Rotation de TP - Semestre 8 - 2018/2019
mer. 13 févr.
Groupe TP3 (lundis)
Séquence 1 Séquence 2
mer. 1 5 ma
i
Séance
lu n. 1 1 févr.
jeu . 1 4 févr.
lu n. 4 ma
rs
lu n. 1 1 ma
rs
lu n. 1 8 ma
rs
lu n. 2 5 ma
rs
lu n. 1 a vr.
jeu . 4 a vr.
lu n. 8 a vr.
lu n. 1 5 a
vr.
lu n. 1 3 ma
i
CR jeu. 7 mars jeu. 7 mars lun. 11 mars lun. 18 mars lun. 25 mars lun. 1 avr. lun. 8 avr. jeu. 11 avr. lun. 15 avr. lun. 22 avr.
Aberrations Détecteurs et bruits
TP3.1 A A1 A2 A3 A4 B1 B2 B3 B4
Examen
TP3.2 B A2 A3 A4 A1 B2 B3 B4 B1
TP3.3 C A3 A4 A1 A2 B3 B4 B1 B2
TP3.4 D A4 A1 A2 A3 B4 B1 B2 B3
TP3.5 E A1 A2 A3 A4 B1 B2 B3 B4
Détecteurs et bruits Aberrations
TP3.6 B1 B2 B3 B4 A1 A2 A3 A4
Examen
TP3.7 B2 B3 B4 B1 A2 A3 A4 A1
TP3.8 B3 B4 B1 B2 A3 A4 A1 A2
TP3.9 B4 B1 B2 B3 A4 A1 A2 A3
TP3.10 B1 B2 B3 B4 A1 A2 A3 A4
Aberrations
Aberrations sur l’axe A1 S1.7 On-axis aberrations Aberrations de champ A2 S1.10 Off-axis aberrations
Zygo A3 S1.2 Zygo
HASO A4 S1.8 HASO
Détecteurs et bruits | Detectors and noise.
Bruit dans un système de photodétection B1 S1.20 Photodetection noise sources
Caractérisation d'un détecteur infrarouge B2 S1.15 Infrared detector characteristic measurement Etude d'un capteur CMOS industriel B3 S1.24 CMOS sensor
Caméra infrarouge B4 S1.28 Thermal camera