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MTH6301 Planification et analyse statistique d’expériences

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Academic year: 2022

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(1)

MTH6301 Planification et analyse statistique d’expériences

Optimisation du procédé de scellage de sacs de plastique

Patrick Robillard, 23 avril, 2001

1-1 Description du processus

l Développement d'un procédé pour sceller à chaud des sacs en plastique.

l Le sac est scellé le long des bords supérieurs pour le fermer.

l Le sceau obtenu doit pouvoir se déchirer pour ouvrir le

sac.

(2)

18 < Résistance, lb < 30

1-2 But

l Maintenir l'intégrité du sceau lors du transport et de l'entreposage des sacs.

l Faciliter l'ouverture du sac pour le consommateur.

1-3 Objectifs spécifiques

l Cîbler une résistance de 24 lb.

l Rendre le procédé robuste aux variations du matériau et de l'équipement.

l Établir une méthode pour maîtriser le procédé.

(3)

1-3-3 Établir une méthode de contrôle

l Identifier les facteurs influents.

l Etablir un modèle de la résistance du sceau et de la dispersion.

l Optimiser la résistance et réduire la dispersion.

l Établir une fenêtre

opératoire. R sceau σ sceau

Facteurs influents

1-4 Schéma du procédé

TC

TF P, D

E PA

(4)

1-5 Nomenclature

l Température de la barre chaude TC

l Température de la barre froide TF

l Durée d'application de la pression D

l Pression appliquée sur le sac P

l Pression d'air pour refroidir PA

l Epaisseur de la pellicule E

1-6 Barème actuel

l TC 190 F

l TF 100 F

l D 0.8 s

l P 100 lb/po 2

l PA 30 lb/po 2

l E 14.5 mils

(5)

1-3-1 Cibler une valeur

24 lb

N(26.37, 2.77)

1-3-2 Réduire la dispersion autour de la cible

24 lb

(6)

Capabilité du procédé

Cp = 0,77 Cpk = 0,51 Cpk (upper) = 0,51 Cpk (lower) = 1,04 Cr = 1,29 Cpm = 0,60 K = 0,35

Process Capability for Rsceau

LSL = 18,0, Nominal = 24,0, USL = 30,0

Rsceau

frequency

18 22 26 30 34

0 10 20 30 40

Débroussaillage

l Ressources limitées

l Plan 2 7-3

– Alias des effets principaux et d’intérraction

– Résolution 5

– 16 essais avec 2 points de centre

(7)

Modalités et facteur

Base Design ---

Number of experimental factors: 7 Number of blocks: 2

Number of responses: 2 Number of centerpoints per block: 2 Number of runs: 36 Error degrees of freedom: 20 Randomized: Yes

Factors Low High Units Continuous --- TC 150,0 200,0 F Yes D 0,5 1,0 S Yes P 50,0 150,0 PSI Yes TF 70,0 110,0 F Yes PA 20,0 40,0 PSI Yes TM 70,0 110,0 F Yes E 14,0 15,0 MILS Yes Responses Units

--- R LB s lb

18

1

Anova et facteurs retenus

Analysis of Variance for s

--- Source Sum of Squares Df Mean Square F-Ratio P-Value --- B:D 8,1796 1 8,1796 265,34 0,0000 AB 39,4384 1 39,4384 1279,36 0,0000 Total error 0,4624 15 0,0308267

--- Total (corr.) 48,0804 17

R-squared = 99,0383 percent

R-squared (adjusted for d.f.) = 98,91 percent

Analysis of Variance for R

--- Source Sum of Squares Df Mean Square F-Ratio P-Value --- A:TC 97,8475 1 97,8475 5,15 0,0425 B:D 58,9952 1 58,9952 3,10 0,1036 C:P 33,1115 1 33,1115 1,74 0,2115 G:E 117,959 1 117,959 6,21 0,0284 AB 586,579 1 586,579 30,86 0,0001 Total error 228,114 12 19,0095

--- Total (corr.) 1122,61 17

(8)

Dispersion et surface de réponse

Estimated Response Surface

TC

D

s

s 1,3-1,7 1,7-2,1 2,1-2,5 2,5-2,9 2,9-3,3 3,3-3,7 3,7-4,1 4,1-4,5 4,5-4,9 4,9-5,3 5,3 5,7

150 160 170 180 190 200 0,5

0,6 0,7 0,8 0,9 1

0 1 2 3 4 5 6

s 1,3-1,7

150 160 170 180 190 200 0,5 0,6 0,7 0,8 0,9 1 0

1 2 3 4 5 6

Résistance et surface de réponse

Estimated Response Surface

D

R

R 14,0-15,0 15,0-16,0 16,0-17,0 17,0-18,0 18,0-19,0 19,0-20,0 20,0-21,0 21,0-22,0 22,0-23,0 0,6 0,7 0,8 0,9 R 1

14,0-15,0

0,8 0,9 1 12

15

18

21

24

27

30

(9)

Interaction entre D et Tc

Interaction Plot for R

R

TC

150,0 200,0

D=0,5

D=0,5

D=1,0

D=1,0 12

15 18 21 24 27 30

Optimisation

l Déplacement vers zone prometteuse

l 4 facteurs influents

l Plan centré composite 2 4+*

– 26 essais, 1 block, incluant 2 essais au centre

– Géographie: cube et étoile

– Aspect orthogonale: mesure des effets de façon indépendante

– Aspect rotatabilité: estime variance dans toutes

direction

(10)

Dispersion et Iso courbe

Contours of Estimated Response Surface

T C

D

S 0,0-0,3 0,3-0,6 0,6-0,9 0,9-1,2 1,2-1,5 1,5-1,8 1,8-2,1 2,1-2,4 2,4-2,7 2,7-3,0 3,0-3,3

170 175 180 185 190 195 200

0,35 0,39 0,43 0,47 0,51 0,55 0,59 0,63 0,67 0,71

Résistance et Iso courbe

Contours of Estimated Response Surface

E

Rsceau 22,0-22,8 22,8-23,6 23,6-24,4 24,4-25,2 25,2-26,0 26,0-26,8 26,8-27,6 27,6-28,4 28,4-29,2 29,2-30,0 14

14,2 14,4 14,6 14,8 15

(11)

Valeurs optimal des facteurs

Valeur

Tc à 195 degrés

D a 0.35 secondes

E entre 14 et 15 mm.

Variation de la pression en fonction de l’épaisseur de la pellicule

Validation du modèle

Cp = 3,54 Cpk = 3,52 Cpk (upper) = 3,56 Cpk (lower) = 3,52 Cr = 0,28 Cpm = 3,53 K = -0,01

Process Capability for Resistance

LSL = 18,0, Nominal = 24,0, USL = 30,0

18 20 22 24 26 28 30

Resistance

0 10 20 30 40

frequency

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