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IFT 3913 – Qualité du logiciel et métriques UdeM/DIRO, Hiver 2007
Travail pratique #2
1. Introduction
Extraction de métriques à partir des schémas d’entrepôts de données (voir syntaxe du TP1).
2. Conditions de réalisation
Groupe de deux au maximum. Travail à remettre au plus tard jeudi, le lundi 19 mars au bureau 2359 avant 17h (à glisser sous la porte si elle est fermée) et 23:59 pour le code (aucun retard ne sera accepté).
3. Travail à réaliser
En utilisant le programme Java qui permet de parser les schémas du TP1, ajouter une extension qui permet de calculer les métriques décrites dans la section 5. Le programme doit notamment permettre de
• Visualiser le résultat du calcul (dans l’interface usager).
• Accéder, à la demande, à la définition d’une métrique choisie par l’utilisateur.
• Produire à la demande un fichier CSV (séparation par des virgules) contenant pour un schéma, une matrice ayant pour lignes les schémas et pour colonnes les métriques d’interface. Chaque cellule donne la valeur d’une métrique pour un schéma
4. Barème
1. Rapport de 3 à 5 pages incluant la conception du programme (le diagramme de classes détaillé TP1 et TP2 plus les commentaires) 20% et le manuel d’utilisation 10%. La qualité du français sera prise en compte dans la correction.
2. Interface usager 20%.
3. Logique (programme) 50%.
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5. Description
Les métriques pour un schéma S sont
1. NFT(S). Nombre de fact tables dans le schéma
2. NDT(S). Nombre des dimensional tables dans le schéma
3. NFK(S). Nombre des clés étrangères (foreign keys) dans toutes les fact tables du schéma.
4. NMFT(S). Nombre de faits dans les fact tables, i.e., nombre d’attributs dans les fact tables qui ne sont pas des clés étrangères.
5. NADT(S). Nombre total d’attributs (autres que la clé primaire) dans les dimensional tables dans le schéma
6. NSDT(S). Nombre de dimensional tables qui sont utilisées par plus d’une fact table.
7. ANDT(S). Nombre moyen de dimensional tables par fact table dans le schéma.
