INSTITUT NEEL Grenoble
Proposition de stage DUT - Année universitaire 2020-2021
Acquisition d’images électronique et électromécanique dans un MEB
Cadre général :
La microscopie électronique à balayage est une technique de choix pour l’étude des matériaux et plus particulièrement des nano objets du fait de son excellente résolution spatiale. Son principe repose sur l’interaction électrons / matière. En MEB, différents modes d’imagerie (topographie, de contrastes de compositions chimiques) peuvent être déployer pour étudier les échantillons. Des détecteurs supplémentaires de microanalyses chimique ou structurale peuvent compléter cet équipement.
Récemment, nous avons étendu l’utilisation de la MEB au domaine temporel et montré la faisabilité de détection des vibrations à haute fréquence de nanostructures à l’aide d’un faisceau d’électrons focalisé et de réaliser un nouveau type d’image (« Dynamical Electron MicrOScopy » (DEMOS)) [1,2]. Cela ouvre de nouvelles perspectives de détection comme la mesure des masses déposées (couches minces), la thermométrie à résolution spatiale et la caractérisation des propriétés mécaniques des nano objets.
[1]: “Shot-Noise-Limited Nanomechanical Detection and Radiation Pressure Backaction from an Electron Beam”, S. Pairis, F. Donatini, M. Hocevar, D. Tumanov, N. Vaish, J. Claudon, J.-P. Poizat, and P. Verlot, Phys.
Rev. Lett. 122, 083603 – March 2019
[2]: “Dynamic Electron Microscopy of nanomechanical resonators”, S. Pairis, F. Donatini, M. Hocevar, D.
Tumanov, N. Vaish, J. Claudon, J.-P. Poizat, and P. Verlot in Highligth of Neel Institute, March 2020 https://neel.cnrs.fr/en/institut-neel/science-society/highlights
Sujet exact, moyens disponibles :
Pour développer le potentiel de cette nouvelle technique d’imagerie, il est nécessaire de piloter le faisceau électronique avec des paramètres qui soient adaptés aux propriétés mécanique de la nano structure.
L’objectif de ce projet est de développer une interface intuitive permettant de piloter le faisceau d’électron à façon, de réaliser l’acquisition synchronisée de l’image et des spectres de vibrations électromécaniques. Le / La candidat–e devra avoir des connaissances en électronique, en programmation (LabView) et en microscopie électronique à balayage. Il / Elle développera une expertise en nano-électromécanique et en système de pilotage d’un MEB, avec un impact potentiel important pour les communautés liées à la détection et à l’imagerie.
Prérequis : électronique, programmation Labview, microscopie électronique
Bénéfices : formation en MEB et en nano-objets électromécanique, impact important dans la communauté nano matériaux et MEB.
Période envisagée pour le début du stage : 10 semaines Janvier à Mars 2021 Contact : Sébastien PAIRIS
Institut Néel - CNRS 04.76.88.74.19 sebastien.pairis@neel.cnrs.fr Plus d'informations sur : http://neel.cnrs.fr
