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Submitted on 1 Jan 1969
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Mesure par corrélation des durées de vie des niveaux isomères
D. Favret, R. Chéry
To cite this version:
D. Favret, R. Chéry. Mesure par corrélation des durées de vie des niveaux isomères. Re- vue de Physique Appliquée, Société française de physique / EDP, 1969, 4 (2), pp.121-122.
�10.1051/rphysap:0196900402012100�. �jpa-00243173�
121.
MESURE PAR CORRÉLATION DES DURÉES DE VIE DES NIVEAUX ISOMÈRES
D. FAVRET et R. CHÉRY,
Institut de Physique Nucléaire, 69-Lyon.
Résumé. - La mesure du coefficient de corrélation d’une fonction aléatoire associée à
un
processus de Poisson à filiation permet
uneestimation plus précise
ouplus rapide des durées
de vie des niveaux isomères (10-2 ~ >, » 10-s s) que la méthode des coïncidences retardées.
Un corrélateur multivoies est présenté.
Abstract.
-The correlation function measurement of
arandom function associated with
a
Poisson relation process allows
oneto estimate in
amore accurate and faster way the half- life times of metastable levels. A 16 channel correlator is used.
REVUE DE PHYSIQUE APPI,IQU~~ TOÜ~ 4, J1JIX 1969;
1. La mesure des durées de vie par corrélation peu
développée jusqu’ici [1, 2, 3, 4] présente l’intérêt de s’affranchir des difficultés résultant des coïncidences fortuites et permet, par rapport à la méthode des coïncidences retardées, de réduire le temps de mesure
ou d’augmenter la précision. Elle est particulièrement
intéressante dans le cas des niveaux isomères. Ces
méthodes reposent
surla mesure du coefficient de corrélation C(ih) = E ~ X (t ) X (t -)- ih) ~ d’un pro-
cessus aléatoire associé au phénomène étudié.
Dans un processus de Poisson à filiation, il est com- mode, comme l’a proposé Landaud, de définir
unprocessus aléatoire X(t) = =:1= 1 à l’aide d’une bascule
électronique qui réduit la mesure de E ~ X (t ) X (t -f - ih) 1
FIG. 1.
-Corrélateur de polarité à 16 voies : G, générateur d’impulsions périodiques; D ~, diviseur par k, 1 ~ k ~ 15 ; D2o’ diviseur par 20 ; Bi, bascule ; Po, P, portes ; B, bascule de commande de P ; MFR-, mise
enforme rapide ;
MFL, mise
enforme lente ; n, échelle de comptage ; N, échelle totale (nombre de tests).
Article published online by EDP Sciences and available at http://dx.doi.org/10.1051/rphysap:0196900402012100
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au dénombrement de coïncidences de polarité. Le
coefficient de corrélation a pour expression :
p étant la densité totale des particules détectées, h l’in-
crément de retard et A l’efficacité de détection de la fi- liation radioactive égale à (po densité de
. ’" ...,..
production des noyaux pères détectés avec l’efficacité
ocet les noyaux fils avec l’efficacité ~3, p’ étant la densité des événements parasites) et h la vie moyenne du niveau.
II. On effectue simultanément la mesure de C(ih)
pour 16 valeurs du retard ih (1 i 16) à l’aide d’un
corrélateur multivoies ( fig. 1) dont le principe est le
suivant : la sortie de D.., après mise en forme rapide,
fournit un signal permettant d’éprouver l’état de la
fonction aléatoire X (t ) === ± 1, délivrée par la bas- cule Bi en réponse
auximpulsions issues de la chaîne de détection. Si X(t) _ -1, l’impulsion de test
n’est pas transmise, la porte P, demeure bloquée.
Si Jazz) == + 1, Po transmet l’impulsion à la bascule B qui mémorise l’état X(t) = + 1 ouvrant la porte P.
Les impulsions périodiques (période h) issues de l’étalon
de temps (G + D~) franchissent la porte P pour exciter le registre séquentiel à 16 voies rappelant aux temps t + ih l’existence de l’état X(t) = + 1. Après
mise en forme rapide, les impulsions attaquent le circuit (ET)2 qui reçoit par ailleurs l’état de la fonction
X(t + ih). Chaque fois que l’on a X(t) = + 1 et X(t + ih)
_+ 1, on recueille une impulsion de
comptage qui est stockée dans le compteur ni. En fin de séquence, une impulsion de RAZ ramène B à son
état initial pour l’essai suivant. Le coefficient de corrélation est donné par p C ih ( )
-2013 2013 1 (ni, nombre
N (
zde coïncidences dans la voie 1; N, nombre d’essais).
Les retards ih sont définis avec une précision élevée
en raison d’une part du synchronisme des impulsions
d’essais (D2o) et des impulsions excitatrices du re-
gistre (G + Dk) et, d’autre part, de la faible valeur du temps de résolution de la coïncidence (15 ns) par rapport à h obtenu par les mises en forme rapides.
L’ensemble a été réalisé en circuits intégrés Texas (série 54-74, logique saturée 15 Mcs). Le registre séquentiel est un diviseur synchrone par 16 composé
de 4 bascules J-K complétées par
undécodage matriciel
à diodes. La variance expérimentale de C(ih) est :
III. Pour comparer l’intérêt des deux méthodes par corrélation et par coïncidences retardées, on sup- pose que les conditions de détection des noyaux pères
et fils sont identiques dans les deux méthodes. Soient ml et m2 le rapport du nombre total des événements
comptés dans les deux voies à ceux appartenant à la filiation, et soit ih 4~, l’étendue des retards utilisés;
le nombre de fortuites étant inférieur
ouégal
aunombre
des coïncidences vraies, on montre [3] par une analyse
de moindres carrés que la précision de la méthode des coïncidences retardées s’exprime par :
7~. ~ étant la durée de la mesure; dans les mêmes conditions et pour
untaux de comptage total tel que la précision de la méthode par corrélation vaut :
Pour une même précision, les durées de mesure des
deux méthodes sont dans le rapport :
soit pour oc -- ~, ml -- m2’ 7B~ ~ 10 r~.
Remarquons que le rapport des durées est grossiè-
rement indépendant des conditions de détection.
L’équation (1) montre que A ne doit pas être trop faible (A > 5 % ) pour obtenir une précision suffisante
sur le terme en h. Pour les vies moyennes inférieures à 10-5 s, le temps mort ’T de la chaîne de détection doit être pris en compte (~, ->;~ + r) à condition que
pz # 2 X 10-2. Pour des vies moyennes supérieures
à 10-2 s, la limitation provient du bruit de fond qui,
en raison de la condition 4pX
=1, réduit A. Néan- moins ces limites sont moins sévères que pour la méthode des coïncidences retardées.
Ces conditions ont été éprouvées sur divers niveaux
isomères parmi lesquels nous citerons le niveau 615 keV de 181Ta pour lequel une mesure à 1 % de
la période a pu être obtenue en 100 s (Tl/2
=16,32
:Í= 0,16 ~is), et le niveau 304 keV de 75As pour lequel
une mesure à 4 % de la période T 1/2
=16,2 = 0,1’l ms
a