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FEUILLE TD 2 : cartes de contrˆ ole

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Academic year: 2022

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IUP SID M2 2011-2012 Universit´ e Paul Sabatier Maitrise statistique des proc´ ed´ es

FEUILLE TD 2 : cartes de contrˆ ole

1 Lumineux

Depuis un certain temps l’entreprise Luminex ´ eprouve certaines difficult´ es dans la fabri- cation de ses lampes-´ eclairs du type AGI. Plusieurs caract´ eristiques sont mesur´ ees, entre autres l’intensit´ e lumineuse. Ces caract´ eristiques semblent rencontrer les sp´ ecifications ; toutefois on a constat´ e un taux ´ elev´ e d’explosions de ces lampes. Le responsable de ce secteur a constat´ e ` a quelques reprises que la pression du gaz ambiant ` a l’int´ erieur de ces lampes fluctuait de fa¸con assez marqu´ ee et ´ etait probablement une cause importante de ces explosions. Les sp´ ecifications pour la pression de ce gaz sont 3750mm ±125mm. On a donc d´ ecid´ e d’examiner de plus pr` es le comportement de cette variable en pr´ elevant des 4−´ echantillons ` a toutes les heures pendant deux jours cons´ ecutifs. Les pressions relev´ ees sont le mercredi :

7h 8h 9h 10h 11h 12h 13h 14h 15h 16h

3780 3795 3859 3852 3815 3868 3888 3811 3864 3822 3807 3855 3774 3769 3798 3881 3803 3828 3845 3884 3802 3852 3714 3895 3783 3751 3805 3806 3885 3855 3805 3766 3805 3784 3804 3728 3824 3847 3822 3803 et le jeudi

7h 8h 9h 10h 11h 12h 13h 14h 15h 16h

3702 3741 3774 3760 3761 3794 3853 3808 3861 3877 3777 3727 3761 3848 3755 3743 3786 3851 3821 3788 3752 3702 3682 3876 3765 3730 3858 3796 3839 3775 3709 3734 3759 3736 3871 3777 3831 3793 3811 3840 a) Calculer les limites de contrˆ ole pour les cartes ¯ X et R.

b) Examiner l’´ evolution de la pression en tra¸cant les cartes ¯ X et R.

c) Que peut-on conclure quant ` a la la stabilit´ e du processus de production ? Peut-on noter une particularit´ e dans la disposition des moyennes ?

d) Est ce que le processus est quand mˆ eme d’une pr´ ecision acceptable ?

e) Dans l’´ etat actuel du proc´ ed´ e, quelle est la proportion de d´ efectueux par exc` es ? f) Quelles mesures correctives pourrait-on envisager ?

On rappelle que la limite sup de contrˆ ole pour une carte R est D

4

(n) ¯ R o` u pour n = 2 ` a 10, D

4

= 3.267, 2.575, 2.282, 2.115, 2.004, 1.924, 1.864, 1.816, 1.777.

1

(2)

2 Process

A intervalle r´ egulier, un agent de contrˆ ole pr´ el` eve des 4−´ echantillons d’un processus de fabrication. 25 ´ echantillons cons´ ecutifs ont permis d’obtenir les r´ esultats suivants pour la caract´ eristique que l’on veut contrˆ oler :

X

j

X ¯

j

= 4000, X

j

R

j

= 50, j = 1, · · · , 25.

a) On sugg` ere les valeurs suivantes pour LCS

:

1614.6 ? 61.46 ? 80.29 ? 161.46 ?

Parmi ces valeurs, quelle est celle la plus pr` es de la limite sup de contrˆ ole pour la carte ¯ X ?

b) On sugg` ere les valeurs suivantes pour LCS

R

:

22.82 ? 0.912 ? 4.56 ? 46.64 ?

Parmi ces valeurs, quelle est celle la plus pr` es de la limite sup de contrˆ ole pour la carte R ?

3 C’est pas de la carte

On utilise des cartes ¯ X et R pour contrˆ oler une caract´ eristique. On effectue 25 ´ echantillons de taille 5. On obtient

X

j

X ¯

j

= 233.72, X

j

R

j

= 54.48, j = 1, · · · , 25.

a) En supposant que la dispersion du processus est “sous contrˆ ole statistique”, estimer l’´ ecart-type σ de la caract´ eristique.

b) D´ eterminer les limites de contrˆ ole pour la carte ¯ X.

c) D´ eterminer les limites de contrˆ ole pour la carte R.

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