alimentations
alimentations à à d d é é coupage coupage
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Condensateur : Principe de fonctionnement Condensateur : Principe de fonctionnement
Propriétés:
• Pour un volume donné: C ~ εr
• Rigidité diélectrique k : Umax = k.d (dépend du champ de claquage Emax)
• Résistance d’isolement (ρ diélectrique influencé par la temp., l’humidité)
• Pertes diélectriques (facteur de pertes en mode AC)
• Stabilité du diélectrique (vieillissement, cycles de température) où:
S cathode dielectrique
d
(εr)
anode
d C =εrε0 S
avec:
• εrε0 constante diélectrique (ε0=8.85x10-8 As/Vm)
• S surface des armatures (plaques)
• d épaisseur du diélectrique
{
2 0
2 max
max 2
1 2
1CU Sd k
W
Volume rε
ε
=
=
Q P DF =
Condensateur : Mod
Condensateur : Mod è è le le é é quivalent quivalent
avec:
• RESR : dû aux contacts & résistance plaques
• Risol : isolation du diélectrique
• LESL : L parasite des contacts & « inertie » du diélectrique
L R
Risol
ESL ESR C
C j
C R j C L C R
j R
L j
Z ESL ESR
isol ESR
ESL ω
ω ω
ω ω 1
1
1 ≅ − 2 + +
+ +
+
=
RESR @-25°C RESR @+25°C
C RESR LESL
Z
Domaines de fonctionnement:
• ω < ω1 : capacité
• ω1< ω <ω2 : résistance
• ω > ω2 : inductance (!)
C RESR
1= 1 ω
ESR ESL
R
= L ω 2
C LESR
r= 1 ω
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Exercice :
Calculer l’ondulation en tension à la sortie d’un DC/DC abaisseur (ΔIL=0.5A, fP=250kHz) pour les cas suivants :
1. Condensateur de sortie avec C=100μF et ESR=48mΩ.
2. On rajoute en parallèle un deuxième condo avec C=10μF et ESR=1mΩ.
Condensateur : Technologies Condensateur : Technologies
Les technologies dépendent des matériaux utilisés pour le diélectrique et les armatures.
Chaque technologie possède des propriétés et des gammes de capacité différentes.
Sous réserve de l’évolution
technologiques
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Condensateur : Technologies Condensateur : Technologies
A. Diélectriques composites
• Armatures en feuilles d’étain ou d’aluminium (épaisseur de 5 à 40 μm)
• Diélectriques en céramique, papier ou plastique
• Bonnes tenue en tension et fréquence
A1. Armatures à films métallisés
• Armatures en films déposés par évaporation sous vide (ép. de quelques μm)
• Diélectriques minces et de résistivités élevées
• Propriétés auto-cicatrisantes (« self-healing »)
• Faibles dissipation de puissance également à haute fréquences
Condensateur
Condensateur à à films m films m é é tallis tallis é é s s
Diélectrique Facteur Vol.
Facteur Dissip.
[%] @25°C, 1kHz
Risol [MΩ/μF]
@25°C
Tmax [°C]
Propriétés
Polyester 0.83 0.30 50000 150 Haute température
Polyester métallisé
0.47 0.45 25000 125 Petite taille
Polycarbonate 3.3 0.10 100000 125
Polycarbonate métallisé
0.47 0.25 100000 125
Haute stabilité
Bonne tenue en haute fréq
Polypropylène 4 0.05 200000 105
Polypropylène métallisé
0.67 0.1 200000 105
Polystirène 4.7 0.025 2500000 85 Bonne stabilité en
température Haute stabilité
Bonne tenue en haute fréq.
Faibles pertes
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Condensateur : Technologies (suite) Condensateur : Technologies (suite)
B. Diélectriques chimique
• Armatures immergée dans solution électrolytique
• Représente une électrolyse avec Anode & Cathode -> condensateur polarisé
• Capacité de densité élevée
B1. Electrolyte Tantale
• Diélectrique en poudre de tantale
• Relativement bonne tenue en fréquence
• Peut présenter un risque d’emballement thermique, lors de forts appels de courants.
B2. Electrolyte Aluminium
• 2 types : « classique » et « faible ESR »
• Type à faible ESR : meilleure tenue en fréquence & moins de dissipation
Condensateur : choix de technologie Condensateur : choix de technologie
Dans les alimentations à découpage, les condensateurs doivent remplir 2 rôles distinct:
Maintenir une tension DC
• Réservoir d’énergie pour maintenir leur tension en fonction d’une variation de charge.
• Besoin de capacités élevées.
Filtrer des composantes AC
• Filtrage des composantes de hachage de courants
• Besoin de bonnes tenues en fréquence (ESR faible)
Recommandation
Afin de réaliser les 2 fonctions on place souvent un condensateur de capacité élevée (électrolytique) en parallèle avec des
condensateurs de faible ESR (p.ex. à films métallisés).
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Inductances & Transformateurs Inductances & Transformateurs
Propriétés:
• Pour estimer volume nécessaire : Sfer x Sbob. (voir chap. transfos)
• Saturation magnétique ψmax en [Vsec.]
(dépend de l’induction de saturation Bsat)
• Résistance d’isolement (entre fils) influencé par la temp. & l’humidité
• Pertes ohmiques & magnétiques
• Couplage capacitif possible entre spires ou bobines où: L = n2 ⋅Λeq
avec:
• μeqμ0 permittivité magn. (μ0=4π.10-7 H/m)
• Seq, leq section et longueur équivalentes
• n nombre de spires
( )
eq satL t dt n n S B
U = ⋅Φ = ⋅ ⋅
= Ψmax
∫
(
B f)
P V
P = ⋅ V ,
Coupe à travers induct./transfo:
eq eq eq
eq l
S μ0
μ ⋅
= Λ
1 et 2 Partie sup. et inf. du cops de ferrite 3 Vis d’ajustage d’entrefer
4 Corps de bobine
ψ
i
ψSAT
pente L1
pente L2<L1
ψ1
Wmag(ψ1,L1)
Β
H
ΒSAT
pente μeq1
pente μeq2< μeq1
Β1
ϖmag(Β1,μeq1)
Energie magn
Energie magn é é tique « tique « contenue contenue » »
∫
∫
= ⋅=
B
mag id V HdB
W
0 0
ψ
ψ (voir cours MET1)
Densité d’énergie ϖmag
Conclusion :
• Pour augmenter ϖmag, il faut diminuer μeq (augmenter entre-fer)
• Il faut diminuer μ (donc L) pour augmenter W dans un volume donné
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Noyeau P18-11 de Epcos Exercice :
Trouver l’énergie magnétique maximale contenue dans une ferrite de volume donnée ayant une saturation Bsat de 300 mT et exécutée avec 2 entrefers différents N48 :
•Λ1 = 160nH (avec entrefer de 0.32mm)
•Λ2 = 630nH (avec entrefer de 0.05mm)
Effet de
Effet de μ μ
eqeqsur les fuites dans un transformateur sur les fuites dans un transformateur
Rappel :
la permittivité relative (équivalente) μeq représente la « conductivité magnétique » relative par rapport à l’air (ou le vide) μ0.
Φσ1 i1
u2 u1
i2
R1 R2
Φσ2
ui1 ui2
Φh
Conclusions :
• En diminuant μeq, on augmente les flux de fuites φσ par rapport au flux principal φh.
• En augmentant les flux de fuites par rapport au flux principal, on augmente les inductances de fuites Lσ par rapport à l’inductance de magnétisation Lh.
• Par définition ces flux de fuites ne sont pas couplés entre primaire et secondaire.
Dans un montage de type « flyback », l’énergie emmagasinée dans l’inductance de fuite au primaire ne pourra donc pas être restituée au secondaire. Cette énergie ne
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Comparaison transfos d
Comparaison transfos d ’ ’ accumulation et transfo direct accumulation et transfo direct
Transformateur d'accumulation
Transformateur direct
montages DC/DC flyback forward, push-pull rôle transfo accumulation &
restitution de Wmag
transformation directe de Uin
dimensionnement Lh Lh et μeq aussi faibles que possibles
Lh et μeq aussi élevés que possibles
fuites élevées faibles
pertes induites par
Wmag fuites élevées faibles
rendements DC/DC 60%...75% 85%...95%
puissances DC/DC x mW à 100W 100W à x kW
Diodes et Transistors Diodes et Transistors
MOSFET n:
G
S D
G
D
MOSFET p:
S IF
UF
Diode:
Propriétés:
• Donnée des éléments parasites influences transitoires de commutation (CGS, CDS, capa de jonction)
• Puissance de commutation dépend des temps de commutation
• Pertes de conduction :
• Températures de jonction dépendent des résistances thermiques & pertes
2 ,eff DS DS
c R I
P = ⋅ EPU1
Diode MOSFET
F j
c U I
P ≅ ⋅
DSS DSON D
RThjC = 0.34 [°C/W] Boitier TO247 Exemple IRFP22N60 type n
V = 600 [V] R = 240 [mΩ] I = 22 [A]
Exemple FEP30AP boitier TO247
RThjC = 0.34 [°C/W]
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Facteurs de stress et taux d
Facteurs de stress et taux d’ ’ utilisation utilisation
Définition :
∑
=
⋅
= m
k
rms k peak
k I
U S
1
) ( ) (
S TC = Pout
Facteur de stress pour m composants actifs
Le taux d’utilisation (de charge) représente le
« surdimensionnement » des composants actifs par rapport à la puissance de sortie du DC/DC
(proportionnel à la surface de silicium nécessaire)
Calcul Irms : i dt I T
Tp
p
rms = ⋅
∫
⋅0 2 )
(
1 Cas général (Parseval)
t i(t)
I
Δi
DTp
Tp
2 )
( 12
1 1 ⎟
⎠
⎜ ⎞
⎝
⋅⎛ Δ +
⋅
⋅
= I
D i I I rms
Pour un courant pulsé:
Exemple d
Exemple d ’ ’ application application
La table ci-dessous résume les divers caractéristiques déterminantes pour les transistors des convertisseurs à transfos étudiés en mode de conduction continu.
Flyback Forward Push-Pull
Irms
Umax
S
TC D (1 D)
S
TC = Pout = ⋅ − ) 1
( D
D S Pout
−
= ⋅
rms out
Q I
D D n
I n ⋅
⋅ −
= 1 1
2 )
( Q rms D Iout
n
I = n ⋅ ⋅
1 3 )
( Q rms D Iout
n
I = n ⋅ ⋅
1 2
2 ) 4( , 3 , 2 , 1
Pout
n n S = 1D ⋅(1+ )⋅
1 2
) 1
1 (
1 2
n n D
Tc = ⋅ +
D S Pout
= ⋅ 2
D Tc
= ⋅ 2
1