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Étude en hautes fréquences de l'ancrage de vortex

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Academic year: 2021

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HAL Id: jpa-00207180

https://hal.archives-ouvertes.fr/jpa-00207180

Submitted on 1 Jan 1971

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Étude en hautes fréquences de l’ancrage de vortex

J. Gilchrist, B. Salce

To cite this version:

J. Gilchrist, B. Salce. Étude en hautes fréquences de l’ancrage de vortex. Journal de Physique, 1971,

32 (11-12), pp.1003-1008. �10.1051/jphys:019710032011-120100300�. �jpa-00207180�

(2)

ÉTUDE EN HAUTES FRÉQUENCES DE L’ANCRAGE DE VORTEX

J. GILCHRIST et B. SALCE

Centre de Recherches sur les Très Basses

Températures,

C. N. R.

S.,

Cedex

166,

38-Grenoble-Gare

(Reçu

le 18 mai

1971,

révisé le 11 août

1971)

Résumé. 2014 Nous avons mesuré la résistance de surface d’échantillons Pb50In50 dans

lesquels

sont

dispersées

des billes d’isolants. Les mesures sont faites dans la gamme 2,0 MHz à 50 MHz avec

des faibles densités de courants induits. La variation en

fréquence

de la résistance de surface est décrite d’une

façon

assez

simple

à l’aide d’un seul

paramètre

pour

l’ancrage

de vortex en volume et

un autre pour

l’ancrage

à la surface. Nous avons pu

distinguer

entre

l’ancrage

de surface et l’ancrage

en volume. Dans le dernier cas, la formule de Gittleman et Rosenblum est

généralement

vérifiée.

Abstract. 2014 We have measured the surface resistance of Pb50In50

specimens containing disper-

sions of

insulating powders.

The measurements were made in the range 2.0 MHz-50 MHz with weak induced current densities. The

frequency

variation of the surface resistance is described

quite simply

in terms of a

single

parameter for vortex

pinning

in the volume and another parameter for surface

pinning.

We were able to

distinguish

between surface and volume

pinning.

In the latter case, Gittleman and Rosenblum’s formula is

generally

verified.

Classification

Physics

Abstracts :

17.24

1. Introduction. -

L’ancrage

de vortex dans les

supraconducteurs

à l’état mixte a été étudié par

plusieurs

méthodes haute

fréquence.

Les

plus

directes

sont la mesure de la résistivité et de la résistance de surface. Elles se caractérisent toutes par une étude

en fonction de la

fréquence

et par

l’emploi

d’une

densité de courant dont

l’amplitude Jm

est faible devant la densité

critique

en courant continu

J,,.

Dans ces

conditions,

la

réponse

est

généralement indépendante

de

Jm.

Gittleman et Rosenblum

[1]

ont fait l’étude par

résistivité,

avec des lamelles

gravées, placées

dans un

champ magnétique perpendiculaire.

Dans un

champ donné,

la résistivité p

augmente

avec la

fréquence

de zéro

jusqu’à

une

valeur pf égale

à la

résistivité différentielle en continu pour J >

Je.

pf caractérise un état d’écoulement de

flux,

l’ancrage

n’a

plus

d’effet. On définit une

fréquence

de

piégeage fp,

p

= 2 pf.

Gilchrist et Monceau

[2]

ont choisi

la méthode de la résistance de surface

R, grandeur qu’ils

ont mesurée par une

technique calorimétrique [2], [3].

Les résultats sont similaires

puisque,

si nous

définissons une résistance de surface propre à l’état d’écoulement de

flux, Rf = (1/2 toppf)1/2 ,

alors

R/Rf

croît de 0 à 1 avec la

fréquence, prenant

la

valeur 2

pour une

fréquence qu’il

convient de dénoter

fpl.

Il

apparaît

que, devant les très faibles

amplitudes

de

déplacement

du réseau de vortex dont il est

question

dans ces études

[1]

et

[2], l’ancrage

se manifeste par

une force de

rappel

de

type élastique,

et non par une

force de frottement.

Dans le travail que nous allons exposer, nous avons voulu contribuer à l’étude de

l’ancrage

en

exploitant

la méthode de la résistance de surface.

Notre étude a

porté

sur les

alliages Pbsolnso

contenant

une

dispersion

de billes de divers isolants

(verre, alumine, ...).

Ces

échantillons, fabriqués

par Schumacher

[4], présentent

une

large

diversité de valeurs de

Je

pour une même matrice. Ils nous ont

permis

de mettre en évidence

plusieurs caractéristiques

de

l’ancrage,

ce

qui

forme

l’objet

des

paragraphes

suivants. Nous allons d’abord calculer une expres- sion pour

R/Rf

et une pour

p/pf

suivant le modèle

d’ancrage

le

plus simple

que nous

puissions imaginer,

et nous verrons

qu’il

a le mérite de bien décrire le

comportement

de

RI Rf

en fonction de la

fréquence.

II. Résistivité et résistance de surface. - Notre

analyse portera

sur un échantillon

plat

dont les sur-

faces seront définies par z = 0 et z = h. En

présence

du

champ perpendiculaire appliqué Ho (statique),

nous trouverons à l’intérieur de l’échantillon une

induction

Bz ~

po

Ho

et un

champ Hz = y-’ Bz.

En l’absence

d’excitation,

les vortex se trouveront

presque

parallèles

à Oz dans les

positions

définies par

s = 0.

s(z, t)

est le

déplacement

d’un élément dz de vortex situé à une

profondeur

z sous l’action d’un

champ

alternatif

appliqué (amplitude H., fréquence

(2 n) - 1

OJ et

parallèle

aux deux

surfaces).

En

plus

de

l’équilibre

de forces existant

lorsque s

=

0,

notre

élément sera soumis à trois forces : une force

lj(02sloZ2)

dz où

S, l’énergie

par unité de

longueur

de vortex vaut

00 Hz,

une force

visqueuse

-

11COS/ot) dz, où il

=

4)0 Bz p f

1 et une force d’an-

crage - Bs dz. B

est un coefficient

d’élasticité, qui

sera

Article published online by EDP Sciences and available at http://dx.doi.org/10.1051/jphys:019710032011-120100300

(3)

1004

normalement fonction du

champ

et de la

température.

Évidemment l’emploi

du

coefficient B

suppose que

l’ancrage

est uniformément distribué dans le volume de l’échantillon. Or il y a souvent de

l’ancrage

localisé

aux surfaces et nous devons en tenir

compte

en sup-

posant

que

chaque

vortex est soumis à une contrainte

d’ancrage

que nous écrirons -

8zs

pour

chaque

sur-

face. Pour le

moment et X

sont comme des coefh- cients

phénoménologiques,

mais nous reviendrons

sur leur

signification

dans les

paragraphes

IV et V.

Calculons d’abord la résistance de surface

quand l’épaisseur

h est suffisante pour

permettre

d’étudier le

voisinage

de la surface z = 0 sans tenir

compte

de la surface z = h. Admettons d’abord que

où so est une constante à déterminer. Nous considérons

un élément de vortex situé

près

de la surface z = 0

(disons

0 z

t h)

et nous trouvons que

l’équilibre

des trois forces

agissant

sur cet élément donne lieu à

une relation :

avec

On trouve ce résultat en écrivant

et alors

s(z, t) - 1/2 Sp(eUwt-kz)

+

e-i(wt-k*z»).

A la

surface z = 0 il convient d’admettre

qu’il

y a une

forme latérale

d’origine

extérieure et

d’amplitude Hm 00 agissant

sur

chaque

extrémité de vortex. Cette

force

correspond

au

changement

de

l’énergie magné- tique

autour de l’échantillon que

provoquerait

un

petit déplacement

latéral du réseau de vortex. Pour trouver

so il

faut établir

l’égalité

entre cette

ampli-

tude

Hm Wo,

et

l’amplitude

de la résultante des autres forces en

jeu,

c’est-à-dire la

composante

latérale

i(êslôz)z=o

de la tension et la force

d’ancrage

super- ficielle -

8xs

considérée ci-dessus. Ces deux forces

peuvent s’exprimer respectivement

et

îJle { -

xso

eirot},

et

l’amplitude

de leur résultante

8so x + ik 1. Ainsi, posant 8 = Wo Hz :

L’absorption

de

puissance

par unité de

superficie peut s’écrire 2 RHm,

ce

qui exprime

le vecteur de

Poynting

moyen,

compte

tenu de la définition de R.

Puisque

toute

l’énergie qui

entre dans l’échantillon est

dissipée

par la seule force de

viscosité,

la même

quantité peut

encore

s’exprimer

d’où :

avec

et

x

et y expriment respectivement l’importance

de

l’ancrage volumique

et

superficiel

à

fréquence

donnée.

Lorsque

x ou y, ou tous les

deux, augmentent

de 0 à oo,

R/Rf

diminue de 1 à 0 de

façon

monotone. Le

change-

ment de

RIRF

en fonction de la

fréquence

est d’autant

plus abrupt

que x est

plus important

par

rapport

à y.

Ceci est dû au fait que l’on mesure ce

qui

se passe dans une couche dont la

profondeur

est de l’ordre de la

profondeur

de peau.

Quand

la

fréquence augmente,

celle-ci diminue et alors

l’ancrage réparti

en volume

perd

son efficacité

plus

vite que

l’ancrage

de surface.

Lorsque R

=

2 Rf,

nous avons entre x et y la relation

approximative :

d’où :

Introduisons le

symbole ôf

pour dénoter la

profon-

deur de peau propre à l’état d’écoulement de flux.

ôf

=

(2co-’ u-1 Pf)1/2,

Si la résistance de surface se mesure

quand h » ô,,

la résistivité est

mesurée,

par contre,

quand

on fait circuler un courant de densité

Jm

cos mt dans un échantilton où

h « âf.

Dans ce

cas

s(z)

est presque uniforme pour 0 z h et son

amplitude

so résulte de

l’égalité

entre la force de

Lorentz

Jm 00

h cos rot sur

chaque

vortex

qui

traverse

l’échantillon et la somme des forces de

rappel

et

de retard subies par

celui-ci, (flh

+

2J X) s

+

11h(8s/8t).

La

dissipation d’énergie

par unité de volume s’écrit

pj2

et

aussi 1 Bz W§ cv IIS2

d’où :

1/2 PJm et auss 1/2 B z ’Po w2 11so où :

et

III. Résultats

expérimentaux.

- Les échantillons étaient en forme de

disques,

de diamètre 7 mm et

(4)

d’épaisseur

h =

0,6

mm. La méthode d’étude consis- tait à

plonger

l’échantillon dans le

champ Ho

perpen- diculaire et le

champ Hm

cos wt

parallèle

à ses surfaces.

L’absorption d’énergie

était alors mesurée par calo- rimétrie dans un état d’écoulement uniforme de cha- leur à travers une résistance

thermique.

Pour les

Pbsolnso

les

paramètres

essentiels ont les valeurs suivantes : pn = 213

nS2m,

1 =

4,7

nm,

Tc

=

6,48

OK

K =

7,35.

A

2,00 oK,

la

température d’étude,

po

H,,2

=

0,63

Tesla. A 2 MHz la

profondeur

de peau à l’état normal

(qui correspond

à la résistivité

pn)

est de 165 gm, soit

0,275

h. Ceci est une fraction

appré- ciable,

et entraîne sur la résistance de surface une erreur de

9 % (de

3

%

à 3

MHz,

erreur

négligeable

à

5

MHz,

voir

[3]).

Cette erreur aurait pu être évitée par

l’emploi

d’un échantillon

plus épais,

mais cela aurait

aggravé

un autre

problème

que l’on verra en se repor- tant aux faisceaux de courbes sur la

figure

1.

FIG. 1. - Résistance de surface normalisée en fonction du

champ (po Ho en Teslas) : lignes discontinues - échantillon ayant Je = 1,1 MAm-2 à Ho = iHc2, fréquences de

50 MHz (courbe supérieure), 10, 3,0 et 2,0 MHz, lignes conti-

nues - échantillon ayant Te = 5,5 MAm-2 à Ho = i He2, fréquences de 50, 40, 25, 15, 10, 7,0, 5,0 3,0 MHz et (courbe

inférieure) 2,0 MHz.

Nous avons

porté

sur la

figure

1 les courbes de résis- tance de surface de deux échantillons.

L’un, qui

conte-

nait des billes de verre

(diamètre

5 gm, soit - 1

%

du

poids

et 4

%

du volume du

matériau)

avait rela- tivement peu

d’ancrage

et l’autre

(billes

d’alumine

0,1- 0,5

gm, soit -

0,3 %

du

poids

et

0,7 %

du

volume)

un

ancrage

beaucoup plus

fort. Nous remarquons que, au-delà de la variation

correspondant

à l’état mixte

(0 Ho Hc2), il

y a une variation

qui

continue

jusqu’à 1,7 Hc2 environ,

et

qui dépend

de la

périphérie

de

l’échantillon,

où la surface est

parallèle

à

Ho.

Cette variation était trois fois

plus importante

pour un échantillon

d’épaisseur

2 mm au lieu des

0,6

mm habituel.

Or,

c’est l’état mixte

qui

nous intéresse ici et non pas cet effet

périphérique.

Les

premières

mesures ont été faites avec un choix

de deux bobines haute

fréquence,

l’une

disposée

perpen- diculairement à l’autre. Nous avons constaté une diffé-

rence

systématique

suivant que l’une ou l’autre était

employée.

Une

expérience

a

prouvé

que ceci doit

être attribué à

l’anisotropie

de

l’ancrage

résultant du

laminage préparatoire

des échantillons. La

figure

2

montre la différence entre les résultats de deux mani-

pulations.

L’échantillon était recuit seulement

après

la

première manipulation

et remonté ensuite dans

l’ap- pareil

de mesure dans un autre sens. Nous constatons

d’une

part

que le niveau moyen de

R/Rn

a

augmenté, indiquant qu’une partie

de

l’ancrage

était due aux

défauts créés par le

laminage

et

susceptibles

d’être

éliminés par

recuit,

d’autre

part

que

l’anisotropie

a

diminué et

changé

de sens. Ces résultats nous font

croire que les vortex oscillent

plus

volontiers

parallè-

lement au sens de

laminage.

C’est d’ailleurs

parallèle

au sens de

laminage qu’ils migrent

le

plus

facilement

sous l’action d’un courant continu

[5].

Pour les mani-

pulations ultérieures,

nous avons utilisé une seule bobine haute

fréquence,

nous avons laminé les échan- tillons successivement en

plusieurs

sens, et nous les

avons suffisamment recuits pour que

l’ancrage

soit

principalement

aux billes d’isolant.

FIG. 2. - Résistance de surface normalisée en fonction du

champ, montrant l’anisotropie suivant le sens de laminage : lignes continues - première manipulation avec le sens de laminage parallèle à la bobine 2 et perpendiculaire à la bobine 1, lignes discontinues - seconde manipulation, l’échantil- lon ayant subi un bref recuit est monté avec le sens de laminage

parallèle à la bobine 1.

L’ensemble des résultats relatifs au

champ uo Ho

=

0,3

T est

présenté

sur la

figure

3. Nous avons

calculé

RIRF

f en

prenant

la courbe

supérieure

de la

figure

1 comme

Rf/Rn.

Les échantillons bien recuits

(5)

1006

et sans billes donnent une courbe similaire. Les courbes de la

figure

3

représentent RIRF

suivant

l’expression (3).

Pour le seul cas d’un échantillon non

poli,

nous avons

posé f3

= 0 et choisi le

paramètre

x convenablement.

La courbe

correspond, alors,

à un ancrage

purement superficiel,

et nous voyons que l’accord est très bon.

Pour tous les autres cas, où un

polissage chimique

avait été

fait,

nous avons

posé

x = 0 et

choisi f3

comme

il fallait. L’accord est tout à fait raisonnable et nous

donne la

quasi-certitude

que nous avons réussi à

distinguer

et à

séparer

les deux

types d’ancrage,

en

surface et en volume.

FIG. 3. - Résistance de surface par rapport à Rf = (1 cvppf)i’2 dans un champ uo Ho = 0,3 Tesla (Ho ~1/2 ) Hc2), en fonction de la fréquence. Chaque espèce de signe indique un échantillon différent. gb - échantillon non poli comparé avec la courbe théorique pour ancrage superficiel (ligne discontinue) : tous

les autres signes - échantillons polis avec courbes théoriques

pour ancrage en volume (lignes continues).

Remarquons

que nous avons travaillé avec une dissi-

pation d’énergie

à l’état normal de 3

uW.

Nous esti-

mons alors que

Jm ~

60

kAm-2

à

2,0

MHz et

~ 130

kAm-’

à 50

MHz,

aux surfaces. Ces densités de courant sont nettement inférieures aux

Jc,

déter- minés à

partir

de

l’hystérésis

de l’aimantation.

IV. Théorie de Gittleman et Rosenblum. - Pour

exprimer

la formule de Gittleman et Rosenblum

[1 ]

pour

plpf

et

pour f"

nous n’avons

qu’à

écrire la valeur 2

nJc cP1/2 Bz 1/2

pour le

paramètre

du

paragraphe

II.

Gittleman et Rosenblum

n’envisageaient

pas

qu’une

force -

f3s

dz

agit

uniformément sur

chaque

élément

de vortex. En

fait,

les vortex se constitueraient en

cristaux

rigides qui

se

déplaceraient

comme des

ensembles. Selon ce modèle le

potentiel

de

piégeage

subi par un cristal de vortex aurait la

périodicité

du

réseau. Si ce

potentiel périodique

a une forme sinu-

soïdale et une

pente maximum Jc ffio dz, l’expression

ci-dessus en résulte. Par

analogie

nous pouvons écrire 2

7rJ,, P6/2 Bz1/2

pour

8x, £1

étant une densité

critique

de courant

superficiel, qui s’applique

à une

surface

perpendiculaire

aux vortex et

qui dépend

de la

rugosité

de la surface. A ce

moment-là, (6)

devient :

le

est le courant

critique

de l’échantillon

qu’on

déter-

minera avec un courant

continu,

et S est la

section ; le S-1 = (Jc

+ 2

h-1 JsJ.).

Avec les mêmes valeurs de

03B2

et de x,

(4)

devient :

B’VJ

En effet nous avons mesuré

l’hystérésis

de l’aiman- tation d’échantillons

cylindriques

de rayon r des mêmes matériaux et à la même

température

que les

mesures en haute

fréquence.

Ces mesures nous ont amenés à une connaissance de

(Jll + 1/3 rJc) puisque

nous pouvons supposer que les échantillons se trou-

vaient dans l’état

critique

décrit par Bean

[6]

selon

lequel

OB = uo

Je

à

chaque point

à

l’intérieur,

et

alors B > H croi - B >Hdecr = - 2J10(Jsl! + -1 3 ri,,,)

JSiI

est une densité de courant

critique superficiel qui s’applique

à une surface

parallèle

à

Ho. Js

est lié à

l’efficacité de la barrière

qui s’oppose

aux vortex

qui

voudraient franchir la surface et n’a rien à voir avec

la

quantité Jsl. qui figure

dans les relations

(7) (impli- citement)

et

(8).

Par

conséquent

les mesures de

l’hys-

térésis ne sont utiles pour étudier la validité de

(8)

que si

l’ancrage

est presque totalement en volume.

Cependant

nous avons vu que pour tous les échan- tillons

polis reportés

sur la

figure

3

l’ancrage

semble

être

volumique,

et c’est sous cette

hypothèse

que

nous examinerons les résultats.

La

figure

4 est une

repré sentation

de

fps

et

de Je

à uo

Ho

=

0,3 T.

Les valeurs

expérimentales

de

fus

ont été trouvées en accordant les courbes

RIRF

comme

sur la

figure

3 et les valeurs de

Je à partir

de

l’hystérésis

d’échantillons

cylindriques

en admettant

JSII

= 0.

La

ligne

continue sur la

figure

4

représente

la rela-

tion

(8)

il est admis que

£1

= 0. En

ligne

dis-

continue nous avons

représenté

Cette

ligne correspond

à une variation

parabolique

du

potentiel

de

piégeage, proposée

par Gittleman et Rosenblum pour raison

phénoménologique.

Pour

trouver les deux

lignes

nous avons

calculé 11

à l’aide

de la valeur

expérimentale

de pf, à

partir

de

R,IR. et

pn. On voit que tous les

points expérimentaux

se

(6)

FIG. 4. - Fréquence de piégeage (à laquelle R = 1/2 Rr) en

fonction de la densité de courant critique, celle-ci déterminée à

partir de l’hystérésis magnétique, toujours pour po Ho = 0,3 Tes- la : ligne continue - théorie de Gittleman et Rosenblum

(cosinusoïd) ; ligne discontinue - idem (parabolique). Chaque point correspond à un échantillon différent.

situent entre les deux

lignes,

sauf deux

qui

se trouvent

au-dessous,

et

qui représentent

des échantilons à faible

Je.

Pour ces deux

là, fps

est nettement en dehors

de la gamme de

fréquences

étudiée et sa valeur a

être déterminée par une

extrapolation

à l’aide de la

courbe

théorique

pour

piégeage

en volume. Si cette

extrapolation

a pu entraîner une erreur

excessive,

il

nous semble que celle-ci serait dans le sens d’une surestimation

de fps, qui

se situerait en effet même

plus

bas que les

positions marquées

sur la

figure

4. La courbe pour

piégeage

en volume

représente,

en

effet,

théori-

quement

et

expérimentalement

la variation la

plus abrupte possible

pour

R/Rf

en fonction de la

fréquence.

Il semble que

négliger Js

Il était une erreur pour les échantillons à ancrage faible et on a donc trouvé une

fausse limite inférieure

pour Jc

de l’ordre de 1

MAm-2,

les vraies valeurs de celui-ci

pouvant

être nettement

plus petites.

Nous avons choisi de montrer les résultats pour

Ho = 0,5 H,,2,

comme étant

représentatifs

de l’état

mixte,

mais une

figure comparable

à la

figure

4 aurait

pu être tracée pour

n’importe quelle

autre valeur du

champ.

La

figure

5

résume,

en

effet,

les variations en fonction du

champ

pour un échantillon

typique.

On

voit que

Jc(Ho) a qualitativement

la même

allure,

qu’il

soit déterminé à

partir

de

l’hystérésis magné- tique

ou à

partir

du

produit

Nos conclusions

quant

à la validité de la théorie de Gittleman et Rosenblum auraient été similaires si

nous avions choisi de nous

intéresser,

par

exemple, à Ho = 0,2 Hc2 ou à Ho = 0,8 Hc2.

FIG. 5. - Densité de courant critique en fonction du champ : ligne - à partir de l’hystérésis magnétique ; 10 - à partir

de la fréquence de piégeage, fps et la théorie de Gittleman et Rosenblum (cosinusoïd) ; o - idem (théorie parabolique).

V. Théorie de Labusch. - Nous avons vu que

l’hypothèse

d’une force

d’ancrage

de

type élastique

’décrit

assez bien la variation en

fréquence

du

rapport R/Rf,

comme elle a décrit assez bien la variation de

p/pf [1].

En

plus,

la valeur

prêtée

au coefficient élas-

tique

par Gittleman et Rosenblum

donne,

à un

facteur 2 ou 3

près,

les bonnes valeurs

de fps,

comme

de

fp.

Vu la

simplicité

de

l’hypothèse

par

rapport

à la

complexité

du

problème d’ancrage

c’est même un peu

surprenant.

En

particulier

nous n’avons pas tenu

compte

de la

possibilité

d’une distorsion du réseau dans le

plan perpendiculaire

à

Oz,

en

supposant

que

s(z, t)

est le même pour

chaque

vortex, soit parce que

chaque

vortex subit la même

force - fis

dz

(peu

pro-

bable),

soit parce que les interactions entre vortex sont infiniment fortes

(une exagération).

Pourtant

on sait

[7]

que de telles

distorsions, quoique

très

faibles, jouent

un rôle fondamental dans la détermina- tion de la valeur de

J,,. (Désormais

nous discuterons

uniquement

de

l’ancrage

en

volume.)

Comme

premier

pas vers une étude

plus précise

nous pouvons supposer

que fl

varie d’un élément de vortex à un autre. On

peut

penser que

fps

et

fp

sont

(7)

1008

données

l’ordre de

grandeur

tout au

moins)

par

l’emploi

de

B

> en

place de fi

dans les formules

(4)

et

(6).

Précisons à ce moment que

par B

nous enten-

dons seulement les réactions élémentaires entre défauts

et vortex, et non pas les interactions vortex-vortex.

Nous avons le droit de l’entendre ainsi parce que les interactions vortex-vortex ne

jouent

pas directement dans la détermination de

l’amplitude

moyenne des

déplacements

des vortex en

réponse

à une force

appliquée. Alors P

est synonyme de la

quantité a2u/ax2

de la théorie de Labusch

[7]

et

B

> est

équivalent

à a.

(Les déplacements s

sont

parallèles

à

Ox.) fi

étant la dérivée seconde d’un

paramètre continu, U,

et celui-ci ne

dépendant

que des défauts

répartis

au

hasard dans

l’espace,

il

apparaît

que

B

> serait nul s’il

n’y

avait pas de distorsion du réseau de vortex, et que dans ces conditions

fps

et

fp,

tout comme

Jc

seraient

nulles. Par

conséquent,

les valeurs de

fps

et

fp,

comme

celle de

Jc, dépendent

de la «

souplesse »

du réseau

de vortex

qui

lui

permet

de

s’accommoder,

dans une certaine mesure, aux défauts

présents.

Pour concrétiser sa

théorie,

Labusch a calculé

J,, explicitement

pour un cas

précis

d’interaction entre vortex et défauts. Des défauts de densité

po et

de

longueur

L dans le sens

Oy, interagissent

avec les

vortex avec un

potentiel 8( ç), ç

étant la distance

(llox)

entre le vortex et un

point qui

localise le défaut :

Ko

est la

pente

maximum de e,

où ç =

± d.

Lorsque Ho

n’est ni

trop près

de

77e

1 ni

trop près

de

Hc2

«

l’approximation

réseau » est valable. Dans cette

approximation,

et au

premier

ordre en po :

lorsque Ko G’(O)ld

>

8/3. G’(0)

est la fonction de Green

qui

caractérise la

réponse

linéaire du réseau de vortex à une force

ponctuelle (c’est-à-dire

la «

souplesse

»

du

réseau).

Sa forme

explicite

est donnée dans le texte.

D’après

Webb

[8],

la condition

Ko G’(O)ld

>

8/3

serait difficilement

réalisée,

tout au moins dans le cas

d’ancrage

par dislocations.

Cependant

un calcul

à l’ordre n en po

pourrait

montrer la validité

plus générale

de la relation

[9].

Pour la même forme concrète de

8(j)

nous trouvons :

quand (9)

est valable.

Il vient :

ce

qui

est

identique

à

l’expression

de Gittleman et Rosenblum dans le cas

d,

la

largeur

de

l’interaction,

est de l’ordre du

paramètre

du réseau

0’ /2 Bz -1/2.

Cette dernière

hypothèse

semble tout à fait

raisonnable,

et nous pensons avoir démontré que le modèle de Gittleman et Rosenblum et les résultats

expérimentaux

sont

compatibles

avec la théorie de Labusch.

Bibliographie [1]

GITTLEMAN

(J. I.)

et ROSENBLUM

(B.), Phys.

Rev.

Letters, 1966, 16, 734.

[2]

GILCHRIST

(J.)

et MONCEAU

(P.),

Phil. Mag., 1968,

18, 237.

[3]

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J.

Physique,

1968, 29, 990.

[4]

SCHUMACHER

(G.),

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[5]

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K.)

et WEIJSENFELD

(C. H.),

J.

Appl. Phys.,

1969, 40, 384.

[6]

BEAN

(C. P.),

Rev. Mod.

Phy.,

1964, 36, 31.

[7]

LABUSCH

(R.), Crystal lattice defects, 1969, 1, 1.

[8]

WEBB

(W. W.),

J.

Appl. Phys.,

1971,

42,

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