• Aucun résultat trouvé

Rappels : Semi conducteurs

N/A
N/A
Protected

Academic year: 2022

Partager "Rappels : Semi conducteurs"

Copied!
159
0
0

Texte intégral

(1)

Rappels :

Semi conducteurs

(2)

T = 0°K

(3)

apparition des porteurs de charge « thermiques »

paires « électrons-trous »

(4)

Il y a environ 2 paires électron- trou pour 10 milliards d’atome à

température ordinaire (20°C)

(5)

Il y a environ dix mille milliards de milliards d’atome (10 22 ) dans

un gramme de silicium, donc deux mille milliards (2x10 12 ) d’électrons libres par gramme

de silicium

(6)

T > 0°K électrons

trous

(7)

T > 0°K

(8)

T > 0°K

(9)

T > 0°K

(10)

T > 0°K

(11)

T > 0°K

(12)

T > 0°K

recombinaison

(13)

Semi conducteur dopé « p »

(14)

Semi conducteur dopé « p »

• Introduction d’atomes trivalents, environ 1 pour 10 millions d’atome de silicium

• Indium, bore…

(15)
(16)
(17)
(18)
(19)
(20)
(21)
(22)
(23)
(24)

Conduction dans un semi conducteur

dopé « p »

(25)
(26)
(27)
(28)
(29)
(30)
(31)
(32)
(33)
(34)
(35)
(36)
(37)
(38)
(39)
(40)
(41)
(42)
(43)

Semi conducteur dopé « n »

(44)

Semi conducteur dopé « n »

• Introduction d’atomes trivalents, environ 1 pour 10 millions d’atome de silicium

• Arsenic, antimoine, …

(45)
(46)
(47)
(48)
(49)
(50)
(51)
(52)

Jonction pn

(53)

P N

(54)

P N

(55)

P N

(56)

P N

(57)

P N

(58)

P N

(59)

P N

Zone chargée négativement

(60)

P N

Zone chargée positivement

(61)

P N

Zone chargée positivement

(62)

P N

Zone chargée négativement

(63)

P N

Zone dépeuplée de porteurs de charge mobiles

(64)

P N

Zone de déplétion

(65)

Polarisation de la jonction pn

La diode

(66)

jonction pn polarisée avec le

+ sur l’anode

(67)

P N

+

(68)

P N E<0,7 V

+

(69)

P N E>0,7 V

+

(70)

P N E>0,7 V

+

(71)

P N E>0,7 V

+

(72)

P N E>0,7 V

+

(73)

P N E>0,7 V

+

(74)

P N E>0,7 V

+

(75)

P N E>0,7 V

+

(76)

P N E>0,7 V

+

(77)

P N E>0,7 V

+

(78)

P N E>0,7 V

+

(79)
(80)

jonction pn polarisée en sens inverse

- sur l’anode

(81)

P N

+

(82)

P N

+

(83)

P N

+

(84)

P N

+

(85)

P N

+

Élargissement de la

zone de déplétion

(86)
(87)

Transistors à effet de

champ

(88)

Transistors à effet de champ

1. TEC à jonction (jfet)

(89)

Symbole

DRAIN

SOURCE GRILLE

Canal N

(90)

Symbole

DRAIN

SOURCE GRILLE

Canal P

(91)

P

Source Grille Drain

P N

Grille

(92)

P

Source Grille Drain

P N

Grille canal

(93)

P

Source Grille Drain

P N

Grille canal

SiO

2

(94)

P

Source Grille Drain

P N

Grille

(95)

P

Source Grille Drain

P N

Grille

(96)

S G D

N

G

+

P

P

(97)

S G D

N

G

+

P

P zone de déplétion

N N

(98)

S G D

N

G

+

P

P

déplacement des électrons

N N

V

GS

= 0

V

DS

faible

(99)

S G D

N

G

+

P

P

N N

V

GS

= 0 V

DS

faible

i

DS

proportionnel à V

DS

(100)

S G D

N

G

+

P

P

N N

V

GS

= 0 V

DS

faible

i

DS

proportionnel à V

DS

Transistor en régime résistif

(101)

S G D

G

+

P N N

V

GS

= 0

V

DS

important

P 5 V

5V

4V 0V

1V 2V 3V

(102)

S G D

G

+

P N N

V

GS

= 0

V

DS

important

P 5 V

Transistor en régime de pincement

i DS cte

(103)

i

DS mA

v

DS

10 20 30 40

- 2 2 4 6

8

V

GS

= 0 V

- 4

régime de pincement

régime résistif

(104)

S G D

N

G

+

P

P

N N

+

V

GS

< 0 faible V

DS

> 0

Transistor en régime résistif

(105)

S G D

N

G

+

P

P

N N

+

V

GS

< 0 moyenne V

DS

> 0

Transistor en régime résistif

(106)

S G D

N

G

+

P

P

N N

+

V

GS

< 0 importante V

DS

> 0

Transistor en régime résistif

(107)

Principe des TEC

(108)

i

DS mA

v

DS

10 20 30 40

- 2 2 4 6 8

- 4

V

GS

= -2 V V

GS

= 0 V

V

GS

= -4 V

V

GS

= -5,5 V

V

GS

= -6,7 V

(109)

i

DS mA

v

DS

10 20

- 2 2 4 6 8

- 4

VGS= -1 V VGS= 0 V

VGS= -2 V

VGS= -3 V

VGS= -6,7 V 10

2 4 6 8 10

i

DS mA

v

GS

(110)

v

DS

10 20

- 2 2 4 6 8

- 4

VGS= -1 V VGS= 0 V

VGS= -2 V

VGS= -3 V

VGS= -6,7 V 10

2 4 6 8 10

i

DS mA

i

DS mA

v

GS

(111)

v

DS

10 20

- 2 2 4 6 8

- 4

VGS= -1 V VGS= 0 V

VGS= -2 V

VGS= -3 V

VGS= -6,7 V 10

2 4 6 8 10

i

DS mA

i

DS mA

v

GS

iDSS

(112)

v

DS

10 20

- 2 2 4 6 8

- 4

VGS= -1 V VGS= 0 V

VGS= -2 V

VGS= -3 V

VGS= -6,7 V 10

2 4 6 8 10

i

DS mA

i

DS mA

v

GS

iDSS

-2 V -4 V

-6 V

(113)

v

DS

10 20

- 2 2 4 6 8

- 4

VGS= -1 V VGS= 0 V

VGS= -2 V

VGS= -3 V

VGS= -6,7 V 10

2 4 6 8 10

i

DS mA

i

DS mA

v

GS

iDSS

-2 V -4 V

-6 V

(114)

v

DS

10 20

- 2 2 4 6 8

- 4

VGS= -1 V VGS= 0 V

VGS= -2 V

VGS= -3 V

VGS= -6,7 V 10

2 4 6 8 10

i

DS mA

i

DS mA

v

GS

iDSS

-2 V -4 V

-6 V

(115)

v

DS

10 20

- 2 2 4 6 8

- 4

VGS= -1 V VGS= 0 V

VGS= -2 V

VGS= -3 V

VGS= -6,7 V 10

2 4 6 8 10

i

DS mA

i

DS mA

v

GS

iDSS

-2 V -4 V

-6 V

v

GSoff

(116)

v

DS

10 20

- 2 2 4 6 8

- 4

VGS= -1 V VGS= 0 V

VGS= -2 V

VGS= -3 V

VGS= -6,7 V 10

2 4 6 8 10

i

DS mA

v

GS

iDSS

-2 V -4 V

-6 V

Caractéristique de transfert pour V

DS

= 15 V

vGSoff

(117)

V

+

VDS +

D

S

VDS RD

G

Potentiomètre électronique : V

DS

commandé par V

GS

(118)

v

DS

10 20

- 2 2 4 6 8

- 4

VGS= -1 V VGS= 0 V

VGS= -2 V

VGS= -3 V 10

i

DS mA

(119)

Transistors à effet de champ

2. transistor M.O.S.

2.1. M.O.S. à appauvrissement - enrichissement

(120)

Symbole

DRAIN

SOURCE GRILLE

substrat

Canal N

(121)

Source Grille Drain

substrat N

P

N+

N+

SiO

2

film métallique

Canal N

(122)

Source Grille Drain

substrat N

P

N+

N+

+

Canal N

VGS=0

 un canal existe

(123)

Source Grille Drain

substrat

N P

N+

N+

+

Zone dépeuplée d’électrons libres

Canal N

+

appauvrissement fort

(124)

Source Grille Drain

substrat N

P

N+

N+

+

Canal N

+

V

GS

faible

appauvrissement faible

(125)

Source Grille Drain

substrat

N P

N+

N+

+

Canal N

+

V

GS

OFF

(126)

Source Grille Drain

substrat N P

N+

N+

+

Canal N

+

enrichissement

(127)

Symbole

DRAIN

SOURCE

GRILLE substrat

Canal P

(128)

Source Grille Drain

substrat N

P P+

P+

+

Canal P

VGS=0

 il y a un canal

(129)

Source Grille Drain

substrat N

P P+

P+

+

Zone dépeuplée de trous

Canal P

+

V

GS

élevée appauvrissement fort

(130)

Source Grille Drain

substrat N

P P+

P+

+

Canal P

+

V

GS

faible appauvrissement faible

(131)

Source Grille Drain

substrat N

P P+

P+

+

Canal P

+

enrichissement

(132)

Transistors à effet de champ

2. transistor M.O.S.

2.2. M.O.S. à enrichissement

(133)

Symbole

DRAIN

SOURCE GRILLE

substrat

Canal N

(134)

Source Grille Drain

substrat

P N+

N+

SiO

2

film métallique

Canal N

VGS=0

 il n’y a pas de canal

(135)

Source Grille Drain

substrat N

P

N+

N+

+

Canal N

+

enrichissement

(136)

Source Grille Drain

substrat N P

N+

N+

+

Canal N

+

enrichissement

(137)

Source Grille Drain

substrat N P

N+

N+

+

Canal N

+

enrichissement

(138)

Symbole

DRAIN

SOURCE GRILLE

substrat

Canal P

(139)

Source Grille Drain

substrat

N P+

P+

SiO

2

film métallique

Canal P

VGS=0

 il n’y a pas de canal

(140)

Source Grille Drain

substrat N

P P+

P+

+

Canal P

+

enrichissement

(141)

Source Grille Drain

substrat N

P P+

P+

+

Canal P

+

enrichissement

(142)

Source Grille Drain

substrat N

P P+

P+

+

Canal P

+

enrichissement

(143)

DRAIN

SOURCE GRILLE

substrat

Comment savoir si un MOS conduit ou non

(144)

DRAIN

SOURCE GRILLE

substrat

MOS P  canal (substrat) formé de trou pour une conduction drain - source

GRILLE substrat

(145)

DRAIN

SOURCE GRILLE

substrat

MOS P = interrupteur fermé

GRILLE

substrat

(146)

Source Grille Drain

substrat N

P P+

P+

+

Canal P

+

enrichissement

(147)

DRAIN

SOURCE GRILLE

substrat

MOS P = interrupteur ouvert

GRILLE

substrat

(148)

Source Grille Drain

substrat N

P+

P+

+

Canal P

+

enrichissement

(149)

Source Grille Drain

substrat N

P+

P+

+

Canal P

+

enrichissement

(150)

DRAIN

SOURCE GRILLE

substrat

MOS N  canal (substrat) formé d’électrons pour une conduction drain - source

GRILLE substrat

(151)

DRAIN

SOURCE GRILLE

substrat

MOS N = interrupteur fermé

GRILLE

substrat

(152)

Source Grille Drain

substrat N P

N+

N+

+

Canal N

+

enrichissement

(153)

DRAIN

SOURCE GRILLE

substrat

MOS N = interrupteur ouvert

GRILLE

substrat

(154)

Source Grille Drain

substrat P

N+

N+

+

Canal N

+

enrichissement

(155)

Source Grille Drain

substrat P

N+

N+

+

Canal N

+

enrichissement

(156)

Applications des MOS

Circuits logiques

(157)
(158)
(159)

That’s all Folks

Références

Documents relatifs

Introduction Pr´ esentation des mod` eles M´ ethodologie exp´ erimentale R´ esultats exp´ erimentaux Travaux compl´ ementaires Conclusion.. Evaluation des Mod` ´ eles de

immédiatement le dimanche de contrôle ; les chefs de quartier à leur tour rapportent au caissier sur le résultat du contrôle procédé par les dizeniers, le mardi au plus

• Plus précisément : un électron ajouté se place à un niveau supérieur, donc augmente l'énergie de Fermi, mais extrêmement peu (le nombre de places dans la bande de

La PCT dans le cas MT-seul, est calculée en attribuant la valeur zéro à la fréquence de saut ν 0 ( ν 0 = 0 ) dans le modèle et le programme de simulation fonctionne en

Dans les systèmes laser, la lumière diffusée peut être encore plus préjudiciable car elle peut trans- porter des quantités importantes d’énergie, ce qui peut endommager

Le mouvement des électrons est géné par l’agitation thermique des ions du réseau cristallin.. La température

Un représentant des parents d’élèves fait constater que l’impossibilité pour les parents des élèves de maternelle d’entrer dans l’école provoque une

When more recent information is needed, the same search formulations created for the CD-ROM can also retrieve information from the corresponding on-line data