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ACTUALITÉS'" ';:.
Entreprises & marché Comité de la métrologie:
un nouveau président 3
Salon: mieux communiquer sur la science.. 3 Métrologie:
Mctris s'ouvre à la tomographie 4 Inauguration: Trescal consolide
son implantation toulousaine 4 Métrologie: 20-20-10, un pari gagnant
pourHexagon , , , 6
Automation:
Rockwell Automation s'agrandit 6 Vibracoustique :
le Cetimet ESTluttent contre le bruit ,
7
Traçabilité : RFID, le marché chinois
en pole position , ,8
Mesure industrielle: le groupe FOT gagne
des adhésions, ".., , 8
Acoustique: comment réduire le bruit des systèmes de ventilation? , , 9
Salon:
Analyse industrielle lo
Salon: l'usinage laser rassemble 13
Métrologie:
2008, une bonne année pleine d'activités
pour le CFM
,14tHJ
l~Ç lUJ u~'
n ~ r t \4. l'OUi:!
Rép:__--_---
Humidité: Humicap travaille sa mémoire.. 26 Métrologie:
la mesure de couple se démocratise 27
Vision: voir au crépuscule 27
Vision: Vision Engineering pérégrine 28 Oébitmétrie :
le Cetiat s'occupe des petits débits 28
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1:
JJ- ~,:;~Industrie Paris 2008
,47 Salons:Micad rejoint Industrie Paris 2008...: 52
REPORTAGE
Hydraulique: le Cetim essaye les pompes
à la chaîne , ,70
FOCUSMARCHÉ
,72ESSAISNONDESTRUCTIFS
Actualités
Marché: 8abb Co se renforce
à l'internationaL..., , ,..,... 79 Technologie: le Cetim présente
les ultrasons multiéléments 80
Dossier
Aéronautique: en route vers l' autodiagnostic
83Cofrend ,91
Avis d'experts
TOFO Fullscan : application industrÜ~lle sur joints soudés bout à bout (partie 2) 101
AVISD'EXPERTS
:,j..l,-c'Produits & technologies~'~- o~...,..: ,_.-I-""m:fèàttlprffiié"'~maitrisê~ilité's:::~:~:,:~:~"29" 4,-~mlOgie.~ :':~' ~.O.i ..'o':.""-".~~."=-O ~-~", Tomographie: Nanofocus intègre
r
Tubes optiques: le transport de la lumière un nouveau logiciel d'analyse des surfaces 17 en toute flexibilité 29
Le Symop en 2008 ,18
Vision: le club Vision du Symop 18 La fin des calques papiers! 19 Automation: les serveurs s'organisent 20 Le Metrotom donne un nouveau rythme 20 Vision: ElliXA combine le visible
et l'infrarouge , 21
Une solution à l'encrassement , 22 Acoustique: les murs ont des oreilles ,22 Vision: pourquoi faire compliqué 7 23 Mesures physiques: thermomètre
bimétallique pour J'industrie lourde ,23 Profilomètre : performance accrue grâce
au capteur EJ CMOS 24
Code embarqué: nouvelles possibilités 24 Métrologie:
source de lumière programmable 25 Renishaw et Faro ensemble au service
de la mesure : ,...25
Analyse chimique: Ivea lance un nouvel
analyseurchimique ,
26
TPS : des techniques révolutionnaires 30 Mesure de charge:
nouvel axe dynamométrique :. 30 Métrologie: pesez, étiquetez, pesez,., 31
Voir vite et bien. 32
Électromagnétique:
la pédagogie des capteurs inductifs 33 Mesures physiques:
Fluke simplifie le dépannage , ,34
Thermographie: des mesures fraîches 35 Acquisition de données:
conversionen milieu difficile ,35 Métrologie: Trophées Midest 2007 :
Metris est nominé 36
Un nouveau site à bonne mesure ,37
Le laser mégajoule
délivre ses secrets
,39Focus technique:
CCD ou CMOS :
-h "
1 h
. " ?laut-l c OISIf. ,43
CONTRÔLES-ESSAIS-MESURES>- JANVIER 2008>- PAGE 1
Instruments de mesure: optimiser les périodicités d'étalonnage (partie 2) 106 Performances d'un moyen de mesure
in situ sur MOCN ,109
Optique
Panorama: les capteurs de mesure en continu du CTP pour les usines de recyclage ,115
Formations
, " " , 116Agenda
""""""""""""""""""""""""'" 119Répertoire des annonceurs 120
Notre couverture:
Hall de fabrication: routage de produits chimiques et réacteurs,
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