• Aucun résultat trouvé

Détection et localisation de défauts des Wafers par des approches statistiques multivariées et calcul des contributions

N/A
N/A
Protected

Academic year: 2021

Partager "Détection et localisation de défauts des Wafers par des approches statistiques multivariées et calcul des contributions"

Copied!
9
0
0

Texte intégral

Loading

Références

Documents relatifs

Ainsi, dans cette par- tie, nous proposons des améliorations d’exposants (parfois seulement au niveau des facteurs logarithmiques) pour le déterminant sur les entiers, le

The documents may come from teaching and research institutions in France or abroad, or from public or private research centers.. L’archive ouverte pluridisciplinaire HAL, est

Pour cela, des r´esidus structur´es sont utilis´es pour d´etecter et localiser des d´efauts multiples en utilisant le principe de reconstruction des variables et leur projection dans

Dans ce sens, l'ACP peut être considérée comme une technique de minimisation de l'erreur quadratique d'estimation ou une technique de maximisation de la variance

De plus, les cellules photovoltaïques sont fragiles et sensibles à l’environnement extérieur, elles sont donc munies d’une protection mécanique (l’encapsulation). Pour

Le deuxième exemple est celui d’une reconstruction d’un environnement paramétré en utilisant des don- nées télémétriques provenant d’un robot se trouvant dans un

En ce qui concerne plus sp´ ecifiquement la th´ eorie des champs, on vient de d´ evelopper de puissantes m´ ethodes de calcul, d’une part pour le d´ eveloppement semiclassique

Pour garder l’exemple de l’aide sociale, l’article 57, § 2, de la même loi a bien vite créé une dignité humaine au rabais : « Par dérogation aux autres dispositions de