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Généralisation des méthodes de scan pour le test des circuits intégrés complexes et application à des circuits critiques en vitesse

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Academic year: 2021

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HAL Id: tel-00344980

https://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00344980

Submitted on 8 Dec 2008

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Généralisation des méthodes de scan pour le test des circuits intégrés complexes et application à des circuits

critiques en vitesse

Joseph Bulone

To cite this version:

Joseph Bulone. Généralisation des méthodes de scan pour le test des circuits intégrés complexes et application à des circuits critiques en vitesse. Modélisation et simulation. Institut National Polytech- nique de Grenoble - INPG, 1994. Français. �tel-00344980�

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