HAL Id: jpa-00245677
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Submitted on 1 Jan 1987
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Commutations optiques ultra-rapides dans un film non-linéaire de silicium sur saphir
H. Chelli, A. Koster, N. Paraire, F. Pardo, H. Sauer, M. Carton, S. Laval
To cite this version:
H. Chelli, A. Koster, N. Paraire, F. Pardo, H. Sauer, et al.. Commutations optiques ultra-rapides dans
un film non-linéaire de silicium sur saphir. Revue de Physique Appliquée, Société française de physique
/ EDP, 1987, 22 (10), pp.1273-1279. �10.1051/rphysap:0198700220100127300�. �jpa-00245677�
Commutations optiques ultra-rapides dans
unfilm non-linéaire de silicium
sursaphir
H.
Chelli,
A.Koster,
N.Paraire,
F.Pardo,
H.Sauer,
M. Carton et S. LavalInstitut
d’Electronique Fondamentale,
Université Paris XI, CNRS UA22,
Bâtiment220,
91405Orsay
Cedex,France
(Reçu
le 13 novembre1986, accepté
le 4 mars1987)
Résumé. 2014 Un
dispositif original
de commutation entièrementoptique,
utilisant l’excitation de modesguidés
dans un film de silicium sur
saphir
estprésenté.
Cette structure apermis
l’observation de commutationsrapides (quelques
centaines depicosecondes).
Uneanalyse théorique
estexposée qui
permetd’expliquer
lesobservations
expérimentales
et de définir les conditions d’utilisation permettant d’obtenir la bistabilité.Abstract. 2014 An intrinsic
optical switching device, using
the excitation ofguided
modes in a silicon onsapphire
film is
presented.
This structure allows the observation of fastswitching (a
few hundredpicoseconds).
Atheoretical
analysis
ispresented
whichexplains
theexperimental
observations and allows topredict
in whichconditions
bistability
can be observed.Classification
Physics
Abstracts42.65 - 42.80L - 42.82
Différentes structures ont été
envisagées
au coursdes dernières années pour obtenir des commutations
tout-optiques ultra-rapides [1, 2].
Danschaque
cas, outre larapidité
destransitions, plusieurs
facteursinterviennent dans
l’optimisation
de cesdispositifs : énergie
nécessaire à lacommutation,
dimensionsgéométriques,
maîtrise des processustechnologiques
de réalisation... Nous
présentons
une structureorigi-
nale de
dispositifs
de commutation entièrementoptique qui
utilise l’excitation d’un modeguidé
dansun film mince de silicium sur
saphir.
Cette structurea
permis
l’observation de commutationsrapides (quelques
centaines depicosecondes)
et biencontrastées. Dans ce
qui
suit nous décrivons les résultatsexpérimentaux,
nous lesanalysons
théori-quement
en mettant en évidence l’influence desproblèmes
dedissipation thermique
et proposons des conditions d’utilisation pour l’observation decycles
de bistabilité.1.
Description
dudispositif expérimental.
Nous utilisons un
guide
non linéaire de siliciumépitaxié
sur dusaphir
et recouvertd’argent
danslequel
nous étudions lapropagation
de modes TE.Les
épaisseurs
du silicium et dusaphir
sontrespecti-
vement de
0,7
tjbm et 325 03BCm(Fig. 1).
Fig.
1. - Structure dudispositif.
[Device structure.]
La
longueur
d’onde excitatrice(1,064 jjum)
corres-pond
au bord de la banded’absorption
dusilicium,
zone dans
laquelle
les non-linéarités sontimportan-
tes. Lors de la
propagation
des modes dans leguide,
il y a réflexion totale de la lumière aux interfaces
saphir-silicium
etsilicium-argent :
on observe doncun très bon confinement de la lumière. Le
dispositif
est
comparable
à un résonateurFabry-Pérot
de trèsfaible
épaisseur (0,7 ktm)
etpossédant
un coefficient de surtension trèsélevé ;
parrapport
à un telArticle published online by EDP Sciences and available at http://dx.doi.org/10.1051/rphysap:0198700220100127300
1274
dispositif,
il doitcependant présenter
une dimensionlatérale minimale
correspondant
à la distance néces-saire à la construction des modes. Le
couplage
entrele
guide
et un faisceau incident est réaliségrâce
à unréseau dont le pas
(0,3306 03BCm)
a été choisi pourqu’il n’y
aitqu’un
ordre diffractérayonné
et pour que les différents modes TE soient commodément excités.La
profondeur
de modulationpeut
être choisie pourpermettre
uncouplage
total pour un modeparticulier [3].
Lors des mesures, on envoie sur le
dispositif
unfaisceau
laser,
sous une incidence 0 et on observe dans la direction de la lumière réfléchie. Unécran permet
de délimiterspatialement
dans cette directionune zone R où les
phénomènes
observés correspon- dent essentiellement à ceux créés par une excitationen onde
plane,
et une zone Goù,
en l’absence de lumièreréfléchie,
on observe l’onde de fuite associéeau mode
guidé. L’image
sur un trou d’unepartie
dudispositif permet l’analyse spatiale
desrégions
R etG ;
cetteanalyse
est effectuéegrâce
à undéplace-
ment relatif du faisceau excitateur par
rapport
à l’ensembleécran-dispositif
de détection(Fig. 2).
Fig.
2. -Dispositif expérimental.
[Expérimental set-up.]
2. Observation
expérimentale.
Une étude
préliminaire,
effectuée en utilisant unfaisceau incident continu de faible
puissance, permet
de déterminer laposition angulaire
et lalargeur
desmodes. L’étude en
régime
non linéaire est ensuiteréalisée en utilisant un laser
Nd-Yag
délivrant desimpulsions
de 20 ns ; ladivergence
du faisceau est de0,2
mrad et son intensitépeut
êtreajustée
par unsystème
lamedemi-onde/polariseur.
Sur lafigure
3nous avons
reporté
les observations faites sur le mode fondamentalTEo, qui présente
la résonance laplus aiguë,
dans lesrégions
R etG,
encontinu, puis
en
impulsion
pour de faibles valeurs de lapuissance
incidente. La résonance s’observe pour
00
=14,79°,
la
largeur
de la courbe étant 60 =0,20.
Cetterésonance
aiguë permet
d’observer des effets nonlinéaires
(commutations
oucycles
debistabilité)
àdes
puissances
incidentes raisonnables pour des valeurs del’angle
d’incidence différentes.Fig.
3. - Coefficient de réflexion et intensitéguidée
enfonction de
l’angle
d’incidencepour
le mode fondamentalTEo.
- :enregistré
avec un laserNd-Yag
continu. + :mesuré avec un laser
Nd-Yag
déclenché fonctionnant à faiblepuissance.
[Reflection
coefficient(R)
andguided intensity (PG )
versus the incidence
angle
for theTEo
fundamental mode.; recorded with a CW
Nd-Yag
laser. + : measuredwith a low power Q-Switched
Nd-Yag laser.] ]
Notons
cependant
que sous l’action d’un rayonne- ment, la non-linéarité du siliciumpeut
avoir deuxcauses :
- une variation d’indice
d’origine électronique 03B4ne, proportionnelle
à l’intensitéguidée,
etnégative [4],
- une variation d’indice
d’origine thermique ,6nT,
due à l’échauffement du matériau parabsorp-
tion du
rayonnement,
etpositive.
La variation
globale
d’indice observée 6n =Sne
+6nT dépend
de lacompétition
entre ces deuxphénomènes.
La réflectivité
R(03B8,n)
dudispositif
non linéaireétudié est fonction de 0 et de l’indice n. Nous avons
tracé sur la
figure
4 ses variations calculées enfonction de n, pour des valeurs de 0 très voisines de
00.
Nous pouvons remarquer que,pour 0 > 03B80, si,
àfaible éclairement
(n
=n0), R
estproche
du mini-mum,
lorsque
lapuissance augmente
onobservera, selon
lesigne
de &n uneaugmentation
de a avecpassage
ou non par la résonance selonque &n
estpositif
ounégatif
et donc observation ou non deFig.
4. - Variation du coefficient de réflexion avecl’indice du silicium.
[Reflection
coefficient versus the silicon refractiveindex.]
commutation,
lephénomène
s’inversant pour 03B800.
La
figure
5 montre les résultats obtenus pour différentes valeurs de 03B403B8 = 03B8 -00
et différentes valeurs de lapuissance
incidente crête(Pic),
lesmesures étant effectuées sur les faisceaux incidents
(trace 1),
dans larégion
R(trace 2)
et dans larégion
G
(trace 3).
Ellemontre,
enpremier lieu, qu’on
n’observe de minimum sur la
réflectivité,
et de commutation que pour des valeurspositives
de60,
ce
qui
prouve que, dans nos conditionsexpérimenta- les,
ce sont les effetsthermiques qui prédominent.
2013 Pour 03B403B8
0,
à faiblepuissance,
laréflectivité
varie peu ;quand
lapuissance augmente,
la réflecti- vitéaugmente également.
- Pour 80 =
0,
à faiblepuissance,
la réflectivité :Jt est minimale : c’est pour cette valeur de 0 que la croissance du modeguidé
est laplus rapide. Quand
la
puissance
incidentePi augmente, A augmente également.
Pour des valeursimportantes
dePi,,
onobserve des commutations.
- Pour 8 0 > 0 la réflectivité décroît
pendant
que le modeguidé croît, puis 3t augmente
alors que lapuissance guidée
décroît. Le passage à la résonance s’observe d’autantplus
tardivement que 03B403B8 estplus grand.
Pour lesgrandes
valeurs de.Pic,
on observedes commutations. Si nous
appelons
03C4c la durée d’unecommutation, soulignons
que pour une valeur fixée de03B403B8,
rc diminuequand Pic augmente.
Pour03B403B8 =
0,11 °
etPic
= 700kW/cm2,
nous avonsobservé,
à l’aide d’unoscilloscope
Thomson TSN660(5 GHz)
et d’unephotodiode
à avalanche(le temps
de montée de l’ensemble étant d’environ 200ps)
untemps
Tc === 700 ps. Pour retrouver une même durée Tequand
8eaugmente,
il est nécessaired’augmenter Pic.
Par
ailleurs,
cesexpériences permettent
d’observerune commutation mais pas de bistabilité. Cette commutation
résultant,
au moins enpartie,
d’uneélévation de
température,
oncomprend
aisémentque le retour à l’état initial ne
puisse
être observépendant
la durée del’impulsion (20 ns).
Une étude
spatiale
desphénomènes
aégalement
été effectuée
expérimentalement,
pour essayer de caractériser l’influence de l’extension finie du fais-ceau excitateur sur l’évolution du mode
guidé
et lescaractéristiques
de la commutation : lafigure
6 indi-que la
répartition
d’intensité dans leguide,
dans laFig.
5. - Variationstemporelles
de :1)
l’intensitéincidente, 2)
l’intensité diffractée dans larégion
R,3)
l’intensitéguidée,
pourplusieurs
valeurs de 80.(a; : Pic
= 135kW/cm2, bi : Pic
= 500kW/cm’.)
[Temporal
variations of :1)
the incidentintensity, 2)
theintensity
diffracted from the Rregion, 3)
theguided intensity,
for several values of 8 6
(a ; : Pic
= 135kW/cm2, b; : Pic
= 500kWlcm2).]
1276
Fig.
6. - Variationspatiale
dans la direction de propaga- tion de l’intensité incidente crête, et de l’intensitéguidée
mesurée à différents instants.
[Spatial dependence
of the maximum incidentintensity
and of the
guided intensity,
at varioustimes,
in thepropagation direction.] ]
direction de
propagation,
en différents instants. On voit que, au début del’impulsion
excitatrice(tl),
lemaximum du mode
guidé
a lieu en unpoint
xl,
éloigné
de xo(abscisse
du. maximum d’intensité du faisceauexcitateur) :
cet écart xi - xo caractérise lecouplage
entre l’onde incidente et leguide.
A desinstants
ultérieurs t2 (t1 t2 t_), le
maximumx2 du mode
guidé
serapproche
de xo(xo
X2xl) :
lecouplage augmente.
Les courbes b et cdonnent la
répartition
d’intensité dans leguide respectivement
aux instants t_et t+ qui précèdent
etsuivent immédiatement la commutation. A la
préci-
sion des mesures
près,
il semble que la commutation ait lieu simultanément dans toute une zone del’espace
dont l’extensiondépend
de lapuissance
incidente crête :
Pic.
Uneinterprétation théorique plus complète
desphénomènes
observés nécessiteraitune
analyse spatio-temporelle
ducouplage
entre unfaisceau
gaussien
et unguide
non linéaire. Cette étude est en cours.3.
Analyse théorique.
L’interprétation
des résultats a été effectuée enfaisant les
hypothèses simplificatrices
suivantes :nous avons
supposé
une excitation en ondeplane
etdonc
négligé
les effets transverses. Nous avonségalement supposé
que la désexcitation despaires
électron-trou créées par le faisceau excitateur pou- vait être décrite
phénoménologiquement
par untemps
de relaxation T et que lors de cette désexcita- tion toutel’énergie
absorbée était transformée enchaleur. Dans ces
conditions,
onpeut expliciter
lesrelations donnant la variation d’indice
d’origine électronique, proportionnelle
au nombre depaires
électron-trou N
(t )
existant à un instant t :et la variation d’indice
d’origine thermique
Nous avons déterminé
expérimentalement
le coeffi-cient
an/aT,
et l’avons trouvéégal
à1,7
x10-4 K-1,
en très bon accord avec celui annoncé par Eichler
[6].
3.1 HYPOTHÈSE DE LA COUCHE ISOLÉE. - Une pre- mière série de simulations a été réalisée en
supposant
que toute la chaleur était absorbée dans le silicium(hypothèse
valable si la durée del’impulsion
estfaible
comparée
autemps
caractérisant leséchanges thermiques
avecl’argent
ou lesaphir).
L’élévation detempérature
du silicium s’écrit alors :où p est la masse
volumique
dusilicium, Cp
sacapacité calorifique
et w lafréquence
de l’ondeexcitatrice. On a donc :
les relations
(1)
et(2)
montrent que lerapport
de8ne
à8nT dépend
de la forme deN (t ) ;
celle-ci estdonnée par :
où 17
est le rendementquantique
etPa la puissance
lumineuse absorbée par unité de volume du
film, moyennée
surl’épaisseur e
dufilm ;
elle s’écrit :A
partir
deséquations (1-4),
nous voyons que la variationtemporelle
de l’indice du silicium :L
dépend
de 3paramètres
essentiels :; - la forme et la durée de
l’impulsion
incidentet
(via Pi(t»
- la
géométrie
dudispositif (épaisseur, impor-
; tance des
échanges
de chaleur entre leguide
et les. milieux
extérieurs)
i - le
temps
de recombinaison T du matériau.Nous avons résolu
numériquement
cesystème d’équations couplées.
Nousreportons
sur lafigure
7le résultat des simulations effectuées pour 03B403B8 =
0,04°, Pic=
500kW/cm2 qu’il
faut comparer aux résultatsexpérimentaux
donnés sur lafigure 5 (b3) :
le meilleur accord a été obtenu enajustant
leparamètre
T et en leprenant égal
à 100 ps. Cette valeur est à comparer à celle que nous avonsdéterminée
expérimentalement
par des mesures deFig.
7. - Résultats des simulations pour 03B403B8 =0,040, Pic
= 500kW/cm2,
At = 18 ns et T = 100 ps, donnant les variationstemporelles : a)
des intensités incidente(1),
réfléchie
(2),
etguidée (3), b)
des variations d’indice,c)
du coefficient de réflexion.[Simulation
results for 8 0 =0.040, Pic
= 500kW lem 2 ,
At = 18 ns and T = 100 ps :
Temporal
variation of :a)
incident(1),
reflected(2)
andguided (3) intensities, b)
refractiveindices, c)
reflectioncoefficient.]
photoconduction
réalisées sur un échantillon nongravé,
non recouvert de métal surlequel
nous avonsdéposé
des électrodes et que nous avons éclairé par desimpulsions picosecondes :
nous avons alors mesuré une durée de vie desporteurs
de 200 ps.Dans ces
conditions,
les courbes donnant les varia- tions d’indice en fonction dutemps expliquent
bienles
phénomènes
observés. En débutd’excitation, 8nc
et8 nT
ont des valeurs absoluesvoisines,
et dessignes opposés :
l’indiceglobal
reste à peuprès
constant.
Puis, quand
les effetsthermiques
devien-nent
prédominants,
lesystème
passe par la résonance(le
coefficient de réflexion par sa valeurminimale) puis
en ressort. Le modeguidé
se désaccordealors, provoquant
une diminution brutalede |03B4ne|, qui s’ajoutant
à la croissancerégulière
de8nT
provoqueune variation
globale
de l’indiceplus rapide
encoreque celle de
8 ne
et donc une commutation. Par lasuite,
les effetsélectroniques
étant devenusnégligea- bles,
les variations de l’indice sont déterminées par celles de8 nT.
Dans le modèle
choisi, qui néglige
les fuitesthermiques,
on n’observe évidemment pas de retour à l’étatinitial ;
il ne fait pasapparaître
nonplus
devaleur minimale pour la durée Te de la commutation.
Ce modèle
élémentaire,
en ondeplane,
rend cepen- dant très biencompte
des observationsexpérimenta-
les.
3.2 INFLUENCE DE LA DIFFUSION DE LA CHALEUR DANS LE DISPOSITIF. - Nous avons effectué un cal- cul
approché
tenantcompte
de la diffusion de la chaleur dans le substrat desaphir
et de laprésence
d’une couche mince
(2
000À) métallique déposée
sur le silicium. Nous voyons
qu’alors,
l’élévation maximale detempérature
est deux foisplus
faibleque celle calculée pour un film isolé et que les variations
temporelles
de8nT
sont modifiées surtoutau début de
l’impulsion
excitatrice. Ces calculs montrent donc que les effetsthermiques
réels sontmoins
importants
que ceuxprécédemment
calculéset
qu’il
estpossible,
enaugmentant l’épaisseur
de lacouche
métallique,
de diminuer les effets thermi- ques, cequi
neprésente
pas de difficultétechnologi-
que avec la structure en
guide plan
utilisée.3.3 INFLUENCE DES AUTRES PARAMÈTRES. - Outre les facteurs
géométriques,
d’autresparamètres
peu- ventagir
sur la variationtemporelle
de l’indice du silicium8n (t )
et donc sur lescaractéristiques
descommutations et l’existence éventuelle d’une bistabi- lité : il
s’agit,
nous l’avons vu, de la durée del’impulsion
excitatrice ou dutemps
de recombinaisonT.
Pour tenter d’observer un
cycle
de bistabilité avecdes commutations
rapides,
il est nécessaire deprivi- légier
les effetsélectroniques.
Pour cela nous pou-vons raccourcir la durée de
l’impulsion incidente,
à1278
énergie
constante. Nousreprésentons
sur lafigure
8les résultats de la simulation effectuée pour une
impulsion gaussienne
de durée 3 ns, avecPi,
=3,2 MWlcm2, 8
0 = -0,200
et T = 100 ps. Nous voyons(Fig. 8a)
que lesystème
passe, au cours de 2 commutations trèsrapides,
d’un état de haute à unétat de basse
réflectivité, puis
retourne à un état dehaute
réflectivité,
l’intensitéguidée présentant, simultanément,
2 commutations. Eneffet,
en début d’excitation lesystème
est hors résonance. La varia- tion d’indiced’origine électronique, qui peut
trèsrapidement
devenirimportante,
alors que celled’origine thermique
demeurenégligeable,
provoqueune commutation vers un état de basse
réflectivité,
état déterminé par la
puissance
del’impulsion.
Danscet
état,
les vitesses de variation de03B4ne
et6nT
étantdu même
ordre,
le coefficient de réflexion demeure constant,puis lorsque SnT
croîtplus
vite que|03B4ne|,
lesystème
repasse à la résonance pour en ressortir : on observe une commutation en toutpoint identique
à celle décrite auparagraphe
3.1. Dansl’état
final,
lesystème
est dans un état de hauteréflectivité,
différent de l’état initialpuisque,
leseffets
thermiques demeurant,
8 n =03B4nT ~
0.Nous venons de voir que le
dispositif
que nous utilisons estsusceptible
deprésenter
un fonctionne- ment bistable s’il est éclairé par desimpulsions
courtes suffisamment
puissantes.
Un résultat tout àfait
analogue
serait obtenu si on diminuait les effetsthermiques
enaugmentant
la durée de vie despaires
électron-trou.
4. Conclusion.
Cette structure en
guide
d’ondepermet
donc d’atteindre dans le milieu non linéaire un trèsgrand
renforcement du
champ
et donc des effets nonlinéaires
importants,
ceci dans une bande de fré- quence relativementlarge.
Dans cette structure,nous avons observé des commutations
rapides (quel-
ques centaines de
picosecondes),
résultant de lacompétition
entre des effetsélectroniques
et deseffets
thermiques.
Les calculsthéoriques
nous per- mettentd’envisager
l’observation de commutationsencore
plus rapides,
ne mettant enjeu
que desphénomènes électroniques,
et decycles
de bistabi-lité,
par réduction des effetsthermiques,
obtenue enoptimisant
la thermalisation desdispositifs,
en utili-sant des
impulsions
excitatricesplus
brèves ou desmatériaux
ayant
destemps
de recombinaisonplus
Fig.
8. - Résultats des simulations pour 03B403B8 = -0,20°, Pic
=3,2 MW/cm2,
4t = 3 ns et T = 100 ps.[Simulation
results for 03B403B8= - 0.20°, Pic
= 3.2MW/cm2,
0394t = 3 ns and T = 100
ps.]
longs.
Cette structure semble donc trèscompétitive
dans le domaine des
commutations optiques
ultra-rapides.
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