HOMO-JONCTION À SEMI-CONDUCTEUR
1
Homojonction PN
•
Composant à réponse non linéaire
•
Dispositifs redresseur ou « rectifier devices »
•
2 types pour arriver au « même » résultat:
• Jonction PN (notre propos)
• Jonction à contact Schottky (chapitre suivant)
2
Mécanisme de formation de la jonction PN
3
Niveau de Fermi aligné:
équilibre thermodynamique
•Processus de mise à l’équilibre
1° phase : processus de diffusion
2° phase : Apparition d’un E interne:
équilibre la diffusion
E int
Recombinaison de paires e-h
•Tension de diffusion V
Dou
« built in potential V
B i»
4
• Définition : différence de potentiel entre la région N et la région P
P N
bi
D
V V V
V
) 0 ) (
( ) ( )
(
dx
x D dp
x E x p e
x
JP P p
dx x dp x x p
Dp E
p ( )
) ( ) 1
(
dx x dp x p dx
x dV kT
e ( )
) ( 1 )
(
) ln(
n p
D p
p e
V kT Equation du courant de trous:
Soit encore ou
En intégrant de la région P à la région N:
Soit finalement:
)
n N ( N
e V kT
V
i D A bi
D
ln
2)
n N ( N
e V kT
V
i D A bi
D
ln
2•Champ, potentiel et largeur de zone d’espace (1)
• Equation de Poisson:
5 sc
x dx
x V d
( ) )
(
2
2
Dans la région N et P
:
D sc
e N dx
x V d
2
2 ( )
W
Nx
0
A sc
e N dx
x V d
2
2 ( )
0
W
Px
-WP -WN
•Champ, potentiel et largeur de zone d’espace (2)
6
Champ électrique E(x)
) (
)
( N
sc D
n eN x W
x
E
( ) sc ( P)
A
P eN x W
x
E
Continuité du champ en x=0
:
P A N
D
W N W
N
sc P A sc
N D
M
W eN W
E eN
-WP -WN
•Champ, potentiel et largeur de zone d’espace (3)
7
Potentiel électrique E(x)
n N
sc D
n eN x W V
x
V ( )2 ) 2
(
p P
sc A
p eN x W V
x
V ( )2 ) 2
(
Zone de charge d’espace (ZCE)
sc p A sc
n D d
p n
W W eN
V eN W
V W
V( ) ( ) 2 2
2 2
d D A
A sc D d
p V
N N
N N V e
W ( )
) 2
(
d D A
D
A sc
d
n V
N N
N
N V e
W ( )
) 2
(
d D
A
A D
sc
d
V
N N
N N
V e
W
2 )
(
-WP WNATTENTION: TOUT CE QUE L’ON VIENT DE VOIR ÉTAIT POUR V=0.
LORSQUE LA DIODE EST
POLARISEE PAR UNE TENSION V SUR P, V BI DOIT ÊTRE REMPLACÉE
PAR V BI - V
8
Jonction PN sous polarisation
• Cette polarisation va rompre l’équilibre entre les forces de diffusion et de conduction: => apparition d’un courant ?
9
Hypothèses simplificatrices:
ZCE vide de porteurs
Faible injection
Approximation de Boltzmann
Toute la tension V
Aappliquée sur la jonction
Pas de phénomènes de Génération ‐ Recombinaison
Jonction PN sous polarisation
• Polarisation directe
•
Tension positive sur P
•
Diminution de la tension de diffusion
•
Processus de diffusion prédomine
•
Fort courant
10
Jonction PN sous polarisation
•
Polarisation directe
• Diminution du champ interne par E externe opposé
• Injection d’électrons de N vers P et Injection de trous de P vers N, donc des minoritaires
• Fort courant car « réservoir » plein
11
F
diffe-
F
diffh+
Polarisation directe
12
E
extJonction PN sous polarisation
•
Polarisation Inverse
• Augmentation du champ interne par E externe dans le même
sens
• Injection d’électrons de P vers N et Injection de trous de N vers P , donc des majoritaires
• Faible courant car « réservoir » presque vide
•
Polarisation Inverse
• Augmentation du champ interne par E externe dans le même
sens
• Injection d’électrons de P vers N et Injection de trous de N vers P , donc des majoritaires
• Faible courant car « réservoir » presque vide
13
F
conde‐
F
condh+
Jonction PN sous polarisation
14
•Approximation de Boltzmann: L’approximation de Boltzmann
consiste à dire que la résultante des courants étant faible devant les composantes de ce courant, on considère que l’on est encore en
quasi‐équilibre et donc que l’équation du courant est encore valide en remplaçant V
dpar V
d‐V
a:
À l’équilibre, courant nul deux composantes (diff et cond)
s’opposent. Pris à part , l’ordre de grandeur de ces composantes 10
4A/cm
2(soit 1A pour diode typique) or en faible injection I est de l’ordre de qq mA à qq 10 mA
dx x dp x
p dx
x dV kT
e ( )
) ( 1 )
(
Densité de porteurs injectés à la frontière de la ZCE
• Si Va=0
• Si Va
15
) ) exp(
(
kT eV p
W
p
dp
N
0 ' ( ) exp( ( ) )
kT V V
e p
W
p
d ap
N
) exp(
) exp(
'
2
kT eV N
n kT
p eV
p A
D i A
n
n ' exp( ) exp( )
2
kT eV N
n kT
n eV
n A
A i A
p
p
) exp(
*
*
' 2'
kT n eV
n p
p
n
p p
n n
i aVariation de la densité de trous injectés en fonction de Va
0,0 0,1 0,2 0,3 0,4 0,5 0,6 0,7
104 105 106 107 108 109 1010 1011 1012 1013 1014 1015 1016 1017
Na= 1E17 cm-3 Vd=0.7 V
P'(Wn) (cm-3 )
Va (V)
16
Distribution des porteurs dans les régions neutres
• Une fois les porteurs injectés, ils vont diffuser dans la région neutre et se recombiner avec les porteurs majoritaires
• La distribution va être fonction de la géométrie de la région
• Les paramètres
discriminatoires : la longueur de diffusion LDn,p des électrons et des trous et la largeur des régions neutres dn,p
17 -WP 0 WN
Distribution des porteurs dans les régions neutres
• Régions longues ( )
18
n p p
n L
d , ,
p N
a
L x kT W
eV n
n p e e
p x
p'( ) ( kTa 1) (WNx)/Lp
eV n
n p e e
p x
p'( ) ( 1) ( )/
n a
L Wp kT x
eV p
p n e e
n x
n'( ) ( kTa 1) (xWp)/Ln
eV p
p n e e
n x
n'( ) ( 1) ( )/
Régions courtes ( )dn,p Lp,n ) )(
1 (
) (
' e x x
d p p
x
p kT c
eV
n n n
a
( 1)( )
) (
' e x x
d p p
x
p kT c
eV
n n n
a
) '
)(
1 (
) (
' e x x
d n n
x
n kT c
eV
p p p
a
( 1)( ' )
) (
' e x x
d n n
x
n kT c
eV
p p p
a
Régions qcq
p kT c
eV
p n n
n L
x sh x
e L
sh d p p
x p
a
) 1 (
) ( )
( '
n kT c
eV
n p p
p L
x sh x
e L
sh d n n
x n
a '
) 1 (
) ( )
( '
Courant de porteurs minoritaires dans les régions neutres
•
La distribution connue, on peut facilement calculer le courant qui est un courant de diffusion:
19
dx x eD dp
x
J
p p( )
)
(
dx x eD dn
x
J
n n( )
)
(
Hypothèse : pas de Phénomènes de G-R dans la ZCE ) (
) (
) (
) (
)
( V J
pW
pJ
nW
pJ
pW
nJ
nW
pJ
On obtient la formule classique:
) 1 (
)
( V J
Se
eV /kT J
JS est le courant de saturation de la diode, ou courant inverse théorique
Courant de porteurs minoritaires dans les régions neutres
• Régions courtes
20 -WP 0 WN
p A
n i n
D P i
S
N d
D en d
N D J en
2
2
Régions longues
n A
n i
P D
P i
S
N L
D en L
N D J en
2 2
Régions qcq
) ) (
(
2 2
n p n
A
n i
P n P
D
P i S
L th d L N
D en L
th d L N
D
J en
La diode réelle : Phénomènes de génération‐
recombinaison dans la ZCE
•
On affine le modèle on tient compte de la G‐R dans la ZCE
•
Mécanisme connu (Shockley‐Read)
21
n p
n
n r pn
i
i
2
1
2
On sait également que
Si on suppose np constant dans la ZCE et >> (en polarisation directe) , le taux r est max pour n=p, soit encore
) exp(
) (
) (
) (
)
( 2
kT n eVa
W n W p W
n W
p N N P P i
2
n
i
kT eV
r n
i aexp 2
max
2
La diode réelle : Phénomènes de génération‐
recombinaison dans la ZCE
• Le courant de génération recombinaison dans la ZCE s’écrit alors:
22
NP
W GR W
p n
n
n
W J W J e rdx
J ( ) ( )
En polarisation inverse ( ), le taux est négatif ( ) et devient un taux net de génération
2
n
ipn
2 0
ir n
En polarisation directe , le taux est r
max=cte et le
courant est un courant de recombinaisons.
La diode réelle : Phénomènes de génération‐
recombinaison dans la ZCE
• Le courant de génération recombinaison dans la ZCE s’écrit alors:
23
Le courant global en intégrant cet effet s’écrit:
) 1
exp( 2
0
kT J eV
J
GR GR a
) 1
exp( 2 1
) exp(
)
(
0kT J eV
kT J eV
V
J
a S a GR aT i
GR
en W
J 2
0
Facteur d’idéalité:
exp( ) 1
)
(
0nkT J eV
V
J
aDiode en polarisation inverse:
claquage de la jonction
•
Effet thermique
•
Effet Zener:
• Passage direct de la BV à la BC par effet tunnel (0) si champ
électrique supérieur à Ecritique
•
Effet Avalanche:
• Avant le « tunneling »,
accélération des électrons qui excitent par impact des
électrons de BV vers BC (1,2,3) etc….
•
Perçage ou « punchtrough »
24 B
C
BD
eN
V E
2
.
2
Jonction en régime dynamique: capacités de la jonction
•
Capacité associée à charges
•
2 types de charges dans la jonction
• Fixes (les dopants ionisés) dans la ZCE
• Mobiles (les e- et h+) injectés en direct
•
2 types de capacités
• Capacité de transition ou de la jonction
• Capacité de diffusion ou stockage
25
Capacité de transition ou de jonction
26
Elle est simplement associée à la charge Q contenue dans la ZCE
dV
C
T dQ Q eAN
AW
P eAN
DW
NT D
A
D A
A D
T
W
A N
N
N N
V V
e
C A
) (
) (
2 2
Soit:
Capacité de diffusion ou de stockage
• Traduit le retard entre la tension et le courant
• Associée aux charges injectées dans les
régions neutres:
27 P
P
Sp
J
Q
n n
Sn
J
Q
CN
X
W n
Sp
A e p x p dx
Q ( ' ( ) )
Densité de trous excédentaires dans la région neutre N
) (
) 1 coth(
) )
0 ( ' (
P P n
n P
n Sp
L sh d L
L d p
p
e
Q
Capacité de diffusion ou de stockage
•
L’expression précédente peut se mettre sous la forme:
28
) (
NP
Sp
J W
Q avec
) (
1 1
P n P
L ch d
L’expression du temps peut être simplifiée en fonction de la « géométrie » de la diode:
Diode courte: temps de transit
Diode longue : durée de vie
P n
t
D
d 2
2
P
Capacité de diffusion ou de stockage
• Cette étude dans la région N est valable dans la région P, et en final on obtient:
29
) (
)
(
( ))
(n n P p p N
Sp Sn
S
Q Q J W J W
Q
Soit à partir de :
dV C
S dQ
S) (
(n) n (p) pSp Sn
S
K J J
kT C e
C
C
Facteur qui dépend de la géométrie (2/3
courte
) (1/2 longue
)Jonction PN en commutation
30
Tant que l’excédent de trous est positif
Diode polarisée en direct ) 1 (
' kT
eV n n
n
a
e p p
p
sd
Temps de stockage iep ' ( W
N) p
nWn
Jonction PN en commutation
•
Problème majeur dans les composants à porteurs minoritaires:
• Expression du temps de stockage:
• Expression du temps de descente
31
ln( 1 ) ln( 1 )
m f
f m
f p
sd
I I
I I
I
m f
f j
F
f
I I
I RC
avec
3 1
.
2
Diode Tunnel – diode Backward
32
3
2 exp 4
* b t
e m
T a
pe a pe
a pe
t V
V V
I V
I exp 1