MODELES LINEAIRES ET NON-LINEAIRES DES COMPOSANTS ACTIFS POUR LA CAO
HYPERFREQUENCES
Support de cours
DESS Microondes
CHAPITRE 1 : GENERALITES PLAN
1. Les hyperfréquences
2. Quelques propriétés utiles des semi-conducteurs 2.1 Quels semi-conducteurs ?
2.2 Les grandeurs fondamentales 2.3 Transport électronique
3. Les fonctions de l’électronique analogique 4. Les familles de composants
4.1 Transistors à effet de champ 4.2 Transistors à effet de potentiel 4.3 Les composants quantiques
4.4 Les composants micro-ondes et photoniques 5. Les techniques de CAO
F
λλ
3 THz 300 GHz
1 THz 100 GHz
10 GHz 1 GHz
3 mm
3 cm 0.3 mm
0.1 mm 1 mm
30 cm
{ { {
ondes
centimétriques
ondes
millimétriques
ondes
sub-millimétriques
Les hyperfréquences
A E
k
* 2 2
m 2 E h k
=
k v 1 E
∂
= h − ∂
2 2
* 2
k E m
∂
= ∂ h
{
Cas isotrope
Quelques propriétés utiles des semi-conducteurs
quasi-linéaire
parabolique
v
E
E
E0 10 kV.cm-1
v
vs 107 cm.s-1 ~
E µµ
E0
{
mobilité bas champ
Vitesse
Mobilité
X L <111> ΓΓ <100>
m
*1m
*2m
*3E
ΓΓLE
ΓΓXElectrons légers
Electrons lourds
Modèle multi-vallées
v
E E
EΓΓ Fc ~ 4 kV.cm-1
v
vs 107 cm.s-1 ~
EΓΓL, EΓΓX
pente µµ2 pente
µµ1
E µµ
EΓΓX µµ1
µµ2
EΓΓ EΓΓL
Electron léger
Electron lourd
Vitesse
Mobilité
X
Gain G
RF f
RFf
If
If
OLf
oscMELANGER
AMPLIFIER MULTIPLIER
GENERER
Les fonctions de l’électronique analogique
f
RFElément non-linéaire
V ou
I
≠≠
en moyenne
Elément non-linéaire
nf
1± mf
2f
2f
1Elément non-linéaire
nf
1f
1DETECTER
MELANGER
MULTIPLIER
Elément non-linéaire (résistance négative ou
circuit instable)
f1
tension ou courant continu
mono-fréquence
gain G V
I P
V I G x { P GENERER
AMPLIFIER
TEC ou FET
MOSFET FET à
Hétérostructure FET
Homogène NMOS CMOS SOI
(Silicon on Insulator)
t t réduction
éléments parasites
{
Metal Oxyde Semiconductor
MESFET JFET PBT
Metal Semiconductor
FET
Junction FET
Transistor à base perméable
FET à couche donneuse
FET à canal confiné
FET à canal dopé
(MISFET) Metal Insulator Semiconductor Designs
spécifiques MODFET
(modulation doped) TEGFET (transverse electron gas)
HEMT (high electron
mobility)
Ch 4 Ch 5
Les familles de composants
Transistors à effet de potentiel
Transistors bipolaires
Transistors à électrons chauds
Transistor Bipolaire
Silicium
Transistor Bipolaire à Hétérojonction
Composants à Injection Ballistique
(transistors à base métallique)
Composants à transfert dans l’espace réel
(FET à résistance
négative)
HBT
Ch 6
Composants Quantiques
Diode Tunnel Résonnant
Composants à dimensionnalité
réduite Double
Barrière
Puits Multiple
Fils Quantiques
Boîtes Quantiques Transistor
Tunnel Résonnant
Transistor à base superréseau RHET
Resonant Hot Electron Transistor
RTBT
Resonant Tunneling
Bipolar Transistor
~ Ch 3
Micro-ondes et Photoniques
Diodes micro-ondes Composants photoniques
Composants Tunnel
Diode tunnel
Ch 3
Composants à temps de
transit Diode IMPATT
Ch 3
Composants à transfert électronique
Diode GUNN
Ch 3
Diode Schottky
Ch 2
Diodes électro- luminescentes
Lasers à Semi- conducteurs
Photo- détecteurs
v
ev
sI
3 3
v
sI
d4 4
{ {
linéaire non-linéaire
Vs(f)
Vs(t)
I(f) Id(f)
Id(t)
Analyse fréquentielle
« linéaire »
TF-1
TF
Analyse temporelle
« non-linéaire »
I(f) + Id(f) = Ierreur
⇓⇓
tendre vers 0
« convergence »
Les techniques de CAO
CHAPITRE 2 : LA DIODE SCHOTTKY
PLAN 1. Introduction
2. La physique de la diode Schottky
2.1 L’hétérojonction Métal-Semiconducteur
2.2 Barrière de potentiel et zone de charge d’espace 2.3 Courants dans la diode Schottky
2.4 La capacité 3. Schéma équivalent linéaire
4. Schéma équivalent non-linéaire
5. Un concurrent pour la Schottky ? l’hétérostructure simple barrière
Métal
niveau du vide (énergie de
référence)
E
Fmélectrons
e φφ
mSC
niveau du vide
E
VE
CE
FsE
ge φφ
se χχ
La physique de la diode Schottky
Métal SC(n)
E
FeV
d+ + +
NV e φφ
se χχ
e φφ
bne φφ
mE
CE
VL’hétérojonction Métal-Semiconducteur (à l’équilibre thermodynamique)
Contact redresseur : φφ
m> φφ
sMétal SC(n)
E
FeV
dNV
e φφ
se χχ
e φφ
mE
CE
VContact ohmique : φφ
m< φφ
s0
0 ξξ
−−ξξmax
V(0) V(W)
VB W qND
ρρ
V
φ
−
=
= ξ
= ε ρ
= ρ ξ ε
− ρ
=
bn 2 D
2
) 0 ( V
0 ) W avec (
qN dx ;
; d dx
V d
= ε
2 W V qN
D 2 B
B D
qN V W = 2 ε
Barrière de potentiel et zone de charge d’espace
SANS POLARISATION
EFsc eφφbn
EC
EV qVB EFm
Potentiel
0
VB
W
POLARISATION DIRECTE
EFsc
eφφbn EC
EV
EFm qVd
Potentiel
0
VB-Vd Wd
POLARISATION INVERSE
EFsc eφφbn
EC
EV EFm
qVi
Potentiel
0
VB-Vi
Wi
EFsc EC
EV
EFm qVd
l l
l l
1 2
Courant
Tension Vbr : Tension d'avalanche
Courants dans la diode Schottky
VB Capacité
Tension C0
La capacité
( )
1/G C
bR
sL
SC
PL
PPARTIE
EXTRINSEQUE
PARTIE
INTRINSEQUE
Schéma équivalent linéaire
I
d(V
d) C
b(V
d)
R
sL
SC
PV
dSchéma équivalent non-linéaire
E
feE
fczone désertée courant tunnel EMETTEUR
COLLECTEUR BARRIERE
qV
totqV
bqV
sUn concurrent pour la Schottky ? l’hétérostructure simple barrière
Caractéristiques courant-tension et capacité-tension
CHAPITRE 3 : LES OSCILLATEURS DIODES GUNN, TUNNEL, IMPATT
PLAN
1. Pourquoi une résistance différentielle négative ? 2. La diode GUNN
2.1 La physique du composant
2.2 Modes opératoires des diodes GUNN 3. La diode TUNNEL
3.1 La diode tunnel classique
3.2 La diode à effet tunnel résonnant 4. La diode IMPATT
V
eV
sR L
C
C L 2
et R LC
avec 1
j 2 1
1 V
V
n
n 2
n e
s
= γ
= ω
ω γ ω
+
ω
− ω
=
Pourquoi une résistance différentielle négative ?
-R C
R
sL
SZ
inOn a:
s 2
in
1 ( RC )
R R )
Z (
Ré + ω
+ −
=
qui sera négatif jusque 1 R
R RC
2 f 1
s
r
−
= π
(fréquence maximale d’oscillation)
Vitesse de dérive (cm/s)
107 ~ 2. 107 ~
A B
ξξs ξξp
Champ électrique (kV/cm)
V0
0 L
ND
Cathode Anode
e-
direction x
La diode GUNN
La physique du composant
| ξ |
| ξ | ND
ρρ n
vs
vs 0
x
x
x vs
ξξs
Formation d’un
domaine
V I
I
sI
pV
spotentiel de maintien
V
ptel que ξξ = ξξ
pCaractéristique courant-tension
V0
L C R
- Fréquence de résonance RLC fixée telle que
t t
T f f = 1 =
- Amplitude champ variable toujours > ξp
Modes opératoires des diodes GUNN
Mode à temps de transit
V
ξξs ξξp ξξ
ξξ0
Tt
t
t Is
Imax
Tt
ξξs ξξp ξξ
ξξ0
t
t Is
Imax
Tt
formation de domaine pas de formation
de domaine
T
Mode à domaine
retardé
f
t/2 f
tf
df
0Mode à domaine
retardé
Mode à domaine
étouffé
Mode LSA
Mode à
temps de transit
f > 100 GHz
Poutput > 60-100 mW (InP)
En résumé :
p n
E
FE
FE
CE
CE
VE
VqV
pqV
nà V = 0 J = 0
La diode TUNNEL
La diode tunnel classique
à l’équilibre thermodynamique
V = Vp Vp < V < Vv V > Vv
qVp
EF EF
qV EF
EF
EF
EF qV
« Effet tunnel » « Chute du courant » « Courant thermoïonique »
sous polarisation
V I
I
vI
pV
pV
v« vallée »
« pic » ~ [(V
p+V
n)/3]
∆∆ V
∆∆ I
Caractéristique courant-tension
EF
I
V émetteur
collecteur Ipic
Vpic Ival
La diode à effet tunnel résonnant
0 L
direction x injection i
v(t)
t
v
T/2 T
i
i
ττ 2τ2τ
ττ 2τ2τ injection à t = 0
injection à t = T/2
V.I > 0
puissance dissipée > 0
V.I < 0
puissance dissipée < 0
La diode IMPATT
Principe
d’injection
Courant
Tension Vbr : Tension d'avalanche
avalanche
Si on superpose une tension sinusoïdale autour de Vbr
augmentation du courant
peu de courant
v
t
T/2 T
i
T
courant maximum en t ~T/2
déphasage de π π/2 entre tension et courant
Phénomène d’avalanche
n n
+p
+injecteur zone d ’avalanche
zone de transit
association : avalanche + temps de transit
CHAPITRE 4 : LE TRANSISTOR MESFET
PLAN 1. Structure et Technologie
2. Principe de fonctionnement
3. Une approche de modélisation physique 4. Schéma équivalent linéaire
5. Modèle non-linéaire
S D
GaAs N+
G
GaAs N+GaAs dopé ND GaAs non dopé
GaAs semi-isolant substrat
couche tampon couche active
W(x)0 H
0 L
x y
V
gsV
dsI
dsaccrochage contacts ohmiques
amélioration propriétés électriques : interface couche active - substrat
support de la structure
Structure et Technologie
I
dsV
dsRégion Ohmique
Région Saturée
Région d’Avalanche
V
gs< 0
|V
gs| Ú Ú
Principe de fonctionnement : réseau de caractéristiques
S Vgs G Vds DId
Ids RD RS
y
H 0
W(L)
Rf
Idsf
ND n(L)
n(L3)
n(x)
ξξs
|ξ
|ξ(x)||
ξξ(L) ξξ(L3)
v(x) vs
x
x x
L
L1 L2 L3
(1) (2) (3)
Une approche de
modélisation physique
RS RD RG
Ri
LS LG LD
S G D
CGS CGD
CDS 1/gd0 gm
Schéma équivalent linéaire : approche « technologique »
INTRINSEQUE Rg
Rs
Rd
Ri
Cpg Cpd
Cds Cgs
Cgd
Ls
Ld Lg
vg
gmvg 1/gd0
(gm = gm0e-jωτωτ)
Schéma équivalent linéaire : représentation quadripolaire
Rd
Cpd Ld
Cds Rs
Ls
Grille
R(x) C(x)
Source Drain
C
ds: couplage inter-électrodes
R
i: caractère
distribué
Rg
Cpg
Rs Ls
Rd
Cpd Ld Lg
vg vd
Ri
Cds Cgs
Cgd
Ids Idg
Igs
Modèle non-linéaire
CHAPITRE 5 : LES TRANSISTORS HEMT - TEGFET
PLAN 1. Structure et Technologie
2. Fonctionnement de l’hétérojonction
3. Caractéristiques courant-tension (effet MESFET parasite) 4. Schéma équivalent linéaire du HEMT
5. Modèle non-linéaire
6. Limitations et performances - D’autres transistors
S D G
GaAs N+ GaAs N+
AlGaAs dopé ND
GaAs non dopé < 1 µµm
GaAs semi-isolant substrat
0 -d2
-e
0 L
x y
Vgs
Vds Ids
Spacer < 40 Å
~AlGaAs non dopé
Gaz bidimensionnel d ’éléctrons
Structure et Technologie
GaAs peu dopé :
E
C1E
V1E
F1E
G1(E
F1enfoncé dans le gap)
AlxGa1-xAs dopé n :
E
C2E
F2E
G2E
V2(E
F2proche de E
C2)
Fonctionnement de l’hétérojonction
formation puits quasi-triangulaire avec quantification de l’énergie : GAZ 2D EG2
EF EG1
EC
EV
∆∆EV
∆∆EC
désertion accumulation
AlxGa1-xAs GaAs
AlGaAs GaAs
+ + + + + +
+
e- e-
e- e-
e- e-e-
!
Une approximation souvent rencontrée pour décrire ces phénomènes est celle du“puits triangulaire” qui a l’avantage d’être quasi-analytique… (en règle générale, elle fonctionne correctement pour les premiers niveaux…)
EF
Par rapport au fond du puits, les niveaux sont donnés par :
3 2 3
3 2 1
*n 2
i 4
i 3 2 q
3 m
2
E
+
π ξ
= h
ξ : champ électrique au fond du puits (« pente »)
Métal AlGaAs GaAs
ns0
∆EC qφφB
EFm EF
désertion accumulation
Commande de charges (effet MESFET parasite
)! si Vg < 0
EFm
EF qφφB
qVg
Puits - peuplé èè EF plus proche du fonds du puits èè ns ØØ
! si Vg > 0 c’est l’effet inverse à ns augmente
qφφB
qVg EFm
EF
ns ÚÚ ÚÚ
! ! si V
g > > 0
qφφB
qVg EF
EFm
ns ÚÚ ÚÚ
Apparition d ’un deuxième CANAL p
p effet MESFET PARASITE
(que l ’on cherchera à minimiser car propriétés de mobilité moins bonnes !)
INTRINSEQUE
Rg
Ri Cpg
Cds Cgs
Cgd
Rs Ls
Rd
Cpd Ld Lg
vg
gmvg
1/gd0
(gm = gm0e-jωτωτ)
Rdgs Rdgd
Schéma équivalent linéaire du HEMT
Rg
Cpg
Rs Ls
Rd
Cpd Ld Lg
vg vd
Ri
Cds Cgs
Cgd
Ids Idg
Igs
Vgs Vds
D
S S
G
Modèle non-linéaire
AlGaAs nid AlGaAs nid GaAs nid
gaz 2D
plan de dopage ND ÚÚÚÚ L ØØØØ
D’autres transistors
à plan(s) de dopage
CHAPITRE 6 : LES TRANSISTORS BIPOLAIRES A HETEROJONCTION (HBT)
PLAN 1. Rappels sur le transistor bipolaire
1.1 La jonction p-n
1.2 Le transistor bipolaire 2. Le HBT : structure et avantages 3. Les courants : Approche physique 4. Modélisation grand signal
5. Modélisation petit signal – Fréquence de coupure
V0
EF
EF-qVapp Vapp >0
ZCE
n (ND) p (NA)
A l’équilibre thermodynamique :
2 i
A 0 D
n N Ln N
q V = kT
Rappels sur le transistor bipolaire
La jonction p-n
p n
Vapp R
C
- en direct R ØØ, Cω Ú
~
R- en inverse R ÚÚ
~
Cn
n p
Emetteur Base Collecteur
V0 V0 ’
E B C
En polarisation normale:
VBE > 0 à jonction BE en direct
à injection d’électrons dans la base
↓
diffusion + recombinaisons VBC < 0 à jonction BC en inverse à collection des éléectronsLe transistor bipolaire
V
BEV
CEI
CI
B(Commande en courant)
IC
IB
VCE VBE
VA
VBE2VBE1
VBE1VBE2
IB2 IB1
IC1 = ββI
B1
IC2= ββIB2
β
β : gain en courant β %
β % NDe/NAb
en émetteur commun
B
E C
I
BI
CI
Eα α I
E Avec
α
== β
=
+
=
E C
B C
BE 0
E
C B
E
I I
I I
) kT qV
exp(
I I
I I
I
modèle non-linéaire
CC RC
CE RE
α α iE
B C
E
iB iC
iE
jonction B-C jonction B-E
modélisation
petit signal
CBC RBC
CBE RBE
B C
E
iB iC
VBE gmVBE RCE
Modélisation petit signal : Giacoletto
GaAs GaAs Al
xGa
1-xAs
n p n
0
W
EW
BW
CC B
E
V
BEV
CEI
CI
BI
ELe HBT : structure et avantages
+ + + + + + _
_ _ _ _ _
_ _ _ _
E
gCE
gBE
gEE
F∆∆EV
∆∆
E
CGaAs (B)
GaAs (C) AlGaAs
(E)
à l’équilibre thermodynamique
+ + + + + + _ _ _ _ _
_ _ _ _ _
EFB EFE
EFC qVBE
qVBC
Electrons
Trous
sous polarisation
Emetteur
Base Base
Collecteur Collecteur
isolation implantation
de protons pour isoler
Substrat SI GaAs n+ GaAs n GaAs p+
AlGaAs n GaAs n+
structure VERTICALE
B
C
B’
C’
E’
E
IC
IB
IE
rC
rB
rE IrC
IrE
ICT
C E R EC
S S I
β
F
ICC
β CbC CdC
CbE CdE
Modélisation grand signal : EBERS-MOLL
C’
C
B’ B
E’
E rB
rC
rE
LE LB
LC
VBE Cππ rππ gmFe-jωωtVBE g0 CiBC
CeBC