HAL Id: tel-00344980
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Submitted on 8 Dec 2008
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Généralisation des méthodes de scan pour le test des circuits intégrés complexes et application à des circuits
critiques en vitesse
Joseph Bulone
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Joseph Bulone. Généralisation des méthodes de scan pour le test des circuits intégrés complexes et application à des circuits critiques en vitesse. Modélisation et simulation. Institut National Polytech- nique de Grenoble - INPG, 1994. Français. �tel-00344980�