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Glissements rotationnels et pseudo-structure du mica muscovite

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Academic year: 2021

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HAL Id: jpa-00236193

https://hal.archives-ouvertes.fr/jpa-00236193

Submitted on 1 Jan 1960

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Glissements rotationnels et pseudo-structure du mica muscovite

R. Cartraud, R. Zouckermann

To cite this version:

R. Cartraud, R. Zouckermann. Glissements rotationnels et pseudo-structure du mica muscovite. J.

Phys. Radium, 1960, 21 (1), pp.73-74. �10.1051/jphysrad:0196000210107301�. �jpa-00236193�

(2)

73

a) Les structures d’antiphases périodiques sont Lliermodyiianiiquemeiit stables. Elles constituent un

intermédiaire réversible entre le dQsordre et, l’ordre à

grande distance.

FTf;. ::1.

-

Mélange, statistique de périodes entières.

FIG. 4.

-

Résolution au microscope électronique de struc-

ture à 1 direction.

b) Les périodes le plus souvent ne sont pas entières.

Elles sont cependant rigoureusement définies et ne peuvent pas être considérées comme un mélange

aléatoire pondéré de deux périodes entières voisines.

Ce dernier type de structure donnerait une répartition

des antiphases entièrement différente dont, d’ailleurs,

un exemple expérimental a été observé dans (Au, Mn).

c) Ces états ordonnés particuliers pourraient être

liés à la structure électronique de l’alliagP.

Effectivement, ou observe que l’addition d.’nn élé- juent de valence métallique plus élevée, diminue la pé-

riode alors que les éléments de transition à valence

«négative » l’augmentent.

GLISSEMENTS ROTATIONNELS

ET PSEUDO-STRUCTURE DU MICA MUSCOVITE

Par R. CARTRAUD et R. ZOUCKERMANN,

Laboratoire de Microscopie et Diffraction Électroniques,

Faculté des Sciences, Poitiers.

1.

-

L’étude du mica muscovite utilisé comme sup-

port pour des dépôts épitaxiques nous avait donné l’occasion d’observer [1], [2] des diagrammes électro- niques du mica d’un type particulier. Ces diagrammes peuvent être reproduits par superposition de deux diagrammes normaux (de cristal unique), qu’on fait

tourner l’un par rapport à l’autre d’un certain angle,

de manière à amener en coïncidence certains points

d’un réseau avec des points de l’autre. L’ensemble des

points en coïncidence forme ce que nous appellerons

line « siipermaille ». Comme il s’agit de points du réseau

FIG. 1.

réciproque, leurs coïncidences indique les coïncidences de plans réticulaires des réseaux réels. On peut regarder

de tels diagrammes comme résultant réellement de deux diffractions indépendantes par deux cristaux minces superposés qui ont subi un « glissement rota- tionnel » [3] ayant amené par exemple des coïncidences d’ions K+ de l’un des feuillets cristallins avec des ions Si04- de l’autre feuillet : là aussi, il y aura for- mation d’une supermaille.

On peut aisément calculer les rotations possibles et

la grandeur de la surmaille qui apparaît dans le dia- gramme électronique. A partir d’un point origine 0,

considérons deux files réticulaires A et B passant par 0 et faisant un angle de 300. Si on prend pour unité le paramètre du réseau hexagonal réel, le paramètre du

réseau réciproque sera égal à 1, les files A et B auront respectivement comme équidistances 1 et 3. Pour un point quelconque N du diagramme, on aura ( fcg. 1),

m Pt rt. étant deux nombres entiers :

Article published online by EDP Sciences and available at http://dx.doi.org/10.1051/jphysrad:0196000210107301

(3)

74 est

Nous avons observé avec n ne netteté particulière les rotations suivantes :

II.

--

Lorsqu’on pose suffisamment, on voit appa- raître sur le diagramme un grand nombre de points supplémentaires, très serrés, qui forment un réseau également hexagonal, de maille k fois plus petite que

celle du diagramme de cristal unique. Nous avons véri-

fié que ce rapport n’est autre que celui de la « surmaille » à la maille du diagramme. Certains des clichés que

nous avons obtenus contiennent la totalité des points prévisibles, ce qui nous a permis de vérifier cette rela- tion avec précision. Par exemple, pour une surmaille

égale à J5 (en prenant le paramètre du mica comme unité), nous devons observer dans le réseau réciproque

une maille V7 fois plus petite, c’est-à-dire, dans notre système d’unité, égale à : nous trouvons

d ant à , avec un rapport de mailles égal

à 43 et nous avons pu compter 42 points supplé-

mentaires entre les points de coïncidence.

III.

-

Les points supplémentaires ne correspondent

pas à une vraie « surstructure » : ils sont dûs, en réalité,

à une double diffraction. On peut donc les obtenir à

partir des deux réseaux réciproques décalés d’un angle égal à l’angle de rotation précédemment calculé, en composant deux vecteurs réciproques de l’un et l’autre

réseau. C’est ce que nous avons rigoureusement vérifié

par la construction géométrique dans le cas de tg en reproduisant tous les points du dia-

gramme. )

IV.

-

Jusqu’à présent les meilleurs diagrammes que

nous ayons obtenus correspondent aux trois rotations

signalées plus haut. Pour le mica, 0. Rang [4]

signale 1 Dans le cas de la

molybdénite, également hexagonale, Stabenow [5] a

obtenu de très bonnes doubles diffractions, notamment

avec l’orientation 2i°50’

V.

-

Deux cristaux d’espèces différentes accolés

peuvent également produire une double diffraction3 En

étudiant l’épitaxie de Fiodure de potassium sur le mica, nous avons obtenu les diffractions dues au mica et celles dues à l’iodure, avec une parfaite orientation des plans (111) de Kl sur le plan (001) du mica.,Mais,

de plus, apparaissent des points supplémentaires, moins intenses, dont nous avons pu rendre compte par la

composition de vecteurs réciproques appartenant aux

deux réseaux du mica et de l’iodure.

BIBLIOGRAPHIE

[1] ZOUCKERMANN (R.) et CORCUFF (Y.), C. R. Acad. Sc., 1957, 245, 2323.

[2] ZOUCKERMANN (R.), 5e Congrès Internat. Microscop.

Élect., 1958, 8-07.

[3] WILMAN (H.), Proc. Phys. Soc., 1951, 64, 329.

[4] RANG (O.), Z. Phys., 1958,152,194.

[5] STABENOW (Y.), Naturwiss., 1957, 360, 12.

SUR UN PHÉNOMÈNE DE RÉSONANCE OBSERVÉ EN BASSE FRÉQUENCE

AU COURS DES ÉLECTROLYSES ACCOMPAGNÉES

D’UNE FORTE SURTENSION ANODIQUE

Par I. EPELBOIN et G. LORIC,

Laboratoire de Physique (Enseignement)

de la Faculté des Sciences de Paris.

Pour étudier les fortes tensions anodiques qui appa- raissent au cours du polissage électrolytique et de l’oxydation anodique, nous superposons au courant de polarisation 7 un courant alternatif i dont l’am-

plitude est très faible par rapport à l’intensité du

premier ; le courant i ne perturbe pas la caracté-

ristique .I- U ( U tension aux bornes). L’impédance

mesurée aux bornes de l’électrolysenr peut s’exprimer,

dans la notation complexe par :

et le relevé des composantes R et G apporte des ren- seignements sur les phénomènes anodiques.

Les expériences que nous citerons ont été menées

avec une cellule asymétrique, la surface anodique étant

constituée par la base d’un cylindre d’aluminium de 10 mm de diamètre et la surface cathodique par une tôle d’acier inoxydable enroulée à l’intérieur d’un bécher de façon à former un cylindre de 7 cm de dia-

mètre et 5 cm de hauteur. Dans ces conditions, la

tension aux bornes de l’électrolyseur est localisée à

l’anode et les variations de la tension anodique suivent

celles de la tension aux bornes U. De plus, nous nous bornerons, en ce qui concerne le polissage électro- lytique, aux résultats obtenus avec les solutions à base d’anions C104 car ils causent des tensions anodiques

élevées et stables.

Lorsque la solution électrolytique est une solution

de polissage, les composants R et G présentent un

maximum en fonction de la tension et, quelle que soit la fréquence, ces maxima se produisent tous deux à la

tension qui correspond à l’extrémité du palier de la

Références

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