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Sur le tenseur de permittivité du gypse aux micro-ondes

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Academic year: 2022

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HAL Id: jpa-00205493

https://hal.archives-ouvertes.fr/jpa-00205493

Submitted on 1 Jan 1963

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Sur le tenseur de permittivité du gypse aux micro-ondes

R. Servant

To cite this version:

R. Servant. Sur le tenseur de permittivité du gypse aux micro-ondes. Journal de Physique, 1963, 24

(6), pp.405-406. �10.1051/jphys:01963002406040500�. �jpa-00205493�

(2)

405.

LETTRES A LA REDACTION

SUR LE TENSEUR DE PERMITTIVITÉ DU GYPSE AUX MICRO-ONDES

Par R. SERVANT,

Laboratoire d’optique ultrahertzienne de la Faculté des Sciences de Bordeaux.

LE JOURNAL DE PHYSIQUE TOME 24, JUIN 1963, PAGE 405.

Nous avons mesure au laboratoire [1] 1’anisotropie di6lectrique du gypse, dans la bande des 3 cm, au moyen d’un banc de mesures en guides rectangulaires,

par la methode dite du « court-circuit ».

Le gypse cristallise dans le systeme monoclinique.

Son axe binaire est perpendiculaire au plan de clivage parfait. C’est, évidemment, l’un des « axes électriques )).

La mesure de la constante di6lectrijue (relative) eII correspondant a cette direction est simple. 11 suffit de tailler des 6chantillons parallélépipédiques, ayant la section du guide, et presentant dans cette section la

direction de 1’axe binaire (axe II) parallelement au champ 6lectrique du mode TEoi se propageant dans le guide. On trouve eII

=

5,24.

Par contre, la mesure des permittivites (relatives) ei

et e7,j relatives aux directions (I) et (III) des deux autres

axes 6lectriqueg est delicate, car il est facile de tailler

FIG. 1.

des 6chantillons dont la face d’entrée soit perpendi-

culaire a l’axe binaire et contienne done ies direc- tions (1) et (III), perpendiculaires entre elles, mais, on

ne connait pas, a priori, leur orientation par rapport

au champ 6lectrique du mode TEoi. On montre, cepen- dant, que ce que l’on mesure dans ces conditions, c’est

le « pouvoir inducteur sp6cifique dans la direction du

champ » ou encore la

«

constante di4lectrique dans la

direction du champ appliqué )), soit eE, comme en radiofrequences, dans la methode du condensateur [2].

Traçant le diagramme des différentes valeurs de EE en

fonction de l’orientation ( fig. 1) il est facile de d6ter- miner ses axes de sym6tries, qui sont les axes 6lee- triques (I) et (III) du cristal. On peut ensuite mesurer,

soit directement, soit par interpolation, les valeurs de EE suivant ces directions, qui sont les valeurs vraies des constantes di4lectriques (relatives) principales el

et sm. On trouve :

Le diagramme polaire des EE, en forme d’halt6rc,, se

r6duirait pratiquement a une ellipse si 1’anisotropie

était faible. Cl. Demau en a donne une demonstration dans le cas des blocs anisotropes de carton d’a- miante [3]. Mais ici, ce n’est pas le cas, l’anisotropie du

gypse 6tant particulièrement forte. On peut chercher à

controler Inequation alg6brique de ce diagramme : Soient, en effet eij les 9 composantes du tenseur sym6trique de permittivit6 (relative) défini par la relation :

liant les composantes de l’induction D a celle du

champ E (e, etant la permittivit6 absolue du vide).

Soit DE la composante de D dans la direction E.

On_a par definicion Comme

et que d’autre part :

il vient, en egalant les deux expressions :

D6signant par xl, x2, x3 les coordonn6es de 1’extre- mite du rayon vecteur EE du diagramme (fig. 2),

il vient :

soit :

Lorsque la matrice du tenseur e est diagonalis6e,

c’est-a-dire lorsqu’on rapporte le tenseur aux axes principaux 6lectriques (1), (II), (III), 1’6quation se simpline et se r6duit a :

Article published online by EDP Sciences and available at http://dx.doi.org/10.1051/jphys:01963002406040500

(3)

406

C’est le r6sultat indiqué par J. F. Nye [4]. Le dia-

gramme polaire des eE a donc pour équation, par rapport aux axes (I) et (III) :

[(Xl) 2 + (X3)1]3 - [ SI(XI) 2 + CIII(X3) 2]2

=

0.

Comme er et CIII sont connus, cette équation peut

etre verifiee.

Mais je voudrais indiquer ici un procede plus simple,

permettant de controler quantitativement la forme du diagramme des EE. Soit en effet

1’6quation de la quadrique representative (fig. 3) du

tenseur e,

p etant le rayon vecteur de cette quadrique dans la

direction de E.

Comme

on a aussi :

Soit, en ne retenant que la determination positive

0 == 1/v CE.

Nous retrouvons d’ailleurs Ia une propriete generale

de la quadrique representative d’un tenseur, ce qui

revient a dire que EE n’est pas autre chose que la

K

valeur

))

de la permittivit6 e dans la direction du rayon vecteur.

Nous sommes donc amenes (fig. 4) a tracer, a partir

du diagramme des EE, le diagramme polaire des 1 IV CE

et a controler que l’on obtient bien une ellipse, section

par le plan de la figure de la quadrique representative

r

du tenseur e. On peut effectivement v6rifier ici que la courbe obtenue est bien la reduction projective d’un cercle, donc une ellipse.

Lettre regue le 2 mars 1963.

BIBLIOGRAPHIE

[1] SERVANT (R.) et DEMAU (Cl.), C. R. Acad. Sc., 1962, 254, 656 ; J. Physique Rad., 1962, 23, 948.

[2] PULOU (R.), Thêse, Toulouse, 1949.

NYE (J. F.), Propriétés physiques des cristaux, Paris, 1961, 77.

[3] DEMAU (Cl.), Thèse de 3e cycle, Bordeaux, 1962, 51 et 59.

[4] NYE (J. F.), loc. cit., p. 49.

ÉTUDE DE LA CONSTANTE DIÉLECTRIQUE

COMPLEXE DE PbHfO3 ENTRE 320°K ET 520°K

Par L. GOULPEAU,

Laboratoire de Ferroélectricité de la Faculté des Sciences de Rennes.

Les effets d’un champ statique polarisant superpose

au champ alternatif de mesure, sur la constante di6lee-

trique s’ des corps ferroélectriques et antiferroélec-

triques sont bien connus, notamment : variation de la

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