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Surfaces and interfaces of semiconductors

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Academic year: 2021

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Texte intégral

(1)

REVUE DE PHYSIQUE APPLIQUÉE

Surfaces et interfaces de semiconducteurs

L’évolution

vers

la miniaturisation des dispositifs micro

et

optoélectroniques confère

un

rôle crucial

aux

interfaces des semiconducteurs. L’élaboration de

nouveaux

matériaux

en

couches minces, la caractérisation des propriétés des interfaces jusqu’à l’échelle atomique

et

également les aspects théoriques reliés

sont

donc

essentiels.

Ce numéro spécial rassemble

un

certain nombre d’articles présentés dans le colloque « Surfaces

et

interfaces de semiconducteurs » qui s’est

tenu

à Lyon pendant le Congrès de la Société Française de Physique du 25

au

29 septembre 1989. Ils portent

sur

l’un des trois thèmes développés durant

ce

colloque :

nouvelles techniques d’épitaxie-hétéroépitaxie, passivation des semiconducteurs, nouvelles techniques d’analyse.

Nous voudrions remercier

tous

les participants

et auteurs

qui

ont

contribué à

ce

numéro spécial.

G. Guillot (INSA Lyon)

J. Joseph (ECL Lyon)

Surfaces and interfaces of semiconductors

The trend towards miniaturisation of micro- and optoelectronic devices confers

a

crucial role

on

semiconductor interfaces. The elaboration of new thin film materials, the characterization of their interfacial

properties down

to

the atomic scale and also the theoretical aspects related

are

therefore essential.

This special issue assembles

some

papers presented

at

the colloquium « Surfaces and interfaces of semiconductors » in the

congress

of the French Physical Society held in Lyon,

on

25-29 September 1989.

They

are

concerned with the three topical

areas

of the colloquium : progress in epitaxial technology,

semiconductor passivation, and

new

analysis methods.

We would like

to

express

our

thanks

to

all the participants and contributors who contributed

to

this

special issue.

G. Guillot (INSA Lyon)

J. Joseph (ECL Lyon)

Article published online by EDP Sciences and available at http://dx.doi.org/10.1051/rphysap:01990002509086701

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