HAL Id: jpa-00245626
https://hal.archives-ouvertes.fr/jpa-00245626
Submitted on 1 Jan 1987
HAL
is a multi-disciplinary open access archive for the deposit and dissemination of sci- entific research documents, whether they are pub- lished or not. The documents may come from teaching and research institutions in France or abroad, or from public or private research centers.
L’archive ouverte pluridisciplinaire
HAL, estdestinée au dépôt et à la diffusion de documents scientifiques de niveau recherche, publiés ou non, émanant des établissements d’enseignement et de recherche français ou étrangers, des laboratoires publics ou privés.
Spectres de sections efficaces absolues de
photo-ionisation des ions de transition 3d dans InP
G. Bremond, G. Guillot, A. Nouailhat
To cite this version:
G. Bremond, G. Guillot, A. Nouailhat. Spectres de sections efficaces absolues de photo-ionisation des
ions de transition 3d dans InP. Revue de Physique Appliquée, Société française de physique / EDP,
1987, 22 (8), pp.873-879. �10.1051/rphysap:01987002208087300�. �jpa-00245626�
Spectres de sections efficaces absolues de photo-ionisation
des ions de transition 3d dans InP
G.
Bremond,
G. Guillot et A. NouailhatLaboratoire de
Physique
de la Matière(associé
auCNRS),
Institut National des SciencesAppliquées
de Lyon, 20, avenue Albert-Einstein, 69621 Villeurbanne Cedex, France(Reçu
le 16 janvier 1987, révisé le 30 mars 1987, accepté le 30 avril 1987)Résumé. 2014 Une étude
systématique
des spectres de sections efficaces absolues dephoto-ionisation
03C30n(h03BD) et 03C30p(h03BD)
des niveaux créés dans la bande interdite de InP par les ions de transition 3d Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co et Cu a été réalisée en utilisant latechnique
D.L.O.S.(Deep
LevelOptical Spectroscopy).
Uncatalogue complet
de ces03C30n
et03C30p
absolus estprésenté.
Leuranalyse
révèle despropriétés physiques
des ionsde transition 3d dans InP: la nature de la
configuration
orbitaleélectronique,
1’existence d’états excités, larelaxation de réseau.
Abstract. 2014 D.L.O.S.
(Deep
LevelOptical Spectroscopy) experiments
have beenperformed
to obtainabsolute
photo-ionization
cross section spectra of the levels createdby
3d transition ions in the forbidden gap of InP. Thesesystematic experimental
studiesprovide
acomplete
list of absolute03C30n
and03C30p.
Theiranalysis
shows
physical properties
of 3d ions in InP : the nature of the electronic orbitalconfiguration,
the existence of excited state, the lattice relaxation.Classification
Physics
Abstracts61.70R - 71.55 - 72.80E - 78.20J - 78.50
1. Introduction.
Ces dernières années ont vu un
développement technologique important
desdispositifs électroniques
et
optoélectroniques
à base de semi-conducteurscomposés
III-V(GaAs, GaP, InP).
Lephosphure
d’indium sert de substrat pour les hétérostructures laser en GaInAsP
qui
émettent à1,3
itm et1,5
ktm pour lessystèmes
de télécommunicationoptique,
etpossède
une fortepotentialité
dedéveloppement
pour la
technologie
desdispositifs
del’optoélectroni-
que
intégrée.
Cette
expansion technologique
a favorisé les recherches sur les défautsprofonds
induits par desimpuretés
ou des défauts de structure dans ces semi- conducteurs. Parmi les centres d’intérêtimportants,
nous pouvons citer : l’identification des défauts en
vue de l’amélioration de la
faisabilité,
desperfor-
mances et de la fiabilité des composants, la recherche de centres radiatifs
permettant
l’obtention d’un effetlaser, l’incorporation
de la bonneimpureté
pour réaliser des substrats semi-isolants à haute résistivité(108 fi
xcm )
et bonne stabilitéthermique
nécessairelors des différents processus d’élaboration des
dispo-
sitifs.
Dans ce contexte, les ions de transition 3d
jouent
un rôle tout à fait
particulier :
ce sont desimpuretés polluantes systématiques
desIII-V,
et ils créent des étatsénergétiques profonds
dans la bande interdite de ces semi-conducteurs. On recherche pour des substratssemi-isolants,
un niveauaccepteur (ou donneur)
leplus près possible
du milieu de la bande interdite.L’incorporation
de Cr dansGaAs,
ou cellede Fe dans
InP,
sont deuxexemples
dedopage
par des ions de transition 3d conduisant à de tels substrats. De nombreux articles de revues, faisant lepoint
sur leurspropriétés électroniques
à travers lesdifférentes
techniques expérimentales qui
les étu-dient,
leur sont consacrés[1-5].
En même temps,leur
compréhension
sur leplan théorique
alarge-
ment
progressé
ces dernières années[6-10].
Mainte-nant, théories et
expériences
peuvent êtrecomparées quantitativement.
Dans ce contexte, la mesure absolue des sections de
photo-ionisation 03C30n(hv) et ug(hv)
des niveauxprofonds
introduits dans la bande interdite par l’ion de transition estparticulièrement
intéressante.L’analyse
des03C30n,p peut
donner :1)
la nature de l’orbitaleélectronique
de l’électron d’activé dans la transition(électron
detype
e ou de typet2),
Article published online by EDP Sciences and available at http://dx.doi.org/10.1051/rphysap:01987002208087300
874
2)
laprésence
d’états excités dans la bande inter- dite ou résonants avec les bandes de conduction oude
valence,
3)
la forme dupotentiel
localisé(état
donneur ouaccepteur),
4)
lecouplage
avec le réseau(énergie
de FranckCondon).
La
technique
D.L.O.S.(Deep
LevelOptical Spec- troscopy) [11]
estparticulièrement
bienadaptée
pour la mesure absolue des
cr n 0
eto,- p 0
dans toute lafenêtre
énergétique correspondant
à la bande inter- dite dusemi-conducteur,
avec les mêmes conditions de sensibilité que latechnique
D.L.T.S.(Deep
Level Transient
Spectroscopy).
Elle est sélective etopère
sur des volumes réduits de matériau etpermet
donc la caractérisation des couchesépitaxiques.
Cette
technique permet
d’autrepart
de relier les résultats obtenus par des méthodesoptiques (photo- luminescence,
mesure detemps
de déclin de lumines-cence)
et ceux des méthodes de caractérisationélectrique (D.L.T.S.) [12].
Dans cet
article,
nousprésentons
une étudesysté-
matique
desspectres
de section dephoto-ionisation
03C30n(hv) et ug(hv)
absolus des niveauxqui
sont créésdans la bande interdite d’InP par les ions de transi- tion
3d Ti, V, Cr, Mn, Fe,
Co et Cu.Jusqu’à présent,
aucune étudesystématique
de cetype
n’est mentionnée dans la littérature. Seulesquelques
mesures de section dephoto-ionisation
ontété réalisées avec des méthodes différentes. Pour le
cas du Cr dans
GaAs, l’absorption optique
apermis
de chiffrer dans une échelle absolue la
photo-ionisa-
tion du
Cr2+ [13-15],
ainsi que la contribution de sa transition interne5T2 ~ 5E [16].
Des travaux baséssur
l’analyse
des transitoires dephotocapacité
et dephotocourant
ont donné des mesures absolues pour le03C30p
du niveauaccepteur Fe3
+/2+ dans GaAs[17]
et GaP
[18],
pour leoo
du niveau doubleaccepteur Ni2+/+
dans GaP[19],
et pour les03C30n
eto, p 0
desniveaux
CUA
etCuB
dans GaAs et InP[20].
2.
Description
de laprocédure expérimentale.
Pendant
l’expérience D.L.O.S.,
latempérature
del’échantillon
(diode Schottky
oujonction)
est fixéede telle manière que l’émission
thermique
des por- teurs du niveau considéré soit nulle. Laprincipale caractéristique
de latechnique
D.L.O.S. est d’utili-ser le fait que la
pente
àl’origine
du transitoire dephotocapacité
est seulement fonction du terme03C30n(hv) ou 03C30p(hv)
suivant les conditions initialesd’occupation
du niveau - tous lespièges remplis
ouvides
[11].
Ces conditions initiales sont déterminées par différentstypes d’opérations
-électrique,
ther-mique
ouoptique
-qui dépendent
des caractéristi- ques du niveau et du type de matériau. Pour unpiège
à électron de concentrationNT
dans unmatériau de
type
n, la variation decharge
due auniveau sous
éclairement 0 (h v ),
au tempst = 0, après
uneimpulsion
depolarisation
en direct pouiremplir
la totalité dupiège
est :~ (hv)
est le flux dephotons
àl’énergie
h v par unité de surface dans la zone dedéplétion.
Cette variationde
charge
conduit à une variation de la. valeur C de lacapacité
de laSchottky
donnée par :avec ne la densité de
porteurs libres, w
lalargeur
dela zone de
déplétion, À
lalargeur
de la zone detransition et
Co la
valeur de lacapacité
sans lepiège.
A
partir
deséquations (1)
et(2),
nous obtenons :Le terme
C0NT 2ne 1 - k 2 n’est autre que l’ampli-
tude AC du transitoire de
capacité correspondant
auniveau. Finalement :
Pour obtenir la valeur absolue
de 03C30n(hv),
il estnécessaire de connaître avec
précision l’amplitude
AC du transitoire de
capacité,
ainsi que le flux dephotons 0 (h v )
dans la zone decharge d’espace
etsur tout le domaine
d’énergie expérimental.
Notreappareillage
adéjà
été décrit[21].
Notons l’utilisa-tion d’un double monochromateur à
prisme
enCaF2 qui permet
unbalayage
enénergie
de0,18
eVjusqu’à l’énergie
de la bande interdite avec unerésolution maximum de 1 meV vers
0,4
eV. Lessources de lumière couvrant ce domaine sont du type
globar
etlampe
à ruban deTungstène.
Deux mono-chromateurs Bausch & Lomb haute intensité à réseaux
(675 lignes/mm,
blasé à 1 Fim et337,5 lignes/mm,
blasé à 203BCm)
sont utilisés dans lecas où une excitation
optique
est nécessaire. Toutel’optique
est traitéeinfra-rouge,
et les fenêtres descryostats
sont soit enCaF2 (cryostats N2),
soit ensaphir (cryogénie He).
Les différentscycles expéri-
mentaux - excitation
électrique, optique, balayage
en
longueur d’onde, régulation
detempérature, acquisition
et traitement des données - sontgérés
par un calculateur et différents
périphériques.
Lamesure du flux
énergétique
desphotons
est réaliséeau moyen d’un détecteur
pyroélectrique
sensibleOptilas KT 3110,
localisé par viséeoptique
à lamême
position
que l’échantillon. Des corrections sontapportées
suivant les conditions de l’illumina- tion. Si elle se fait par la face surlaquelle
la couched’Au
semi-transparente (épaisseur
300Â)
a étévaporisée,
on tiendra compte de la transmission de cette couche. Si l’illumination s’effectue par la face arrière, à la facevaporisée,
la couche d’Au seratotalement réfléchissante
(épaisseur > 1000 A).
Dans le
premier
cas, l’incertitude maximum estimée à 50 % réside dans la difficultéd’apprécier
lesréflexions internes à la structure de mesure. Dans le deuxième cas, l’incertitude estimée à 20 % est due essentiellement au
positionnement
du détecteur vis- à-vis de l’échantillon. Les estimations sont calculéesthéoriquement (modélisation optique)
et mesuréesexpérimentalement (statistiques
sur des mesuresindépendantes).
3. Résultats
expérimentaux.
Les niveaux sur
lesquels
nous avons réalisé nos mesures absolues de section dephoto-ionisation
sontdéjà
identifiés[20-26].
Les données concernant le matériau(méthode
decroissance, type),
le niveauétudié
(piège
àélectrons,
à trous,accepteur,
don-neur,
énergie
parrapport
auxbandes,
section decapture électrique
pour lesporteurs)
sontregroupées
dans le tableau I. Suivant la notation communément
employée,
dans le cas où l’ion de transition M est enposition
substitutionnelle ducation,
le niveau accep- teur est notéM3+ /2+
et le niveau donneurM4+
/3+. Lesplanches
1 et 2 rassemblent les diffé- rentsspectres uo
etoo
mesurés. Afin d’accéder à la foisau 03C30n
et au(Tg
d’un niveau dans le mêmematériau,
nous avons utilisé les différentstypes
de D.L.O.S. Le tableau II donne les différentes condi- tionsexpérimentales employées
ainsi que l’état fon- damental de laphoto-ionisation, l’énergie
du seuiloptique
et la nature de la transition interne éven-tuelle,
les résultats de la littérature sur les raies zérophonon (ZPL) correspondant
à ces transitions inter-nes vues en
absorption optique
ou enphotolumines-
cence.
4. Commentaires sur les spectres des sections effica-
ces de
photo-ionisation.
A
partir
desspectres expérimentaux
desplanches
1et
2,
nous pouvons extraireplusieurs
sortes d’infor-mation sur les niveaux mis en
jeu
dans la transition.4.1. - La forme des
spectres
révèle deux sortes de transitionsoptiques :
Tableau I. -
Caractéristiques principales
des matériaux et des niveaux concernés par les mesures de sectionsefficaces
dephotoionisation. (S : substitutionnel,
1 :interstitiel,
C :complexe,
D+ :donneur,
A- : accepteur, pe- :pièges
àélectron, ph+ : pièges
àtrou).
[Main
characteristics of materials and levels used inphotoionization
cross-section measurements.(S :
substi-tutionnal,
1 :interstitiel,
C :complex,
D+ :donor,
A- : acceptor,pe- :
electron traps,ph+ :
holetraps). ]
876
Planche 1. -
Spectres
des sections efficaces dephoto-
ionisation
o-0 n
et03C30p
absolues des niveaux :a)
donneurTi4+ /3+ 03C30n
par D.L.O.S.électrique
à209 K; ug
parD.L.O.S.
thermique
à 258 K.b)
donneur V4+ /3+03C30p
parD. L.O. S.
électrique
à 89 K.c)
accepteurCr3+ /2+ 03C30n
par D.L.O.S.électrique
à 89 K ;o- p 0
par D.L.O.S.thermique
à157 K.
d)
accepteur Mn3+ /2+ 03C30n
par D. L.O. S.électrique
à 80 K ;o- p 0
par D.L.O.S.optique (1,35 eV)
à 80 K.[Absolute photo-ionization
cross-section spectraa n 0
andug
of levels :a)
donor Ti4 + /3 +03C30n by
electrical D. L.O. S.at 209 K ;
u p 0 by
thermal D.L.O.S. at 258 K.b)
donorV4+ /3+ 03C30p by
electrical D.L.O.S. at 89 K.c)
acceptorCr3+ /2+ 03C30n by
electrical D. L. 0. S. at 89K ; ug by
thermalD.L.O.S. at 157 K.
d)
acceptorMn3+
/2+u n 0 by
electricalD.L.O.S. at 80
K ; 03C30p by optical
D.L.O.S.(1.35 eV)
at80
K.] ]
1)
Transitionsqui correspondent
à laphoto-ioni-
sation ou à la
photoneutralisation
du centre. Ellesfont
apparaître
les différentes structures des bandes de conduction(r,
L et X dont les écartsénergétiques
dans InP sont
AERL
=0,5
eV etAErx
=0,8
eV[31])
et de valence(F8, r7
etL4,5
avec11Er 8 r 7
=0,108
eV etâEr 8 L 4, 5
=0,8
eV[31]).
Exemples : a§
des niveauxFe3+ /2+ (transitions
vers r à
0,6
eVpuis
vers L aux alentours de1,1 eV), Cr 3+/2+ (seuils
r :0,41 eV ;
L :0,91 eV ;
X :1,2 eV)
etTi4+
/3+(F
à0,47
eV et X aux alentoursde
1,3 eV.
On n’observe pas de seuil pourL).
Planche 2. -
Spectres
des sections efficaces dephoto-
ionisation
uo
et03C30p
absolues des niveaux :a)
accepteurFe3+ /2+ 03C30n
par D. L.O. S.électrique
à 218 K ;o- p 0
parD.L.O.S.
thermique
à 251 K.b)
accepteurC03+/2+ 03C30n
par D.L.O.S.
électrique
à 81 K ;a§ par
D.L.O.S.optique
(1,35 eV)
à 81 K.c) CuA 03C30n
par D.L.O.S.électrique
à82 K ;
u p 0
par D.L.O.S.optique (1,35 eV)
à 82 K.(Les
flèches verticales montrent les structures
qui
correspon- dent à celles observées par Kullendorff et al.[20]).
[Absolute photo-ionization
cross-section spectrau n 0
and0» p 0
of levels :a)
acceptorFe3+ /2+ 03C30n by
electricalD.L.O.S. at 218
K ; o- p 0 by
thermal D.L.O.S. at 251 K.b)
acceptorCo3+/2+ a§ by
electrical D.L.O.S. at 81 K ;ug by optical
D.L.O.S.(1.35 eV)
at 81 K.c) CUA a§ by
electrical D.L.O.S. at 82
K ; u p 0 by optical
D.L.O.S.(1.35 eV)
at 82 K.(The
vertical arrows show structureswhich
correspond
to these ones observedby
Kullendorff et al.[20].)]
Concernant
oo
du niveauV4
+ /3+ ,
onobserve,
auxénergies supérieures
à 1eV,
les transitions des quatre extremaéquivalents L4,5
de la bande de valence vers l’état2E
de l’ionV4
+ .2)
Transitionsqui correspondent
aupeuplement
d’états excités. On
distingue
deux cas :- L’état excité est en résonance avec la bande de conduction
(pour 03C30n)
ou la bande de valence(pour
a)
du cristal. On observel’apparition
d’une bandeplus
ou moinsgaussienne
dans les spectres. Exem-Tableau Il. - Conditions
expérimentales
etprincipales caractéristiques optiques
des spectres de sectionefficace
de
photoionisation (les
raies zérophonon (Z.P.L.) correspondant
aux transitions internes sont observées par desmesures
d’absorption optique
ou dephotoluminescence
dans lalittérature).
[Experimental
conditions and mainoptical
characteristics ofphotoionization
cross-section spectra.(zero pho-
non lines
(Z.P.L.)
related to intemal transitions are observedby optical absorption
orphotoluminescence
mea-surements in the
literature).]
ples :
bandes à0,8
eV poura- n 0
duCr3+ /2+,
à0,62 eV pour a§
duTi4+ /3+
et à0,88 eV
pour03C30n du V4+ /3+
.Les états excités
5E
duCr3 +
et2T2
duTi3
+ setrouvent dans la bande de conduction. Celui du
V3 + (2T2)
est en résonance avec la bande de valence.- Dans le cas où l’état excité est situé à l’intérieur de la bande
interdite,
on a alors03C30p qui
est la sommedes transitions états de valence état fondamental et états de valence - état
excité,
soit la somme de deux spectres décalés del’énergie
de la transition interne. C’estl’interprétation qui
est donnée pour lastructure
apparaissant 0,35
eV au-delà du seuilopti-
que dans
le 03C30p
du niveauFe3
+ /2 + etqui
révèle latransition bande de valence vers l’état excité
sT2
duFe2 + .
Demême,
la structurepossédant
un seuil à0,48
eV au-delà du seuiloptique
dansle 03C30p
duCo3+
/2+ mesure l’écarténergétique
entre l’étatfondamental
4A2 et
l’état excité4T2
de la transition interne auCo2 + .
4.2. -
Lorsque
le seuiloptique
est différent duseuil thermique
et surtout que l’on estobligé,
pour rendre compte de la forme duspectre,
d’utiliser des modèlesthéoriques
prenant encompte
lecouplage
avec le878
réseau,
nous pouvons calculer celui-ci sous la forme del’énergie
de Franck Condon. Parexemple,
uneétude
complète
des sections dephoto-ionisation
duniveau Cr 3+ /2+
[21], s’appuyant
sur un modèlephénoménologique
dans le cadre d’uncouplage
fort
[11], interprète
convenablement la forme desspectres
et donne uneénergie
de Franck CondondFc
=0,075
eV. Le traitementthéorique
total inclut aussi defaçon
cohérente l’étude de la résonance à0,8 eV
due à la transition interne duCr2 + .
Aucontraire, l’ajustement du oo
du niveauMn3+ /2+
par un modèle de
Lucowsky [32]
montrequ’il n’y
apas ou peu de
couplage
de ce centre avec lesvibrations.
4.3. - La valeur absolue et la
comparaison
des03C30n
et03C30p
d’un même niveaupeuvent
donner des indicationsquant
à la nature des orbitales de laconfiguration électronique
mise enjeu
lors destransitions de
photo-ionisation
et dephotoneutralisa-
tion. Par
exemple,
pour le niveauV4+ /3+, 03C30n
est aumoins de deux ordres de
grandeur plus petit
que le03C30p [23].
Ce rapport est consistant avec la nature des orbitales. Pourcr g,
on a des transitions d’états detype
p de la bande de valence vers des orbitales detype
d du vanadiumV4 + (transition permise.
Echellede
grandeur
duo- 0 10-1710-16 cm2). pour 03C30n,
cesont des transitions à
partir
d’états d’orbitales detype
d vers des orbitales detype
s de la bande deconduction,
donc enprincipe
interdite deparité.
Cette interdiction
apparaît
d’autantplus
stricte que les orbitales du niveau sont detype
e, donc théori-quement
peumélangées
avec celles desligands
etgardant
tout leur caractère d[33].
Il
s’agit, ici,
d’uneapproche simplifiée puisqu’en
réalité les états des bandes sont modifiés par le
potentiel
associé àl’impureté
substitutionnellecomme le
souligne
les calculsthéoriques
menés dansle cas d’une chaîne linéaire d’atomes
[34].
Par exem-ple,
pour la bande devalence,
laprojection
desorbitales p à
partir desquelles
elle est construite en sonmaximum,
sur le site indium où va seplacer l’impureté,
lui confère un caractère nonpurement
p tel que lesuggère
Martinez[35].
Nous pouvons faire la même
analyse
en cequi
concerne la
partie
des spectres03C30n
etoo
correspon-dant à la
photo-ionisation
et à laphotoneutralisation
des niveaux
Ti4 + /3
+ etFe3+ /2+.
Leurrapport
et leurs valeursrespectives
vont dans le sens de laparticipation
d’un électron detype
e. Dans le cas duFe3+ /12+
, la sectionoptique
de transition vers le minimum L est évidemmentplus grande,
(10-18-10-17 cm2), compte
tenu dumélange
d’étatsde
type
s et p sur cet extremum. Notons au passage que ces mesures absolues sur InP : Fe sont en bon accord avec celles sur GaAs : Fe[17].
Les valeursabsolues des sections de
photo-ionisation
du niveauCr 3+/2+
sont dans l’intervalle10-17-10-16 cm2,
montrant une levée
quasi complète
de larègle
d’interdiction de
parité.
Ceci est en accord avec laprise
encompte
d’orbitalesélectroniques
detype t2 mélangées
avec les orbitales p desligands [33].
Ceschéma
explicatif
est aussi cohérent avec les résultats du niveauMn3+ /2+.
Il est moins satisfaisant pour lecas du Co et du Cu. En
effet,
ils’agit
de la transition d’un électron detype
e, ce quen’indiquent
pas les résultatsexpérimentaux
sur les sections efficaces dephoto-ionisation (03C30n, 03C30p équivalents).
Dans le casdu
cuivre,
saposition
substitutionnelle à laplace
del’indium n’est pas définitivement
prouvée.
Sur lespectre cr p 0
duCuA
donné par lafigure
C de laplanche II,
nous voyons les structurescorrespondant
à celles
enregistrées (avec
une meilleurerésolution)
par Kullendorff et al.
[20].
Ces auteurs en ont donnéune
interprétation
en termes de résonances Fano dues à desrépliques
dephonons longitudinaux optiques (h03C9LO = 43 meV).
Le cas du cobalt estplus problématique
et reste ouvert à d’autres sché-mas
explicatifs théoriques (mélanges
internes?).
En ce
qui
concerne les transitionsinternes,
les valeurs maximalesdes 03C30 correspondantes
sont dequelque 10- 17 cm2.
S’ils’agissait
de transition entre orbitalespurement
detype d (d ~ d*),
nousdevrions nous attendre en
principe
à desprobabilités
de transitions
beaucoup plus
faibles. Nos résultatsexpérimentaux prouvent
que ces transitions ont lieu entre orbitales detype
e,gardant
tout leur carac-tère
d,
et orbitales de typet2,
ces dernières étant unmélange
de d et de p. Ceci entraîne la levéepartielle
d’interdiction de
parité
pour ces transitions.5. Conclusion.
Une étude
systématique
desspectres
de section efficace absolue dephoto-ionisation 03C30n(hv)
et03C30p(hv)
des niveaux créés dans la bande interdite de InP par les ions de transition 3dTi, V, Cr, Mn, Fe,
Co et Cu a été réalisée. Les différentsspectres
sont mesurés par latechnique
D.L.O.S. au moyen d’unappareillage permettant
la mesure absolue des sec-tions efficaces
optiques.
Ce travailexpérimental permet
d’en donner uncatalogue
presquecomplet
pour les ions 3d dans InP et les
grandes lignes
del’analyse qui peut
en être faite.Remerciements.
Nous remercions Y.
Toudic,
R.Coquille (C.N.E.T.
Lannion)
et B.Cockayne (RSRE)
pour nous avoir fourni les différents matériauxqui
ont servi à cetteétude,
ainsi que B.Lambert,
B. Deveaud(C.N.E.T.
Lannion)
et B.Clerjaud (Lab. d’Optique
de laMatière
Condensée, Paris)
pour les nombreuses discussions que nous avons eues ensemble.Bibliographie
[1]
KAUFMANN, U., SCHNEIDER, J.,Festkörperprobleme,
Vol. 20
(Advances
in Solid StatePhysics)
ed.Treusch J.
(Braunschweig : Vieweg)
1980, p. 87- 116.[2]
KAUFMANN, U. , SCHNEIDER, J., Adv. Electron.Phys.
58(1982)
81-141.[3]
NEUMARK, G. F., KOSAI, K., Semiconductors and Semimetals, Vol. 19, ed. Willardson R. K. and Beer A. C.(New
York : AcademicPress)
1983, p.1-74.[4]
MASTEROV, V. F., Fiz. Tekh.Poluprov.
18(1984)
3-23
(Engl.
Transl. Sov. Phys. Semicond. 18(1984)
1-13.[5]
CLERJAUD, B., J. Phys. C. 18(1985)
3615.[6]
ALLEN, J. W.,Semi-insulating
III-V Materials(Nottingham)
ed. Rees G. J.(Orpintong:
Shiva),
1980, p. 261.[7]
FAZZIO, A., CALDAS, M., ZUNGER, A., Phys. Rev.B 29
(1984)
5999 ; Phys. Rev. B 30(1984)
3430.[8]
ZUNGER, A., Annu. Rev. Mater. Sci. 15(1985)
411.[9]
VOGL, P., BARANOWSKI, J., Acta Phys. Pol. A 67(1985)
133.[10]
PICOLI, G., CHOMETTE, A., LANNOO, M., Phys.Rev. 30
(1984)
7138.[11]
CHANTRE, A., VINCENT, G., BOIS, D., Phys. Rev.B 23
(1981)
5335.[12]
LEYRAL, P., LITTY, F., BREMOND, G. ? NOUAILHAT, A., GUILLOT, G., Proc. of the 2nd Semi-insula-ting
III-V Materials(Evian)
ed. Makram-Ebeid S. and Tuck B., 1982, p.192.[13]
MARTIN, G. M., VERHEUKE M. L., JANSEN, J. A. J., POIBLAUD, G., J.Appl. Phys.
50(1979)
467.[14]
MARTINEZ, G., HENNEL, A. M., SZUSZKIEWICZ, W., BALKANSKI, M., CLERIAUD, B.,Phys.
Rev.B 23
(1981)
3920.[15]
ULRICI, W., Phys. Status Solidi A 84(1984)
243.[16]
HENNEL, A. M., SZUSZKIEWICZ, W., BALKANSKI, M., MARTINEZ, G., CLERJAUD, B.,Phys.
Rev.B 23
(1981)
3933.[17] KLEVERMAN,
M., OMLING, P., LEDEBO, L. A., GRIMMEISS, H. G., J.Appl.
Phys. 54(1983)
814.[18]
YANG, X. Z., GRIMMEISS, H. G., SAMUELSON, L., Solid State Commun. 48(1983)
427.[19]
YANG, X. Z., SAMUELSON, L., GRIMMEISS, H. G., 4th « Lund » Int. Conf. on Deep LevelImpuri-
ties in Semiconductors
(Egër, Hungary)
nonpublié.
[20]
KULLENDORFF, N., JANSSON, L., LEDEBO, L. A., J.Appl.
Phys. 54(1983)
3203.[21]
BREMOND, G., GUILLOT, G., NOUAILHAT, A., PICOLI, G., J. Phys. Appl. 59(1986)
2038.[22]
BREMOND, G., GUILLOT, G., NOUAILHAT, A., LAM-BERT, B., TOUDIC, Y., GAUNEAU, M., DEVEAUD, B., Proc. 14th Int.
Conf.
onDefects
in Semiconductors, ed. Von Bardeleben H. J.
(Trans
Tech. Publications Ltd.,Switzerland)
Materials Science Forum, Vol. 10-12
(1986) p. 657.
[23]
DEVEAUD, B., PLOT, B., LAMBERT, B., BREMOND, G., GUILLOT; G., NOUAILHAT, A., CLERJAUD, B., NAUD, C., J.Appl.
Phys. 59(1986)
3126.[24]
ROJO, P., GUILLOT, G., LEYRAL, P., NOUAILHAT, A., LAMBERT, B., DEVEAUD, B., TOUDIC, Y., Proc. 2nd NatoWorkshop
on MaterialsAspects
of InP
(Lancaster) (1983)
18.1-18.7.[25]
BREMOND, G., NOUAILHAT, A., GUILLOT, G., COCKAYNE, B., Solid State Commun. 41(1982)
477.
[26]
ROJO, P., LEYRAL, P., NOUAILHAT, A., GUILLOT, G., LAMBERT, B., DEVEAUD, B., COQUILLE, R., J.Appl.
Phys. 55(1984)
395.[27]
CLERJAUD, B., COTE, D., NAUD, C., BREMOND, G., GUILLOT, G., NOUAILHAT, A., Proc. 1986 NATOSponsored
InPWorkshop (1986)
àparai-
tre dans J.
Crystal
Growth.[28]
CLERJAUD, B., NAUD, C., PICOLI, Y., TOUDIC, G.,J.
Phys.
C 17(1984)
6469.[29]
KOSCHEL, W. H., KAUFMANN, U., BISHOP, S. G., Solid State Commun. 21(1977)
1069.[30]
SKOLNICK, M. S., DEAN, P. J. , TAPSTER, P. R., ROBBINS, D. J., COCKAYNE, B., MACEWAN,W. R., J. Lumin. 24/25
(1981)
241.[31]
CHELISKOWSKY, J. R., COHEN, M. L.,Phys.
Rev.B 14
(1976)
556.[32]
PLOT, B., Thèse de Doctorat, Université de Rennes(1986).
[33]
SUGANO, S., TANABE, Y., KAMIMURA, H., Multi-plets
of transition metal ions incrystals. (Acade-
mic Press, NewYork)
1970.[34]
PETIT, J., Thèse de Doctorat, Université de Lille(1985).
[35]
MARTINEZ, G., Proc. 14th Int. Conf. on Defects in Semiconductors, Ed. Von Bardeleben H. J.(Trans.
Tech. Publications Ltd,Switzerland),
Materials Science Forum, Vol. 10-12