HAL Id: jpa-00249325
https://hal.archives-ouvertes.fr/jpa-00249325
Submitted on 1 Jan 1995
HAL is a multi-disciplinary open access
archive for the deposit and dissemination of
sci-entific research documents, whether they are
pub-lished or not. The documents may come from
teaching and research institutions in France or
abroad, or from public or private research centers.
L’archive ouverte pluridisciplinaire HAL, est
destinée au dépôt et à la diffusion de documents
scientifiques de niveau recherche, publiés ou non,
émanant des établissements d’enseignement et de
recherche français ou étrangers, des laboratoires
publics ou privés.
Etude de l’effet de la température de dépôt ou de recuit
sur la formation de l’interface Au/GaSb(100) par
diffraction d’électrons lents et spectroscopies d’électrons
Auger ou de pertes d’énergies
M. Rouanet, W. Oueini, M. Nouaoura, N. Bertru, J. Bonnet, L. Lassabatère
To cite this version:
Classification
Physics
Abstracts68.00 68.22 68.55
Etude
de
l'eflet
de
la
temp4rature
de
d4p6t
oude
recuit
surla
formation
de
l'interface
Au/Gasb(loo)
par
diffraction
d'41ectrons
tents
et
spectroscopies
.d'41ectrons
Auger
oude
pertes
d'4nergie
M.
Rouanet,
W.Oueini,
M.Nouaoura,
N.Bertru,
J. Bonnet et L. LassabatereLaboratoire d'Etudes des
Surfaces,
Interfaces etComposants,
LESIC,
U-A. 787, Universit6Mont-pellier
II, PlaceEugbne
Bataillon Bit. 21,CCo88,
34095Montpellier
Cedex 5, France(Regu
le 8juillet
1994, rdvisd le 28 novembre 1994, acceptd le 14 fdvrier1995)
Rdsumd, Nous dtudions par
spectroscopie
d'dlectrons Auger(SEA),
spectroscopie
de pertesd'dnergies
d'41ectrons lents(SPEEL)
et diffraction d'41ectrons lents(DEL),
l'adsorption
de l'orsur des surfaces
(loo)
de couches de Gasb obtenues au laboratoire par4pitaxie
parjets
mold-culaires(EJM)
sur des substrats deGasb,
puis
transf4r4es pourd4p6t
et 6tude dans l'enceinteh ultravide de
d4p6t
m4tallique
par l'interm4diaire d'un sas sous ultravide. Les mesures sent effectu6es avant etaprks ddp6ts
d'or(6
xlo~~
-1, 8 xlo~~
atomescm~~)
r4alis4s sur un substrath la
temp4rature
ambiante au refroidi h 220 K. Les 4chantillons sent ensuite 4tud14spendant
le recuitjusqu'h
520 K. Les r4sultats obtenus montrent que l'or, dans unpremier
temps s'adsorbe sur la surface,puis, lorsque
led4p6t
augmente, diffuse dans le volume du mat6riau. Cette diffu-sion,qui
peuts'accompaguer
de la formationd'alliages,
n'estcependant
notable dans la garnme detemp4rature
utilis6e que pour desd4p6ts sup4rieurs
I 10~~ atomescm~~
Abstract.
Auger
electron spectroscopy(AES),
energy electron loss spectroscopy(EELS)
and low energy electron diffraction(LEED)
are used toprecise
the interaction ofgold
withGasb(100)
surfaces grown on Gasb substrates by molecular beam epitaxy(MBE).
After thegrowth,
the Gasblayers,
produced
in the laboratory, were transferredby
the mean of an ultra vacuum lock chamber, into an other ultra vacuum chamber devoted to thedeposit
ofgold
andto the
physical
studies. Measurements were first performed on the clean surfaces and then on surfaces covered byincreasing
amounts ofgold (6
x 10~~ -1.8 x 10~~ atomscm~~)
deposited
on substrates
brought
at room temperature or at low temperature(220 K).
Thesamples
were then studiedduring
theannealing
up to 520 K. The results show that, at thebeginning
of thedeposition,
gold
was adsorbed on the MBEGasb(100)
surface. When thegold
coverage increases and becomeshigher
than 10~~ atomescm~~,
Au diffuses into the bulk and formsalloys.
1. Introduction
Le contact mdtal semi-conducteur a dt4 trAs
largement
dtud14 surtoutdepuis
les anndes 80 enraison de son intdrAt
thAorique
mars aussi de sonimportance
dans latechnologie
des compo-sants. De sa connaissanceddpendent
en eflet la maitrise des diodesSchottky
ill
et celle descontacts
ohmiques
[2].
Beaucoup
de travaux ontportd
sur l'dtude du contact mdtalsilicium,
mais [es semi-conducteurs
composds
ont aussi dtdlargement
4tudids. Parmi lescomposds
III-V,
c'est leGaAs,
dont latechnologie
d'41aboration est laplus
avancdequi
a faitl'objet
dumaximum d'4tudes. Il sert
g4ndralement
de modble.Toutefois,
[es rdsultats obtenus ne sontpas
transposables
simplement
auGasb,
enparticulier
en raison de laplus
foible chaleur deformation de ce dernier
(lo
kcalmole~~).
Or leGasb,
qui
a unelargeur
de bande interditepetite
(o,72
eV h 300K),
une mobilitd deporteurs
importante
(dlectrons
: sorecm~ V~~
s~~,
trous : 1400
cm~ V~~
s~~
h 300K)
et unparam4tre
cristallinqui
permet
sondpitaxie
presquesans d4saccord de maille avec d'autres mat4riaux
(InAs,
Alsb,
GaAlsb),
est un candidatattrac-tif pour la rdalisation de
dispositifs
d'optodlectronique
oud'41ectronique
rapide
[3,4].
Son 4tudeest devenue de ce fait d'actualitd. Ceci
explique
leddveloppement
r4cent des recherches sur [esmatdriaux de la famille des antimoniures. C'est ainsi que des dtudes
d'adsorption
mdtallique
surdes surfaces de Gasb ont dtd eflectudes sur les faces
(loo)
obtenues parpolissage
etnettoyage
sous ultravide [5] ou par
dpitaxie
[6],
et sur des faces(llo)
obtenues pardivage
h l'air [7] ou sous ultravide[8-11].
Lespremibres
sont les surfaces d'dlaboration industrielle descomposants.
Leur maitrise est
indispensable
si on veut dlaborer descomposants
fiables. Lesdernibres,
dontla
propretd
estparfaite,
dont lacristallographie
et la stcechiom4trie sont trbs bienddtermindes,
et dont la rdactivitd estimportante
en raison de liaisonspendantes
dues audivage,
reprdsen-tent des substrats iddaux pour la ddtermination des modes de liaison des atomes et des (tats
41ectroniques
de l'interface. Leur4tude,
tout eng4ndrant
des avanc4es auplan
fondamental,
permet
d'aborderplus
eflicacement [es travaux relatifs aux surfaces industrielles.L'or,
seul ou assoc14 h d'autres414ments,
est souvent utilis4 pour former des contacts sur GaAset Gasb
[12-15].
Toutefois son interaction avec ces deux matdriaux est difldrente. L'dtude auxRayons
X sur despoudres
a montrdqu'il
nerdagit
pas avecGaAs,
maisrdagit
avec d'autresIII-V,
dontGasb,
pour former descompos4s
Au-III et Au-V. SurGasb,
suivant [estemp4ratures,
[es auteurs
[16]
ont observd [esphases
AuGa,
AuGa2,
Au7Ga2,
Au7Ga3,
Au9Ga4,
Au2Ga,
AuSb2 et Sb. Au et Gasb sont
thermodynamiquement
instables l'un parrapport
h l'autrb etpeuvent
rdagir spontan4ment
entre eux enphase
solide. Les r4sultats obtenus parspectroscopie
de
photodmission,
[lo]
sur desd4p6ts
compris
entreo,15
et looI
ainsi que parspectroscopie
d'dlectrons
Auger
assoc14e h une 4rosion par ionsArgon
ont montr4 que l'orinteragissait
fortement avec les surfaces de Gasb
(llo),
libdrant de l'antimoine del'interface,
qui
flotteraith la surface du film d'or. Ces rdactions
apparaissent
dAs latemp4rature
ambiante,
comme l'ont confirmd des dtudes par DEL et SEA sur une surface de Gasb(o01)
[17],
et s'intensifient hplus
hautetemp4rature
comme l'ont montr4 des dtudes sur le recuit de l'interface Au/Gasb
(llo)
parspectroscopie
dephotodlectrons
X rdsolueangulairement
[18].
Les auteurs ont eneflet montrd que, dans le cas d'un film de 85
I
recuit h 673K,
l'orrdagissait
chimiquement
avec le substrat alorsqu'aprbs
recuit h 813K,
iis'incorporait
dans le rdseau et se substituaitprdf4rentiellement
aux atomes degallium.
D'autres auteurs[17]
ontcompard
[es rdsultats deDEL et SEA obtenus
aprbs
recuit d'unddp6t
d'Au sur Gasb ou d'AuGa2 sur Gasb. Ils en ontddduit que le recuit du
ddp6t
se traduisait par la formation demicrophases
ou d'ilots dont [escaractdristiques
(dimension, composition)
ddpendaient
de latempdrature
du recuit.Les
premiers
stades del'adsorption
peuvent
ddpendre
de laqualitd
de la surface soumiseau flux
m4tallique.
Lespolissages
etnettoyages
enparticulier
modifient la stcechiom4trie dela
surface,
sarugositd,
sacristallographie
ou laissent des r4sidus. Les couches EJM sontfa-briqu4es
defa&on
reproductible.
Dans des conditions bien ddfinies d'arrAt de croissance et de retour h latempdrature
ambiante,
les surfaces d'arrAt(100)
sontreproductibles
et propres. Ellespr4sentent
une structureparfaitement
d4finie,
permettant
ainsi de limiter le nombre deparambtres susceptibles
dejouer
un r61e dansl'interaction,
etremplissent
donc correctementSEA,
SPEEL et DEL de l'interaction d'und4p6t
d'or fin sur des surfaces propres deGasb(100)
obtenues par EJM. Nous examinons l'influence durecouvrement,
de latemp4rature
ded4p6t
(300
K ou 220K)
et d'un traitementthermique
sous vide(<
520K).
2. M4thode
exp4rimentale
Le
dispositif
expdrimental
est constitud de deux ensembles h ultravidesdpards.
Lepremier
com-prend
l'enceinted'4pitaxie
parjets
mo14culairescoup14e
h une enceinted'analyse.
Le second estd4volu h la rdalisation et l'dtude des
ddp6ts mdtalliques.
Les dchantillons sont collds h l'indiumsur un
support
demolybdbne. Aprbs
rdalisation de la couche dans l'enceinted'4pitaxie,
ils sonttransfdr4s avec leur
support
dans l'enceinte deddp6t mdtallique
au moyen d'un sas maintenusous un vide de l'ordre de
1,
5 xlo~~
Pa. L'ensemblesupport-dchantillon
est alors fixd sur unmanipulateur
XYZ9 dont l'embout estdquipd
d'un four et d'unsystbme
de refroidissement parcirculation d'azote
liquide.
Les conditionsexp4rimentales
[ides au transfert ne permettant pas de fixer une sonde de mesure sur lesupport
chargd
parl'dchantillon,
undtalonnage
prdalable
a dtd eflectud pour ddduire latempdrature
du substrat de celle mesurde sur l'embout dumani-pulateur.
Latempdrature
laplus
basse atteinte par cesystAme
est de 220 K. Latempdrature
de recuit la
plus
dlevde a dtd fixde h 520 K.L'enceinte de
d4p6t mdtallique
etd'analyse
estdquipde
d'un DEL et d'un CMA servant h lafois pour la SEA et la SPEEL. Pour la
SEA,
[es dlectronsprimaires
ont unednergie
de 3000eV,
et le faisceau a une intensitd de loo
~tA.
Lesignal enregistrd
est lesignal
d4rivd.L'amplitude
demodulation
utilisde,
constante sur tout lespectre,
est de 2 V. Nous noteronsA~
la transitionAuger
de l'41dment A hl'dnergie
z, etAj~~
l'amplitude
crAte h crAteEdN(E) /dE
dupic
qui
luicorrespond.
Pour laSPEEL,
[es 41ectronsprimaires
ant unednergie
de 120 eV et le faisceaua une intensit4 de 30
~tA.
Lesignal
enregistrd
est lesignal
d4rivde seconde.L'amplitude
demodulation
utilisde,
constante sur tout lespectre,
est de I V.L'dvaporateur
est constitud d'uneperle
d'or fixde sur un filament chauflant entourd par unserpentin
refroidi 1l'a2oteliquide
pourpidger
les ga2 ddsorbds. La vitessed'dvaporation
estfixde par le courant de
chauflage
qui
est maintenu constant durant tout led4p6t.
Lapression
dons l'enceinte n'dvolue pas en cours
d'dvaporation
et reste voisine de1,
5 xlo~~
Pa.Une balance h
quartz,
refroidie par circulation d'eau afin d'4viter toute d4rivethermique
due h unchauflage
dventuel par lerayonnement
del'dvaporateur
indique,
enprenant
encompte
ladensit4 du
mat4riau,
l'dpaisseur
dddposde
sur le capteur. Cetaflichage
suppose que led4p6t
est uniforme et de structure semblable h celle du mat4riau massif. Dans cesconditions,
d= I
I
correspond
h la condensation de5,
9 xlo~~
atomes parcm~
de la surface ducapteur.
En raisonde la
gdomdtrie
de notresystbme,
le capteur et l'4chantillonre&oivent
le mAme fluxmdtallique.
Pour Gasb
(loo),
en consid4rant unparam4tre
de maille de6,095
I,
la monocouche de surfacecorrespond
h5,
38 xlo~~
atomescm~~,
donc h une lecture deo,912
I
sur la balance hquartz.
Pour cette
dtude,
nous avonsadopt4
une vitesse deddp6t
de l'ordre de 2 xlo~~
I
s~~,
etlimitd la
quantitd
ddposde
h 30I.
Les couches de Gasb
d'dpaisseur
I ~tm ont dt4 rdalisdes par EJM sur des substratsmonocris-tallins de Gasb
(loo)
(type
p,dopant Zn,
concentration deporteurs
2 xlo~~
cm~~,
dimensionI x I
cm~,),
prdalablement
nettoyds
par latechnique
UV Ozone[19].
Elles ont dtd dlabordes dansdes conditions dites "riches en antimoine"
(Ts
= 520°C,
P(Sb4)
" 5 xlo~~
Pa,
#(Sb4)/4(Ga)
=3),
leurs surfacespr4sentent
en cours de croissance une structure(I
x3).
Pour arrAter lacroissance,
le flux degallium
est tout d'abordcoupd, puis
onprocbde
simultandment h l'arrAtdu
chauflage
de l'4chantillon et h la fermeture du cache de la cellule d'antimoine. La structure@@
a ' Sb 26~
'Ga1070
~# Au~
b£
~
~'§~
'Ga1070
'5b454
~ E(eV>
Fig.
I.Spectres
Auger
duGasb(100)
massifa),
de l'orb),
d'und4p6t
d'or de 30I
sur du Gasb
c).
[Auger
spectra of cleanGasb(100) a),
gold
b),
and 30 Igold
layer
onGasb(100)
c).]
3. R4sultats
exp4rimentaux
AprAs
letransfert,
[es surfacesprdsentent
toujours
la mAme surstructure(I
x3).
L'analyse
SEAne fait pas
apparaitre
d'dldmentpolluant
(C,
N,
O).
Dans [es conditions de sensibilitd de lamesure, ces surfaces
peuvent
donc Atre considdrdes comme propres.Les
principales
transitionsAuger
du Gasb et de l'or massif sont Sb26>Sb4s4, 5b462, Gass,
Gaiom
etGaio97
(Fig. la),
Au26
etAu69
(Fig. lb).
Dans le cas d'unddp6t
d'or mince sur unesurface de
Gasb,
[espics
du mdtal et du semiconducteur sesuperposent
(Au26
etSb26)
ou sechevauchent
(Au69
etGass) (Fig. lc).
Au cours de cette4tude,
nous n'utiliserons donc que[es transitions du Gasb de haute
dnergie
ayant
laplus
forteamplitude
Sb4s4
etGaiom
et la transitionAu6g
de l'orqui
masque trbsrapidement
la transitionGass.
Les transitions
Sb4s4
etGaiom
sont toutes deux attdnudes lors duddp6t
mdtallique,
maisdans des
proportions
difldrentes. Cette difldrence est mise en 4vidence par le tracd des variationsdu
pic
5b~454~ et durapport
5b~454)
/Gajiom)
avec leddp6t.
Dans cesreprdsentations
Sb~4s4)
est normde par rapport h sa valeur sur la surface sans
ddp6t,
Au~69)
Parrapport
h sa valeurobtenue
aprAs d4p6t
massif sur du cuivre.5b~454)/Ga~iom)
a dtdcorrigd
par le rapport "a" deso ,,' 09 09
,'
, 08 08,'
07 07~
,"
l',
Ul)
06 Ul 06 m I)
~j'
m -0.5 --." _05.j
" Z Z j "ii
0.4 , ,,,ii
0,4 II
*,d
° '°,
" 03 ;p~--
03j'
. ~ . On..',
0.2 ~ ' 02°~
Q-1 01 o o-o 0 10 20 30 0 lo 20 30 d(A)
d(A)
Fig.
2Fig.
3Fig.
2. Intensitds normalis4es des piesAuger
en fonction duddp6t
d'or.(0)
Sb(454)
300K,
(11)Au(6gi
300K,
(#)
Sb(4s4j
220 K,(.)
Au(6gj
220 K.[Normalized
Auger peak
intensities versusgold
thicknessIQ)
Sb(454) 300 K,ID)
Au(69)
300 K,(#)
Sb(4s4)
220 K,(.)
Au(6g)
220K-j
Fig.
3. Intensit4s normalis4es despics Auger
Sb(454)(.)
etAu(69)
(#)
en fonction dud4p6t
d'or h 300 K.Comparaison
avec les fonctions In= I exp
(-))
et Is = exp())
[Sb(454)
(.)
and Au(691(#).
NormalizedAuger peak
intensities versusgold
thickness at 300 K.Com-parison
with the functions In = I exp(-))
and Is = exp())
3.1.
DtPOT
D'OR I LA TEMPtRATURE AMBIANTE. Nousreportons
(Fig.
2)
l'4volution deshauteurs des
pics
Au~6g)
et5b~454)
en fonction de d. Pour [esddp6ts
inf4rieurs h 2I,
cesdvolu-tions peuvent Atre
respectivement
approchdes
par les fonctionsexponentielles
Ia
= I -exp
(-))
et
Is
= exp(-))
(Fig.
3),
danslesquelles
Ia
etIs
reprdsentent
respectivement
les valeurs nor-mdes de l'intensitd despics
de l'adsorbit et dusubstrat,
d unegrandeur
proportionnelle
hla
quantitd ddpos4e
et I une constante. Pour ces foiblesddp6ts,
lesignal Auger
dvolue donccomme dans le cas d'une croissance 2D. Pour [es
ddp6ts plus
importants,
la courbeexpdrimen-tale
s'dloigne
del'exponentielle
: la croissance ne se fait pas couche par couche.Aprbs ddp6t
de 30
I,
lesignal
de l'or n'atteint que 40%
del'amplitude
correspondant
au mat4riaumassif,
et le
pic
du substrat conserve uneamplitude
(gale
h 40%
de sa valeur initiale. Les variationsde a
5b~454)/Ga~iom)
mettent aussi en dvidence la valeurcritique
de 2I
(Fig.
4).
Eneflet,
pour [es
ddp6ts
infdrieurs h cettevaleur,
cerapport
diminue faiblement. Pour [esddp6ts
plus
grands,
ilaugmente
du fait d'une att4nuationplus
foible dupic
de l'antimoine que de celui dugallium.
L'dtude en DEL confirme l'dvolution
prdcddente
dbs lespremiers
stories duddp6t,
ledia-gramme devient flou. Sa
disparition
totale intervient aux alentours de 2I.
Les spectres de pertes sur des surfaces EJM
(Fig. 5a)
ont dtdinterprdtds
par ailleurs[21-23].
Ces
spectres
sont modifids par leddpbt.
(Fig. 5a-c).
On constate enparticulier
ladisparition
2.5 20 _ o o ~ o =15 m m
~
o ~~
io#
~ ~ on.I
05 oo 0 lo 20 30 d(A)
Fig.
4. nSb(4541/Ga(io7oi
en fonction dud4p6t
d'or h(D)
300K,
(.)
220 K.[~
Sb(4541/Ga(iomi
versusgold
thickness at(D)
300 K,(.)
220K-j
parition
d'une structure h basse4nergie,
de foibleamplitude
[24].
Nous avonsreportd
(Fig.
6)
les variations de
l'amplitude
duplasmon
de volume avec d. Leplasmon
s'att4nue avec laquan-tit4
ddposde.
Cette att4nuation est d'environ 50%
pour 2I
d4pos4s.
Audell,
l'attdnuationen fonction de d est
plus
faible. Pour la valeur limite de 2I,
la courbepr4sente
en outre un4paulement.
3.2.
D#POT
D'OR I BASSETEMP#RATURE.
L'4chantillon dtant refroidi h 220K,
nousavons fait le
d4p6t
d'or etrepris
l'ensemble des 4tudesprdcddentes.
Lesprincipaux
rdsultatssent
prdsentds
(Figs.
2,
4 et6)
avec ceux relevds h 300 K. Les dvolutions ddcritesplus
hautsent confirm4es.
Toutefois,
aprbs ddp6t
de 25I,
Au69
estplus
intense alors queSb4s4
estplus
att4nude. Le
rapport
a5b~454)/Gajio7o)
ddcroitjusqu'aux
alentours de loI
puis
augmente.
Le
plasmon
de volume dvolue comme h latempdrature
ambiante.3.3. REcuiT
I
520 K. Nousprdsentons
[es courbes relatives h une couche d'or de 25I
ddposde
h 220 K et recuitejusqu'h
unetempdrature
(520 K), largement
inf4rieure h latem-pdrature
d'4vaporation
noncongruente
du Gasb sous vide(723 K)
[25].
Les mesures ont 4tdeflectudes h la
temp4rature
durecuit,
apr4s
que l'dchantillon aft 4t4 maintenu 5 mn h cettetempdrature.
Nous n'avons pas constatd d'dvolution due h destemps
de recuitplus
importants.
Nous avons
repr4sent4
respectivement
(Figs.
7,
8)
[es variations deAuj69),
Sb~4s4),
Gajiom)
etcelles de a
Sbj454~
/Gajiom~
en fonction de latempdrature
durecuit,
dans le domaine 220 K520 K. Lors du
recuit, Au~6g)
diminue alors queSb~4s4)
etGa~iom)
augmentent.
Lerapport
Sbj454~/Gajiom)
augmente
jusqu'aux
alentours de 350K, puis
ii diminue. Ce comportementest lid h une 4volution difl4rente de 5b~454~ et
Gaoom):
Ga~iom)
croft defa&on
continue dansla gamme de
temp4rature
explor4e,
alors que5b~454)
tend h se saturer. L'dtat final atteint parAu~6g)
et5b~454)
est semblable h celui observ4apr4s ddp6t
d'or de II.
Nous avons constatd1-o '
j'l
j'~,~
II ~g ajjj
,jj ii ,11 '~ 0.8 ' fi (, Gasb(100) ~ 0.7ill
,,~)~i
,~ ~~ ~ 0.6 ' 'f
> 0.5 £ @ 0.4i
% 0.3 b < 0.2 ~ o-1$
Gasb(100)+~5 1
d'Au ~ ~f
O 2 4 6 8 lo ~~
d(A)
CFig.
6Gasb(100)+14 1d'
Au 40 30 20 lo 0Penes
d'6nergie jev)
Fig.
5Fig.
5. Modification des spectres de pertes avec led4pbt
d'or h 300K.a)
surface propre,b) aprks
ddp6t
de 3,5I,
c) aprks d4p6t
de 14I.
[Modification
of LOSS spectra withgold deposition.
a)
cleansurface,
b)
after 3.5I,
c)
after 14I
deposition.]
Fig.
6. Intensit4 duplasmon
de volume du Gasb en fonction dud4p6t
d'or hID)
300K,
(.)
220 K.[Gasb
bulkplasmon
intensity
versusgold
thickness atID)
300K,
(.)
220K-j
4. Discussion
En raison de l'4volution du courant d'dchantillon avec
l'dpaisseur
duddp6t
(Fig. 9),
il n'est paspossible
de ddduiresimplement
des informationsquantitatives
irrdfutables de l'4tudeob-lo 2.5 O'~~O 0.9
,'
/ a__ 0 8 J 2.0 ,, ' ''D j a, ' 0.7,'
6 " / ,°b
~
b
fl
0.6 j,'
Z$ 1.5 ~ j , ~ ~ 0.5 /,~
2
Z ' , «~i
0.4 m-j,i~
~ /~
l.O apparwon 0.3,"
,~
(
D' , , 0.2,,'°
'.
0.5 O" ', o-I '" o-o o-o 250 350 450 550 25a 350 450 550T(Q
T(x~
Fig.
7~~~'
~Fig.
7. Intensit4s normalis6e despics Auger
(.)
Au(691,
ID)
Sb(454) et(0)
Ga(romp
en fonction de latemp4rature
de l'4chantillonaprbs d4p6t
de 30I
d'or h 220 K.Ii")
Au(69),
(D)
Sb(454) andIQ)
Ga(tom)
normalizedAuger peak
intensities versus thesample
tem-perature after
deposition
of 30I
ofgold
at 220K-j
Fig.
8.n
Sb(454)/Ga(iom)
en fonction de la temp4rature du recuitaprks d4p6t
de 30 lL d'or h 220 K.In
Sb(454)/Ga(tom)
versus theannealing
temperature afterdeposition
of 30I
ofgold
at 220K-j
servdes,
et enparticulier
l'existence de deux modes d'interaction successifs des foiblesddp6ts
d'or avec [es surfaces EJM de Gasb
loo).
A latempdrature
ambiante,
la limite entre ces deuxmodes se situe aux alentours de 2
I.
Ende&h
la variation del'amplitude
dupic
5b~454)
avecle
ddp6t
estexponentielle.
L'or semble donc seddposer
en couche 2D h la surface du Gasb. Ladiminution du
rapport
aSbj4s4)/Ga(io7o)
s'explique
alors par la difldrence entre leslongueurs
d'dchappement
I des deux transitions(lGaimo
>lsb454
).
L'attdnuationimportante
duplasmon
de volume du Gasb est en accord avec le recouvrement
homogbne
de la surface. La diminutionde l'intensitd du
diagramme
de DEL va dans le mAme sens sadisparition
aux alentours de 2I
indique
que la couverture de la surface est alors h peuprbs complbte.
Au-dell de 2I,
[esvaria-tions de l'intensitd des
pics
Auger
du substrat et de l'adsorbit sontplus
foibles. Le rapport a 5b~454~/Gajio7o)
augmente
etd4passe
largement
la valeur mesurde initialement. Cette 4volutionindique
un enrichissement de la surface en antimoine attribuable h une diffusion de Sb vers lasurface,
et de l'or vers lesemiconducteur,
comme cela a AtA observd dans le cas d'unddp6t
d'orde 40
I
sur des surfaces initialement bombarddes et recuites[17].
A basse
tempdrature,
on observe le mAmecomportement
g4n4ral
de la surface. Leplasmon
50 45 40 35 , ~~
"j',
i~
'(~o
~i
~~'"
g
I ' ~~ i " ~O',
~~'
C~m,
' lo ,'~
'',
~ ~",Q
o 10 20 30 d(A)
Fig.
9. Courant d'dchantillonen fonction du d6p6t d'or h
ill)
300 K,(.)
220 K.[Crystal
current versusgold
thickness atill)
300 K,(.)
220K-j
temp4rature
ambiante,
etqu'il
contribue h masquer le substrat defa&on
plus
importante.
Lerapport a
Sb(4s4)/Ga(tom)
qui
continue h ddcroitrejusqu'aux
alentours de 10I
confirme que le processus de diffusion est enpartie
inhibd par l'abaissement de latempdrature.
L'interdiflusionne devient notable que pour un
ddp6t plus
important.
Lors du
recuit,
aprAs
unddp6t
de l'ordre de 25I
eflectud h 220K,
l'4volution des intensit4sAuger
est relativement peuimportante
jusqu'aux
alentours de 300 K. Lessignaux Auger
ten-dent vers [es valeurs
qui
avaient dtd mesurdesaprAs
le mAmeddp6t
eflectud h latempArature
ambiante. L'accroissement de la
tempdrature
faitapparaitre
entre 350 K et 450 K une augmen-tationimportante
dessignaux
du substrat corr414e h une diminutionimportante
dusignal
del'adsorbit. L'or masque donc de moins en moins le
Gasb,
soit parcequ'il
diffuse defa&on
impor-tante,
soit parcequ'il
se rassemble en ilots. Lerapport
aSb(4s4)
/Gaoo7o)
augmente
faiblement,
indiquant
lapoursuite
de lasdgrdgation
de l'antimoine vers la surface. Pour [estemp4ratures
supdrieures
h 450K,
lepic
Sb(4s4)
se stabilise alors que [espics
Au(69)
etGa~iom)
continuent hdvoluer en sens inverse. La diffusion se traduit alors essentiellement par un
(change
Au-Ga,
cedernier 41dment venant s'accumuler en surface. Cet eflet
peut
Atrerapproch4
de celui obtenupar
chauflage
du Gasb sousvide,
chauflage
qui
induit des kvolutions de la stcechiom4trie desurface
qui
vont dans le mAme sens que celles que nous avons observ4es etqui
peuvent
aboutirh la formation de
gouttelettes
de Galliumlorsque
latemp4rature
avoisine 720 K[25].
Dans lecas
prdsent,
l'dvolution despics
se situecependant
dans une gamme detempdratures
nette-ment
plus
foible. Il semble donc quel'or,
en contribuant h la libdration des atomes du substratfacilite l'interdiflusion. La
rdapparition
d'undiagramme
de DEL h 470 K montre que la surfaceprdsente
h nouveau des domaine cristallins dont [espropridtds
structurales sontidentiques
hcelles de la surface initiale.
La diffusion de l'or et son rassemblement en
paquets
ant vraisemblablement conduit hddcou-vrir certaines zones du substrat
qui,
mAme si elles ant dtd sensiblement modifides aupoint
de vue de la stcechiomdtrie par unep4n4tration
4ventuelled'or,
ant conserv4 leur structure desurface initiale.
Bibliographie
iii
BatraI-P-,
Tekman E. et CiraciS., Theory
ofSchottky
Barrier andMetallisation,
Progr.Surf.
Sci. 36
(1991)
289.[2] Shen T.
C.,
Gao G. B. etMorkoq H.,
Recentdevelopments
in ohmic contacts for III-Vcompound
semiconductors,
J. Vac. Sm. Technol. B lo(1992)
2113.[3] MiInes A. G., Semiconductor
heterojunction
topics:
introduction and overview, Solid~state Elec~ tron. 29(1986)
99.[4] MiInes A. G. et
Polyakov A-Y-,
Review Gallium antimonide device relatedproperties,
Solid~state Electron. 36(1993)
803.[5]
Chang Y.,
MaoD.,
KalinA.,
Bonnet J-J-, Soonckindt L. et LeLay G., Morphology,
chemistry,
and bandbending
atAg-
andIn-(lo0)
Gasbinterfaces,
J. WC. Sci. Technol. 9(1991)
2349. [6] Poole I., Lee M. E., Missous M. etSinger
K. E., In situSchottky
contacts to molecular-beamepitaxially
growngallium
antimouide, J.Appl. Phys.
62(1987)
3988.[7] Walters S-A- et Williams
R-H-,
Metals on cleavedgallium
antimonide:Schottky
barriers and interfacereactions,
J. Vac. Sci. Technol. B 6(1988)
1421.[8] Bonnet J.J et Doukkali
A.,
Work function variations of theAg/Gasb(llo)
interface at room and low temperature, J. Vac. Sci. Technol. A 9(1991)
2239.[9] Mao
D.,
Kahn A. et SoonckindtL.,
Chemical and electronicproperties
of theAg/Gasb
(l10)
interface formed at room and low temperature,Phys.
Rev. B 40(1989)
5579.[lo]
Chye
P-W-, Lindau I., Pianetta P., Garner C.M.,
Su C. Y. etSpicer
W. E., Photoernissionstudy
of AuSchottky-barrier
formation ofGasb,
GaAs, and InPusing
synchrotron
radiation,Phys.
Rev. B18
(1978)
5545.[ll]
M6nchW.,
Virtual gap states and Fermi levelpinning by
adsorbates at semiconductor surfaces,J. Vac. Sci. Technol. B 4
(1986)1085.
[12] Lin
X-W-,
Liliental-Weber Z., Washburn J., Piotrowska A. et Karninska E., Structuralcharacte-risation of
encapsulated
Au/Zn/Au
ohmic contacts to p- typeGaAs.,
Vac. Sci. Technol. B 11(1993)
44.[13] Piotrowska
A.,
KarninskaE.,
Lin X. W., Liliental-Weber Z., WashburnJ.,
WeberE.,
AdamczewskaJ., Kwiatkowski S. et Turos
A.,
Annealing
ofAu(Te)/n-GaAs
contacts, J. Vac. Sci. Technol. B11
(1993)
572.[14] Murawala P-A- et Arora
B-M-,
On The BarrierHeight
ofSchottky
Diodes on Au andn-Gasb,
Jpn.
J.Appl. Phys.
29(1990)
L2434.[15] Piotrowska
A.,
Guivarc'h A. et PelousG.,
Ohmic contacts to III-Vcompound
semiconductors: a review of fabricationtechniques,
Solid-State Electron. 26(1983)
179.[16] Tsai
T-C-,
WilliamsR-S-,
Solidphase equilibria
in theAu-Ga-As,
Au-Ga-Sb,
Au-In-As,
and Au-In-Sb temaries, J. Mater. Res. 1,2(1986)
352.[17] Lince J. R. it Williams
R-S-,
Comparison
ofchemically
inert and reactive metal-compound-semiconductor interfaces: AuGa2 andgold
on Gasb(001),
Thin Sol.fi.
137(1986)
251.[18] Koshizaki
N.,
KudoK.,
OwariM.,
Nickei Y. et KamadaH.,
Structural and Chemical State Analy-sis of the heat-treatedAu/Gasb(l10)
Interfaceby
means ofAngle-Resolved
X-Ray Photoelectronjig]
BertruN.,
Nouaoura M., BonnetJ.,
LassabatereL.,
Bedel E. etMunoz-Yague,
UV and ozonecleaning
of Gasb(100)
surfacesprior
to MBEgrowth, Appl. Surf.
Sci. 68(1993)
357.[20] Davis
L-E-,
MacDonaldN-C-,
Palmberg
P-W-,
Riach G-E- et WeberR-E-,
Handbook of Au-ger ElectronSpectroscopy
(Physical
ElectronicsDivision,
Perkin~ElmerCorporation
6509Flying
Cloud
Drive,
EdenPrairie,
Minnesota)
p. 55343.[21] Ludeke
R.,
Surface studies onMBE-grown
III-Vcompounds
andalloys,
J. Vac. Sci. Technol. 17(1980)
1241.[22] Raibin
C.,
Da Silva F. W. O. et LassabatereL.,
Oxydation
study by
AES and EELS of Gasb(001)
surfaces grownby MBE,
J. Vac. Sci. Technol. B 81990)
68.[23] Rouanet M., Nouaoura M., Bertru
B.,
Bonnet J-J- et Lassabatere L., Etude entemp4rature
deGasb(100)
sons flux deAs4.,
Journ4es Surfaces et Interface(Nancy
27 et 28Janvier,
1994).
[24]
Lynch
M-J- et SwanJ-B-,
The characteristic loss spectra of the second and third series transitionmetals,
Aust. J.Phys.
21(1968)
811.[25] Da Silva
F-W-O-,
Thkse de 3°cycle
de Universit4Montpellier
II(1990).
[26] Meyer F. et
Vrakking
J-J-,Quantitative
aspects ofAES,
Surface Sci. 33(1972)
271.[27]