CHAPITRE III : ELABORATION ET CARACTERISATION DES
C. II.2 – Morphologie orientée
Des observations en coupes transverses ont été réalisées sur les dépôts obtenus en régime
continu afin de compléter l’analyse microstructurale. Plusieurs études ont été réalisée en coupes
transverses afin de caractériser la microstructure (chapitre I, §A.III). Les dépôts sont enrobés à l’aide
d’une enrobeuse sous vide puis découpés au moyen d’une microtronçonneuse. Les échantillons sont
ensuite polis sur une polisseuse automatique jusqu’au papier 4000 (granulométrie de 5 µm). Afin de
ne pas générer d’artefacts sur le revêtement par le papier de polissage, le dernier papier est utilisé
parallèlement au substrat. Pour finir la préparation, la microstructure du revêtement est révélée à l’aide
d’un mélange eau/acide acétique/acide nitrique pendant 20 à 30 secondes. Cette méthode nous a
permis de mettre en évidence différentes morphologies à partir d’observations réalisées en
microscopie optique ou à balayage.
Les résultats obtenus sont présentés figure III.30 (MEB) et figure III.31 (microscopie optique).
(a) (b)
Figure III.30 : Coupes transverses pour des dépôts élaborés en régime continu
(a : 50 mA/cm² (C50); b : 5mA/cm²(C5)).
Figure III.31 : Image obtenue par microscopie optique sur un revêtement élaboré à
50 mA/cm² (C50) en régime continu.
20 µµµµm
Cette étude nous a permis de mettre en évidence des effets de bords importants pour le dépôt fait à
fortes densités de courant. Pour les faibles densités de courant très peu d’effets de bords ont été
observés. Les dépôts ne semblent pas présenter de porosités.
D’après les figures III.30 et III.31, nous pouvons constater que pour le dépôt élaboré à forte densité de
courant, une morphologie sous forme de colonne est observée. Ces résultats sont en accord avec les
travaux de Rasmussen qui présentent des microphotographies obtenues par microscopie électronique à
transmission, mais aussi avec les travaux de Banovic et Marquis qui ont obtenu des
microphotographies par MEB, celle-ci sont similaires aux coupes transversales que nous avons
obtenues [Banovic98, Marquis06, Rasmussen06]. Nous observons plusieurs zones ou les colonnes
semblent s’élargir au fur et à mesure de la croissance.
Pour les faibles densités de courant une morphologie fibreuse a été mise en évidence. Les fibres se
propagent à travers le revêtement perpendiculairement à la surface du substrat. Des liaisons entre
certaines de ces fibres sont parfois observées d’où un changement de direction par rapport à la
direction de croissance. Certaines de ces fibres croissent perpendiculairement au substrat sans jamais
se lier. De nombreux auteurs ont associé ce type de morphologie à une structure colonnaire
[Thompson00].
Plusieurs études [Lin01, Goods06, Rasmussen06] rapportent ce type de morphologie colonnaire par
EBSD (chaque colonne serait principalement formée d’un seul grain), ou par MET [Lin01,
Rasmussen06]. Nous avons donc réalisé une étude des coupes transverses par EBSD afin de vérifier ce
comportement.
La figure III.32 montre les cartographies obtenues sur les coupes (obtenue après un polissage à
l’OPS). Nous pouvons constater que le dépôt C50, réalisé à forte densité de courant présente des zones
ou les grains ont la même orientation cristallographique. Les colonnes observées en MEB peuvent être
interprétées en EBSD par un ensemble de grain ayant la même orientation cristallographique (délimité
en pointillé sur la figure). Par contre en ce qui concerne les dépôts faits avec de faibles densités de
courant, figures III.32.b et III.32.c, il ne semble pas y avoir de rapport entre la morphologie fibreuse et
les grains observés. Ce résultat semble être en contradiction avec les travaux de Rasmussen et de
Goods qui présentent des coupes EBSD de nickel. Sur ces coupes les colonnes semblent s’orienter
parallèlement aux lignes de courant mais elles semblent aussi être formées par un seul et même grain
[Goods06, Rasmussen06]. Néanmoins la représentation des images par ces mêmes auteurs est
différente de la nôtre.
Sur la figure III.33, le repère de l’image III.32 a été changé afin de visualiser l’orientation des grains
par rapport à la normale n au substrat, confirmant que la plupart des grains ont leur axe <100> orienté
perpendiculairement à la surface du substrat.
Cependant le même changement de repère a été réalisé sur les deux autres revêtements mais aucune
orientation cristallographique n’a pu être mise en évidence.
(a)
(b) (c)
Figure III.32 : Cartographies EBSD des coupes transverses pour trois revêtements élaborés en régime
continu appartenant aux trois familles de texture (a : 50 mA/cm², b : 5 mA/cm², c : 1 mA/cm²).
5µm
Substrat
Couche
n
n
n
n
Figure III.33 : Changement de repère sur un dépôt C50.
L’association de ces deux techniques permet de montrer que l’attaque chimique réalisée dans le
cas des observations par microscopie optique et microscopie électronique à balayage entraîne la
révélation de certains sites préférentiellement par rapport à d’autres. Cette attaque chimique
provoquerait donc des artefacts qui rendent l’interprétation de ces images délicate.
Le dépôt élaboré à 50 mA/cm² a fait l’objet d’une étude plus poussée par MET en coupe
transverse, celui-ci présentant des hétérogénéités de tailles de grains en vue de dessus mais également
une grande disparité entre les différentes tailles de grains obtenues par les différentes techniques,
tableau III.9. Une statistique a été faite sur 56 grains sur différentes zones de l’échantillon. Nous avons
mis en évidence différentes populations de grains qui sont caractérisées par les angles Ψ(100), Ψ(110)
et Ψ(111), Ψ(hkl) correspondant à l’angle entre le plan (hkl) et la normale au substrat. Les résultats
sont donnés dans le tableau III.12.
Ψ(100) ° Ψ(111) ° Ψ(110) ° Pourcentage des grains (%) dMET (nm)
V - 1 4 ± 4 51 ± 4 40 ± 4 62 500 – 1000
V – 2 15 ± 4 43 ± 4 30 ± 4 20 140
V – 3a 36,5 ± 4 20 ± 4 30 ± 4
V – 3b 36,5 ± 4 24 ± 4 20 ± 4
18 250
Tableau III.12 : Observations obtenues par MET après analyse par projection stéréographique.
La population V-1 correspond aux grains les plus gros de l’échantillon et sont en proportion la
plus importante. Cette population présente un angle Ψ(100) proche de la normale au substrat, en
accord avec les observations obtenues par EBSD et DRX. Cependant deux autres populations V-2 et
V-3 qui correspondent aux autres orientations cristallographiques vues en EBSD et DRX peuvent être
observées (figure III.16). La taille de grain pour ces deux populations est inférieure à celle de la
population V-1. Les figures III.34 (a et b) montrent cette hétérogénéité microstructurale, avec une
zone présentant de larges grains entourés de grains plus petits et une zone où seules les populations
minoritaires sont visibles.
Figure III.34.a : Micrographies MET des zones présentant les populations V-1 et V-3.
Figure III.34.b : Micrographies MET des zones présentant les populations V-2 et V-3.
V-3b V-1 V-3a [0,55,1] (-1,0,0) (0,0,1) (0,-1,0) (-1,-1,0) (1,0,1) (0,1,1) (-1,1,0) (-1,0,1) (0,-1,1) (1,1,1) (-1,-1,1) (1,-1,1) (-1,1,1) n [-52,9,-29] (3,1,1) (-1,0,0) (0,0,1) (0,1,0) (1,1,0) (1,0,1) (0,1,1) (-1,1,0) (-1,0,1) (0,-1,1) (1,1,1) (-1,-1,1) (-1,1,-1) (-1,1,1) n [-21,32,-20] (1,1,1) (1,1,-1) (1,-1,1) (1,-1,-1) (1,0,0) (0,0,-1) (0,1,0) (1,0,1) (0,-1,-1) (1,1,0) (1,0,-1) (0,1,-1) (1,-1,0) n V-3b V-1 V-3a [0,55,1] (-1,0,0) (0,0,1) (0,-1,0) (-1,-1,0) (1,0,1) (0,1,1) (-1,1,0) (-1,0,1) (0,-1,1) (1,1,1) (-1,-1,1) (1,-1,1) (-1,1,1) n n [-52,9,-29] (3,1,1) (-1,0,0) (0,0,1) (0,1,0) (1,1,0) (1,0,1) (0,1,1) (-1,1,0) (-1,0,1) (0,-1,1) (1,1,1) (-1,-1,1) (-1,1,-1) (-1,1,1) n [-21,32,-20] (1,1,1) (1,1,-1) (1,-1,1) (1,-1,-1) (1,0,0) (0,0,-1) (0,1,0) (1,0,1) (0,-1,-1) (1,1,0) (1,0,-1) (0,1,-1) (1,-1,0) n n