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Méthode de calcul des niveaux énergétiques associés aux pièges profonds d'un cristal semiconducteur

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HAL Id: jpa-00235684

https://hal.archives-ouvertes.fr/jpa-00235684

Submitted on 1 Jan 1957

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Méthode de calcul des niveaux énergétiques associés aux pièges profonds d’un cristal semiconducteur

Jacques Des Cloizeaux, Pierre André

To cite this version:

Jacques Des Cloizeaux, Pierre André. Méthode de calcul des niveaux énergétiques associés aux pièges

profonds d’un cristal semiconducteur. J. Phys. Radium, 1957, 18 (7), pp.441-446. �10.1051/jphys-

rad:01957001807044100�. �jpa-00235684�

(2)

MÉTHODE DE CALCUL DES NIVEAUX ÉNERGÉTIQUES

ASSOCIÉS AUX PIÈGES PROFONDS D’UN CRISTAL SEMICONDUCTEUR

Par JACQUES DES CLOIZEAUX et PIERRE ANDRÉ,

Laboratoire de Physique de l’École Normale Supérieure.

PHYSIQUE 18, 1957,

1. Niveaux de piege et d’impurete dans un cristal

semiconducteur.

-

La presence, dans un cristal semiconducteur, d’atomes etrangers au reseau ou

de def auts, se traduit par la superposition’ d’un potentiel perturbateur v local, au potentiel perio- dique du cristal parfait. Le spectre d’énergie est

inodifi6 : des niveaux supplémentaires Ep apparais-

sent dans la bande interdite. Si le potentiel v est attractif, les niveaux pi6gent des electrons de la bande de conduction et sont dits donneurs. Si v est

repulsif, les niveaux sont nommes accepteurs.

Soit alors un centre accepteur. Si la profondeur

moyenne du potentiel associ6 est faible par rapport

h la largeur de la bande interdite, les niveaux de

piege ou d’impureté seront assez voisins de la bande de valence. Si, de plus, le potentiel varie lentement

sur une distance interatomique, les niveaux d’éner-

gie seront calcul6s avec une bonne precision au

moyen de 1’6quation de Wannier [1]. Repr6sentons

par la fonction E

=

fv(K) les variations de 1’ener-

gie, en fonction du vecteur d’onde K, dans la bande

de valence, pour un cristal parfait. L’équation de

Wannier s’écrit alors :

p(r) est la fonction d’onde de Wannier, v(r) le potentiel perturbateur, Jes valeurs Ep de cette equation repr6sentent les niveaux d’énergie.

II faut maintenant expliciter 1,,(K) de façon

correcte. Deux cas sont a distinguer correspondant respectivement aux niveaux de pi6ges.

a) CENTRE D’IMPURETE. CAS D’UN POTENTIEL V

1’RÈS FAIBLE.

-

Si le potentiel v est du à un atome etranger au r6seau, il est en general vraiment faible

par rapport a la largeur de la bande de valence.

L’état perturb6 ne fait intervenir que les 6tats non

perturb6s les plus proches, voisins du maximum de la bande de valence. II est alors raisonnable de

d6velopper fv(K) jusqu’au second ordre en K, au voisinage d’un maximum de la bande de valence et d’utiliser 1’expression obtenue pourresoudre 1’equa-

tion de Wannier [1]. D ans le cas ou il existe dans la bande un maximum non d6g6n6r6 et pour ce point

une masse effective isotrope nous 6crivons par

exemple :

II peut y avoir aussi plusieurs masses effectives : enfin s’il y a dégénérescence le developpement

de fv(K) est plus compliqu6 et 1’6quation de

Wannier doit etre g6n6ralis6e [2], cependant on peut toujours se contenter des termes du deuxi6me

ordre.

b) PITGES PROFONDS. CAS D’UN POTENTIEL U PLUS IMPORTANT.

-

Les pi6ges profonds comme

ceux qui interviennent lors de la recombinaison par le processus de Shockley Read, correspondent en general a des d6fauts de r6seau, par exemple des lacunes, ces lacunes pouvant etre cr66es, entre

autres possibility par bombardement electronique

des cristaux. Les potentiels associ6s à ces défauts

sont relativement importants. L’équation de

Wannier toutefois peut rester une approximation

valable mais il n’est plus possible de se contenter

de l’approximation des masses effectives. Notons tout de suite que les pieges observes ont une possi-

bilit6 de capture plus grande vis-h-vis des trous que vis-a-vis des electrons. C’est pourquoi nous dis-

cutons plus particulierement dans cet article le cas

des niveaux accepteurs.

Pour calculer 1’energie des pieges profonds, nous

devons donc estimer fv(K) d’une façon plus precise.

Or, expérimentalement, l’on peut mesurer les

masses effectives au voisinage des minima de la bande de valence et des minima de la bande de conduction (par exemple par des experiences de

resonance cyclotron) ainsi que la largeur de la

bande interdite. L’objet de cet article est de

montrer que ces elements suffisent a d6ter- miner fv(K) de mani6re approch6e, ce qui permet

un calcul satisfaisant des niveaux de pieges profonds grace a 1’6quation de Wannier. Pour des raisons de simplicité, nous exposerons le principe

du calcul pour un cristal a une dimension ; un exemple num6rique simple nous permettra de tester

1’efficacit6 de la m6thode. La generalisation a trois

dimensions s’opère d’elle-meme.

2. M6thode de raccordement interbande pour un

cristal a une dimension.

-

Dans un cristal a une

dimension de p6riode spatiale 1, les solutions de l’équation de Schrodinger relatives a l’énergie E

sont fonctions lin6aires de deux solutions parti-

Article published online by EDP Sciences and available at http://dx.doi.org/10.1051/jphysrad:01957001807044100

(3)

442

culi6res. Soit pa(x) et Yb(x) ces solutions. Nous pourrons en general choisir ces fonctions de telle

sorte que :

Or comme I’a montre Kramers [3],

et la quantite

est une fonction r6elle qui oscille de telle faqon que

.

tout maximum est sup6rieur a 2, tout minimum est

inférieur à 2 ( fig. I).

I

FIG. 1.

Par conséquent dans les régions où ),(E)[ 2

nous pourrons poser :

ou encore si l’on choisit une autre determination de oc

Ces regions correspondent aux bandes permises.

Par ailleurs, si u(E) > 2 nous poserons : si u(E) 2 nous poserons :

Les regions associ6es a ces deux derniers cas

correspondent aux bandes interdites. Dans une

bande permise, nous pourrons ecrire E

=

f(oc) et

dans une bande interdite E

=

g(B). Ces fonctions torment les branches d’une meme fonction a condi- tion de poser oc

=

ip et de prolonger analytiquement

la fonction f(«). En effet, les solutions de 1’6quation

de Schr6dinger varient continument, si l’on fait

varier continûment le parametre E ; l’on peut ainsi

passer d’une bande permise a la suivante a travers

la bande interdite. Remarquons que les solutions de

l’équation de Schrodinger ne sont des fonctions

d’onde que si oc est reel, ce est alors le nombre d’onde (a condition de prendre pour unite, la longueur 1

d’une cellule du cristal lineaire) ; toutefois elles

sont mathématiquement définies pour toutes les valeurs de E (E reel).

Soit alors E1 le maximum de la bande de valence, Eo le minimum de la bande de conduction (voir fig. I). Les spectres des bandes de valence et de conduction seront repr6sent6s respectivement par les fonctions

Dans la bande interdite nous ecrivons :

Cette fonction est representee graphiquement par

FIG. II.

-

Raccordement interbande.

une courbe en forme d’oeuf et poss6de deux déter- minations :

avec

Les limites Eo et E1 de la bande interdite sent donn6es par les valeurs ac = p

=

0. Les fonctions f

et g satisfont aux relations suivantes :

Si p est petit P approximation des masses effec-

tives s’applique et compte tenu du fait que

«2

= -

p2les 6galit6s (13) donnent :

Nous obtenons ainsi deux portions de la fonc-

tion g(p).

Supposons alors que nous ne connaissions de la

structure des bandes que les masses effectives me

et mt et la différence (Eo

-

E 1)’ il est alors possible

(4)

d’approximer g(p) par une expression analytique qui permette de raccorder au mieux les deux por- tions connues de cette fonction. La fonction g(p)

etant connue, la seconde des relations (13) fournit 1’expression analytique approeh6e de f,,,(oc) pour toutes les valeurs de oc. L’expression de g(B) doit

etre choisie de façon que les fonctions fc(rx) et fv(rx) qui s’en d6duisent par prolongement analytique, poss6dent bien la periodicite du reseau r6ciproque.

La fonction fv(rx) ainsi explicit6e peut etre utilis6e

dans 1’6quation de Wannier pour calculer les pieges profonds associ6s a un modèle a une dimension (cette equation est l’analogue de l’équation (1)).

On remarque que le procédé utilise ne revient pas a faire intervenir les deux bandes dans l’équation

de Wannier mais a apporter a la description initiale

de la bande de valence au moyen d’une masse

effective mt, une correction issue de la connaissance de la masse effective me de la particule au bas de la

bande de conduction.

Naturellement, la methode se generalise au cas

d’un cristal reel a trois dimensions, dont on peut

mesurer experimentalement les masses effectives au

maximum de la bande de valence et au minimum de la bande de conduction, ainsi que la largeur de la

bande interdite. La situation est toutefois nette- nient plus complexe et fera l’objet d’un travail

ult6rieur.

Pour tester la valeur de notre methode, nous 1’appliquons a un cas simple : un modèle de Kronig

et Penney constitue par une suite de puits de Dirac

attractifs et perturbe par un potentiel r6pulsif v.

Dans le modèle de Kronig et Penney, nous

pourrons calculer exactement (a). Nous pourrons done tester la validite de notre methode de raccor-

dement interbande en ce qui concerne la repre-

sentation approch6e de f,(oc) et la repercussion de

cette approximation sur le calcul du niveau de

piège introduit par le potentiel perturbateur ?

3. Application au calcul d’un niveau de piège

pour un modele linéaire de Kronig et Penney.

-

a) BANDES PERMISES ET BANDES INTERDITES DU

MODTLE CHOISI. NIVEAU DE PIEGE : : RÉSULTAT

RIGOUREUX.

-

Le modele que nous consid6rons

sera constitue par des cellules de longueur unite ;

au centre X de chaque cellule se trouve un potentiel

en puits de Dirac donne par 1’expression

La bande de valence sera limitee par le

energies E1 et E2 avec E, > E2, Eo repr6sente Ie

bas de la bande de conduction. Les valeurs nume-

riques seront exprimees en unites atomiques (2mJh2 = 1).

Comme cas particulier, nous prendrons U

==

2,4.

Nous trouvons ainsi : (voir appendice)

Le schema des bandes permises et interdites est donne par la figure IV.

Au potentiel p6riodique precedent on superpose

un potentiel r6pulsif carr6 qui couvre une cellule

FIG. III.

-

Modele de Kronig et Penney.

FIG. IV.

-

Modele de Kronig et Penney.

Structure des bandes.

FIG. V.

-

Modele de Kronig et Penney.

et potentiel perturbateur.

particuli6re tres 6loign6e des extrémités du cristal.

L’origine des abscisses est choisie au centre de cette cellule

Le potentiel r6pulsif v sera choisi de telle façon

que le niveau de piege corresponde a 1’6nergie Ep

=

0. Un calcul rigoureux (voir appendice b)

montre que nous devons alors prendre v

=

4,88.

Maintenant en utilisant le meme potentiel pertur- bateur (avec v

=

4,88) nous allons traiter le meme

probl6me de calcul de Ep, par la m6thode approch6e expos6e ci-dessus. Ce calcul servira de test a notre

procédé.

b) RACCORDEMENT INTERBANDE POUR LE

MODKLE DE KRONIG ET PENNEY. - Au voisinage

(5)

444

des energies Eo et. E1, F approximation des masses

effectives permet d’écrire :

yo et u1 peuvent etre calcul6s rigoureusement a partir du modele choisi (voir appendice c). L’équa-

tion E

=

g(p) (équation de la courbe en forme d’ceuf) sera representee par 1’6quation implicite

suivante que nous avons choisie a priori en raison

de sa simplicite :

D6veloppons E au deuxi6me ordre en p au voisi-

nage des points (E

=

Eo, B

=

0) et (E

=

Ei, p

=

0). Par identification avec les formules (17),

on calcule 6 et

Ce qui permet d’expliciter g(B) sous la forme :

La détermination gv(B) correspondra au signe

-

devant le radical et nous pourrons écrire :

Le bas de la bande de valence dans cette approxi-

mation est donne par l’équation :

Le calcul de ua et u1 donne en appendice, conduit

à la determination de E2.

E;

= --

6,16 alors que, en toute rigueur on

obtient :

L’approximation conduit a une erreur d’envi-

ron 45 % sur la largeur de la bande de valence.

Cette erreur peut sembler importante. Neanmoins

pour le calcul des niveaux de piège, il nous importe

de connaitre fv(et.) pour des valeurs de cx assez

petites pour lesquelles la representation de fv(et.)

est plus exacte. Remarquons d’ailleurs que l’appro-

ximation des masses effectives suppose une bande de valence infiniment large.

C) CALCUL DU NIVEAU DE PIÈGE EN UTILISANT L’EQUATION DE WANNIER ET LA METHODE DE

RACCORDEMENT INTERBANDE.

L’équation de Wannier (15) s’ecrit :

avec

La fonction y(x) sera prise symetridue

-

pour x > 1/2 nous poserons y(x)

==

C e-3’°’ (25)

-

pour -1 /2 G x 1/2 nous poserons y(x)

=

D cos r:t.,"X.

La condition de continuite de la fonction cp(x) et

de sa d6riv6e au point x

=

1/2 conduit a la rela-

tion :

Pour x >, 1/2 l’équation de Wannier donne :

d’ou

FIG. VI.

-

Structure des différents niveaux d ’énergie.

Pour

-

1/2 x 1/2 l’équation de WanDieI’

s’écrit :

d’où

Des trois relations (26), (27) et (28) nous pouvons tirer Ep. Avec les donn6es numeriques que nous

avons choisies on obtient :

(6)

445

Remarquons que le meme calcul effectu6 en

utilisant 1’6quation de Wannier et l’approximation

des masses effectives aurait conduit a une valeur nettement moins bonne :

4. Conelusion.

-

Le piege profond d’6nergie Ep

trait6 dans notre exemple poss6de une énergie

d’attraction de 2,5 a partir du maximum de la bande de valence, notre m6thode determine cette

énergie avec une erreur de 10 %. Experiment- lement, dans le cas du germanium par exemple, 1’energie d’activation des pieges (environ 0,28 eV)

est connue avec une incertitude d’environ 10 %.

Notre m6thode parait done assez precise pour

permettre une interpretation convenable des faits

expérimentaux. Une generalisation au cas concret

de cristaux de germanium parait done souhaitable.

Appendice.

-

a) BANDES PERMISES ET BANDE INTERDITE DU MODELE DE KRONIG ET PENNEY.- La particule consideree ob6it a 1’6quation de Schrodinger ;

(à condition de poser 2m Jh2

=

1, m 6tant la masse

vraie de la particule). Le potentiel v(z) est perio- dique, lBe cristal a une dimension est formé de cellules se répétant indefiniment. Les valeurs de la fonction (x) et de sa d6riv6e §’(x) a l’entrée e et A

la sortie s d’une cellule quelconque C sont reli6es

par la relation matricielle suivante :

Car (x) est une combinaison lin6aire de deux

int6grales particuli6res de 1’6quation (29). On peut

montrer facilement [3] que le produit des valeurs propres de M est 6gal a l’unit6 et que leur somme est 6gale a la trace de M

La resolution de 1’6quation suivante, pour

-

1/2 x 1/2 permet de calculer la matrice M dans le cas considere.

Cl) Supposons E 0’.

-

Ce cas correspond aux

6tats lies. A condition de poser E

= -

q2, la

inatrice M s’écrira

La bande de valence sera d6finie par l’inégalité

La figure VII montre les variations de la trace de M.

FIG. VII.

Si nous prenons pour U la valeur U

==

2,4 les

limites E1 et E2 de la bande de valence possèdent

les valeurs suivantes

B) Supposons E > 0.

-

Ce cas correspond aux

6tats non lies.

Nous poserons E = t2 ce cas se r6duit du pr6-

c6dent a condition de poser q

=

it.

Le minimum de la bande de conduction est donne par 1’6quation :

donc la racine vaut to

=

r.

Nous en tirons Eo

b) POTENTIEL PERTURBATEUR ET NIVEAU DE

PITGE.

-

CALCUL RIGOUREUX. - Le modèle de

Kronig et Penney perturb6 est donne sur 1 a figure V.

Supposons le niveau de piege Ep situ6 dans la gamme des 6nergie negatives

L’6quatioii de Schrodinger s’ecrit :

avec

(7)

446

Dans la cellule le symbole X repr6sente toujours

le centre de la cellule consideree. Le niveau de

piege correspond a une fonction sym6trique en x,

puisque le potentiel est sym6trique. Les conditions

aux limites et les conditions de continuite de cette fonction determinant Ep.

oc) Soit x >, 1/2. Pour les energies considérées,

nous aurons Tr M - 2 (voir fig. I et VI)

Les valeurs propres de la matrice M seront 6gales

à ef3 et

-

e-f3 avec :

La fonction (x) doit tendre vers z6ro six-* + oo.

Nous devrons done écrire :

Les expressions (30) et (33) conduisent a 1’egalite :

d’où Fen tire en utilisant les relations (36) et (37)

B) Soit

-

1/2 x + .

Poúr x

=

0 la d6riv6e de §(z) poss6de une dis-

continuite. L’intégration de 1’6quation (35) au voisi-

nage de l’origine donne :

mais par raison de symetrie

donc

Pour 0 x 1/2 la solution §(x) de l’équa-

tion (35) pourra s’ecrire :

La relation (39) permet de pr6ciser G

Finalement nous en tirons : :

Pour qu’il y ait raccordement au point x

=

1/2

nous devons 6galer les deux valeurs de donn6es par les 6galit6s (38) et (40)

avec

P 6tant toujours donne par 1’6quation (36).

Choisissons alors la valeur de v de telle façon que

1’6nergie Ep du niveau de piege introduit, soit nulle.

Nous aurons:

Un calcul num6rique simple donne v

=

4,88.

C) CALCUL DES COEFFICIENTS f.Lo ET yi ASSOCIES

A L’APPROXIMATION DES MASSES EFFECTIVES POUR DES ENERGIES VOISINES DE Eo ET E1.

-

Pour des energies voisines de .Eo, nous aurons :

soit au premier ordre en (E - Eo)

Pour des energies voisines de E1, nous aurons :

cos oc

= -

(cos q - (Ulq) sh q) avec E = - q2 (44)

ou approximativement :

Les deux formules (43) et (45) s’6crivent encore : E

=

Eo - yo «2 pour oc « 1

Ponr la valeur tl

=

2,4, nous trouvons :

Manuscrit regu le 19 avril 1957.

BIBLIOGRAPHIE [1] WANNIER (G. H.), Phys. Rev., 1937, 52, 191. SLATER

(J. C.), Phys. Rev., 1949, 76, 1592.

[2] KITTEL (C.) et MITCHELL (A. H.), Phys. Rev., 1954, 96, 1488. LUTTINGER (J. M.) et KOHN (W.), Phys. Rev., 1955, 97. 869.

[3] KRAMERS (H. A.), Physica, 1935, 2, 483. SEITZ. (F.),

Théorie moderne des solides, Masson.

Références

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