École de technologie supérieure
Génie de la production automatisée Roland Maranzana
GPA-210, États de surfaces 1
Plan du cours
Dessin industriel: Un rappel
Tolérances dimensionnelles et Ajustements
Tolérances géométriques
Cotation fonctionnelle
États de surfaces
Cotation au maximum de matière
Procédés d'obtention des pièces brutes
Procédés d'usinage
Isostatisme
Transferts de cotes et d'orientation
Rédaction de gammes d’usinage
Plan du chapitre
Nécessité de l’étude des états de surfaces
Terminologie
Types de défauts
Critères d’état de surfaces
Spécification des états de surfaces
Appareils de mesure
Procédé de fabrication et états de surfaces
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Définition d’une pièce pour remplir une fonction donnée
Dimensions fonctionnelles
Tolérances géométrique
États de surface
Spécification et contrôle des états de surface
L’état de surface influence:
Coefficient de frottement
Étanchéité
Comportement en fatigue
Exemples
Surfaces:
géométrique spécifiée
réelle
mesurée
La surface mesurée est liée à la méthode de mesure choisie
cote nominale
Surface géométrique (idéale)
Surface réelle
Surface spécifiée (permise)
Surface mesurée par le système de palpeur palpeur de mesure
Ra
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Étude du profil selon une coupe perpendiculaire à la surface
4 ordres de défauts
Écart de forme (Planéité, Cylindricité, etc.)
Ondulation
Strie - Sillon
Fente - Piqûre
Profil réel
2e ordre: ONDULATION 1erordre: ÉCART DE FORME
3e ordre: STRIE, SILLON (périodique)
4e ordre: ARRACHEMENT, MARQUE D’OUTIL (fente apériodique) 2mm
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Définitions préliminaires
Longueur d’évaluation
Longueur de base
Ligne enveloppe supérieure (LES)
Segments de droite joignant les points les plus hauts des saillies locales
Les critères d’états de surfaces définis par les normes (ANSI/ISO) sont extrêmement nombreux.
Les critères d’états de surface les plus couramment utilisés:
Critères physiques
Macro-géométriques (ordre 2) Ondulation:
W Profondeur moyenne d’ondulation
AW Pas moyen de l’ondulation
Micro-géométriques (ordre 3 et 4) Rugosité:
R Profondeur moyenne de rugosité
AR Pas moyen de rugosité
Rmax Profondeur maximale de rugosité
Critères statistiques
Écart moyen arithmétique:
Ra Rugosité
Autres
Wmax, Wt,
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Critères physiques
macro-géométriques (ordre 2)
W: Profondeur moyenne d’ondulation
AW: Pas moyen de l’ondulation
(n: nombre de longueurs de base)
.
1 3
avec n
n W
W W n
.
1 3
avec n
n
AW
AW AW n
Critères physiques micro-géométriques (ordres 3 et 4)
R: Profondeur moyenne de rugosité = RUGOSITÉ
AR: Pas moyen de rugosité
Rmax: Profondeur maximale de rugosité
.
1 8
avec n
n R
R R n
.
1 8
avec n
n
AR
AR AR n
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Critères statistiques: Rugosité Ra
Longueur de base: La longueur d’évaluation (échantillon) est
divisée en tronçons successifs correspondant à la longueur de base
Ligne moyenne: Pour chaque longueur de base, la ligne étant assimilée à une droite, la somme des aires au-dessus de la ligne moyenne est égale à la somme des aires au-dessous
Seule la rugosité demeure
Critères statistiques (suite)
Rugosité Ra
Écart moyen arithmétique par rapport à la ligne moyenne
l: longueur de base
1
0
1 1
n z R z
ou dx
x l z
Ra a n
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Symbole complet d’état de surface (ISO/ANSI)
1. Critère d’état de surface demandé (un ou plusieurs)
2. Valeur du critère (un ou plusieurs)
3. Direction des stries par rapport à la surface (dia 2/4)
4. Fonction de la surface
5. Procédé d’élaboration proposé
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Exemple
3. Direction des stries (suite)
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5. Symboles désignant les procédés d’élaboration proposés
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Choix des états de surface
Fonction de la surface
Exemple
Disque d’embrayage Ra 3.2 micron
Tambour de frein Ra 1.6 micron
Roulements Ra 0.025 micron
Coût!
Échantillons viso-tactiles
Appareils électroniques à palpeur
Appareils optiques
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Échantillons viso-tactiles
Rugosité suivant le procédé d’usinage
Comparaison visuelle et au toucher
Peu coûteux, rapide
Échantillons obtenus par usinage contrôlé
Appareils électroniques à palpeur
Un bras se déplace sur la surface à mesurer
Le palpeur (stylus) capte les déplacements
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Appareils électroniques à palpeur (suite)
Le patin associé au palpeur élimine défauts d’ordre 1 et 2
Le palpeur guidé hors-pièce détecte irrégularités d’ordre 1 et 2
Appareils électroniques à palpeur (suite)
Sortie vers une valeur moyenne (R ou Ra)
Sortie vers un traceur de profile
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Appareils électroniques à palpeur (suite)
Le profil fournit plus d’information qu’une valeur moyenne
Appareils électroniques à palpeur (suite)
Palpeur associé à un patin
Le patin filtre les ondulations
Capteur inductif vs capteur piézo-électrique
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Montage d’un appareil électronique à palpeur
Appareils optiques
Défauts de 3e et 4e ordres
Microscope à éclairage oblique
2 lumières de couleurs différentes augmentent la qualité des détails
Microscope interférentiel
Franges lumineuses d’interférence éclairent une mince partie
Réflectomètre
Relation entre rugosité et quantité de lumière incidente diffractée
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Pour un procédé donné, les états de surface sont plus ou moins coûteux à obtenir
Coût relatif approximatif en fonction de Ra pour Fraisage en
bout avec outil au carbure