, la forme des courbes est nette- ment fonction de e. Pour e inférieur a 200 A (courbe A), R d6crolt r6gull6rement jusqu’h 7,5 eV (de meme que k dans la meme region spectrale).

Pour des couches plus 6paisses (courbes B), R pr6- sente, entre 5,4 et 7,2 eV, un domaine dans lequel

la pente est plus faible (figure 2, courbe B, k pr6-

sentait 6galement une particularite vers 5 eV).

Pour e de l’ordre de 330 a 400 A (courbes C), R pr6sente un maximum plus ou moins prononc6

au voisinage de 6 eV (tout comme k (courbe C, figure 2), vers 5 eV). Lorsque e devient superieure

a 600 A, les couches deviennent diffusantes ; le

maximum de R, vers 6 eV, devient plus large et

l’accroissement de R vers les faibles energies n’a plus lieu qu’en dessous de 4,5 eV. Pour les couches

6vapor6es sur verre, Rest environ deux fois plus

élevé que pour les couches 6vapor6es sur CaF2,

mais la forme des courbes obtenues est a peu pr6s la

meme.

Si les variations de k et R avec 1’epaisseur e

6taient dues seulement au fait que la surface devient plus diffusante quand e croit, R devrait

surtout etre affect6 vers les grandes energies, sans

modifications sp6cifiques de la forme des courbes.

Il semble que l’on doive plutot attribuer ces varia-

tions a une modification de la structure meme des couches en fonction de e. 11 ne nous a pas 6t6

possible, jusqu’ici, d’étudier la structure, de nos

FIG. 3.

-

Pouvoir r6flecteur des couches minces de Cd

en fonction de l’épaisseur.

couches non expos6es a I’air, par diffraction 6lee-

tronique en reflexion.

En comparant nos r6sultats avec ceux de Sabine [4], on constate que le pouvoir r6flecteur

trouve par celui-ci est plus élevé que celui que nous

avons donne ci-dessus et que la forme des courbes est assez diff6rente, mais les couches de Sabine ont ete expos6es a 1’air avant les mesures optique et de plus elles ont ete 6vapor6es sur des sous-couches

6paisses de chrome, ce qui influence certainement la structure des couches (nous avons 6galement

effectue des mesures de R de couches minces de

cadmium, 6vapor6es sur sous-couches epaisses d’argent et alors nous avons trouve aussi que R est nettement plus élevé et que la forme des courbes est modifi6e par rapport aux r6sultats exposes ci-dessus).

Comme il est tres difficile, pour les mesures de

pouvoir r6flecteur, de pr6parer par evaporation thermique des couches opaques et non diffusantes,

nous avons mesure le pouvoir r6flecteur de mono-

cristaux de cadmium hexagonal, taillés les uns

parall6lement et les autres perpendiculairement 4

1’axe optique. L’état de surface 6tait v6rifi6, apr6s 16ger polissage, par diffraction 6lectronique en

reflexion : le diagramme de diffraction pr6sentait

des taches, caractéristiques du monocristal, mais

r6v6lait aussi 1’existence d’une couche superficielle amorphe. Les r6sultats en sont donnes figure 4,

courbe A. Nous n’avons pas trouve de difference

systématique en fonction de l’orientation. Les r6-

sultats sont tres reproductibles pour les cristaux

taillés perpendiculairement a 1’axe optique, un peu

moins pour les autres. R diminue r6guli6rement

(5)

221

d’environ 50 % à 4 eV a peu pres jusqu’a 3 % à 9,5 eV, puis remonte 16g6rement vers les grandes energies, sans d6passer 5 % a 13 eV. Nous n’obser-

vons pas de palier, entre 7,5 et 8 eV, comme avec

les couches minces.

FIG. 4.

-

A) Pouvoir réflecteur des monocristaux de Cd.

B, C et D : emission photoélectrique : B) monocristaux;

C) couches minces 30 minutes apr6s 1’evaporation ; D) couches minces 48 heures après 1’evaporation.

emission photoéleetrique.

-

Celle-ci a 6t6 mesu-

ree sur des monocristaux et sur des couches minces

6vapor6es sur cuivre et non expos6es a 1’air, isol6s

et port6s a un potentiel de

-

30 volts par rapport

a la masse du dispositif de mesures ; l’intensit6 du

courant 6lectronique enregistre etait de l’ordre de 1O"12 ampere. Les courbes B, C et D de la figure 4

donnent le rendement quantique 1], en valeurs rela-

tives, en fonction de 1’6nergie.

Pour les monocristaux, nous n’avons pas trouve de difference notable en fonction de l’orientation

cristalline, comme cela a par exemple ete signal6

pour les energies voisines du seuil photoélectrique [23] ; le rendement quantique n est tres faible en

dessous de 8,8 eV, puis il croit rapidement vers les grandes energies. Cette courbe B pr6sente deux paliers, vers 10,0 et 10,8 eV ; la pente de la courbe est particulièrement forte entre 12,0 et 12,2 eV,

puis diminue 16g6rement.

Le rendement quantique n de couches minces,

opaques, a ete mesure 30 minutes (courbe C) et

48 heures (courbe D) apr6s l’évaporation ; il est toujours supérieur a celui des monocristaux pour les energies inférieures a 10 eV mais lui est inférieur pour les energies sup6rieures a 10,5 eV. Avec le

temps 1] croit et tend vers celui des monocristaux.

Toutes les particularités de la courbe d’6mission

deviennent 6galement plus prononc6es, vraisem-

blablement parce que la cristallisation s’améliore

avec le temps.

Discussion des résultats.

-

Si on compare entre elles les courbes du rendement quantique, pour des couches minces et pour des monocristaux, on peut

considerer que, pour les energies inférieures a 10 eV,

les effets de surface, de d6fauts et d’impuretés

doivent etre pr6dominants, car ceux-ci sont norma-

lement plus importants pour des couches minces que pour des monocristaux. La ressemblance des courbes du rendement quantique, pour des couches minces et des monocristaux, a des energies supe-

rieures a 10 eV, montre que les memes ph6nom6nes

sont responsables de 1’6mission 6lectrique et qu’il s’agit tres probablement, a ces energies, de la photoemission de volume. Enfin, l’émission photo- 6lectrique croit fortement dans le domaine ou le

pouvoir réflecteur devient tres faible, c’est-h-dire dans le domaine ou une proportion importante de photons p6n6trent dans le corps étudié.

D’après la courbe d’absorption, on voit que le cadmium est fortement absorbant dans tout le domaine spectral s’étendant du visible jusqu’h

environ 10 eV ; cette absorption peut etre attribuée

aux transitions optiques correspondant a des tran-

sitions des electrons a l’int6rieur de la bande de

conduction, laquelle est constituée par deux bandes

se recouvrant partiellement et provenant des ni-

veaux 5s et 5p [24].

L’absorption qui debute au delh de 10,1 eV,

vers les grandes energies, pourrait etre attribuee à des transitions interbandes ; la bande de conduc- tion ayant un caract6re mixte s, p, les transitions internes 4d - 5s, p sont possibles et correspondent

aux rayons X mous N4.5. D’après Sandstrom [25],

les niveaux N4 et N5 seraient situ6s respective-

ment 6 11,0 et 10,4 eV. Nous avons eff ective- ment trouve un bord d’absorption tres marque à

10,4 eV.

Si on compare entre elles les particularités des

courbes d’absorption, de pouvoir r6flecteur et d’6mission photoelectrique, on trouve que le mini-

mum d’absorption a 10,1 eV coincide avec la posi-

tion du premier palier observe sur la courbe de

1’6mission photoélectrique ; d’autre part la chute brusque du pouvoir r6flecteur coincide avec le bord

d’absorption situ6 a 10,4 eV et que nous avons attribue a la transition 4d -* 5s, p.

Les pertes caractéristiques des electrons dans le

cadmium, qui ont 6t6 signal6es par des auteurs

ant6rieurs, pour differentes valeurs de 1’energie

entre 3 et 13 eV, ne coincident pas avec les points caractéristiques de la courbe d’absorption, sauf la perte caractéristique tres marquee signal6e par Pradal et Gout [7] a 10 eV, valeur en bon accord

avec 1’energie des oscillations du plasma obtenue

en tenant compte de ce que le cadmium poss6de

deux électrons de valence. L’énergie de cette perte caractéristique est d’autre part tres voisine de la

position du minimum d’absorption, indiquant 6ga-

lement, d’après la th6orie de Bohm et Pines [26]

(6)

que cette perte caractéristique est reli6e aux oscil-

lations collectives des electrons dans le cadmium.

Discussion

M. VERNIER. - Les monocristaux dont vous avez mesure remission photoélectrique 6taient-ils taillés sous vide ?

M. ROBIN.

-

Non !

M. VERNIER.

-

La meilleure reproductibilité des

r6sultats photoélectriques obtenus avec des faces perpendiculaires a l’axe optique ne serait-elle pas due au fait qu’il y a plusieurs possibilités d’orien-

tation des faces perpendiculaires 4 l’axe optique ?

1VI. ROBIN.

-

Tr6s probablement, nous avons pens6 aussi 4 ce probl6me mais jusqu’ici nous

n’avons pas eu la possibilite de nous procurer des monocristaux dont la taille soit effectuée’ suivant des directions bien d6termin6es, tout en 6tant parallèles a l’axe optique.

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Références

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