Chapitre I. PARTIE INTRODUCTIVE : obtention et analyse des films I.3. Caractérisation et Propriétés des films d’enrobage I.3.6. Méthodes innovantes de caractérisation des films d’enrobage A ce jour, les mécanismes impliqués dans la formation du film ne sont pas encore complètement élucidés (47)(53). En parallèle, il existe encore de nombreuses techniques de caractérisation pas encore complètement exploitées dans le domaine des enrobages par film, parmi lesquelles nous décrirons surtout ici la microscopie à force atomique (MFA ou AFM) et la microspectroscopie Raman. I.3.6.1. Microscopie à force atomique (AFM) La microscopie à force atomique (MFA ou AFM) est une technique dérivée du microscope à effet tunnel (ou STM), de haute résolution (résolution latérale de 30 Å et résolution verticale inférieure à 1 Å) donnant des images tridimensionnelles sans mode de préparation particulière de l’échantillon analysé (83)(84). Cette dernière particularité est un avantage majeur par rapport aux techniques traditionnelles de microscopie telle que la microscopie électronique. Les applications de l’AFM n’ont cessé de croître ces dernières années dans le domaine des biomatériaux (topographie de surface, propriétés structurales et dynamiques), et la possibilité d’étude de surface a conduit à l’émergence d’une profusion de techniques dérivées utilisant des sondes à interaction locale (microscopie de résonance magnétique, microscopie de module d’élasticité, etc.…). La technique est adaptée pour être utilisée dans différents environnements physiques tels que le vide et les fluides par exemple. Le microscope est constitué d’une pointe miniature (extrémité de la pointe de quelques nanomètres) fixée à l’extrémité d’un stylet. La pointe est proche de la surface de l’échantillon placé sur une platine de déplacement (balayage XYZ). Par ailleurs, une cale piézo-électrique permet d’ajuster finement la distance pointe-échantillon et est utilisée pour asservir l’amplitude de vibration du stylet (fréquence de résonance recherchée de l’ordre de quelques dizaines de kilohertz). Une pointe AFM fonctionne en 3 principaux modes : mode statique (ou continu) ou mode dynamique (ou oscillant) ou mode thermique (pointe utilisée comme détecteur de température en champ proche). Diverses propriétés (par exemple, étude de micro ou nanostructure, de propriétés mécaniques) de la surface sont mesurables grâce à la pointe AFM modifiable chimiquement et pouvant faire varier ainsi les interactions entre la pointe et la surface analysée (85). Parmi les différents modes d’utilisation cités, l’intérêt est surtout porté sur le mode dynamique. Dans le mode statique (mode contact), la pointe est en contact physique permanent avec l’échantillon (pointe pressée contre le matériau par l’élasticité du stylet). Dans le cas d’une surface souple, il y a risque d’endommager la surface de l’échantillon (force de frottement sur l’échantillon), et dans ce cadre, le mode dynamique est plus adapté (oscillation du stylet dans la direction Z). Il existe plusieurs modes dynamiques dont les principaux sont le mode à contact intermittent et dans ce mode, les images de hauteur sont intéressantes pour connaître la topographie de surface et les images de phase peuvent être intéressantes pour révéler des hétérogénéités de surfaces correspondant à des propriétés viscoélastiques ou de mouillage différentes. Le mode intermittent (ou tapping)est particulièrement intéressant pour notre étude. Les images générées par le mode tapping sont de 2 types : image en hauteur et image en amplitude. L’image en hauteur montre la topographie de surface et elle est générée par ajustement de la cale piezo-électrique qui conserve une déflection constante du stylet. L’image en amplitude décrit les changements d’amplitude du stylet, et elle est sensible aux changements de relief de la surface. La technique permet d’observer la microstructure lors de la phase de déformation des particules de polymère et la topographie de surface lors du curing (cf. I.1.2.3., Figure 7). C’est un outil d’analyse quantitative (degré de coalescence des particules de polymère) (51)(54)(56). Dans l’étude de Lin et Meier (51), la cinétique de formation de film de latex de Poly-isobutylmethacrylate (PiBMA) est suivie par AFM (mode contact, suivi des changements de caractéristiques de surface, i.e. les pics et vallées entre deux particules adjacentes). Les auteurs montrent que la formation de film est fonction des propriétés rhéologiques du film et que la cinétique de formation est dix fois supérieure dans les conditions humides (vs. condition sec, des mesures en DSC ayant été réalisées au préalable, montrant que l’eau n’avait pas de propriété plastifiante pour ce polymère hydrophobe). La pression capillaire est une force motrice principale à la formation du film. Dans l’étude de Ringqvist et al. (86), les auteurs montrent qu’il est possible de plastifié avec 10 % (m/m) de TEC en solution organique. L’AFM est une technique puissante pour suivre la topographie de surface de grains secs et hydratés à différents temps de dissolution en air ambiant et de grains en milieu aqueux en cours de dissolution. Cela permet de mieux comprendre les mécanismes de libération du chlorhydrate monohydraté de remoxipride (PA soluble). Ces auteurs ont montré que la surface des microgranules enrobés n’était pas lisse et que des cristaux étaient visibles (avec une quantité plus importante au plus faible taux d’enrobage) (cf. Figure 17). Ces cristaux qui disparaissent après 10 min de dissolution sont identifés par microscpectrocopie Raman (cf. paragraphe suivant I.3.6.2). La surface n’évolue plus entre 30 min et 24 h de dissolution. Figure 17 : Images en hauteur à gauche et en déflection à droite issues du mode contact en AFM (mesure effectuée en air ambiant) sur des granules enrobés à (i) 4 % (image de 40 x 40 µm²) et (ii) 7 % (image de 50 x 50 µm²) d’éthylcellulose plastifié au TEC (avec z pour les images en hauteur de 1,6 µm) (86). I.3.6.2. Microspectroscopie Raman De manière générale, une installation de spectrométrie Raman comprend : une source laser dont le faisceau est focalisé sur l’échantillon à analyser par une optique appropriée ; une platine porte-échantillon ; un spectromètre comprenant une optique de collection de la lumière diffusée et de couplage avec le dispositif d’analyse spectrale, et un système d’analyse spectrale (analyse dispersive ou techniques interférométriques à transformée de Fourier) ; un détecteur de rayonnement très sensible (monocanaux ou multicanaux photoélectriques) ; une électronique d’acquisition et de traitement des données spectrales (87). La spectroscopie Raman est principalement est utilisée pour identifier des molécules organiques, des polymères ou des composés inorganiques sur une profondeur pouvant atteindre 2 µm (d’où le terme de « microspectroscopie » Raman). L’application des principes de la microscopie confocale a contribué à l’amélioration de la résolution spatiale, particulièrement axiale, de cette méthode. Elle fait appel aux vibrations moléculaires, de façon comparable à la spectroscopie infra-rouge à transformée de Fourier. Un faisceau laser incident sur la surface de l’échantillon interagit avec les photons du système, provoquant ainsi une émission à une autre longueur d’onde par dispersion ou diffusion Raman. La faible puissance du signal produit constitue l’un des défis de la conception d’un bon spectromètre Raman. L’utilisation d’un tel équipement est variée : identification de composition moléculaire en surface et en profondeur, analyse de contamination, analyse de film / couche minces et revêtements, analyses qualitatives et semi-quantitatives (87). C’est une technique adaptée pour l’investigation de micro-échantillons. Les caractéristiques avantageuses de la technique sont les suivantes : technique non destructive, applicable à des régions microscopiques situées à l’intérieur d’un matériau transparent, pas de traitement particulier de l’échantillon analysé, et possibilité de mener l’analyse à l’air libre ou sous atmosphère contrôlée (conditions de température et de pression modifiables à volonté). Par ailleurs, les installations actuelles de spectrométrie Raman permettent d’établir des cartes en deux ou trois dimensions (imagerie spectrale par l’imagerie directe ou par les techniques de reconstruction d’image dont l’imagerie spectrale confocale à balayage), caractéristiques des espèces chimiques présentes dans l’échantillon avec un pouvoir séparateur de l’ordre du µm. Dans l’étude de Ringqvist et al. (86), précédemment nous avons montré l’intérêt de l’AFM pour suivre la topographie de surface de microgranules enrobés. Les auteurs ont utilisé en parallèle la microspectrocopie Raman confocale pour confirmer la présence des cristaux de chlorhydrate monohydraté de remoxipride vus sur les images AFM et pour une identification chimique des constituants présents en surface des microgranules Figure 18 : Image Raman montrant la distribution des constituants présents en surface des granules enrobés à 4 % d’éthylcellulose plastifié au TEC : les parties blanches correspondent principalement au chlorhydrate monohydraté de remoxipride et les parties noires, principalement à l’éthylcellulose (86). Ces deux techniques - AFM et Microspectroscopie Raman - sont complémentaires et seront envisagées dans ce travail pour suivre la surface de films d’enrobage à base de Dans le document SYSTEMES POLYMERIQUES A BASE DE DISPERSION AQUEUSE ADMINISTRES PAR VOIE ORALE POUR LA LIBERATION CONTROLEE DU PRINCIPE ACTIF (Page 68-73)