La construction de la plateforme commence par la récolte de toutes les informations et les résultats obtenus dans le banc d’essai précédent pour qu’on puisse construire une plateforme qui soit capable de faire la liaison et la communication avec l’LCR.
A l’aide des exemples de plateformes qu’on a construit, on a pu arriver à construire une plateforme complète d’aide ou diagnostic qui permet de faire les tests sur différents dispositifs électriques.
Chapitre 03
Figure La figure 3-2 nous mo sous plateformes :
- Sous-plateforme de choix des paramètres (Figure 3
- Sous-plateforme d’affichage ciblé (zoom par zone) des résultats du test (Figure 3
PRESENTATION DE LA PLA
Figure 3-3 : Plateforme d’aide au diagnostic sous GUI.
2 nous montre la plateforme principale d’aide au diagnostic, constituée de deux
plateforme de choix des paramètres (Figure 3-3)
plateforme d’affichage ciblé (zoom par zone) des résultats du test (Figure 3
LATEFORME ET APPLICATION
Plateforme d’aide au diagnostic sous GUI.
ntre la plateforme principale d’aide au diagnostic, constituée de deux
Chapitre 03
Figure 3-5 :
Ces deux plateformes seront activées si vous appuyez sur les deux boutant test"et"Zoom".
Mais on s’est rendu compte des limites de cette solution, ce qui nous a poussés à changer d’outil de développement ou on est passé à un outil plus puissant qui se nomme App Designer de la suite Matlab. Cet outil permet de créer sa propre application dans u
Plus de détails sur l’application seront données dans l Figure 3-4
PRESENTATION DE LA PLA
: Sous plateforme pour éclaircir les résultats des tests. Ces deux plateformes seront activées si vous appuyez sur les deux boutant
Mais on s’est rendu compte des limites de cette solution, ce qui nous a poussés à changer d’outil de développement ou on est passé à un outil plus puissant qui se nomme App Designer de la suite Matlab. Cet outil permet de créer sa propre application dans un environnement adapté.
Plus de détails sur l’application seront données dans les paragraphes suivants (Titre 3.6 4 : Sous plateforme pour choisir les paramètres.
LATEFORME ET APPLICATION
des tests.
Ces deux plateformes seront activées si vous appuyez sur les deux boutants "Paramètres of the
Mais on s’est rendu compte des limites de cette solution, ce qui nous a poussés à changer d’outil de développement ou on est passé à un outil plus puissant qui se nomme App Designer de la
n environnement adapté. es paragraphes suivants (Titre 3.6). Sous plateforme pour choisir les paramètres.
Chapitre 03 PRESENTATION DE LA PLATEFORME ET APPLICATION
3.5.1. Banc d’essai des deux bobines
Les deux figures suivantes (Figure 3-5/6) illustrent le banc d’essai pour les tests FRA effectués sur deux enroulements différents réalisés par les doctorants du Dr. HOUASSINE Hamza (Voir l’annexe04Pour connaitre les caractéristiques des deux bobines).
Figure 3-6 : Banc d’essai pour la première bobine testée.
Figure 3-7 : Banc d’essai pour la deuxième bobine testée.
Pour réaliser ces essais, le LCR est connecté à la plateforme précédemment conçue. Une fois les deux équipements reliés, la phase de calibration est réalisée permettant d’avoir des mesurés cohérentes
Puis on connecte la bobine a l’LCR mètre. Et pour réaliser le test, il est nécessaire de choisir le type de test ainsi que les paramètres nécessaires (La plage de fréquence, le pas, …etc.).
3.5.2. Types de testes réaliser
La réponse en fréquence d’une bobine est très sensible à sa géométrie, sa distribution des capacités et de ses inductances.
Tout changement physique de l'enroulement de la bobine ou d’une partie de ce dernier induit une modification de sa réponse fréquentielle. La détection de tout écart ou décalage avec à sa signature sans défaut (état sain) implique une apparition d’un défaut dans la bobine.
Dans ce banc d’essai, on a réalisé des tests sur les deux bobines (état sain, défaut) et on a fait la comparaison entre les deux états pour voir le comportement (ou la réponse) de la bobine lors des défauts réalisés. Pour remarque, les tests réalisés sont faits sur la deuxième bobine.
Chapitre 03
Dans ce test nous avons ouvert la liaison entre
montre la figure 3-8 et on a fait le test FRA, les données récoltées ont été tracées et superposée sur les données de test en état sain (sans défaut) comme il montre la figure
Figure 3-9 : Comparaison entre deux états d’une bobine (sain et défaut circuit ouvert).
La mesure réalisée montre bien un comportement capacitif du circuit dès les basses fréquences. Ceci est exprimé par un circuit équivalent à l’équation
où plus la fréquence augmente plus l’impédance diminue.
Figure 3-8 : Représentation d’une mesure en état sain et une mesure a défaut (circuit ouvert)
PRESENTATION DE LA PLA
Dans ce test nous avons ouvert la liaison entre le premier disque et le deux
et on a fait le test FRA, les données récoltées ont été tracées et superposée sur les données de test en état sain (sans défaut) comme il montre la figure 3.9.
Comparaison entre deux états d’une bobine (sain et défaut circuit ouvert).
La mesure réalisée montre bien un comportement capacitif du circuit dès les basses fréquences. Ceci est exprimé par un circuit équivalent à l’équation 1
Z= 1/j*C*w où plus la fréquence augmente plus l’impédance diminue.
Représentation d’une mesure en état sain et une mesure a défaut (circuit ouvert)
LATEFORME ET APPLICATION
le premier disque et le deuxième comme la et on a fait le test FRA, les données récoltées ont été tracées et superposée sur
.
Comparaison entre deux états d’une bobine (sain et défaut circuit ouvert).
La mesure réalisée montre bien un comportement capacitif du circuit dès les basses Représentation d’une mesure en état sain et une mesure a défaut (circuit ouvert)
Chapitre 03
3.5.2.2
Dans ce test nous avons court-
et on a fait le test fra, les données récoltées ont été dessiné et superposée sur les données de test en état sain (sans défaut) comme il montre la figure 3.10
Figure 3-11 : Comparaison entre deux états d’une bobine (sain et défaut court La différence entre les deux graphes de la figure 3
circuit") dans les basses fréquences et l’augmentation de la première fréquence de résonance remarquable, est due à la diminution de l’inductance totale due au court
traduit par une baisse de l’impédance équivalente en
Ou l’impédance totale en état défaut et plus faible que celle en état sain.