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Développement de l'ablation laser en champ proche couplée à l'ICPMS pour l'analyse sub-micrométrique d'échantillons solides

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Academic year: 2021

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Figure I-3 : Schéma des étapes d'interaction laser-matière en régime nanoseconde.
Figure I-4 : Interaction laser matière a)  durée d'impulsion nanoseconde; b) durée d'impulsion  femtoseconde [47, 48]
Figure I-7 : Déformation du cantilever d'une pointe AFM; a) Pointe loin de l’échantillon, pas  d’interaction de force ; b) déflexion du cantilever (pointe en contact avec l’échantillon) ; c et d)
Figure II-5 : Montage général de l'installation comprenant le laser, le microscope à force atomique et  l’ICP-MS haute résolution
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