ARBITRABILITY IN GENERAL. DISTINCTION BETWEEN OBJECTIVE AND SUBJECTIVE ARBITRABILITY

LAW AND ECONOMICS

1. ARBITRABILITY IN GENERAL. DISTINCTION BETWEEN OBJECTIVE AND SUBJECTIVE ARBITRABILITY

Nas figuras abaixo, estão apresentados os espectros de difração de raios-X, das amostras que foram enviadas para análises na Universidade Federal de São Carlos em São Paulo. Constatou-se que todas as amostras ficaram na fase vítrea.

Fig.4.9.1 Espectro de difração de raios-X da

Cerâmica PURA F:\puro.TXT

23-1009 (I) - Aluminum Oxide - Al2O3 - Y: 50.00 % - d x by: 1. - WL: 1.5406 - 0 -

74-1607 (C) - Gehlenite - Ca2(Al(AlSi)O7) - Y: 45.83 % - d x by : 1. - WL: 1.5406 - 0 - I /Ic PDF 2.5 - 85-1460 (C) - Mullit e triple cell - s ynthetic, from gel, annealed at 1273 K - Al5.33Si0.67O9.33 - Y: 70.83 % - d x 72-2284 (C) - Wollas tonite - C aSiO3 - Y: 43.41 % - d x by: 1. - WL: 1.5406 - 0 - I/ Ic PDF 0.8 - 80-1501 (C) - Titanium Oxide - TiO2 - Y: 49.65 % - d x by : 1. - WL: 1.5406 - 0 - I/Ic PDF 3.6 - 45-0406 (Q) - Aluminum Ox ide Silicate Unnam ed zeolite - 283SiO2·Al2O3 - Y: 41. 67 % - d x by: 1. - W L: 1.5406 37-1460 (N) - Aluminum Silicate - Al0.5Si0.75O2. 25/0. 75SiO2·0.25Al2O3 - Y: 45.83 % - d x by : 1. - WL: 1.5406 Operations: Im port

F: \puro.TXT - File: puro.RAW - Type: 2T h/ Th lock ed - Start: 10. 000 ° - End: 70.000 ° - Step: 0.032 ° - Step tim e:

L in ( C o u n ts ) 0 10 20 30 40 50 2-Theta - Scale 10 20 30 4 0 50 60 7 0 Fig. 4.9.2 Espectro de difração de raios-X da Cerâmica ADCER

F:\adcer.TXT

74-1607 (C) - Gehlenite - Ca2(Al(AlSi)O7) - Y: 50.00 % - d x by: 1. - WL: 1.5406 - Tetragonal - a 7.69300

85-1460 (C) - Mullite triple cell - synthetic, from gel, annealed at 1273 K - Al5.33Si0.67O9.33 - Y: 50.00 72-2284 (C) - Wollastonite - CaSiO3 - Y: 50.00 % - d x by: 1. - WL: 1.5406 - Triclinic - a 7.88000 - b 7.27 80-1501 (C) - Titanium Oxide - TiO2 - Y: 50.00 % - d x by: 1. - WL: 1.5406 - Tetragonal - a 4.67000 - b 4. 45-0406 (Q) - Aluminum Oxide Silicate Unnamed zeolite - 283SiO2·Al2O3 - Y: 50.00 % - d x by: 1. - WL: 37-1460 (N) - Aluminum Silicate - Al0.5Si0.75O2.25/0.75SiO2·0.25Al2O3 - Y: 50.00 % - d x by: 1. - WL: 37-1460 (N) - Aluminum Silicate - Al0.5Si0.75O2.25/0.75SiO2·0.25Al2O3 - Y: 50.00 % - d x by: 1. - WL: Operations: Import

F:\adcer.TXT - File: adcer.RAW - Type: 2Th/Th locked - Start: 10.000 ° - End: 70.000 ° - Step: 0.032 ° -

L in ( C o u n ts ) 0 10 20 30 40 50 2-Theta - Scale 10 20 30 40 50 60 70

Fig. 4.9.4 Espectro de difração de raios-X da Cerâmica com TIXOLAM

F:\tixolam.TXT

74-1607 (C) - Gehlenite - Ca2(Al(AlSi)O7) - Y: 50.00 % - d x by: 1. - WL: 1.5406 - Tetragonal - a 7.69300

F:\tixolam.TXT - File: tixolam.RAW - Type: 2Th/Th locked - Start: 10.000 ° - End: 70.000 ° - Step: 0.0 32 °

L in ( C o u n ts ) 0 10 20 30 40 50 2-Theta - Scale 10 20 30 40 50 60 70 Fig. 4.9.3 Espectro de difração de raios-X da Cerâmica com CMC

F:\cmc.TXT

74-1607 (C) - Gehlenite - Ca2(Al(AlSi)O7) - Y: 52.13 % - d x by: 1. - WL: 1.5406 - Tetragonal - a 7.69300

85-1460 (C) - Mullite triple cell - synthetic, from gel, annealed at 1273 K - Al5.33Si0.67O9.33 - Y: 52.13 72-2284 (C) - W ollastonite - CaSiO3 - Y: 52.13 % - d x by: 1. - W L: 1.5406 - Tric linic - a 7.88000 - b 7.27 80-1501 (C) - Titanium Oxide - TiO2 - Y: 52.13 % - d x by: 1. - WL: 1.5406 - Tetragonal - a 4.67000 - b 4. 45-0406 (Q) - Aluminum Oxide Silicate Unnamed zeolite - 283SiO2·Al2O3 - Y: 52.13 % - d x by: 1. - WL: 37-1460 (N) - Aluminum Silicate - Al0.5Si0.75O2.25/0.75SiO2·0.25Al2O3 - Y: 52.13 % - d x by: 1. - W L: 37-1460 (N) - Aluminum Silicate - Al0.5Si0.75O2.25/0.75SiO2·0.25Al2O3 - Y: 52.13 % - d x by: 1. - W L: Operations: Import

F:\cmc.TXT - File: cmc.RAW - Type: 2Th/Th locked - Start: 10.000 ° - End: 70.000 ° - Step: 0.032 ° - S te

L in ( C o u n ts ) 0 1 0 2 0 3 0 4 0 5 0 2-Theta - Scale 1 0 20 30 40 50 60 70

4.10 Microestrutura

Para analisar a microestrutura das amostras confeccionadas utilizou-se a técnica de microscopia eletrônica de varredura nas superfícies(MEV).

Essa caracterização teve como intuito avaliar a microestrutura em relação à homogeneidade, tamanho e distribuição de grãos, porosidade e a presença de fases nas cerâmicas observadas na DRX.

As micrografias de MEV das amostras nos demonstra que ocorreu um melhoramento na micro estrutura das que utilizaram os aditivos com CMC e ADCER, o que não foi o caso do TIXOLAN, em relação a cerâmica PURA.

Analisamos as amostras através da técnica de microscopia eletrônica de varredura utilizando os seguintes métodos: microscopia com elétrons secundários, microscopia com elétrons retro-espalhados e um Mix de 50% de cada. Ao utilizarmos elétrons secundários estamos colhendo informações da superfície da amostra enquanto que os elétrons retro-espalhados nos oferecem uma maior nitidez no interior das amostras, já o Mix nos mostra uma visão mais panorâmica da região estudada.

4.10.1 Micrografia da Cerâmica PURA

Na imagem da Fig. 4.10.1(a), no modo (elétron secundário-SE) onde as topografias de superfície, contraste de material e contraste de orientação cristalina, podem ser visto com mais facilidade, no canto inferior o metal, a parte mais clara é a interface, onde ocorre a difusão do metal com a cerâmica e acima desta a parte em cerâmica.

Fig. 4.10.1(a) Parte cerâmica

Interface

Na imagem da Fig. 4.10.1(b), no modo (elétron secundário-SE) onde as topografias de superfície, contraste de material e contraste de orientação cristalina, podem ser visto.Verificamos a microestrutura da cerâmica PURA,cuja imagem usaremos para fazer a comparação com as amostras que tiveram a cerâmica adicionada dos aditivos.

Fig. 4.10.1(b)

c) Na imagem da Fig. 4.10.1(c), no modo MIX,onde utiliza-se 50% do modo(ES) e 50% (BSE)que fornecem maior nitidez de análise do que os elétrons secundários(ES); verificamos o aspecto de microestrutura bem detalhada da amostra da cerâmica PURA.

Fig. 4.10.1(c)

Parte Cerâmica

4.10.2 Micrografia da Cerâmica com Aditivo CMC

Na imagem da Fig. 4.10.2 (a), no modo (elétron secundário-SE) onde as topografias de superfície, contraste de material e contraste de orientação cristalina, podem ser visto com mais facilidade; pode ser visto a interface, parte cerâmica, parte metálica.

Fig. 4.10.2(a)

Na imagem da Fig. 4.10.2(b), no modo (elétrons retro espalhados-BSE) fornece maior nitidez de análise do que o (SE), podemos ver com mais nitidez e facilidade no canto superior esquerdo o metal é bem nítido.

Fig. 4.10.2(b) Parte cerâmica Parte metal Interface Parte cerâmica Interface Parte metal

Na imagem da Fig. 4.10.2(c), no modo (SE) podemos ver a parte cerâmica que se apresenta muito boa em termos de sua estrutura superficial se comparar com a cerâmica PURA a compactação é evidente e ira influenciar a sua microdureza.

Fig. 4.10.2(c)

Na imagem da Fig. 4.10.2(d), no modo MIX, onde se utiliza 50% do modo (ES) e 50% (BSE) que fornecem maior nitidez de análise do que os elétrons secundários; verificamos o aspecto de microestrutura na cerâmica, com uma compactação e homogeneização, muito boa comparada com a da cerâmica Pura.

Fig. 4.10.2(d)

Parte cerâmica

4.10.3 Micrografia da Cerâmica com Aditivo ADCER

Na imagem da Fig. 4.10.3(a), no modo (elétrons retro espalhados-BSE) que fornece maior nitidez de análise do que o (SE) podemos ver com mais facilidade no canto inferior esquerdo o metal, bem nítido, a interface e a parte cerâmica bem compactada.

Fig. 4.10.3(a),

Na imagem da Fig. 4.10.3(b), no modo (SE) podemos ver a parte superficial da cerâmica com o aditivo ADCER que se apresenta em uma condição, compacta e homogenia, muito boa em termos estruturais se compararmos com a Pura.

Fig. 4.10.3(b) Parte metálica

Interface

Parte cerâmica

Na imagem da Fig. 4.10.3(c), no modo MIX, onde se utiliza 50% do modo (ES) e 50% (BSE) que fornecem maior nitidez de análise do que os elétrons secundários; verificamos o aspecto de microestrutura na cerâmica, com uma compactação e homogeneização, muito boa comparada com a da cerâmica Pura.

Fig. 4.10.3(c)

4.10.4 Micrografia da Cerâmica com Aditivo TIXOLAN

Na imagem da Fig. 4.10.4 (a), no modo (elétron secundário-SE) pode ser visto a microestrutura na cerâmica que não se apresenta com uma qualidade boa em relação as outras amostras adtivadas.

4.10.4 (a)

Parte Cerâmica

Na imagem da Fig. 4.10.4(b), no modo (elétrons retro espalhados-BSE) podemos ver a microestrutura da cerâmica que apresenta uma formação mais porosa que as outra com aditivos.

4.10.4 (b)

Na imagem da Fig. 4.10.3(c), no modo MIX, verificamos o aspecto de microestrutura e fica nítida uma fratura na amostra.

Fig. 4.10.4(c)

Cerâmica

Cerâmica fratura

Dans le document Arbitration in banking and financial matters : ASA Swiss Arbitration Association Conference in Geneva of January 31, 2003 : presentations (Page 45-48)