Localisation précise d'un maximum ou d'un minimum de transmission en fonction de la longueur d'onde. Application a la préparation des couches minces

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Localisation précise d’un maximum ou d’un minimum de

transmission en fonction de la longueur d’onde.

Application a la préparation des couches minces

Pierre Giacomo, Pierre Jacquinot

To cite this version:

59

LOCALISATION

PRÉCISE

D’UN MAXIMUM OU D’UN MINIMUM

DE

TRANSMISSION EN FONCTION DE LA LONGUEUR D’ONDE. APPLICATION A LA

_PRÉPARATION

DES COUCHES MINCES

Par PIERRE GIACOMO et PIERRE

_JACQUINOT.

Laboratoire Aimé

_{Cotton, C. N. R. S.,}

Bellevue.

Sommaire. -

Au moyen d’un miroir vibrant, on _produit une _petite variation _{périodique 03B403BB,} de

fréquence N, de la _longueur d’onde 03BB _envoyée sur _{l’objet à} étudier. Le flux transmis _{(ou réfléchi)} est reçu sur une cellule dont le courant est amplifié en courant alternatif. L’annulation (et l’inversion) de la composante de _fréquence N de ce courant se _produit pour les longueurs d’onde pour lesquelles la transmission _{(ou réflexion) pàsse par} un maximum ou un minimum. L’annulation de la composante de fréquence 2 N a _{lieu pour les points} d’inflexion.

La _{méthode, qui peut} être _{sensible, permet} l’étude très _rapide des filtres (position et _largeur de la bande _passante). On _indique dans _quel cas la sélectivité _{propre de l’appareil peut} être _gênante et comment on _{peut y} remédier. La méthode

_permet,

en _outre, de _régler exactement à un _multiple

de 03BB/4

l’épaisseur optique d’une couche _{diélectrique pendant} sa _{préparation.}

JOURNAL PHYSIQUE

PHYSIQUE APPLIQUÉE.

SUPPLÉMENT

TOME 13, FÉVRIER

1952,

1. Introduction. -

Lorsqu’une

lame,

transpa-rente ou

réfléchissante,

_possède

une sélectivité en

fonction de la

_longueur

d’onde,

il n’est pas

toujours

nécessaire de connaître toute la courbe

_{représentant}

la variation _y =

f (a)

de son facteur de transmission

ou de

réflexion;

il est souvent suffisant de savoir où sont

_placés

les maxima et les minima de cette courbe et éventuellement ses

_points

d’inflexion.

La localisation des maxima et _{minima par} tracé de la courbe y =

j(À)

ou _{par observation directe}

d’une

_{grandeur proportionnelle à y}

est, en

_général

peu

précise,

car _y est alors stationnaire.

-L’objet

du

_présent

travail est de décrire une

méthode

_permettant

d’observer directement des

grandeurs proportionnelles

aux dérivés et .

dA d?,

puisque

ces dérivés varient vite et

_changent

de

_signe

au

_voisinage

des

_points

intéressants,

maxima,

minima et

inflexion,

on

_peut

_espérer

obtenir ainsi une localisation bien

plus précise

et

_rapide

_{que par} les autres méthodes. Cette méthode

peut

avoir de nombreuses

_{applications,}

_par

_exemple

_{pour la} mesure

des filtres ou _{pour l’étude} et la

_préparation

de couches minces.

2.

_Principe

de la méthode. - 2.1.

_L’objet

dont on veut étudier la transmission

_{(ou réflexion)}

est _{éclairé par} une étroite bande

_spectrale,

de

lon-gueur d’onde

Ào

prélevée

dans le

spectre

continu d’une source

_lumineuse,

telle

_{qu’une lampe}

à incan-descence alimentée en courant continu. Cette lon-gueur

d’onde Ào

peut

être modifiée continûment de

_façon

à

_explorer

tout le

_spectre.

En

_outre,

la

longueur

d’onde utilisée est « modulée » suivant la loi

à une

_fréquence

N de l’ordre de

_quelques

dizaines

de

_périodes

_par

_seconde,

la

_profondeur

de modu-lation a étant

_{petite devant À o.}

Le flux transmis

est recueilli _par une cellule

_{photoélectrique}

dont le courant

_{amplifié, proportionnel}

au

_flux,

varie donc suivant la loi ’

Le coefflcient

_A,

fonction

_{d’appareil,}

_peut

pré-senter lui-même une sélectivité due

_{principalement}

à la source lumineuse et à la cellule

_employée

et être fonction de la

_longueur

d’onde. Mais nous commencerons _{par supposer que A} est

_indépendant

de À.

_{L’amplitude}

de modulation a étant

_petite,

on

_peut

_{développer’}

suivant les

_puissances

de a et écrire

Le courant

_comprend

d’abord une

_composante

continue de valeur

.

puis

une

_{composante il}

de

_fréquence

_N,

_{d’amplitude}

et une

_{composante i2}

de

_fréquence

2

_N,

_{d’amplitude}

Si l’on

_amplifie

seulement

les

_composantes

alterna-tives du courant

i,

on

_peut

_amplifier

suffisamment pour

pouvoir

apprécier

avec

_précision

les valeurs

60 A

de

_{À 0}

_qui

rendent nuls les termes

_{il ou i2}

et localiser ainsi les maxima et les

_points

d’inflexion.

La localisation des

_points

d’inflexion

_peut

être très utile dans le cas des filtres à bande relativement étroite : en

_effet,

on

_peut

définir une

_largeur

de bande

_passante

comme étant

la

différence des abscisses des

_points

d’inflexion de la courbe

_{y (a)}

(fig. 1)

et cette définition

_donne,

en

_général,

des

largeurs

peu différentes des définitions

conven-tionnelles.

L’observation des

composantes

_{et i2}

_peut

se

faire,

soit par

amplification

sélective sur les fré-quences N et 2

_N,

soit

_plus

_simplement

en observant

Fig Largeur de bande définie par les _points d’inflexion.

le courant

_il

_{+ i2}

sur un

_{oscilloscope qui}

_permet

de

juger

très facilement de la

_disparition

d’une des

composantes.

2.2 NORMALISATION. - Le coefficient A des

expressions précédentes

contient la brillance de la

source

_lumineuse,

l’étendue des

faisceaux,

les

trans-parences des divers organes

optiques,

la

_réponse

de la cellule et le

_gain

de

_{l’amplificateur;}

il

_peut

varier très notablement d’une

_partie

du

_spectre

à l’autre et

_présente,

en

_général,

un maximum vers

le milieu du

_spectre

visible. Il est

_avantageux

de

normaliser les valeurs des courants

_Il

et

_12;

_pour cela on asservit le

_gain

de

_{l’amplification}

à la valeur de la

_composante

continue

_{I o,}

de telle sorte _que

10

=

Ay garde

_une valeur constante

C; .si

y ou l’un des facteurs

précédents

varie,

on a alors

et

et l’on _{voit que les}

_amplitudes

_i,

et i2

mesurent des « dérivées _{réduites » de y} =

f (À).

Cette

normalisa-tion n’est nullement

nécessaire,

mais elle

_présente

l’avantage

de donner une sensibilité relative constante vis-à-vis des variations de A ou

_d,e

_y.

2.3. RÔLE DE LA SÉLECTIVITÉ DE LA FONCTION

D’APPAREIL. -

2.3.I..Évaluation

de l’erreur

com-mise ;

condition pour

qu’elle

soit

_{négligeable. -}

Nous avons, en

2. 1,

négligé

la variation de la fonction

d’appareil

A avec la

_longueur

d’onde;

en tenant

compte

cette fois de cette

variation,

la

_composante

alternative de

_fréquence

N du courant _{fourni par} la cellule

_peut

s’écrire

dont

_{l’amplitude}

est

lorsque Il

s’annule on a, non _pas

dy

= _o, mais

- dX

L’erreur

_ôy

_ainsi

faite sur la

longueur

d’onde

ÀM

qui

rend nul

dy

_dX

est

donc liée à la

pente

p

logarithmique

q de

_{A (X)}

et l’on

_{peut écrire, Àx}

étant la valeur

_qui

rend

Ly

nul et

ÀM

+

al.,

celle

_qui

rend nul le

cou-d7, .

rant

_I,,

Si,

de

_plus,

_{A (À)}

_possède

un maximum ou un

mini-mum _pas

_trop

loin de

ÀM,

à une distance 0’ À de

ÀM

+

oÀ,

on a

L’erreur commise sur

km

est dohc

_négligeable

si la « courbure réduite » de la courbe

y (À)

est

grande

_par

rapport

à celle de A

_(k),

ce

_qui

est le cas _{pour des}

objets

très sélectifs _{tels que les filtres}

_{interférentiels, ,}

par

exemple.

Dans ce _cas, la localisation du maximum de transmission

_peut

se faire immédiatement sans

aucune

_correction;

il en est de même pour la mesure

des

_largeurs

de _{bande par les}

_points

d’inflexion.

En

outre,

l’erreur tend à s’annuler si le

maxi-mum de A est _{voisin du maximum de y.}

2.3.2.

Méthodes

de mesure dans le cas où la

sélec-üvité

_d’appareil

_{n’est pas}

_{négligeable.}

- On

peut

proposer

plusieurs procédés

pour

mesurer correc-tement les

_longueurs

d’onde

ÀM

qui

rendent

maxi-mum

_y(À),

_malgré

la sélectivité de A et dans le cas où

_{l’approximation}

_précédente

n’est

_plus

valable. Seul le troisième a été utilisé en

_pratique,

mais la

connaissance du

_premier

sera utile pour la suite de

_l’exposé.

2.3.2.1. Correction de la

_{fonction A(k).}

- On

peut

interposer quelque part

sur le

_trajet

lumineux

un filtre dont la transmission

soit,

au moins dans un domaine

limité,

B(k)

= At>-).

En

principe,

cela

peut

s’obtenir en formant un

_spectre

intermédiaire sur

_lequel

on

_dispose

un cache

( fig. 2)

découvrant

Fi g. 2. a. Correction totale de A b. Correction locale annulant

dA ,

QÀ

pour

chaque longueur

d’onde,

une hauteur de

_spectre,

H(k) = ’ -

Mais ce cache est très difficile à

Ao,)

réaliser : de

_petites

_{irrégularités}

du cache créent des valeurs locales élevées de la dérivée

dH

et,

en

_outre,

on s’astreint ainsi à une luminosité d’ensemble

très

_faible,

_égale

à celle du

_système

aux frontières

du domaine d’utilisation.

On

_peut

toutefois faire en sorte

que dA

soit nulle

dX

pour une X donnée : il suffit de

disposer

sur un

_spectre

intermédiaire un cache en forme de couteau orien-table par

rapport

à la direction du

_spectre.

Le

_réglage

de l’orientation

_peut

se faire très

_simplement

en

observant le courant

_il,

_{pour la}

_longueur

d’onde

choisie,

en l’absence de

_l’objet

à étudier.

On ne

_peut,

certes,

songer à

trouver

des filtres

en verre coloré ou de

_type

interférentiel dont la

transmission soit

_{précisément}

l’inverse de

_{A (k),}

mais il est

_important

de noter _{pour la suite que l’on}

peut,

avec de tels

filtres,

améliorer la

_réponse

A

_(À),

c’est-à-dire

diminuer,

ou

_inverser,

dans des domaines

restreints,

sa,

_pente

et sa courbure.

2.3.2.2. Méthodes

_{différentielles.}

- Si l’on admet

que l’on

puisse disposer

de deux cellules

photo-électriques

dont les

_{réponses spectrales}

_soient

pro-portionnelles,

on

_peut

éliminer

_{complètement}

le

rôle de

_{A (À)}

_par une méthode différentielle.

Étant

donné la difficulté de trouver des cellules

_répondant

à cette

_condition,

il ne semble pas utile

_d’exposer

ici la

_méthode;

_signalons

seulement

_qu’elle

utilise la normalisation

_séparée

de la

_réponse

de

_chaque

cellule.

2.3.z.3. Méthode d’itération. -

Montrons que la méthode de correction locale

_{(2 . 3.2.1 ) permét}

dans certaines conditions de déterminer _par

approxi-mations successives la

_longueur

d’onde pour

laquelle

y(À)

est maximum.

En l’absence

_de

_correction,

on sait déterminer

À1

telle que -

on

_peut

alors à l’aide du

couteau,

annuler le courant

_il

à vide

_{pour À1;}

on transforme ainsi A en

_Al,

tel que

on cherche alors

_n2

_{tel que}

et ainsi de suite. La

_plupart

du

_temps,

ce _processus

est

_convergent

et conduit vers

ÀlBI.

Pour en

_discuter,

nous _{supposerons que A}

_possède

un maximum

pour

À 0

voisin de

J,}{

et nous assimilerons les

courbes ’dF

, F d), à leurs

_tangentes

au

_voisinage

de

J’I.

L’action du couteau sur A se traduit _par

et

devient nul pour d’où

Nous verrons _{bientôt que dans les} cas de

conver-gence, a

et

_Xi

restent voisins de

km;

d’autre

_part,

A

_présentant

un maximum

_{pour ko}

et une courbure

faible au

_voisinage,

le

_{terme g(k-kl)}

reste

négli-geable

devant i

dans le domaine de X

_qui

nous

intéresse. Dès

lors,

la

courbe

A 1 ev:-

se déduit

e A

dA

1 dX A /,

Fig. 3. -

62

1 1 1

d Y doit couper

I

dA

que la

courbe

-

y d’À

doit

_{couper A}

dA

entre

_A0

et

_{2013 0+2}

J’M.

Donc,

pour

ÀM,

doit être extérieur à l’intervalle

L’itération ne

_peut

_{converger que si la} « courbure réduite » de y au

_voisinage

de son maximum n’est

pas simultanément inférieure au double de celle

de A et de

_signe

contraire.

_{Pratiquement,}

_{il y} a

convergence

chaque

fois que y

présente

un maximum

et la _convergence est

_rapide

si ce maximum n’est

pas

trop

plat.

Dans le cas d’un minimum peu

accen-tué,

il

_peut

_{y avoir}

_{divergence :}

tel est le cas, par

exemple,

des verres traités en antireflets.

2 . 3. z.4.

Recherches à X constant d’un maximum

en

_fonction

d’un autre

_paramètre.

- Ce

problème

se

_présente

_pour

chercher,

par

exemple,

dans le

cas d’un filtre non

_uniforme,

à

_quel

endroit

_(ou

pour

quelle incidence)

sa bande

_passante

se trouve à une

_longueur

d’onde

donnée;

c’est aussi le cas de la

_préparation

des couches minces

_{diélectriques}

dont le facteur de réflexion pour un À _{donné passe} par un minimum

_lorsque

leur

_épaisseur

_optique

passe par la

valeur

Dans ce cas, il suffit de

réaliser,

pour la

longueur

d’onde

choisie,

l’annulation locale

de dA

par la méthode du couteau orientable dans le

spectre

intermédiaire. Nous donnerons un

_exemple

d’application

au

_paragraphe

5.

3. Réalisation. - Parmi les diverses réalisations

possibles,

nous décrirons seulement celle

_qui

a été mise au

_point

et

_qui

est utilisée au laboratoire.

3.I. SYSTÈME OPTIQUE. - La

source est une

lampe

d’auto à filament de

_tungstène

alimentée à

tension

constante

_(avec

une batterie montée en

tampon)

de

_façon

à éviter toute variation de sa

répartition spectrale,

qui

intervient

dans

A

_(À).

Elle est

_projetée

sur la fente d’un

_spectroscope

S à déviation

constante,

dont on

_peut

faire tourner le

_prisme

au _moyen d’un bouton

_gradué

en

_longueurs

d’onde.

L’objet

à

étudier

est

_placé

en _{y s’il}

_s’agit

d’étudier

sa

_{transmission;}

une

_{modification,}

non dessinée

sur la

_figure

4

permet

d’étudier la réflexion. Un

spectre

intermédiaire

est

_produit

en

_Sp,

et dans son

plan

se trouve un couteau orientable suivant le schéma de la

_figure

2.

Ce

_spectre

est

_projeté

sur la fente

_F2

d’une boîte à cellule

_après

réflexion sur un miroir vibrant MV. La distance MV-F étant de l’ordre de 5o cm et la

dispersion

moyenne dans le

plan

de F de oo À : mm, il suffit d’une

_amplitude

de _{vibration de 6’ pour} obtenir une

_amplitude

de modulation de À de 100

Å.

Fig. 4. - Schéma optique de l’appareil.

Cette vibration est obtenue au _{moyen d’un}

électro-aimant alimenté par le secteur, le miroir étant

_porté

par une lame

_élastique

en acier dont la

_fréquence

propre est 10o _{p :} s; un

_petit

autotransformateur

variable

_permet

de faire varier à volonté

_{l’amplitude}

de vibration.

3.2. PARTIE

ÉLECTRIQUE.

- La

cellule

photo-électrique

est un

_{multiplicateur}

d’électrons

du

type

RCA 931 A. Sa tension

d’alimentation,

fournie par un

_système

de redressement

_classique,

_peut

être contrôlée au _{moyen d’une}

lampe

« rhéostat »

LI

_pour réaliser une variation du

coèfficient

d’amplification

.de

la

cejlule

permettant

la normalisation mention-née en 2.2.z. A cet

effet,

le courant de cellule crée aux bornes de la résistance R une différence de

potentiel

dont la

_partie

continue est

_appliquée,

par l’intermédiaire d’un filtre

passe-bas CI RI

à la

Fig. 5. - Schéma

électrique.

grille

de

_Li.

L’ensemble

_règle

_{automatiquement}

la tension

_appliquée

à la

cellule,

de telle sorte _que la tension continue aux _{bornes de R soit à très peu}

de chose

_près

constante,

ce

qui

réalise la

sur la cellule est

faible,

le coefficient

_{d’amplification}

de la cellule devient

_grand

et les fluctuations de courant d’obscurité

_peuvent

commencer à devenir

gênantes :

on

_peut

les atténuer sensiblement au

moyen du condensateur C. La

partie

alternative de la tension Ri est

_amplifiée

_par un

_{amplificateur}

très

_classique

à deux

_{étages, puis}

_appliquée

aux

plaques

de déviation verticale d’un tube

catho-dique :

un filtre à double T est

_interposé

de

_façon

à

_supprimer

les tensions

_parasites

à 5o _{p :} s. Le

balayage

du tube

_cathodique

est assuré directement par le 5o p : s du secteur

_{qu’un dispositif déphaseur}

classique

permet

de mettre en

_phase

convenable par

rapport

au courant

_{photoélectrique.}

L’existence d’une

_composante

de

_fréquence

N dans le courant

peut

ainsi donner une lemniscate

_{symétrique :}

la

présence

de la

_composante

de

_fréquence

2 N déforme

la courbe de

_façon

très visible et l’absence de

fré-qùence

N donne une

_figure

très facile à identifier

même en

_présence

de

_composante

2 N. On

_peut

donc

_juger

très facilement de l’eXtinction des fré-quences N et 2 N et trouver ainsi les maxima et les

points

d’inflexion de

_y(a);

il est

_préférable

de choisir

une assez faible modulation en X _{pour la recherche}

d’un maximum et une

_beaucoup

_plus

_{forte pour la}

recherche

d’un

_point

d’inflexion.

Il

serait

_avantageux,

_pour un

_appareil

de

_routine,

d’amplifier

et de détecter

_{séparément,}

au _moyen

de

_ponts

de

_phase

alimentés

_{respectivement}

à o0

et 200 _{p :} s, les

composantes

de

_fréquence

N et 2 N :

on

_pourrait

ainsi en lire

_séparément

_{l’amplitude}

et le

_signe

sur deux

_{milliampèremètres}

distincts.

Mais le

_système

à tube

_cathodique,

_plus

_rapide

à

construire,

donne

_déjà

des résultats excellents.. 4. Résultats. - Pour

éprouver

la sensibilité ’ et la

fidélité

du

_système,

nous avons cherché à localiser les

_franges

sombres et les

_franges

brillantes par réflexion sur une lame de

_cryolithe

en forme de coin

_déposée

sur une lame de verre noircie de l’autre côté.

_{L’épaisseur}

de

_cryolithe

variait entre o,z

et

_{0,8 fl}

et l’on

_pouvait

voir sur la lame trois

_franges

sombres distantes d’environ I5mm. Les

mesures

furent faites

à X

constant

₍₅

₄₀₀

_Á),

la correction de

dA

étant faite _{par le}

_procédé

du couteau

_indiqué

en 2.3.2.1. L’observation à

_{l’oscilloscope}

_permit

de localiser les

_franges

sombres à ± _0,1 mm

_près,

ce

qui

correspond

à une variation

_{d’épaisseur}

de’j x ;

00 la

_précision

de

_pointé

des

_franges

brillantes était un

peu

moins

bonne

et

correspondait

à une variation

d’épaisseur

de

150

_I5o La

_précision

est donc

excellente,

étant donné que le facteur de

réflexion

d’une lame de

_{cryolithe déposée}

sur verre varie assez lentement en fonction de

l’épaisseur.

La détermination de la

_position

de la bande

passante

d’un filtre interférentiel se fait

directement,

sans aucune correction

_(voir

_{2 .3.I)}

à

_quelques

angstrôms

près

et ne _{demande pas}

_plus

de i mn; il en est de _{même pour la}

_largeur

de bande

_qu’on

détermine à

_quelques

_{pour-cent près.}

Dans le cas

_des

_systèmes

_{très peu}

_sélectifs,

dont le maximum de réflexion est totalement inconnu

d’avance,

la méthode d’itération

_(voir

_{2.3.2.3) peut}

être

nécessaire;

la mesure est alors un _peu

_plus

longue

et sa

_précision

_{dépend beaucoup}

de la sélec-tivité de

_l’objet

étudié. A titre

_d’exemple,

on obtient pour la

transmission

d’un filtre Wratten 58 B

2,

dont le facteur de transmission est _{donné par la}

figure

6,

les valeurs successives

_{?,J, À2,}

... suivantes :

a.

_5480,

_529o,

5255,

524g,

5242, 5243, 5242;

b.

_51go,

5235,

524o, 5243,

5243.

,

(On

est volontairement

_parti

de deux

_positions

initiales arbitraires du

_couteau);

ces valeurs sont

Fig. 6. - Itération dans le

cas _{d’un filtre peu} sélectif.

reportées

sur la courbe

_{T (À);}

on _{voit que la}

déter-mination du maximum est

_beaucoup

_{plus précise}

que par la mesure directe de T.

5.

_Application

à l’étude et à la

_préparation

de

couches minces. - La connaissance

_précise

de

la

_longueur

_{d’onde pour}

_laquelle

la réflexion d’une lame est maximum ou

_minimum,

_jointe

à la

connai5sance

de son

_épaisseur,

facile à obtenir par

interférométrie, permet

de connaître l’indice de la substance.

En

outre,

la méthode

_exposée

fournit un

_procédé

très efficace de contrôle

de

_{l’épaisseur optique}

d’une lame mince non

absorbante,

_pendant

sa

_préparation

même et la

détermination exacte

du moment où cette

_{épaisseur optique}

atteint le

_quart

d’une lon-gueur

d’onde

fixée

(ou

un

multiple

de

En

effet,

B

le facteur de réflexion R de la lame ne

_dépend

_que

de 1

et si l’on

_néglige

la

_dispersion

de n,

toujours

très

faible,

on a

64

cherchant le maximum de R en fonction de ’À ou

en fonction

de

e. On

_{opère donc,}

_par

_réflexion,

de

Fig. 7. 2013 Montage sur _{l’évaporateur.}

la

_façon

suivante,

dans le cas où le

_dépôt

de la lame

mince doit être effectué sur une lame en verre : on réalise avant

_évaporation

la correction locale

de la fonction

_d’appareil

_{pour la}

_longueur

d’onde

choisie,

le faisceau se réfléchissant sur la lame de

verre nue, dont la réflexion est

_pratiquement

indé-pendante

de

À ;

il est commode de choisir la

_phase

du

_balayage

de

façon

à obtenir

_{approximativement}

une lemniscate

_quand

le

_système

est

_{déséquilibré.}

Ensuite,

on ne touche

_plus

à aucun des

_réglages

et l’on

_procède

à

_{l’évaporation,}

en suivant la

_figure

sur

_{l’oscilloscope : lorsque l’épaisseur}

_croît,

la

_figure

de

_{Lissaj ous primitivement}

réduite à un

_segment

de droite horizontal

_{prend rapidement}

de

l’ampli-tude,

puis

reste assez

_longtemps

sans variation

importante; quand l’amplitude

commence à décroître de

_{façon sensible,}

on arrive

_rapidement

à

_{l’équilibre,}

que l’on

peut

repérer

avec une

_grande

_précision,

11

variant à peu

près

linéairement en fonction de e

(donc

du

_temps)

au

_voisinage

_{de I,}

= o. Il suffit

de manaeuvrer un écran convenable pour arrêter

l’opération,

au moment

_propice.

La

_{figure 7}

donne la

_photographie

du

_montage

réalisé au Laboratoire _pour

_{l’évaporation}

de couches

multiples.

Manuscrit reçu le o décembre 1951.

EXPÉRIENCES

_D’OPTIQUE

_{ÉLECTRONIQUE}

Par CHARLES FERT.

Laboratoire

_{d’Optique électronique.}

Toulouse. Sommaire. -

Description d’un _{appareil simple d’Optique électronique. Emploi} comme _appareil de

démonstration.

LE JOURNAL DE _PHYSIQUE ET LE RADIUM.

PHYSIQUE APPLIQUÉE.

SUPPLÉMENT AU No 2.

TOME

_13,

FÉVRIER

_1952,

PAGE 64 A.

Nous avons construit un

appareil

destiné à servir de banc

_{d’optique simple}

pour des essais et des

,

expériences

d’Optique

électronique.

En

outre,

cet

appareil

muni d’un écran de

_grandes

_dimensions,

permet

de montrer à un auditoire les

_expériences

fondamentales

_{d’Optique électronique.}

Nous nous _{proposons de le décrire dans} cet

_article,

ainsi

_{que quelques-unes}

des

_expériences

de démons-tration

_qu’il

_permet

de réaliser.

Llescription générale

de-l’appareil.

-

L’ins-tallation

_comprend

essentiellement

_{(fig. I) :}

- Un tube à vide

démontable;

- Des lentilles

électroniques;

- Des

générateurs;

- Un groupe de pompes.

IoLe tube à vide. - Le tube à vide

(fig. 2), porté

par un banc

_d’optique

_ordinaire,

_comprend

diffé-Fig. 1. - Vue d’ensemble de

l’appareil.

G, générateur; Ch, accumulateur; L, lentilles; C, canon à